DOI:10.19652/j.cnki.femt.2013.05.011
２０１３ 年 ５ 月
第 ３２ 卷 第 ５ 卷
理论与方法
基于ＩＥＥＥ１１４９．
７ 的 ＴＡＰ 控制器命令研究
江坤
高俊强
（桂林电子科技大学 电子工程与自动化学院
摘
桂林 ５４１００４）
要：随着待测芯片的集成度越来越高，
ＩＥＥＥ１１４９．
１ 标准已很难满足芯片设计对测试与调试的要求。ＩＥＥＥ１１４９．
７标准在
保持与 ＩＥＥＥ１１４９．
１ 兼容的基础上增加了新功能，提供了一种全新的 双 引 脚 测 试 与 调 试 方 法 。 目 前 对 ＩＥＥＥ１１４９．
７的研究处
于起步阶段，所以研究支持其的控制器命令对今后的发展具有重要的意义。本 文 在 深 入 研 究 ＩＥＥＥ１１４９．
７ 标 准 的 基 础 上，利
用 Ｑｕａ
ｒ
ｔ
ｕｓＩ
Ｉ开发平台设计了基于 ＴＡＰ 控制器命令的测试控制器，并 进 行 了 仿 真 验 证。 结 果 表 明 产 生 的 命 令 测 试 信 号 符 合
ＩＥＥＥ１１４９．
７ 标准对 ＴＡＰ 控制器命令的规定。
关键词：
ＩＥＥＥ１１４９．
７ 标准；
ＴＡＰ 控制器命令；边界扫描；测试控制器
中图分类号：ＴＮ４０７
文献标识码：Ａ
国家标准学科分类代码：５１０．
６０
Ｃｏｍｍａｎｄ
ｓｏ
ｆＴＡＰｃ
ｏｎ
ｔ
ｒ
ｏ
ｌ
ｌ
ｅ
ｒｂａ
ｓ
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７
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ｉ
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（
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Ｂｅ
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ｈＩＥＥＥ１１４９．
１ＩＥＥＥ１１４９．
７ｐ
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ｅ
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ｅｏｎｔ
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ｒ
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ｆＩＥＥＥ１１４９．
７．
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ｆＩＥＥＥ１１４９．
７．
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１
１
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９．
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ｔ
ｃ
ｏ
ｎ
ｔ
ｒ
ｏ
ｌ
ｌ
ｅ
ｒ
ｙ
ｙ
１ 引
言
２ 控制器命令的基本理论
［］
边界扫描技术（
ＪＴＡＧ）１ 被 广 泛 运 用 了 二 十 多 年 ，
在集成电 路 的 可 测 性 设 计
重要作用
与故障诊断领域发挥着
［
２－３］
。 但 随 着 芯 片 结 构 越 来 越 复 杂 ，测 试 数 据
［
４］
量 越 来 越 大 ，测 试 速 度 与 测 试 时 间 均 成 为 测 试 中 的 严
重问题
［
５］
。
［］
［］
２００９ 年提出的ＩＥＥＥ１１４９．
７６ 标准以ＩＥＥＥ１１４９．
１７
标准为基础，在保持与 之 兼 容 的 同 时 增 加 了 新 特 性，其 紧
凑型边界扫描技术（
ＣＪＴＡＧ）提 供 了 一 种 全 新 的 双 引 脚 测
试与调 试 方 法，将 ＴＡＰ 的 引 脚 数 由 ４ 减 少 为 ２。ＣＪＴＡＧ
使设计人员能够轻松地测试与调试具有复杂数字电路、多
个 ＣＰＵ 以及多个应用软 件 的 产 品，如 移 动 与 手 持 通 信 设
备等 ［８］。目 前 已 经 研 发 出 支 持 ＩＥＥＥ１１４９．
１标准的测试
控制器及测试软件，但是对于支持ＩＥＥＥ１１４９．
７ 标准的 测
试控制器的研究尚属于起步阶段 ［９－１０］。
在零位 ＤＲ 扫描（
ＺＢＳ）的 基 础 上 实 现 控 制 器 命 令，用
于存取测试控制器的寄存器，从而确定测试控制器的操作
方式、工作状态及执行功能。
２．
１ ＺＢＳ
ＺＢＳ 指 ＴＡＰ 控制器不经过 Ｓｈ
ｉ
ｆ
ｔ－ＤＲ 直接进入 Ｅｘ
ｉ
ｔ
１－
ＤＲ 状态的零 位 ＤＲ 扫 描，如 图 １ 所 示。 控 制 器 从 Ｔｅ
ｓ
ｔ－
／
Ｌｏｇ
ｉ
ｃ－Ｒｅ
ｓ
ｅ
ｔ 状 态 经 过 Ｒｕｎ－Ｔｅ
ｓ
ｔ
Ｉ
ｄ
ｌ
ｅ、Ｓｅ
ｌ
ｅ
ｃ
ｔ－ＤＲ－Ｓｃ
ａｎ、
Ｃａｐ
ｔ
ｕ
ｒ
ｅ－ＤＲ、
Ｅｘ
ｉ
ｔ
１－ＤＲ，进入 Ｕｐｄａ
ｔ
ｅ－ＤＲ 状 态 为 一 次 完 整
的 ＺＢＳ。一旦控制器 进 入 Ｔｅ
ｓ
ｔ－Ｌｏｇ
ｉ
ｃ－Ｒｅ
ｓ
ｅ
ｔ状 态，就 开 始
ＺＢＳ 的探测。每 探 测 到 一 次 ＺＢＳ，控 制 器 内 部 的 计 数 器
ＺＢＳ＿
ＣＯＵＮＴ 就 会 加 １。当 控 制 器 进 行 包 含 Ｓｈ
ｉ
ｆ
ｔ－ＤＲ 状
态的 ＤＲ 扫描时，ＺＢＳ＿
ＣＯＵＮＴ 计 数 器 就 被 锁 定，被 锁 定
的计数值表明控制器所处的控制级别：控制 级别 １ 表示使
用系统测试逻辑；控制 级 别 ２ 表 示 产 生 控 制 器 命 令；控 制
收稿日期：
２０１３－０３
中国科技核心期刊
国外电子测量技术
— ４１ —
２０１３ 年 ５ 月
第 ３２ 卷 第 ５ 卷
理论与方法
级别 ３ 表示预留 功 能，供 扩 展 功 能 使 用；控 制 级 别 ４ 或 ５
表示存取控制器的辅助扫描路径；控制级别 ６ 表 示强制 离
线控制器；控制级别 ７ 表示预留功能，供 ＤＴＳ 使用。
描拓扑；私有命令，实现芯片定制的一些专用功能。
存储 命 令 均 为 ｔｗｏ－ｐａ
ＳＴＭＣ、
ＳＴＣ１、
ｒ
ｔ 命 令，包 括：
ＳＴＣ２、
ＳＴＦＭＴ、
ＳＴＴＰＳＴ 和 ＳＴＴＥＳＴＭ。 选 择 命 令 均 为
命
令，
包
括：ＭＳＣ、ＭＣＭ。 扫 描 命 令 均 为 ｔ
ｒ
ｔ
ｔｗｏ－ｐａ
ｈｒ
ｅ
ｅ－
ＳＣＮＳ。枚 举 命 令 包 括 ｔｗｏ－ｐａ
ｒ
ｔ命令，包括 ＳＣＮＢ、
ｒ
ｔ命
ｐａ
。
命
令
的
私
有
命
令
均
为
令的 ＣＩＤＤ 和 ｔ
ｈｒ
ｅ
ｅ－ｐａ
ｒ
ｔ
ＣＩＤＡ
ｔｗｏ－ｐａ
ｒ
ｔ命令，包括 ＥＸＣ０－ＥＸＣ３。
ｔ
ｈｒ
ｅ
ｅ－ｐａ
ＳＣＮＢ、
ＳＣＮＳ 和 ＣＩＤＡ。ＳＣ－
ｒ
ｔ命令 有 ３ 个：
ＮＢ 命令的 ＣＲＳｃ
ａｎ 提供了一种方式来访问由操作数指定
的寄存器。ＳＣＮＳ 命令的 ＣＲ 扫描提供了一种方式来 访问
由命令操作数指定的 ＥＰＵ 串 行 路 径。ＣＩＤＡ 提 供 了 一 种
方式分配控制器的控制器地址。
２．
３ 控制器寄存器
控制器命令可 以 存 取 控 制 器 的 寄 存 器，
ＣＪＴＡＧ 规 定
有全局和局部两种寄存器。全局寄存器指在共享 ＤＴＳ 的
所有控制器中同步存储的寄存器，其名称相同，包括 ＥＣＬ、
图 １ ＺＢＳ 状态
ＳＵＳＰＥＮＤ、ＺＢＳ
ＩＮＨ、ＳＣＮＦＭＴ、ＳＳＤＥ、ＤＬＹＣ、ＴＰ－
ＰＲＥＶ、
ＴＰＳＴ 和 ＲＤＹＣ 寄存器。 局 部 寄 存 器 指 通 过 控 制
假如控制器进入 Ｔｅ
ｓ
ｔ－Ｌｏｇ
ｉ
ｃ－Ｒｅ
ｓ
ｅ
ｔ、
Ｓｈ
ｉ
ｆ
ｔ－ＩＲ 状态或寄
器命令被有条件存储 的 寄 存 器，存 储 条 件 为：在 串 行 扫 描
存器 ＳＵＳＰＥＮＤ、
ＺＢＳ
ＩＮＨ 存储数值为逻辑１，强制 ＺＢＳ 无
拓扑中存储局部寄存 器 的 数 值 取 决 于 控 制 器 在 扫 描 链 中
效。在执行 ＺＢＳ 过 程 中，为 了 使 控 制 器 状 态 的 操 作 不 会
的位置；在星型扫描拓扑中存储局部寄存器的数值取决于
影响 到 系 统 测 试 逻 辑，首 先 加 载 指 令 ＢＹＰＡＳＳ 或 ＩＤ－
这个 ＴＡＰ 控 制 器 的 地 址，有 ＴＯＰＯＬ、ＦＲＥＳＥＴ、ＴＲＥ－
ＳＥＴ、 ＰＷＲＭＯＤＥ、 ＡＰＦＣ、 ＳＴＣＫＤＣ、 ＣＧＭ、 ＳＧＣ、
ＳＲＥＤＧＥ、ＣＩＤ、ＣＩＤＩ、ＲＤＢＡＣＫ０、ＲＤＢＡＣＫ１、ＣＮＦＧ０、
ＣＯＤＥ 至控制器的指令寄存器中。
２．
２ 控制器命令
假如控制器被锁定在控制级别 ２，就产生控制器命令。
ＣＮＦＧ１、
ＣＮＦＧ２ 和 ＣＮＦＧ３ 寄存器。
控制器 命 令 有 ｔｗｏ－ｐ
ａ
ｒ
ｔ和 ｔ
ａ
ｒ
ｔ两 种 类 型，一 条 ｔｗｏ－
ｈ
ｒ
ｅ
ｅ－ｐ
根据功 能 可 将 寄 存 器 分 为 ５ 类，控 制 型 寄 存 器，配 置
ａ
ｒ
ｔ命令由 ＣＰ１ 产生的５ 比特操作码和由 ＣＰ２ 产生的５ 比
ｐ
特操作数构成。ＣＰ１ 和 ＣＰ２ 是 ２ 个连续 的 ＤＲ 扫 描，该 扫
和连接 ＣＪＴＡＧ 的功能；选项型寄存 器，控制 ＣＪＴＡＧ 的 可
选择功能；选 择 型 寄 存 器，选 择 ＣＪＴＡＧ 的 扫 描 组 成 员 用
描在 Ｓｈ
ｉ
ｆ
ｔ－ＤＲ 状态自循环的次数产生操作码和操 作数，此
于扫描测试及执行条 件 命 令；枚 举 型 寄 存 器，分 配 或 取 消
过程中 ＴＤＩ和 ＴＤＯ 引脚不作用。控制器执行与 ＣＰ２ 相关
控制器的 ＣＩＤ；只读型寄存器，读回寄存器数值。
的 ＤＲ 扫描时，进入 Ｕｐｄ
ａ
ｔ
ｅ－ＤＲ 状 态 标 志 着 控 制 器 命 令 被
译码。一条ｔ
ｈ
ｒ
ｅ
ｅ－ｐ
ａ
ｒ
ｔ命令除操作码和操作数外，还包括一
３ 基于 ＴＡＰ 控制器命令的测试控制器
条 ＣＲ 扫描。ＣＲ 扫描具有 ＤＲ 扫描的属性，此扫描 过 程中
３．
１ 总体设计
ＴＤＩ引脚用于传输命令数据。假如控制器在命令完成之前
退出控制级 别 ２，命 令 无 效。任 意 数 量 的 ｔｗｏ－ｐ
ａ
ｒ
ｔ命 令 和
议转换器：将上位机并行发送的测试数据或测试指令转化
ｔ
ｈ
ｒ
ｅ
ｅ－ｐ
ａ
ｒ
ｔ命令均可以组合起来使用，如图 ２ 所示。
为待测芯片识 别 的 串 行 ＣＪＴＡＧ 测 试 信 号 （
ＴＭＳ，
ＴＣＫ），
测试控制器实际上 是 一 种 智 能 化 的 并 行 到 串 行 的 协
且将待测芯片串行发送的响应数据并行发送至上位机，一
个完整的测试控制系统如图 ３ 所示 ［１１］。
图 ２ 控制器命令的组合
图 ３ 测试控制系统
控制器 命 令 从 功 能 上 分 为 ５ 类：存 储 命 令，通 过 命 令
中的操作数完成对寄 存 器 的 存 储；选 择 命 令，选 择 扫 描 的
数据通道从而完成对扫描成员的选择或执行条件式命令；
扫描命令，通 过 控 制 扫 描 方 式 完 成 测 试 数 据 的 读 或 写 操
作；枚举命令，完成控 制 器 识 别 码 的 分 配 从 而 完 成 星 型 扫
— ４２ —
国外电子测量技术
３．
２ 实现过程
首先测试控制器（
ＤＴＳ）产生相应的测试信号
实时控制待测芯片的 ＴＡＰ 控制器。通 过零位 ＤＲ 扫
描实现 ＺＢＳ２，即使得 ＴＡＰ 控制 器处于控制级别 ２。其 次
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２０１３ 年 ５ 月
第 ３２ 卷 第 ５ 卷
实现控制器命令，假如 需 实 现 ｔｗｏ－ｐａ
ｒ
ｔ控 制 器 命 令，测 试
控制器两次 ＤＲ 扫 描 实 现 操 作 码 和 操 作 数。 假 如 需 实 现
ｒ
ｔ命令，除了两次 ＤＲ 扫 描 外，还 需 要 一 次 ＣＲ 扫
ｔ
ｈｒ
ｅ
ｅ－ｐａ
描，且在 Ｓｈ
ｉ
ｆ
ｔ－ＤＲ 状态双向传输测试数据。
３．
３ 实现 ＺＢＳ
理论与方法
４．
２ 控制器命令的仿真
ｔｗｏ－ｐａ
００００００１００１）的 仿 真 如 图 ５ 所
ｒ
ｔ命令 ＳＴＭＣ（
示，由仿真图可 知 该 设 计 实 现 了 ＳＴＭＣ 控 制 器 命 令 测 试
信号的产生。首 先 ＣＯＭＭＯＮＤ＿
ｆ
ｌ
ａｇ 为 逻 辑 １ 表 明 执 行
在进行操作之 前，首 先 把 ＢＹＰＡＳＳ 或 ＩＤＣＯＤＥ 指 令
控制器命令，根据配置知 ＣＰ１ 为“
０００００”，可知 ＤＲ 扫描 过
装载进 ＴＡＰ 控制器的指令寄存器中。接着测试控制器 通
过 ＴＭＳ 产生 ５ 个连续的逻 辑 １ 发 送 至 芯 片 的 ＴＡＰ 控 制
程中 Ｓｈ
ｉ
ｆ
ｔ－ＤＲ 自循环 ０ 次。通过 ＴＭＳ 在 ＴＣＫ 下降沿由
左至右 依 次 发 送 “
０１００”使 ＴＡＰ 控 制 器 经 过 Ｒｕｎ－Ｔｅ
ｓ
ｔ－Ｉ－
器，使其状态为 Ｔｅ
ｓ
ｔ－Ｌｏｇ
ｉ
ｃ－Ｒｅ
ｓ
ｅ
ｔ（
００００）。此时 ＴＡＰ 控 制
器开始探测 ＺＢＳ，当 ＴＡＰ 控制器依次经过 Ｒｕｎ－Ｔｅ
ｓ
ｔ－Ｉ
ｄ
ｌ
ｅ、
ｄ
ｌ
ｅ、Ｓｅ
ｌ
ｅ
ｃ
ｔ－ＤＲ、Ｃａｐ
ｔ
ｕ
ｒ
ｅ－ＤＲ 进 入 Ｓｅ
ｌ
ｅ
ｃ
ｔ－ＤＲ 状 态 即
”
。
ＳＴＡＴＥ 为“
０１００ 此 时 ＴＭＳ 在 ＴＣＫ 下 降 沿 发 送 ０ 个
Ｓｅ
ｌ
ｅ
ｃ
ｔ－ＤＲ－Ｓｃ
ａｎ、
Ｃａｐ
ｔ
ｕ
ｒ
ｅ－ＤＲ 直 接 进 入 Ｅｘ
ｉ
ｔ－ＤＲ 状 态 时，
激活 ＺＢＳ。 接 着 进 入 Ｕｐｄａ
ｔ
ｅ－ＤＲ 状 态 完 成 一 次 ＺＢＳ，
逻辑 ０ 使 ＴＡＰ 控制器在 Ｓｈ
ｉ
ｆ
ｔ－ＤＲ 状 态 自 循 环 ０ 次，产 生
ＴＡＰ 控制器的 ＺＢＳ＿
ＣＯＵＮＴ 计数值加 １。根 据 配置需 要
产生两 次 ＺＢＳ，故 在 ＴＣＫ 下 降 沿，测 试 控 制 器 通 过 ＴＭＳ
发送逻辑 １ 使 ＴＡＰ 控 制 器 进 入 Ｓｅ
ｌ
ｅ
ｃ
ｔ－ＤＲ－Ｓｃ
ａｎ 状 态，接
ＳＴＭＣ 的 操 作 码 （
ＣＰ１）。接 着 ＴＭＳ 在 ＴＣＫ 下 降 沿 由 左
至右依次发 送 “
１１”，使 ＴＡＰ 控 制 器 状 态 经 过 Ｅｘ
ｉ
ｔ
１－ＤＲ、
进入 Ｕｐｄａ
ｔ
ｅ－ＤＲ 状态即 ＳＴＡＴＥ 为“
１０００”，此时完成了与
ＣＰ１ 相关的 ＤＲ 扫描。
着依 次 经 过 Ｃａｐ
ｔ
ｕ
ｒ
ｅ－ＤＲ、
Ｓｈ
ｉ
ｆ
ｔ－ＤＲ、Ｅｘ
ｉ
ｔ
１－ＤＲ 进 入 Ｃａｐ－
ｔ
ｕ
ｒ
ｅ－ＤＲ 状态，此时待测芯片的 ＺＢＳ＿
ＣＯＵＮＴ 计 数器被 锁
定为 ２，即 ＬＯＣＫ 变为 １ 锁定。由以上分析可 知 实 现 ＺＢＳ
需要进行 ＺＢＳ 操作、
ＺＢＳ 锁定和 ＺＢＳ 结束 ３ 个步骤。
３．
４ 实现控制器命令
处于控 制 级 别 ２ 的 ＴＡＰ 控 制 器 能 够 产 生 控 制 器 命
图 ５ ｔｗｏ－ｐａ
ｒ
ｔ 命令 ＳＴＭＣ 的仿真
令，首先进行有关 ＣＰ１ 的 ＤＲ 扫 描，在 Ｓｈ
ｉ
ｆ
ｔ－ＤＲ 状 态 自 循
环但不伴随数据的传输，由操作码确定自循 环的次数。再
次进行有关 ＣＰ２ 的 ＤＲ 扫 描，类 同 有 关 ＣＰ１ 的 ＤＲ 扫 描，
此时 Ｓｈ
ｉ
ｆ
ｔ－ＤＲ 状态自循环 次 数 由 操 作 数 确 定。 最 后 进 入
Ｔｅ
ｓ
ｔ－Ｌｏｇ
ｉ
ｃ－Ｒｅ
ｓ
ｅ
ｔ状态使 ＴＡＰ 控制器退出控制级别。
４ 测试控制器的仿真验证
接着 按 照 产 生 ＣＰ１ 的 方 法 产 生 ＣＰ２，在 Ｓｈ
ｉ
ｆ
ｔ－ＤＲ
（
０１００）自循环 ９ 次，循 环 结 束 后 通 过 ＴＭＳ 发 送“
１１”使 控
制器完成产生操作码（
ＣＰ２）。
由以上分析可知，所设计的测试控制器产生的测试信
号满足ＩＥＥＥ１１４９．
７ 标准中关于控制器命令的要求。
５ 结
４．
１ ＺＢＳ２ 的仿真
ＺＢＳ２ 的仿真如图 ４ 所示。测试控制器发 送 测试信 号
论
目前，集成电路已经进入到深亚微米工艺和千兆时钟
通过初始化状 态 机 使 ＴＡＰ 控 制 器 处 于 Ｔｅ
ｓ
ｔ－Ｌｏｇ
ｉ
ｃ－Ｒｅ
ｓ
ｅ
ｔ
状态即 ＳＴＡＴＥ 为“
００００”，接着通过 ＴＭＳ 在 ＴＣＫ 下降由
时代，紧凑型边界扫描 技 术 顺 应 了 这 一 趋 势，能 够 解 决 芯
左至 右 沿 依 次 发 送 “
０１０１１”，使 ＴＡＰ 控 制 器 经 过 Ｒｕｎ－
Ｔｅ
ｓ
ｔ－Ｉ
ｄ
ｌ
ｅ、
Ｓｅ
ｌ
ｅ
ｃ
ｔ－ＤＲ、Ｃａｐ
ｔ
ｕ
ｒ
ｅ－ＤＲ、Ｅｘ
ｉ
ｔ
ｔ
１－ＤＲ，进 入 Ｕｐ－
命令的测试过程基础上，设计的测试控制器能够产生符合
片系统设计中的众多问题。本文在深入理解 ＴＡＰ 控制器
ＩＥＥＥ１１４９．
７ 标准的测试信号。
ｄａ
ｔ
ｅ－ＤＲ 状态即 ＳＴＡＴＥ 为“
１０００”，此时完成了 一次 ＺＢＳ。
参 考 文 献
接着 ＴＭＳ 在 ＴＣＫ 下降沿发送逻辑１ 使 ＴＡＰ 控制器再次
进入 Ｓｅ
ｌ
ｅ
ｃ
ｔ－ＤＲ－Ｓｃ
ａｎ 状态即 ＳＴＡＴＥ 为“
００１０”，通过 ＴＭＳ
［
１］ 黄 文 君，雷 加 ．星 型 边 界 扫 描 拓 扑 的 测 试 方 法 研
在 ＴＣＫ 下降由左至 右 沿 依 次 发 送“
０１１”，使 ＴＡＰ 控 制 器
究［
Ｊ］．国外电子测量技术，
２０１１，
３０（
６）：
５４－５７．
经过 Ｃａｐ
ｔ
ｕ
ｒ
ｅ－ＤＲ、
Ｅｘ
ｉ
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１－ＤＲ 第二次进入 Ｕｐｄａ
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［
２］ 苏 波 ．基 于 ＩＥＥＥ１１４９．
１ 及 ＩＥＥＥ１１４９．
４标准的测试
即 ＳＴＡＴＥ 为“
１０００”，此时完成了第二次 ＺＢＳ。
技术 研 究 ［
Ｊ］．国 外 电 子 测 量 技 术，
２０１２，
３１（
０４）：
３４－３７．
［
３］ 程云波，方葛丰 ．基于边 界 扫 描 技 术 的 电 路 板 可 测 性
设计分析［
Ｊ］．电子测量技术 ．
２００７，
１２（
０７）：
２１－２５．
［
４］ 陈 光 礻禹 ．可 测 性 设 计 技 术 ［Ｍ ］．电 子 工 业 出 版
社，
１９９７．
［
５］ 陈 新 武，余 本 海 ．边 界 扫 描 协 议 剖 析 －从 １１４９．
１到
１１４９．
６［
Ｊ］．计算机与数字工程，
２００５，
３３（
１）：
２５－２９．
图 ４ ＺＢＳ２ 的仿真
中国科技核心期刊
（下转第 ５６ 页）
国外电子测量技术
— ４３ —
２０１３ 年 ５ 月
第 ３２ 卷 第 ５ 卷
研究与开发
参 考 文 献
［
１］ 王加朋，王 淑 荣，徐 领 娣，等 ．紫 外 辐 射 计 的 波 长 定 标
及不确定度分析［
Ｊ］．光电工程，
２００８，
３５（
６）：
４２－４７．
［
８］ 张新朝，雷 翔 飞，李 志 攀 ．基 于 ＴＭＳ３２０Ｆ２８１２ 的 红 外
信息 处 理 硬 件 平 台 设 计 ［
Ｊ］．国 外 电 子 测 量 技 术，
２０１０，
２９（
４）：
６４－６７．
［
９］ 朱建铭，陈真诚，金 星 亮，等 ．基 于 ＤＳＰ 技 术 的 便 携 式
［
２］ 李新，张国 伟，寻 丽 娜，等 ．短 波 红 外 平 常 光 谱 仪 的 波
无创血糖检测 仪 ［
Ｊ］．电 子 测 量 与 仪 器 学 报 ，
２００９，
２３
长定标［
Ｊ］．光学学报，
２００８，
２８（
５）：
９０２－９０６．
［
］
３ 赵发财，王淑 荣，曲 艺，等 ．新 型 高 分 辨 率 紫 外 － 可 见
（
６）：
１０８－１１２．
［
］
苏
奎
峰，吕 强，常 天 庆，等 ．
１０
ＴＭＳ３２０Ｘ２８１Ｘ ＤＳＰ 原 理
成像光谱仪波 长 定 标 系 统 设 计 ［
Ｊ］．光 电 工 程，
２０１０，
及 Ｃ 程 序 开 发 ［Ｍ ］．北 京：北 京 航 空 航 天 大 学 出 版
３７（
７）：
９２－９６．
社，
２００８．
［
４］ 林冠宇 ．紫外臭氧垂直探测仪波 长 经 度 分 析 与 波 长 定
标新 方 法 的 研 究 ［
Ｊ］．仪 器 仪 表 学 报，
２０１０，
３１（
１２）：
［
１１］ 刘永平，荆红莉 ．基于 ＤＳＰ 的 混 合 动 力 车 用 电 机 控 制
系统设计［
Ｊ］．国外电子测量技术，
２０１２，
３１（
５）：
８５－８８．
２６６８－２６７４．
［
５］ 杨家 建，卢 小 丰，冯 晓 东，等 ．基 于 ＬａｂＶＩＥＷ 的 光 栅
单色仪 波 长 标 定 装 置 ［
Ｊ］．电 子 测 量 技 术，
２０１０，
３３
（
４）：
７８－８１．
［
６］ 刘和平，邓力，江渝，等 ．数字 信 号 处 理 器 原 理、结 构 及
应用基础—ＴＭＳ３２０Ｆ２８Ｘ［Ｍ ］．北 京：机 械 工 业 出 版
社，
２００７．
［
７］ 陈果，郭庆，王金宏，等 ．基于 ＳＴＭ３２ 的蓄电 池 检 测 系
统［
Ｊ］．国外电子测量技术，
２０１２，
３１（
１）：
７０－７３．
作 者 简 介
汪龙祺，
１９７８ 年出生，工学博士，副研究员，主 要 研 究
方向光电探测领域与航空机载设备设计。
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ｌ：
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ｃｎ
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阚珊珊，
１９８０ 年出生，学士，助 理研究员，主要研 究 方
向为光学系统检测与像质分析。
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（上接第 ４３ 页）
［
６］ ＩＥＥＥ Ｓ
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Ｓ］．
ＩＥＥＥＳ
ｔ
ｄ１１４９．
７．
２００９．
林：桂林电子科技大学，
２００９：
９－２３．
［
］
建珍珍，
颜学龙
两线
型
扫
描
测试控制器设计［
１１
．
Ｊ］．大
众科技，
２０１２，
１４（
３）：
６３－６５．
［
７］ ＩＥＥＥ Ｓ
ｔ
ａｎｄａ
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ｓ
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作 者 简 介
Ａｒ
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Ｓ］．
ＩＥＥＥＳ
ｔ
ｄ１１４９．
１－２００１ ．
２００１．
［
８］ ＳＴＥＰＨＥＮ Ｌ．
Ｒｅ
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９（
２）：
１
５－１
９．
［
９］ 徐志磊 ．紧凑型 ＪＴＡＧ 接 口 的 设 计 与 验 证 ［
Ｄ］．上 海：
上海交通大学，
２０１０．
６：
１１－１５．
［
１０］ 黄新 ．基 于 边 界 扫 描 的 网 络 化 测 试 技 术 研 究 ［
Ｄ］．桂
— ５６ —
国外电子测量技术
江坤，
１９８６ 年 出 生，硕 士，研 究 方 向 为 计 算 机 辅 助
测试。
Ｅ－ｍａ
ｉ
ｌ：
ｃ
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ｉ
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ｊ
高俊强，
１９８６ 年 出 生，硕 士，研 究 方 向 为 计 算 机 辅 助
测试。
中国科技核心期刊