Uploaded by Ivette Mendoza

AS 131209 EA-300 C 613E17 KMX MX 2013 1

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Identificador de Materiales
NUEVO
Identificación Instantánea
de Elementos
Serie EA-300
Identificación de Materiales con el
Microscopio Digital Serie VHX
Paso 1
Observación ampliada
Microscopio Digital
Serie VHX
Identificador de
Materiales
Serie EA-300 NUEVO
Identificación Elemental Instantánea
No requiere preprocesamiento ni vacío
Análisis LIBS de ultra alta velocidad
NUEVO
Identificación automática de materiales
Sugerencia de IA
2
PRIMERO EN EL MUNDO
p. 6
[Resultado del análisis]
Paso 2
Acero inoxidable
Análisis elemental
con un solo clic
[Elementos detectados]
Fe (Hierro): 72.5%
Cr (Cromo): 18.9%
Ni (Níquel): 8.6%
Transición perfecta de la observación a la
identificación del material
Fijación sencilla al microscopio
Unidad de observación y análisis elemental
PRIMERO EN EL MUNDO
Acceso al análisis elemental con un solo clic
Función de alineación del campo de visión
NUEVO
p. 8
3
Los métodos convencionales de identificación elemental
requieren mucho tiempo.
Observación ampliada
Detección de partículas
extrañas mediante el
microscopio
Procesamiento
previo
Procesamiento previo de objetos
(corte, pulido, tratamiento de
conductividad, etc.)
Análisis especializados
Análisis con equipos altamente
especializados
Se necesitan múltiples equipos
■ Un análisis detallado no siempre es posible con la mera observación ampliada.
■ Necesidad de utilizar equipos adicionales o externalizar el análisis elemental.
Se requiere un procesamiento previo
■ L os objetos más grandes pueden no caber dentro del equipo de análisis, lo que obliga a cortar o
romper el objeto.
■ L os objetos deben someterse a un tratamiento de conductividad y se necesita un vacío dentro del
equipo de análisis.
Operación difícil con un número limitado de usuarios
■ Debido a que el equipo de análisis es altamente especializado, el número de operadores capacitados
es limitado.
■ D eterminar qué sustancia componen los elementos detectados requiere un alto nivel de experiencia.
4
Determinación de materiales en tan solo 10 segundos
Observación ampliada
Análisis elemental
Tiempo de procesamiento
significativamente reducido
La Serie EA es una solución de observación y análisis
elemental todo en uno fácil de usar.
Solución todo en uno
■ T anto la observación ampliada como el análisis elemental pueden realizarse en tiempo real con un
único dispositivo.
■ E l análisis elemental se puede realizar en el lugar siempre que sea necesario.
No se requiere preprocesamiento
■ E s posible realizar un análisis no destructivo y sin alteraciones en objetos de cualquier tamaño.
■ N o es necesario un tratamiento de conductividad ni una aspiración para el análisis.
Identificación de materiales sencilla para cualquier usuario
■ E s posible un análisis elemental con un solo clic.
■ U na función de IA integrada recomendará el material más probable detectado.
5
Determinación de
materiales
instantánea
6
Operación de colocar y analizar sin necesidad de corte, tratamiento de
conductividad o uso de vacío
Análisis LIBS de ultra alta velocidad
NUEVO
Pulso láser
de nanosegundos
El identificador de materiales Serie EA utiliza espectroscopia de
descomposición inducida por láser con un láser de clase 1 altamente
seguro. El láser convierte la superficie del objeto en plasma, mientras que un
espectrómetro de banda ancha (desde UV profundo hasta infrarrojo
cercano) de alta resolución detecta el color de la luz emitida. La óptica del
microscopio se sitúa en el mismo eje para visualizar el área objetivo.
Emisión de plasma
Fácil identificación de materiales mediante análisis elemental
Sugerencia de IA
PRIMERO EN EL MUNDO
Una base de datos integrada incluye miles de patrones elementales, lo que
le permite al dispositivo determinar instantáneamente no sólo los elementos
detectados, sino que sugiera también el nombre del material. Los datos del
material están organizados jerárquicamente para facilitar la comprobación
del nombre específico, el nombre genérico y la descripción. La base de
datos también se puede utilizar para recopilar los resultados de los análisis
internos históricos como referencia cuando se detectan partículas extrañas
similares. Esto hace posible que cualquier persona pueda identificar un
material al instante sin necesidad de tener conocimientos técnicos
avanzados.
Se analizan los
elementos
detectados.
Se sugiere al
instante el material
más probable.
7
Transición perfecta
de la observación a
la identificación del
material
Sensor de
imagen
CMOS
Diodo láser
Espectroscopios
Lente de
objetivo
reflectante
8
Microscopio e identificador elemental todo en uno
Análisis elemental de alto rendimiento
PRIMERO EN EL MUNDO
El cabezal compacto y desmontable incluye sistemas ópticos de luz blanca,
láser y espectroscopio. Este sistema especialmente diseñado cuenta con
una ruta central de transmisión láser con un sistema óptico reflectante para
enfocar la emisión de plasma de alta eficiencia. La combinación de las
tecnologías ópticas, láser y espectroscópicas patentadas por KEYENCE
permite una miniaturización superior de los componentes y un alto
rendimiento impresionante.
Acceso al análisis elemental con un solo clic
Función de alineación del campo de visión
NUEVO
La función de alineación del campo de visión permite que la lente del
microscopio y la lente de objetivo láser utilicen el mismo campo de visión.
Los usuarios pueden pasar fácilmente de la observación ampliada al análisis
elemental sin necesidad de volver a alinear o enfocar la lente de objetivo
láser.
Observación ampliada
(lente del microscopio)
Análisis elemental
(lente de objetivo láser)
9
Diversas funciones avanzadas
Medir, contar y analizar los elementos de los contaminantes
Identificación de materiales de la contaminación (conforme a la norma ISO 16232/VDA 19)
La identificación del material se puede realizar directamente en cualquier partícula extraña residual detectada mediante un software de
análisis de imágenes que cumpla con la norma ISO 16232/VDA 19. Esto elimina la necesidad de mover el objeto entre los instrumentos y
el riesgo de perder de vista el área de análisis.
Filtro de membrana
Pieza metálica (200×)
Imagen y análisis de objetos desde varios ángulos
Identificación elemental multiángulo
El ajuste a lo largo de tres ejes —campo de visión, eje de rotación y eje oblicuo— evita que el campo de visión se desplace incluso cuando
el cabezal está inclinado. Incluso aspectos profundos de un objeto que no se pueden ver sin inclinación se pueden capturar fácilmente, y
el análisis elemental se puede realizar con un solo clic.
Conector (20×)
10
Identificación en el interior de materiales multicapa
Función de análisis multicapa
La irradiación láser continua y la perforación permiten realizar análisis elementales en las capas que se encuentran debajo de la superficie
superior. Esto permite el análisis de objetos con recubrimientos o películas directamente en el área objetivo sin necesidad de
preprocesamiento.
[Resultado del análisis] Oro
[Elementos detectados]
Au (oro): 100%
[Resultado del análisis] Níquel
[Elementos detectados]
Ni (níquel): 100%
[Resultado del análisis] Latón
[Elementos detectados]
Cu (cobre): 62%
Zn (zinc): 38%
Recubrimiento multicapa (500×)
Identificación elemental eficiente en múltiples áreas
Función de análisis multipunto
Realice fácilmente análisis elementales para múltiples ubicaciones al mismo tiempo. Esto mejora la eficiencia del análisis cuando se analizan
los elementos de un material base y las partículas extrañas al mismo tiempo, o si varias partículas extrañas se adhieren al mismo objeto.
BGA PCB (50×)
11
Ejemplos de la industria
Automóviles/Metales
Al analizar los metales incrustados en una herramienta de corte, se detectaron elementos de titanio (Ti) y vanadio (V). Esto indicó que el
metal incrustado era una aleación Ti-Al-V. La capacidad de determinar instantáneamente si el contaminante forma parte del objeto
procesado o procede de alguna parte del proceso reduce significativamente el tiempo dedicado a establecer contramedidas.
Herramienta de corte (200×)
Dispositivos eléctricos/electrónicos
El análisis de partículas extrañas en un conector mostró aluminio (Al) y magnesio (Mg), lo que indica una aleación de Al-Mg. La
determinación de que el problema no está causado por el propio producto hace evidente que una revisión del entorno y los métodos de
uso proporcionará una solución inmediata.
Conector de placa de circuito impreso (50×)
12
Productos químicos/materiales en bruto
El análisis de partículas extrañas en una película multicapa dio como resultado cobre (Cu) y zinc (Zn), lo que indica que se trata de latón.
Esto ayudó a identificar qué procesos debían mejorarse, lo que redujo significativamente el tiempo dedicado a establecer contramedidas.
Película multicapa (100×)
Alimentos/Farmacéuticos
La detección de calcio (Ca) y fósforo (P) en las partículas extrañas mezcladas en los alimentos apuntaba a los huesos como contaminante.
Mientras que los modelos convencionales sólo podían formular hipótesis basadas en el color y la forma, la identificación en el lugar de
partículas extrañas permite mejorar la garantía de calidad y la fabricación.
Partículas extrañas en alimentos (200×)
13
Lente telecéntrica de alta resolución
Diagrama de configuración del sistema
20×
a
100×
100×
a
500×
500×
a
2500×
VHX-7100
2500×
a
6000×
Lente de objetivo de alta resolución y aumento
bajo
VHX-E20
Lente de objetivo de alta resolución y aumento
medio
VHX-E100
Lente de objetivo de alta resolución y aumento
alto
VHX-E500
Lente de objetivo de alta resolución y aumento
máximo
VHX-E2500
Lente (RZ) de zoom real *1
20×
a
2000×
VHX-7000N
VHX-A70 *14
Accesorio
estándar tipo
bayoneta
OP-51478/
OP-66871 *6
500×
a
5000×
250×
a
2500×
VHX-7020 *10
100×
a
1000×
VHX-A97F *14
Soporte del lente
VHX-J00T/J20T/
J20UT/J50T/J100T/
J250T/J500T/JZST
Soporte de unión *11
OP-88338
Soporte del lente
EA-300 *12
OP-88659
100×
a
1000×
20×
a
200×
20×
a
200×
VHX-970FN
0.1×
a
50×
50×
a
500×
Compatible con EA
Lente zoom de alta
resolución
VH-Z500R/Z500T
Lente zoom de luz dual
y gran aumento
VH-Z250R/Z250T
Lente zoom de rango amplio
VH-Z100R/Z100T
Compatible con EA
Lente zoom universal
(100× a 1000×)
VH-Z100UT Compatible con EA
Lente zoom universal
(20× a 200×)
VH-Z20UT
Lente zoom ultrapequeño de alto
rendimiento
VH-Z20R/Z20T Compatible con EA
Lente zoom de alto rendimiento y rango
bajo
VH-Z00R/Z00T Compatible con EA
Lente zoom de gran distancia de
trabajo y alto rendimiento
VH-Z50L/Z50T
VH-B55
VH-BA
Accesorio de
montura C
tipo bayoneta
OP-51479
Lente de cámara
(montaje C)
VH-B18
VH-B27
Fibroscopio *5
*7
14
VH-ZST
Lente de boroscopio *4
Identificador de
Materiales
EA-300
Microscopio
Lente zoom de
doble objetivo
VH-F
VH-F61A
VH-F111A
■ Plataforma
Adaptador difuso de
bajo aumento
OP-88588
Filtro de interferencia
diferencial para lente de
objetivo de bajo aumento
OP-88324
Adaptador difuso de
medio aumento
OP-88589
Set de filtros polarizadores
coaxiales
OP-88323
Filtro de interferencia
diferencial para lentes de
objetivo de medio, alto y
máximo aumento
OP-88325
Sistema de observación de
gran ángulo libre
VHX-S770E Compatible con EA
Sistema de observación de
ángulo libre
VHX-S750E Compatible con EA
(Plataforma XYZ motorizada,
enfoque Z motorizado)
(Plataforma XYZ motorizada,
enfoque Z motorizado)
Adaptador ajustable
ZST OP-87796
Adaptador de iluminación
polarizada OP-51649
Adaptador de
contacto OP-81880
Adaptador de
luz polarizante
OP-72407 *8
Filtro
polarizador
OP-87800 *8
Set de filtros SCP
OP-87821
Set de prisma DIC
OP-86943
Unidad de
iluminación
anular para
Z100/Z100U/
Z20U
OP-88164
Sistema de observación de
ángulo libre
VHX-S700 Compatible con EA
(Enfoque motorizado en Z)
Adaptador de iluminación
polarizada OP-72405 *2
Sistema de observación de
ángulo libre
VHX-S660E
(XYZ grande motorizado)
VHX-S650E (XYZ motorizado)
VHX-S600E (Z motorizado)
Adaptador de iluminación
polarizada OP-72406
Adaptador de iluminación de
campo oscuro OP-72402
Adaptador de iluminación
ajustable OP-72404
Adaptador de iluminación de
área amplia OP-87298 *3
Sistema de observación
de ángulo libre
VH-S300 (manual)
Sistema de observación
de ángulo libre
VH-S30F/S30B
Adaptador de iluminación
difusa OP-87299
Set de prisma DIC
y filtros
OP-87297
Adaptador de iluminación
ajustable VH-K20
Adaptador de iluminación súper
difusa OP-42305
Adaptador de iluminación
polarizada OP-87429
Soporte de montaje de
lente VH OP-25539
Plataforma XY
OP-22124
Sistema de medición XY
VH-M100E
Plataforma motorizada para eje Z
VHX-S700F/S600F
(Z motorizado, sólo cabezal)
Sistema de observación
de gran aumento
resistente a vibraciones
VH-S5
Adaptador de difusión sin contacto
OP-35414
Adaptador de multidifusión
OP-35469
Adaptador de iluminación
coaxial OP-35416
Anillo de iluminación no
reflectiva OP-32009
Adaptador de
luz polarizante
OP-72407 *9
Unidad de iluminación
anular Z50
OP-88135
Filtro
polarizador
OP-87800 *9
Adaptador de iluminación
difusa 971929
Adaptador de iluminación
polarizada 971930
Adaptador de iluminación
polarizada OP-72406
■ Módulos, etc.
Módulo de
medición de
formas 3D
VHX-H5M
Módulo de
medición XY
VHX-H3M3
Unidad de expansión
del puerto de la
cámara *13
OP-88662
Unidad de ramificación
de soporte OP-88590
Escala de
calibración
OP-88592
Costo de
calibración del VHX
979707
*1 Los lentes compatibles con VH-Z00T/Z20T/Z20UT/Z50T/Z100UT/Z100T/Z250T/Z500T/ZST TRIPLE'R están equipados con unidades de reconocimiento automático de lente/zoom y monturas de reconocimiento de conexión. *2 Para iluminación
coaxial, son necesarios OP-72407 y OP-72406. *3 Se incluye de serie con el VH-Z20UT. *4 Se requiere un cable de boro real (OP-87201). *5 Se requiere el accesorio de guía de luz dedicado (OP-88332). *6 Cuando se utiliza el VH-Z00R o Z20R, se
requiere el OP-66871. *7 Se requiere un adaptador de montura C adecuado para el microscopio. *8 Para el VH-Z100R, utilice el OP-72407. Para el VH-Z100T/Z100UT, utilice el OP-87800. *9 Para el VH-Z50L, utilice el OP-72407. Para el VH-Z50T, utilice
el OP-87800. *10 La unidad de iluminación (OP-88329) es necesaria para montar el VH-ZST, VH-Z500T, VH-Z250T, VH-Z100T/Z100UT, VH-Z20UT, o VH-Z50T en el VHX-7020. *11 Al montar la lente RZ en el VHX-S700/S750E/S770E, se requiere el
soporte de unión (OP-88338). *12 Cuando se conecta el VH-Z00/Z100/Z100UT al EA-300, se requiere el espaciador VH-Z00/Z100 (OP-88661). Cuando conecte el VH-ZST, utilice el soporte del lente VH-ZST (OP-88660). *13 Se requiere cuando se
utiliza el EA-300/VHX-7100/VHX-7020 al mismo tiempo. *14 Los modelos pueden variar según el idioma del instrumento. (Español/japonés/inglés/alemán/chino simplificado/chino tradicional/francés/coreano/tailandés/italiano/checo/húngaro/polaco)
15
Especificaciones
Modelo
Sistema óptico de
análisis
Principio de detección
Elementos soportados
Tipo de láser
Láser
Sensor de imágenes
Clase de láser
Tamaño del punto
Sistema de barrido
Sistema óptico
Sistema óptico de
observación
Alto rango dinámico
Tipo de lente
Peso
10 μm (típ.)
Sensor de imagen CMOS de 1/1.8 pulg. y 3.19 megapíxeles
300× a 1000×
Progresiva
50 fps (máx.)
Lente objetiva reflectante especialmente diseñada
Rango de intensidad de 16 bits en los datos RGB de cada píxel
Obturador electrónico
Obturador sobrecargado
Fuente de luz de
iluminación coaxial
incorporada
Tipo
Fuente de luz de
iluminación anular
incorporada
Tipo
Vida útil
Temperatura de color
Vida útil
Manual, Preestablecido
Automático, Manual, 1/60, 1/120, 1/250, 1/500, 1/1000, 1/2000, 1/5000, 1/9000, 1/19000
Se puede ajustar en incrementos de 0.01 s desde 0.02 a 16 s
Pulsado, Manual, Preestablecido (2700K, 3200K, 5600K y 9000K)
LED de alto brillo
100000 horas (valor de referencia)
5810K (típico)
LED de alto brillo
100000 horas (valor de referencia)
Temperatura de color 5810K (típico)
Fuente de alimentación Método de suministro de energía
Resistencia ambiental
Producto láser de Clase 1 (IEC/EN 60825-1, JIS C 6802, FDA (CDRH) Part 1040.10)
Distancia de trabajo
25 mm 0.98"
de la lente objetiva
Ganancia
Balance de blancos
H1 a U92
Nd: Láser YAG
Longitud de onda del láser 355 nm
Aumento de la observación
Velocidad de cuadros
EA-300
Espectroscopia de ruptura inducida por láser
Alimentación suministrada a través de un cable dedicado desde el puerto de la cámara del controlador de la Serie VHX
Temperatura ambiente de funcionamiento 10 a 33°C 50.0°F a 91.4°F
Humedad ambiente de funcionamiento
Unidad principal del sistema de análisis
Dimensiones (excluyendo salientes)
35 a 80% HR (sin condensación)
Aprox. 7.2 kg 15.87 lb
280 (ancho) × 375 (alto) × 210 (fondo) mm 11.02"(ancho) × 14.76" (alto) × 8.27" (fondo) (con la lente guardada)
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La información publicada en este documento se basa en evaluaciones e investigaciones hechas por KEYENCE al momento del lanzamiento del producto y puede cambiar sin previo aviso.
Los nombres de las compañías y productos mencionados en este catálogo, son marcas registradas de sus respectivas compañías.
Unidades expresadas en sistema métrico decimal. Las unidades en sistema inglés fueron convertidas directamente de las unidades métricas originales. La reproducción no autorizada de este catálogo está estrictamente prohibida.
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01KMX-2032-2
KMX-MX 2013-1 613E17
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