III IV V VI VII B C N O F I II Al Si P S Cl Cu Zn Ga Ge As Se Br Ag Cd In Sn Sb Te I Au Hg Tl Pb Pb Po At Bandes d’énergie, semi-conducteurs 1 sophie.norvez@espci.fr Sommaire I. Semi-conducteurs 1. Bandes d’énergie 2. Constitution 3. Dopage des semi-conducteurs 4. Jonction p-n II. Approche d’Hoffmann des bandes d’énergie 1. Systèmes moléculaires étendus 2. Approche d’Hoffmann : la vue du chimiste 3. Influence de la nature et du recouvrement des orbitales 4. Exemple du platinocyanure 2 I. Semi-conducteurs 1. Bandes d’énergie Electron libre Energie cinétique : 2k 2 E k2 2m Electron dans un cristal + terme d'énergie potentielle (potentiel électrostatique des ions du cristal) La parabole correspondant à l'électron libre est « brisée » au niveau de certaines valeurs de k correspondant au cristal, certaines énergies deviennent inaccessibles 3 Bandes d’énergie de quelques semi-conducteurs usuels Dépendent des directions cristallographiques Ge 4 Si GaAs Le comportement est dominé par ce qui se passe en haut de la bande de valence et en bas de la bande de conduction Diagrammes simplifiés : Énergie Eg Métal Semiconducteur Isolant selon la taille du gap Eg 5 2. Constitution III IV V VI VII B C N O F I II Al Si P S Cl Cu Zn Ga Ge As Se Br Ag Cd In Sn Sb Te I Au Hg Tl Pb Pb Po At • Si, Ge • Composés 1:1 isoélectroniques du groupe IV • Alliages ternaires (ou plus) ex Ga In P x En moyenne 4 électrons de valence par atome 6 ex GaAs, InP, CdSe 1-x couche de valence pleine semi-conduction possible Eg (eV) dépend de la composition chimique : Groupe IV rayon Composés I-VII LiF 11 LiCl 9.5 NaF 11.5 NaCl 8.5 NaBr 7.5 KF 11 KCl 8.5 KBr 7.5 KI 5.8 7 Composés II-VI ZnS ZnSe ZnTe CdS CdSe CdTe 3.8 2.8 2.4 2.6 1.6 1.45 C diamant 5.47 Si 1.12 Ge 0.66 Sn métal Composés III-V AlP 3.0 2.3 AlAs AlSb 1.5 GaN 3.4 GaP 2.3 GaAs 1.4 GaSb 0.7 InP 1.3 InAs 0.3 InSb 0.2 Eg N Ga P As Liaison plus courte gap plus grand 3. Dopage des semi-conducteurs 3.1 Semi-conducteur intrinsèque n densité d’électrons = p densité de trous (cm-3) trou libre Si A 0°K, silicium isolant 8 n = p = ni électron libre Si A 300°K, Si semi-conducteur Génération de paires électron-trou Population d’électrons libres en fonction de l’énergie Energie électron Génération thermique d’une paire électron-trou Bande de conduction Recombinaison trou Bande interdite Eg=1.12 eV pour Si Bande de valence Population de trous libres en fonction de l’énergie Génération thermique et recombinaison de paires électronstrous conduisent à un équilibre à température ambiante 9 Probabilité d'occupation par un électron d'un niveau d'énergie E à la température T : fonction de FERMI-DIRAC P( E ,T ) 1 ( E E f ) / k BT 1 e Ef niveau de Fermi Tk A T=300K, kBT 0.025eV (kBT/e = UT potentiel thermique) T=0 A 0°K, P(E)=1 Tous les états d’énergie au-dessous du niveau de Fermi Ef sont occupés, au-dessus ils sont vides Niveau d’énergie à Ef + 3kBT : probabilité de 5% d’être occupé 10 Concentration des porteurs libres intrinsèques Nb d'électrons dans une tranche dE Densité d’états dn 2 D( E ) P( E, T )dE BC BV 2 places disponibles dans chaque niveau n N c exp( Energie EFi niveau de Fermi Bande de valence p N v exp( 11 Ev E f Ec En ) kT Bande de conduction En Ep Energie E p kT ) Electrons libres et trous apparaissent en quantités égales Ec Ec-Ev = E = Eg Ev Nb de porteurs intrinsèques : ni2 n. p NV NC exp E kT ( N c N v 4,8.1021T 3 / 2 pour le silicium) T=240°K Résistivité r=1/s Ge P( E ) T 1 1 e ( E E f ) / k BT Energie thermique Plus d’électrons passent le gap s 12 La conductivité varie différemment pour les métaux et les semiconducteurs en fonction de la température E E métal T s Ef BC Niveau de Fermi BV semiconducteur T s Métaux T Mouvement thermique des atomes du réseau gêne le déplacement des électrons Ordres de grandeur très différents : métal : 1 e- de conduction par atome 13 Silicium à 300°K ni ~ 1010 cm-3 Combien d’atomes effectivement ionisés ? d=2.33 g/cm3 M=28.1 g/mol N= d/MN = 5 1022 atomes/cm3 2 10-11 % sont ionisés Difficile de contrôler la pureté à plus de 1/1012 atomes (salles blanches) Silicium intrinsèque : applications pratiques limitées Dopage par des atomes étrangers 14 3.2. Semi-conducteur dopé (extrinsèque) pur BC BV Ev Ef Ec BC niveau donneur Type n BC BV BV Ef BC Type p BC BV niveau accepteur BV Ef 15 Energie a. Silicium dopé n Si III IV V B C N Al Si P Ga Ge Si Si électron libre Si + Si As Si Si Si atome de la colonne V (ionisé) Une très faible énergie (~ 40 meV << 1.12 eV) suffit à libérer le 5ème électron qui retrouve « libre » dans la bande de conduction. Ces porteurs de charge dominent les propriétés de conduction 16 ND atomes donneurs libèrent n = Nd électrons libres. Concentrations en électrons et trous libres liées par une loi d’action de masse : np = ni2 ni = 1010 cm-3 AN: Nd = n = 1018 cm-3, alors p = 100 cm-3 à T= 300°K Electrons = porteurs majoritaires, trous = porteurs minoritaires n Nd Energie Bande de conduction En Bande de valence 2 17 ni p Nd Ec EFn EFi EF vers EC Ev Nd En k BTLn ni b. Silicium dopé p On injecte des atomes possédant 3 électrons de valence (colonne III) Si III IV V B C N Al Si P Ga Ge As Si Si trou libre Si - Si Si Si Si atome de la colonne III L’atome trivalent crée un trou libre dans le cristal de silicium, et reste sous forme ionisée dans le cristal 18 Na atomes accepteurs libèrent p = Na trous libres. n p = n i2 Si Na = p = 1016 cm-3, alors n = 104 cm-3 à T = 300°K Trous = porteurs majoritaires, électrons = porteurs minoritaires 2 ni n Na Energie Bande de conduction Ep Bande de valence p Na 19 Ec EFi EFp EF vers EV Ev Na E p k BTLn ni 4. Jonction p-n Silicium p Silicium n trous majoritaires pp Na nn N d électrons majoritaires électrons minoritaires ni2 np Na ni2 pn Nd trous minoritaires E0 Diffusion d’électrons libres vers Si p Si p Si n Si p - - -- - Diffusion de trous libres vers Si n ++ ++ + ++ Si n W0 Diffusion des porteurs barrière de potentiel VF E0 et W0 (zone de charge d’espace) 20 a. Schéma de bandes en court-circuit Alignement des EF à l ’équilibre : V E e BC E E p E fp BV Zone p N E p k BTLn a ni Potentiel de jonction En E fn Zone n En k BTLn Nd ni E En E p kBT N N V Ln a 2 d e e e ni AN : calculer le potentiel de jonction à 300K pour une jonction p-n telle que Na=1016 cm-3 et Nd=5 1016 cm-3 21 Réponse : V 0.76V b. Jonction p-n en court-circuit W0 Zone neutre p trous libres ZCE -- + -- ++ -- ++ + Zone neutre n I=0 électrons libres E0 Equilibre entre deux courants opposés : BC V Courant dû aux porteurs majoritaires qui sautent la barrière VF Ef BV V Eg Courant Is dû aux minoritaires, entretenu par génération thermique de paires électron-trou. I s I 0 exp 22 VF UT c. Jonction p-n polarisée en direct Appliquons une tension Va>0 W W0 Edirect<E0 De nombreux électrons peuvent désormais franchir la barrière de potentiel BC V Va Recombinaison des électrons V Va + BV Zone neutre p Zone neutre n Flux d’électrons compensant ceux qui disparaissent par recombinaison IA 23 IA Recombinaison des trous VF Vdirect I A I 0 exp UT Vdirect 1] I A I S [exp UT I S d. Jonction p-n polarisée en inverse Appliquons une tension Va<0 pas trop élevée Einverse>E0 W W0 Courant inverse Is V Va V Va BV Zone neutre n Zone neutre p IS Courant dû aux minoritaires qui apparaissent par génération thermique 24 IS + BC 25 II. Approche d’Hoffmann des bandes d’énergie 1. Systèmes moléculaires étendus E Énergie gap Atome Molécule Molécule Solide isolé diatomique polyatomique Densité d’états N(E) bandes d’énergie • La distribution en énergie n’est pas uniforme • N(E) = 0 zone interdite aux électrons (gap) 26 bandes d’énergie 2. Approche d’Hoffmann : la vue du chimiste Cf. R. Hoffmann, Solids and Surfaces. A chemist’s view of Bonding in Extended Structures. VCH Publishers, Weinheim, 1988 La forme des bandes d’énergie peut être intuitée par extension du schéma des OM : La largeur de bande dépend du degré d’interaction entre atomes voisins de la distance interatomique du type et de la topologie des orbitales mises en jeu 1. Formation d’OM par des CLOA (Hückel) 2. On les classe en énergie en considérant le nombre de plans nodaux 27 Exemple : N = 6 1. Chaîne linéaire 2. Molécule cyclique Energie 6 chaînons 6 OM Le nombre de nœuds augmente avec l’énergie 28 L’ état fondamental est totalement symétrique, puis paires dégénérées Orbitales p des polyènes cycliques : Energie de Hückel (exemple pour N=5) 29 ej énergie du niveau j a intégrale coulombienne b intégrale de résonance N chaînons N orbitales Orbitales cristallines = Bandes d’énergie e ej = a + 2bcos2pj/N = a + 2bcoska avec k=2pj/Na |k|<p/a k E symétrique /k on représente un demi-axe : 30 Bande : e=f(k) 0<k<p/a (à 1D) 3. Influence de la nature et du recouvrement des orbitales Orbitales p en interaction p : antiliante liante La fonction d’onde (OM) associée à ces valeurs de e est : Combinaison symétrique (liante ici) Combinaison antisymétrique (antiliante ici) 31 La bande sera croissante ou décroissante suivant la topologie des interactions Orbitales p en interaction s : Cette fois la combinaison symétrique est antiliante : 32 Remplissage des bandes : Densité d’états DOS = n(E) : n(E)dE = nombre d’états entre E et E+dE 33 Nb total d’électrons = Influence du recouvrement orbitalaire : a a=1.3Å a=1.3Å a=1.7Å a=3Å -20 0 k p/a 0 k p/a 0 k p/a 0 La dispersion (largeur de bande) augmente avec le recouvrement 34 a=1.7Å Energie (eV) Energie (eV) 5 a=3Å 1.5 0 DOS 2 0 5 distance interatomique s> p > d 4. Exemple du platinocyanure K2Pt(CN)4 Chaîne linéaire de complexes plan carré Pourquoi K2Pt(CN)4 est-il isolant alors que K2Pt(CN)4Br0.3 présente un comportement métallique ? 35 a. OM de Pt(CN)42- 6p pz LUMOs dx2-y2 6s dz2 Pt2+: d8 36 5d HOMO b. Chaîne linéaire : les OM s’élargissent en bandes clé : recouvrement s >> p >> d Polymère Monomère c. Topologie des recouvrements : ça monte ou ça descend ? 37 k=p/a k=0 s d p s Bandes calculées (pour PtH42-) : x y z z x2-y2 xz, yz xy z2 38 k=0 k=p/a Estimé : Calculé : s z d x2-y2 z2 xz, yz xy s Br2 p Ef d Niveau de Fermi en haut de dz2 bande pleine isolant Oxydation par le brome : 0.3 Br/Pt 39 haut de la bande libéré conducteur Extension à N atomes de la liaison quadruple métal-métal : Dimère [Re2Cl8 ] 2Re3+ : 5d4 d p p Ordre de liaison = 4 ! 40 s Cf la règle des 16-18 e- 41