ءا ا Prof. Entsar I. Rabea Department of Plant Protection Faculty of Agriculture, Damanhour University, E-mail: entsar_ibrahim@yahoo.com ا ءا Colorimetric Methods 9, ق اV 7 2 3 س ا0 ا ا ط قا Visual Colorimetric Methods Standard Series Method ! 8K9, رن 56 T وى ?H ًاF G D = م و, BC ?@) 5 =<; ا4و ل ا, "ا 9 7,89 أ56 ه2 3 4 س0 اد ا ل ا, ! ط- * ا+, ( ) اQ R ً وC ل,K@ ا2 3 ا8 B و2 3 اC, BC ن, اO<P < = ت ا6 N اLC . ن, ا6 N3 25 ml 50 ml 100 ml ط قا ا ا Visual Colorimetric Methods Duplication Method ا ط #ة أو وى ا ان ! و ل ا ا ھ ه ا وھ ا (' أ*) - &+',وى . /ا ان ن لا %& %ا # & -و ن - 4 5وى ل ا . /ا دة ا ، 23و . /ا ً * > ا @ وف ا -! 6 7-&8وى 9 ,ا ان +',و :ا * ! ; رأ ا. A B Dilution Method ا طأ* -& % -! Dو % ل ا وا :ا ( ' ا 23 45 أن 9! - ا ن ا +ا %/ا Gو H- ً & %ا و E5Fا ن أ ا . / + + %Iا 23ل. ا * ن – و! * # 9 D -ن ! Visual Colorimetric Methods ا ا ط قا Balancing Method ان24[ا :!(,- ان و+ا أ)('ة$% أ"!س لو ا ط وھ ط Dubosque Colorimeter Q!,8 ز دKG C 1 L1 = C 2 L2 Hehner Cylinders ھ 5d,e ة ا س ا2KGc7 59, " ا ط قا Photometric Instruments ىFC رF ىR ن وا, س Photoelectric cell ف اi " اN 4 5 ا @ دة واL B ال اF8 !ة ? ا2KGgه اR ھ56و 7 K3 d,+ =7 5l=i اcV= واkB * ا) [ت اC L 9, ةFj وى4 monochromator sample cell slit diffraction grating . ةj 8C ء,e ة اFj س7 m light source 4( 7 detector ا و)!ة 234 و)!ة 1س ط1 ا#$% 9,ت ا2KGg ! !gة ا و)!ة و./ ا# + س ا 5d,e و)!ة ا ا%ط ال ا '& , ا 6!#ت "!ر ا#$% 5d,e س ا ة ا2KGg ! !g ت ا9, ا Light Source :od,+ رFlC -1 Wave Length Selector :oG, ل ا,V د اF C -2 Cuvette : P B ا7,89 أ-3 Detector :R6 P ء ا,e ا5 w فB ة اF) و-4 Recorder :" @ ة اF) و-5 5d,e س ا ة ا2KGg ! !g ت ا9, ا Light Source :ء,e ر اFlC .(5d )ا .(UV) أوGlobar , حA" !م 3 C,9 9 900 5 إ340 LC اهFC oG,C ل, طK Bjر اFl4 L @P دة اC LC 8 • C,9 9 400 5 إ200 LC اهFC oG,C ل, طK Bjر اFl4 م, دة ن+ ' ون 15-2 9 اء ا7 4 Nernest Glower 73 Deuterium Lamp for UV Spectrophotometer F دة اC LC 8 • #$% ل ا2 • Cھ Tungsten Lamp !م 3 5d,e س ا ة ا2KGg ! !g ت ا9, ا Wave Length Selector :oG, ل ا,V د اF C o , طƒj T7 2G ) 8w ر ?4 ، < =C G,C ال, اط5 ء إ,e " ا oG G2 ر ا,iP م اF= .D0 ء ا,e ر اC F F ا 9,ت ا2KGg ! !gة ا أ 7,89ا Sample Cuvette : P B ازي F G 3ت '$ ! 34م أ A ل )L 4 (&64x &61x &61 ا#د H 9 ا# اد O P 4 + #ه؛ و . "4أ A ا U ا ' ار O4أو ا ,Oج أو ا R 6FAا Tف وة. ا ــ 9ا ' ـ ار(SiO2) O4 34ـ !م ا Fـ ا " ـ وا + #$%ق ا ، 23 A ءا 2لا + Y 9اF %ح ا " ! 34م ا Fا ' +ر ـــ! ا "ـــ د م + ،ر ـــ! ا ' 3ـــ م ،و ـــ! ـــ ا "ـــ د م ،و ـــ! ا 6 4 Aـــ م +ـــ ا اء، ! 6ام ا 7 4 #$%ا و +اO ,%ة ر[ " ا ! 34 9 Yم أ) ً أ \ #ت. ا A [%ر ا #د F P س ا 5d,e 5d,e س ا ة ا2KGg ! !g ت ا9, ا Detector :R6 P ء ا,e ا5 w فB ة اF)و L 5 ) ، d 7 K3 0 ط5 ت إR<9 o اBjg ت ا9,4,6 " , 7 م, 4 d,+ وK3 † Lw رة8w .R6 P ء ا,e ا3 F 4 Photomultiplier tube (PMT) Metal base plate Selenium Layer Theoretical barrier layer Transparent metal layer Collective ring Light-Sensitive Devices ء P 1ط ا ا1Gا م 63 ة اO ,%ا 4 ^ ) :Photocells Barrier-layer Cell زة ا اF اط ا `A$ دة9 ً!ا, 1ر Aط \6 ! ! ا9 !# aG3 9 ' نا4 ً!ا, AG A6 ه ا دة اb ھGc4 &H Selenium م 3 ا9 دة وھSemiconductor `AT ا AG ل اF[ ' و ت ا رةd ا. , #4 ^ ر _ Silver ا9 + $و \G P ! ! ا Aط #4 P ،Cathode) Collector electrode) . , ' ودP #4 _ أى سا ر f ط9 ول%\ اG _ (Anode) H _ 1ر Photoemissive Cell و ثا ا Spectrophotometers < ء ط,e ة ا2KGأ Single Beam Instruments d,e اC2 ة أ) د ا2KGg ا-ا ,K@ اP B * ا+,4 ه اR ھ56 و، 7 H ةFj ة ذاتF) واd,+ C2) ة2KGgه اR ھ56 مF= 4 .5 ا, ا5 w G, ء أ) د ا,e اC2) رC 56 (k R )ا9ر اP w وK! 0 اد ا Double Beam Instruments d,e اC2 اGدو2C ة2KGg ا-ب ل‰† اھF)ا ( 7 ةFi ا56 L و C L w Bj 5 ا . 9ر d,e اC2 ? ا4 ة2KGgه اR ھ56و اP w ل‰† †Šا و,K@ اP B ا Spectrophotometers < ء ط,e ة ا2KGأ Single Beam Spectrophotometer Double Beam Spectrophotometer ﺘﻌﻴﻴن ﺘرﻜﻴز ﻤﺎدة ﻤﺠﻬوﻝﺔ ﺒﺎﻝطرﻴﻘﺔ اﻝﻠوﻨﻴﺔ: • اﻷﺴﺎس ﻓﻰ ﻋﻤﻠﻴﺔ اﻝﺘﻘدﻴر اﻝﻠوﻨﻰ ﻫو طرﻴﻘﺔ اﻝﻤﻨﺤﻨﻰ اﻝﻘﻴﺎﺴﻰ Calibration curve methodﺤﻴث ﻴﺴﺘﺨدم ﻫذا اﻝﻤﻨﺤﻨﻰ ﻋﻨد اﻝﺸروع ﻓﻰ ﺘﻘدﻴر ﻋدد ﻜﺒﻴر ﻤن اﻝﻌﻴﻨﺎت ﺒواﺴطﺔ اﻷﺠﻬزة اﻝﻀوﺌﻴﺔ وﻴوﻀﺢ ﻫذا اﻝﻤﻨﺤﻨﻰ اﻝﻌﻼﻗﺔ ﺒﻴن ﺘرﻜﻴز اﻝﻤﺤﺎﻝﻴل اﻝﻘﻴﺎﺴﻴﺔ ﻤن اﻝﻤﺎدة ﻤوﻀﻊ اﻝﺘﻘدﻴر ودرﺠﺔ اﻻﻤﺘﺼﺎص (Absorbance (Aأو اﻝﻨﺴﺒﺔ اﻝﻤﺌوﻴﺔ ﻝﻠﻨﻔﺎذﻴﺔ ،(Transimittance percentage (%Tﺤﻴث ﻴﺘم رﺴم اﻝﻌﻼﻗﺔ ﺒﻴﺎﻨﻴﺎً ﻜﻤﺎ ﻫو ﻤوﻀﺢ ﺒﺎﻝﺸﻜل ).(17-7 ﺸﻜل ) :(17-7ﻤﻨﺤﻨﻰ ﻗﻴﺎﺴﻰ ﻴوﻀﺢ اﻝﻌﻼﻗﺔ ﺒﻴن اﻝﺘرﻜﻴز واﻻﻤﺘﺼﺎص وﻜذﻝك ﺒﻴن اﻝﺘرﻜﻴز و %ﻝﻠﻨﻔﺎذﻴﺔ وﻫﻨﺎ ﻴﺠب ﺘﺤﻀﻴر اﻝﻤﺤﺎﻝﻴل اﻝﻘﻴﺎﺴﻴﺔ ﺒﻨﻔس طرﻴﻘﺔ ﺘﺤﻀﻴر اﻝﻌﻴﻨﺎت اﻝﻤﺠﻬوﻝﺔ اﻝﺘرﻜﻴز ،أى ﻴﺠب أن ﺘﻀﺎف ﺠﻤﻴﻊ اﻝﻤﺤﺎﻝﻴل اﻝﻤﺴﺘﺨدﻤﺔ ﻓﻰ ﺘﺤﻀﻴر اﻝﻌﻴﻨﺎت اﻝﻤﺠﻬوﻝﺔ ﺜم ﺘؤﺨذ ﻝﻬﺎ ﻗراءات درﺠﺎت اﻻﻤﺘﺼﺎص أو اﻝﻨﻔﺎذﻴﺔ واﻝﺘﻰ ﺘوﻗﻊ ﻤﻘﺎﺒل اﻝﺘرﻜﻴز ﻋﻠﻰ ورق رﺴم ﺒﻴﺎﻨﻰ ،وﻴﻤﻜن ﻤن ﺨﻼل ﻫذا اﻝرﺴم اﻝﺒﻴﺎﻨﻰ اﻴﺠﺎد ﻤﻴل اﻝﺨط Slopeﺤﻴث أن اﻝﻤﻴل ﻴﺴﺎوى ﻗﻴﻤﺔ اﻝﺜﺎﺒت Kﻓﻰ ﻗﺎﻨون ﺒﻴﻴر )اﻝطرﻴﻘﺔ اﻝﺒﻴﺎﻨﻴﺔ (Graphical methodأو ﻴﻤﻜن اﻴﺠﺎد اﻝﺜﺎﺒت ﺒﺎﻝطرﻴﻘﺔ اﻝﺤﺴﺎﺒﻴﺔ Calculation method ﻋن طرﻴﻘﺔ ﺤﺴﺎب ﻗﻴﻤﺔ اﻝﺜﺎﺒت ﻝﻜل ﺘرﻜﻴز ﻤن اﻝﻤﺤﺎﻝﻴل اﻝﻘﻴﺎﺴﻴﺔ اﻝﻤﺤﻀرة ﻝﻌﻤل اﻝﻤﻨﺤﻨﻰ اﻝﻘﻴﺎﺴﻰ ﺜم اﻴﺠﺎد ﻗﻴﻤﺔ اﻝﻤﺘوﺴط ﻝﻠﺜﺎﺒت .K أو ﺒﺎﻝطرﻴﻘﺔ اﻻﺤﺼﺎﺌﻴﺔ Statistical methodﻋن طرﻴق اﻝﻤﻌﺎدﻝﺔ اﻝﺘﺎﻝﻴﺔ: n∑X∑Y − ∑X∑Y 2 ) n ∑ X 2 − (∑ X ﺤﻴث = nﻋدد اﻝﻤﻜررات =Xاﻝﺘرﻜﻴز =Yاﻻﻤﺘﺼﺎﺼﻴﺔ أو اﻝﻜﺜﺎﻓﺔ اﻝﻀوﺌﻴﺔ =k