7장 pn 접합 VLSI System Lab. 7.1 PN접합의 기본구조 금속학적 접합:n영역과 p영역의 접촉면이 분리되는 계면 공간전하영역:순수 양 및 음으로 대전된 영역(공핍영역) VLSI System Lab. 2 7.2 제로 인가 바이어스 7.2.1 내부 장벽 전압 무인가시-페르미 에너지 준위가 일정한 열평형 상태 내부 장벽: N영역의 전도대의 전자가 P영역의 전도대로 이동시에 장벽으로 n영역의 다수캐리어 전자와 p영역의 소수캐리어 전자사 이의 평형유지(정공도 마찬가지이다.) 그림 7.3에서 내부 장벽은 p와n의 진성 페르미 준위의 차 Vbi | Fn | | Fp | VLSI System Lab. 3 7.2.1 내부 장벽 n영역에 있어서 전도대내의 전자농도 ( EC EF ) n n exp[EF EFi ] n0 Nc exp[ ], 0 i kT kT 여기서 eFn eFp EFi EF 라고 정의하면 (eFn ) n0 ni exp[ ] kT 여기서 n형이므로 n0 N d로 놓고 전위에 대해서 풀면 kT N d Fn ln( ) e ni 같은 방식으로 p형을 구하면 kT N a Fp ln( ) e ni VLSI System Lab. 4 7.2.1 내부 장벽 위의 식을 조합하여 내부 전위 장벽을 구하면 Vbi | Fn | | Fp | N N kT N d N a ln( 2 ) Vt ln( d 2 a ) e ni ni Vt :열전압으로 온도에 의하여 결정 내부 전위장벽은 대수적 의존성 때문에 도핑농도가 크게 변화하여 도 그렇게 크게 변화하지는 않는다. VLSI System Lab. 5 7.2.2 전계 양과 음의 공간전하 밀도가 분리됨으로 공핍층 내에 생성 d 2 ( x ) (x) dE ( x ) dx 2 s dx 그림에서 전하밀도는 ( x ) eN a ( x p x 0 ), ( x ) eN d ( 0 x x n ) p영역 내에서의 전계는 위의 식을 적분 eN a eN a ( x) dx dx x C1 s s s 열평형에서 전류가 0이므로 x x p E 0 E E eN a s ( x x p )( x p x 0 ) VLSI System Lab. 6 7.2.2 전계 같은 방법으로 n영역 내에서의 전계 E s dx eN d s x C2 x x n E 0 위의 p영역과 같은 방법으로 E ( eN d ) eN d ( x n x )( 0 x x n ) s 전계는 금속적인 접합에서 연속이므로 x=0으로 두면 N d x p N a xn p영역내 단위면적당 음전하수=n영역내 단위면적당 양전하수 전계는 거리의 선형함수 최대는 금속학적 접합에서 존재 p와 n영역사이에 전압인가가 없어도 공핍영역내의 전계가 존재 VLSI System Lab. 7 7.2.2 전계 접합 내에서의 전위는 전계를 적분 ( x ) E ( x ) dx s a ( x x p ) dx eN s a x2 ( x p x ) C 1' 2 여기서 적분 상수는 x x p , E 0 이므로 대입하면 C 1' eN eN a s x 2p p영역 내에서의 전위 ( x) eN a ( x x p ) 2 ( x p x 0) 2 s VLSI System Lab. 8 7.2.2 전계 n영역 내에서의 전위 (x) s d ( x n x ) dx eN s a x2 ( xn x ) C 2' 2 여기서 적분 상수는 x 0 에서 p영역의 전위=n영역의 전위 C 2' eN eN a x 2p C 1' s n영역 내에서의 전위 eN d eN a 2 x2 ( x) ( x xn ) x p (0 x xn ) 2 s 2 2 s VLSI System Lab. 9 7.2.2 전계 그림에서 x x n 일때 내부 장벽값과 같으므로 V bi | ( x x n ) | e 2 s ( N d x n2 N a x 2p ) 위 식의 결과로 전자의 전위 에너지는 E e 로 주어지며,이것은 공간전하 영역에 걸쳐 거리의 제곱에 비례함을 의미한다. VLSI System Lab. 10 7.2.3 공간전하폭 공간전하영역이 금속학적 접합으로부터 p및 n영역으로 확장 되는 거리 xp N a xn Nd 각각의 값을 구하면 , 2 sV bi N a 1 1/ 2 xn { [ ][ ]} e Nd Na Nd xp { 2 sV bi N d 1 [ ][ ]} 1 / 2 e Na Na Nd 여기서 전체 공핍폭은 위의 2개의 합이므로 W xn x p { 2 sV bi N a N d 1 / 2 [ ]} e NaNd VLSI System Lab. 11 7.3 역방향 바이어스 역바이어스 인가시 Vtotal(전체 전위장벽) 증가. Vtotal | Fn | | Fp | VR Vtotal Vbi VR Fig 7.7 역방향 바이어스 하에 있는 pn 접합의 에너지 밴드 다이어그램 VLSI System Lab. 12 7.3.1 공간전하폭과 전계 전체 공간 전하 폭 W { 2 s (V bi V R ) N a N d 1 / 2 [ ]} e NaNd 금속학적 접합에서 최대 전계 E max Fig 7.8 역방향 바이어스 전압을 인가한 pn접합에서 VR에 의해 유기된 전계의 방향 및 공간전하 전계를 보이는 그림 eN d x n s Emax { E max eN d x p 2e(Vbi VR ) s s ( N a N d 1/ 2 )} Na Nd 2(Vbi VR ) W VLSI System Lab. 13 7.3.2 접합 커패시턴스 C' dQ ' (farads/cm 2 ) , dQ' eN a dxn eN a dx p (C/cm 2 ) dVR xn { C' 2 s (Vbi VR ) Na 1 [ ][ ]}1/ 2 e N d Na Nd dx n dQ ' eN d dV R dV R C' { Fig 7.9 균일하게 도핑된 pn접합에 있어서 역방향 바이어스의 전압의 미분변화에 따른 공간전하폭의 미분변화 C ' e s N a N d }1 / 2 2 (V b i V R )( N a N d ) s W VLSI System Lab. 14 7.3.3 일방 접합 Na>>Nd인 p+n접합에서 2 s (Vb i VR ) 1 / 2 } eNd xn및 x p에 대한 표현식은 W { x p xn , W xn 대부분의 전체적인 공간전하층은 적게 도핑된 쪽으로 확장. C' { e s N d }1 / 2 2 (Vbi V R ) Fig 7.10 일방 p+n접합의 공간전하 밀도 VLSI System Lab. 15 7.3.3 일방 접합 ( 2 (V bi V R ) 1 2 ) C' e s N d : 커패시턴스 제곱근의 역수는 인가한 역방향 바이어스 전압의 선형함수. 곡선의 기울기는 접합에서 적게 도핑된 영역에서의 도핑농도에 반비례 Fig 7.11 균일하게 도핑된 pn접합의(1/C)2대 VR 가정 : 1. 균일 도핑 2. 계단접합 근사 3. planar 접합으로 간주 VLSI System Lab. 16 7.4.1 선형적으로 경사진 도핑을 갖는 접합 ※ 선형적으로 도핑을 갖는 접합의 공간전하영역내에서의 공간전하 밀도를 보임. x=0 → 금속학적 경계 공간전하밀도는 ( x) eax , a : 불순물농도 기울기 VLSI System Lab. 17 7.4.1 선형적으로 경사진 도핑을 갖는 접합 ※ 공간전하영역 내에서 전장 및 전위는 poisson 방정식에서 구함. dE ( x) eax s s dx E ( x) eax s dx ea 2 ( x x02 ) 2 s 전장 E는 거리 x의 2차함수이며 x=0에서 최대 전장 Eo 를 갖음. X=±x0에서 전장 E=0임에 유의해야 함. VLSI System Lab. 18 7.4.1 선형적으로 경사진 도핑을 갖는 접합 ※ 전위 Φ(x)는 ( x) Edx x= -x0에서 Φ=0 (기준 전위)로 놓으면 접합전류의 전위는 ea 3 ea x 3 2 xo ( x) ( xo x) 2 s 3 3 s x= +x0에서 전위의 크기는 내부전위장벽과 같게 되므로 2 eax03 Vbi ( x0 ) 3 s VLSI System Lab. 19 7.4.1 선형적으로 경사진 도핑을 갖는 접합 ※ 경사형 도핑 접합에서 내부전위 Vbi의 다른 표현은 다음과 같음. 농도분포와 Vbi의 관계, 즉 전자의 경우만 고려하면 nn n( x0 ) N d N a x0 N d ( x0 ) (1) Nd-Na ni2 ni2 ni2 (2) n p n( x0 ) p ( x0 ) ( N d N a ) x N a ( x0 ) 0 (1)(2) Vbi N ( x ) N ( x0 ) kT nn kT ln ln[ d 0 2 a ] e np e ni -xo N d (x 0 ) ax 0 , N a (-x 0 ) ax 0 Vbi Nd x0 Na ax ax kT ln( 0 ) 2 Vt ln( 0 ) 2 e ni ni VLSI System Lab. 20 7.4.1 선형적으로 경사진 도핑을 갖는 접합 ※ 만약 접합에 역바이어스 VR을 인가한 경우 Vbi → Vbi+VR로 바뀜. 2 s x0 { (Vbi VR )}1/ 3 3 ea (경사형 접합의 경우 공간전하영역폭은 Vbi1/3 관계가 있음. 계단형 접합의 경우 공간전하영역폭은 Vbi1/2 관계가 있음.) VLSI System Lab. 21 7.4.1 선형적으로 경사진 도핑을 갖는 접합 ※ 접합용량 C`은 그림에 dVR이 인가되면 dQ`가 나타나므로 dx0 dQ` [ F / cm 2 ] C ` (eax0 ) dVR dVR ea s2 }1/ 3 C ` { 12(Vbi VR ) 따라서 경사형 접합에서는 (Vbi+VR)-1/3에 비례하며, 계단형 접합에서는 (Vbi+VR)-1/2에 비례함. 경사형 접합에서 접합용량은 계단형보다 역바이어스 VR 영향이 더 적 게 됨. VLSI System Lab. 22 7.4.2 초계단형 접합 (Hyper-abrupt junction) ※ one-side P+n 접합에서 x>0 에서 n형 도핑농도 N = Bxm [1] m=0일 때 : 일정도핑된 접합 B=NB m=+1 : 선형기울기 갖는 경사형 접합 m=+2,+3 : 더욱 많이 도핑된 n+ 기판 위에 성장된 상당히 적게 도핑된 epitaxial 층을 가진 구조가 여기에 근사됨. VLSI System Lab. 23 7.4.2 초계단형 접합 (Hyper-abrupt junction) ※ m값이 (-)일 때 : 초계단형 접합 -이 경우 n형 도핑은 bulk반도체에서 보다 금속학적 접합근처가 더 큼. [1]은 m이 (-)일 때 x=0이 아닌 x=x0 근처의 작은 영역에서 n형 doping을 근사시키는데 사용. 즉, 초계단형 접합은 ion implantation 또는 epitaxial process에 의하여 이루어질 수 있음. VLSI System Lab. 24 7.4.2 초계단형 접합 (Hyper-abrupt junction) eB s( m 1) 1 /( m 2 ) ` { } [2] C ※ 접합용량 C`은 (m 2)(Vbi VR ) m이 (-)일 때 용량은 varactor diode 에서 요구되는 특성인 역방향 bias전압에 매우 강한 함수가 됨. varactor diode와 inductance 가 병렬접속이면 공진주파수는 1 fr 2 LC [2]에서 diode 용량 C는 C C (V V ) 1/( m 2 ) [3] 0 bi R 회로응용에서 공진주파수는 역bias VR의 선형함수가 되기 위해서는 C V 2 [4] [3][4]식에서 1/m+2 = 2 ∴ m = -3/2 즉 특별한 도핑분포로써 원하는 용량 특성을 얻을 수 있다. VLSI System Lab. 25