AZtecCrystal 用户指南
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
免责声明
如 果 对 文 档 内 容 或 格 式 进 行 任 何 未 经 授 权的 更 改，Oxford Instruments 将 不 对 由 本 文 档 使 用 造 成 的
后果承担任何责任。
尽 管 已 尽 力 确 保 所 含 信 息 的 准 确 性，但 Oxford Instruments NanoAnalysis 无 法 保 证 这 些 信 息 没 有 任
何 错 误、遗 漏 或 误 差。此 外，Oxford Instruments NanoAnalysis 的 政 策 是 不 断 进 行 产 品 改 进。因 此，
本公司保留更改本文档所含信息的权利，恕不另行通知。
本手册不提供任何明示或默示的担保，包括但不限于对针对特定用途的适销性和适用性的默示担
保。
版权所有
本文档所含信息为专有信息，属于 Oxford Instruments NanoAnalysis 的知识产权。
本 文 档 由 Oxford Instruments NanoAnalysis 发 布，前 提 是 接 受 文 档 的 任 何 人 应 尽 最 大 努 力 避 免 在 未
经 Oxford Instruments NanoAnalysis 书面同意的情况下将此类保密信息泄露给任何第三方。
未 经 Oxford Instruments NanoAnalysis 书 面 同 意，不 得 对 本 文 档 的 任 意 部 分 以 任 何 形 式 进 行 复 制、
传播、转载或任何其他方式的公开。
目标受众
本 用 户 指 南 为 用 户 提 供 了 关 于 Oxford Instruments AZtecCrystal 软 件 的 使 用 方 法 信 息。它 适 用 于 普
通用户和高级用户，涵盖使用 AZtecCrystal 软件分析通过 AZtec EBSD 系统采集的 EBSD 数据的所
有方面。
假设用户：
• 对晶体学有基本的了解。
• 具备一些微结构表征的知识。
联系信息
Oxford Instruments NanoAnalysis
Halifax Road
High Wycombe
HP12 3SE, UK
电 话 ：+44 (0) 1494 442255
传 真 ：+44 (0) 1494 461033
电 子 邮 件 ：nanoanalysis@oxinst.com
www.oxford-instruments.com
第 2 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
目录
1. 新增内容
6
2. 简介
9
2.1. AZtecCrystal 简介
3. 使用 AZtecCrystal
9
11
3.1. 启动软件
11
3.2. AZtecCrystal 软件概述
15
3.3. 了解 EBSD 取向和坐标
33
4. 像素数据
37
4.1. 像素数据工作区
37
4.2. 查看特定数据点的数据
39
4.3. 导出像素数据
41
5. 分布图
44
5.1. 分布图工作区
44
5.2. 可用分布图图层
51
5.3. 配置分布图
96
5.4. 平移和缩放分布图
108
5.5. 查看特定数据点的数据
110
5.6. 查看特定晶粒的数据
111
5.7. 导出分布图
112
6. 清理
115
6.1. 清理工作区
116
6.2. 清理数据
116
6.3. 恢复数据集
120
7. 晶粒尺寸
122
7.1. 晶粒分析的注意事项
123
7.2. 晶粒尺寸工作区
125
7.3. 执行晶粒检测
133
7.4. 查看特定晶粒的数据
136
7.5. 查看晶粒大小排列统计
137
7.6. 过滤晶粒列表
138
7.7. 将晶粒列表转换为子集
139
第 3 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
7.8. 导出晶粒列表
8. 测量
140
142
8.1. 测量工作区
142
8.2. 测量线轮廓
143
8.3. 编辑和删除线轮廓
146
8.4. 导出测量数据
146
9. 极图
149
9.1. 极图工作区
149
9.2. 配置极图
151
9.3. 平移和缩放极图
160
9.4. 查看极线图
161
9.5. 旋转极图数据
163
9.6. 导出极图数据
164
10. 反极图
167
10.1. 反极图工作区
167
10.2. 配置反极图
169
10.3. 平移和缩放反极图
177
10.4. 导出反极图集
178
11. 取向分布函数
180
11.1. 取向分布函数工作区
180
11.2. 配置取向分布函数
184
11.3. 平移和缩放取向分布函数
190
11.4. 配置取向分布函数
191
12. 边界
195
12.1. 边界工作区
197
12.2. 配置取向差角分布
198
12.3. 配置取向差轴数据
200
12.4. 导出边界数据
208
13. 子集
212
13.1. 创建子集
212
13.2. 添加数据到现有子集
214
13.3. 使用子集
215
第 4 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
附录
附录 A. Oxford Instruments NanoAnalysis HDF5 文件规范
第 5 页，共 244 页
227
227
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
1. 新 增 内 容
此列表详细说明自 AZtecICE 首次发布以来的改进和新增内容。
像素数据
• 能够将某个参数范围分配至某个子集。
• 显示 Map Data( 分布图数据) 条目是否在当前选定的子集中。
分布图
• 用户定义的 Favorites( 收藏) 列表。
• 新 Grain EDM( 晶粒 EDM) 分布图图层( Euclidian Distance Measurement( 欧几里得距离测量) –
到最近晶界的距离) 。
• 高分辨率 IPF 图例( 通过单击鼠标右键访问) 。
• 改进图例显示。
• 平铺长宽比链接至数据集长宽比。
• 点击模式自动显示三维晶胞显示。
• 完善施密得因子定义。
• 常量类颜色可供织构组分使用。
清理
• 孔隙检测现提供 Band Contrast( 带对比度) 或 Band Slope( 带斜率) 选择。
• 能够更好地恢复原始数据。
• 修改 Project Information( 项目信息) 里的数据集通知。
晶粒尺寸
• 更多晶粒尺寸参数( 现有多达 19 个)
• 新的 Unit Cell( 晶胞) 晶粒模型：在晶粒列表中的每个晶粒上以正确的取向显示线框晶胞。
测量
• 改进跨多相横断面的设置：累积取向差只适用于横断面的原相，并显示相对于第一点的取向
差。
极图/反极图
• 能够定义带等高线的密度范围：允许直接比较不同的数据集。
取向分布函数
第 6 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
• 全新的查看模式，可计算和显示高级取向分布函数。
• 通过 Spherical Harmonics( 球面谐波) 或 Gaussian Smoothing( 高斯平滑) 进行计算。
• User defined( 用户自定义) ：
° 晶胞宽度。
° 级数秩 (Lmax)。
° 不变的欧拉角。
° 剖面间距。
° 坐标系和样品对称性。
• 单个剖面或连续剖面显示。
• 密度轮廓显示。
• 织构系数显示。
• 多种等高线和显示选项，包括用户定义的密度范围。
边界
• 添加 M 指数到取向差分布显示( 显示织构强度) 。
• 新的取向差轴绘图工具：
° 为任意取向差角度范围绘制旋转轴。
° 在样品或晶体坐标系 (PF/IPF) 中绘图。
° 在任意坐标系中绘制低或高角度范围的默认工具。
° 由于晶体对称性，可自动确定“禁用”区域。
° 用于显示/等高线配置的标准 PF/IPF 选项。
子集
• 改进子集创建工具：
° 分布图上的多边形工具。
° 像素数据查看模式下的用户定义范围。
° 晶粒列表中每个微晶( 即定义的晶粒，不排除特殊边界) 1 个点。
° 直接来自 Project Panel( 项目面板) 的相列表。
° 用户定义的水平或垂直子集数量。
• 更好的分布图显示选项：反子集的 8 种颜色转换。
• 改进从子集创建新数据集的功能( 子集中未包含的点没有给定取向或相值) 。
• 能够将某个子集与晶粒列表相结合( 例如，如果 >50% 的像素在已定义的子集中，则晶粒包含
在子集中) 。
整体的改进
• 图形显示：
° 更改显示颜色。
° 能够在线形、条形和区域显示之间切换。
° 单击数据点以查看详细信息。
第 7 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
• 导出功能：
° 增加分辨率选择和文本/图例缩放。
° 改进导出直方图的外观。
° 用直方图导出更多统计信息。
° 自动导出到 Microsoft PowerPoint。
° 自动导出所有分布图、极图、反极图和取向分布函数到 Microsoft PowerPoint。
• 改进 HDF5 文件结构：
° 某些值现可写回 HDF5 文件( 例如 IPF 值、KAM、晶粒 ID) 。
• 在 Project Pane( 项目窗格) 中选择 Project name( 项目名称) 时，现可显示分析详情( 包括 SEM
和标定设置) 。
• 现可显示更多数据集信息( 包括采集时间和速度) 。
• 现可导出 EDAX *.ang 格式的文件( 仅方形网格)
第 8 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
2. 简 介
本 用 户 指 南 为 用 户 提 供 了 所 有 必 要 的 信 息，包 括 如 何 分 析 使 用 配 置 Nordlys 或 CMOS EBSD 探 测
器的 Oxford Instruments AZtec EBSD 系统采集的 EBSD 数据。它适用于普通用户和高级用户，涵盖
分析 EBSD 数据的所有方面，包括：
• 如何使用 AZtecCrystal 软件。
• 查看项目详情。
• 查看项目数据。
• 清除数据。
• 创建分层分布图。
• 创建极图和反极图。
• 创建取向分布函数。
• 执行晶粒尺寸测量。
• 完成测量。
• 使用子集。
2.1. AZtecCrystal 简介
AZtecCrystal 是 一 个 专 用 于 EBSD 数 据 处 理 和 分 析 的 软 件 包。它 将 许 多 工 具 组 合 在 单 一 直 观 的 用
户界面中，支持高级深入的 EBSD 数据处理。
它的主要功能包括：
• 与 AZtec 无缝集成。
• 自定义的 .h5oina 文件格式，包括 EBSD 和 EDS 数据。
注 意 ：目 前 ，该 文 件 格 式 仅 在 与 EBSD 数 据 一 起 保 存 时 才 支 持 EDS 数 据 。
• 灵活性：
第 9 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
° 单一直观的用户界面自带多种查看模式和多种高级微结构查询工具，可考虑多种材料问
题。
° 可创建具有无限分布图图层数量的多层分布图。
• 速度：
° 基于四元数的算法可实现快速数据处理，即使数据集非常大。
° 相关数据和设置存储在每个项目中，以便快速重新加载。
• 智能：
° 围绕智能程序而设计，比如孔隙检测、GND 密度计算和取向差角一致性。
° 符合 ASTM 标准的全面晶粒尺寸分析，显示选项超过十个。
° 针对所有材料的智能默认和设置。
它包含许多高级查看模式和处理工具，包括：
• 原始数据和分布图数据的像素数据显示。
• 完整的分布图分析，有多个可自定义的显示。
• 完整的极图和反极图查看模式。
• 数据清除。
• 全面的晶粒大小排列。
• 取向差分析。
• 数据子集构造。
• 线轮廓显示和测量。
第 10 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
3. 使 用 AZtecCrystal
本章提供对 AZtecCrystal 软件的概述，包括：
• 如何启动 AZtecCrystal 软件。
• AZtecCrystal 软件的布局和主要组件。
3.1. 启动软件
AZtecCrystal 软件的启动方式有：
• 双击桌面上的 AZtecCrystal 图标。
• 从 Windows 开始菜单中访问 OI NanoAnalysis 文件夹，然后从中选择 AZtecCrystal。
AZtecCrystal 启动时，软件打开启动界面：
该界面可用于：
• 打开已保存项目。
• 从 Recent Files( 最近文件) 选项卡中的列表打开最近项目。
注 意 ：软 件 首 次 运 行 时 ，此 选 项 卡 将 显 示 为 空 。
• 从 Demo Datasets( 演示数据集) 选项卡中的列表打开演示项目。
第 11 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
打开已保存项目
AZtecCrystal 可以打开 EBSD 数据文件：
• .h5oina：AZtec 开放源代码文件格式。
• .cpr & .crc：Channel5 文件格式。
有关从 AZtec 导出这些文件类型的更多信息，参见“为 AZtecCrystal 导出数据”。
要打开已保存项目：
1. 点击 Open( 打开) 图标。
这将打开 Open Project( 打开项目) 对话窗口。
2. 浏览到要打开的项目的位置。
3. 选择项目并点击 Open( 打开) ，将项目加载到 AZtecCrystal 中。
打开演示项目
要打开演示项目：
1. 选择 Demo Datasets( 演示数据集) 选项卡：
2. 对于需要的项目，点击图像或 Open( 打开) 按钮来打开它。
打开最近项目
要打开最近项目：
1. 选择 Recent Files( 最近文件) 选项卡：
所有最近访问过的项目都将显示在主工作区中。
2. 对于需要的项目，点击图像或 Open( 打开) 按钮来打开它。
第 12 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
3.1.1. 自 定 义 启 动 画 面 的 显 示
工 具 栏 显 示 在 Recent Files( 最 近 文 件) 和 Demo Datasets( 演 示 数 据 集) 选 项 卡 的 顶 部。该 工 具 栏 可
用于自定义项目显示：
• 使用 Tile Size( 平铺尺寸) 滑块可调整每个项目的显示高度。
• 使用 Aspect Ratio( 长宽比) 滑块可调整每个项目的显示宽度。
对于 Recent Files( 最近文件) 选项卡，显示工具栏包含一个附加项，即 Sort( 排序) 下拉菜单：
使用下拉菜单可指定最近项目的显示顺序。可用的选项包括：
• Last Opened( 上次打开) ：最近一次打开的项目可排在第一个或最后一个。
• Creation Date( 创建日期) ：最近一次创建的项目可排在第一个或最后一个。
• File size( 文件大小) ：最大的项目可排在第一个或最后一个。
• Phases( 相) ：相最多的项目可排在第一个或最后一个。
• 名称：项目可从“A 至 Z”或“从 Z 至 A”排列。
3.1.2. 为 AZtecCrystal 导 出 数 据
针 对 AZtecCrystal 的 推 荐 文 件 格 式 是 .h5oina 文 件 格 式。这 是 一 种 AZtec 和 AZtecCrystal 开 放 源 代
码文件格式，可以导出仅 EBSD、仅 EDS 和 EBSD/EDS 组合数据。
注 意 ：如 果 将 数 据 多 次 导 出 到 单 个 .h5oina 文 件 ，那 么 每 次 导 出 时 ，数 据 都 将 被 添 加 到 相 同 的 文 件 中 。
例 如 ，如 果 将 包 含 windows 整 合 EDS 分 布 图 的 AZtec 数 据 集 导 出 到 .h5oina 文 件 中 ，然 后 使 用 TruMaps
处 理 数 据 并 再 次 导 出 ，则 该 .h5oina 文 件 现 将 包 含 这 两 种 类型 的 EDS 数 据 。
由于遗留问题的原因，AZtecCrystal 也可以打开 Channel5 .cpr 文件。
h5oina 格式
要以 从 AZtec 导出数据.h5oina 格式：
1. 从数据树中，选择项目、样本、站点或要导出的 EBSD 数据集。
2. 右键单击项目以打开上下文菜单。
例如：
第 13 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
3. 选择：
• Export to H5OINA( 导出到 H5OINA) ：导出数据并将其作为 AZtec 项目的一部分保存在 Data
( 数据) 文件夹中的 H5OINA 文件夹中。
• Launch with AZtecCrystal( 随 AZtecCrystal 一起启动) ：导出数据，将其作为 AZtec 项目的一
部分保存在 Data( 数据) 文件夹中的 H5OINA 文件夹中，并将其加载到 AZtecCrystal 中。
CPR 格式
要以 .cpr 格式从 AZtec 导出数据：
1. 从 File( 文件) 下拉菜单中，选择 Export to CHANNEL5 project...( 导出到 CHANNEL5 项目…) 选
项。
将会打开 Export to CHANNEL5( 导出到 CHANNEL5) 窗口：
2. 为要导出的数据输入一个合适的文件名。
3. 选择一个合适的文件位置。
4. 单击 OK( 确定) 按钮关闭窗口并导出数据。
状态栏中将显示指示导出进度的绿色进度条。
第 14 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
3.2. AZtecCrystal 软件概述
AZtecCrystal 为 EBSD 数据分析的各个方面提供简单的用户界面。
它的主要功能有：
项目
描述
菜单栏
具有用于执行各种操作的典型下拉菜单栏，包括打开和保存项目、应用程序外
观和帮助。
项目窗格
工作区左侧区域，显示项目树、当前选中项目的信息、项目中的相和样品属
性。
查看模式选择
器
选择要使用的查看模式。可根据需要同时选择多个查看模式。
主工作区
主要工作区域。显示的信息类型取决于所选查看模式。
设置窗格
工作区右侧区域，包含适用于当前选定查看模式和数据集的设置。
3.2.1. 菜 单 栏
从菜单栏可访问许多下拉菜单，包括:
第 15 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
• File( 文件) ：管理项目所需的操作。
• View( 视图) ：控制功能在软件中的可见性。
• Tools( 工具) ：配置软件背景外观。
• Help( 帮助) ：访问软件帮助。
文件菜单
File( 文件) 下拉菜单可用于打开、关闭和保存项目。
AZtecCrystal 能够打开和保存的文件格式有：
• .h5oina：AZtec 开放源代码文件格式。这是推荐的文件格式。
• .cpr & .crc：Channel5 文件格式。
• .ang：EDAX 文件格式。
注 意 ：.cpr 文 件 不 能 在 AZtecCrystal 中 保 存 为 .h5oina 文 件 。
视图菜单
View( 视图) 下拉菜单可用于显示不同的查看模式和要控制的选项。它还可用于设置软件使用的缩
放级别。
工具菜单
第 16 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
Tools( 工具) 下拉菜单包含用于配置软件背景外观的选项：
帮助菜单
从 Help( 帮助) 下拉菜单可访问不同的帮助工具：
选择 Show Help( 显示帮助) 可访问在线 html 帮助，选择 Launch User Manual( 启动用户手册) 可访问
pdf 手册。
选择“关于 AZtecCrystal”可查看关于 AZtecCrystal 当前版本的信息。
上下文菜单
在 整 个 AZtecCrystal 软 件 中，可 右 键 单 击 分 布 图、极 图、数 据 等 项 目 和 项 目 窗 格 中 的 项 目，以 访 问
该项目的上下文菜单。上下文菜单包含适用于特定项目的有用操作的快捷方式。
例 如，某 个 分 布 图 的 上 下 文 菜 单 包 含 可 用 于 对 分 布 图 重 置 比 例 的 选 项，以 及 用 于 导 出 分 布 图 的 各
种选项：
有关各项目上下文菜单的更多信息，请参见帮助部分的相关章节。
3.2.2. 查 看 模 式 选 择 器
AZtecCrystal 查看模式选择器位于软件顶部。它包含多个不同的查看模式，可访问用于分析和查询
EBSD 数据的许多工具。它们包含：
第 17 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
项目
描述
查看当前选定项目( 和分布图) 的原始数据或分布图数据。
创建、编辑和查看分层分布图。
通过删除杂乱的尖峰和零解析来清理数据集。
执行晶粒检测并过滤当前晶粒列表。
沿绘制在分布图上的某条线显示轮廓。
创建和查看极图 (PF)。
创建和查看反极图 (IPF)。
创建和查看取向分布函数 (ODF)。
查看数据集中的取向差角分布。
第 18 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
3.2.3. 项 目 窗 格
项目窗格包含与当前打开的项目相关的信息。它位于软件的左侧。它的显示可以通过 View( 视图)
菜单来控制，也可以通过点击软件左下侧 Project( 项目) 树选项卡上方的箭头来控制：
项目窗格中可能有两个选项卡。
1. Project Tree( 项目树) ：此选项卡始终存在。它包含关于项目结构的信息。
2. Selected Point( 选定点) ：在某种查看模式中选择单个数据点时，将出现此选项卡。它包含关于
该数据点的信息。
这些选项卡中的任何部分的显示都可以使用每个部分顶部的向上/向下箭头来控制。例如：
项目详情选项卡
第 19 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
Project Details( 项目详情) 选项卡由四个部分组成：
1. Project Tree( 项目树) ：当前打开项目( 及其子集) 的列表。
2. Info( 信息) ：包含一般项目信息。
3. Phases( 相) ：包含数据集中存在的所有相的信息的表。
4. Sample Properties( 样品性质) ：可用于定义样品对称性和 CS0 -> CS1 转换。
项目树
Project Tree( 项目树) 选项卡的项目树部分显示当前打开项目( 及其子集) 的列表：
它可以用来选择要在主工作区中显示的数据。例如：
第 20 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
• 如果选择了某个项目级别，则 Detailed Project Info( 详细项目信息) 将显示在主工作区中。
• 如果选择了某个数据集级别，则整个数据集将使用所选的查看模式显示在主工作区中。
• 如果选择了某个子集级别，则仅子集中的数据将使用所选的查看模式显示在主工作区中。
如果多个项目处于打开状态，则突出显示的是活动项目。
关 于 项 目 树 中 项 目 的 更 多 选 项，右 键 单 击 项 目 或 点 击 项 目 右 侧 的 三 个 点 以 访 问 上 下 文 菜 单。可 用
选项取决于项目：
• 项目：选项：
° 保存项目。
° 使用新的文件名保存项目。
° 关闭项目。
° 在 AZtecCrystal 的新实例中打开项目。
• 数据集：选项：
° Export Maps/Pole Figures/ODFs to PowerPoint( 导出分布图/极图/ODF 到 PowerPoint) ：导出
所有当前已构建的分布图、极图、反极图和取向分布函数到 Microsoft PowerPoint。
° Create Grid of n x m Subsets( 创建 n x m 网格子集) ：Divide the dataset into a grid of n x m
subsets( 将数据集分成 n x m 网格子集) 。
° Remove All Subsets( 移除所有子集) ：删除与数据集相关的所有子集。
° Reduce Dataset to New Project( 归约数据集至新项目) ：通过分组数据以相同的总体尺寸( 单
位为 µm) 、更少的数据点来复制项目。
° Restore Dataset( 恢复数据集) ：将已清除的数据集还原成原始( 未清除的) 状态。
• 子集：选项：
° Rename Subset( 重命名子集) ：赋予子集一个自定义名称。
° Remove Subset( 移除子集) ：删除当前子集。
° Clone Subset( 复制子集) ：复制当前子集。
° Invert Subset( 反转子集) ：反转当前子集，使不在旧子集中的点在新子集中，反之亦然。
° Combine Subset with other Subset( 将子集与其他子集相组合) ：使用“And”、“Or”或“Xor”将两
个子集组合在一起，形成一个新的子集。
° Dilate Subset( 膨胀子集) ：在所有方向上将子集的大小增加一个像素。这对于选择不同子集
之间的边界区域很有用。
° Erode Subset( 侵蚀子集) ：在所有方向上将子集的大小减少一个像素。
° Morphological Open( 形态打开) ：减小子集的大小，包括消除不良数据点的小块。
° Morphological Close( 形态关闭) ：扩大子集的边界。
° Nullify subset( 作废子集) ：将子集内的所有数据点设为零解析。
° Reassign Phase to Subset( 重新分配相至子集) ：将子集内的所有数据点分配至特定相。
° Convert Subset to new Project( 将子集转换成新项目) ：将子集保存为新项目。
注 意 ：有 关 使 用 子 集 和 这 些 子 集 选 项 的 更 多 信 息 ，请 参 阅 “子 集 ”一 章 。
项目信息
项目信息显示在 Project Tree( 项目树) 选项卡的 Info( 信息) 部分：
第 21 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
它包含以下信息：
• 项目名称。
• 数据集名称。
• 数据集中像素的数量。
• 光栅：数据集的 x 尺寸和 y 尺寸。
• 步长尺寸。
• 采集时间。
• 采集速度。
• 数据集中零解析的数量。
• 命中率：已标定数据点的百分比。
• 数据集是否在 AZtecCrystal 中已被修改。
相
Project Details( 项目详情) 选项卡的 Phases( 相) 部分包含当前选定数据集或子集的相信息：
第 22 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
在相表中可以查看：
• 每个存在的相。
• 每个相所属的 Laue Group( 劳厄群) 。
• 为每个相标定的点和标定为零解析的点的百分比
从本 Phases( 相) 部分，还能：
• 重命名相。
• 指定相颜色。
• 移除相。
• 将所有标定点作为相添加到子集。
重命名相
要重命名相：
1. 找到 Project Details( 项目详情) 选项卡的 Phases( 相) 部分：
2. 选择要重命名的相。
第 23 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
3. 右键单击该相以访问 Phases( 相) 上下文菜单：
4. 选择 Rename Phase...( 重命名相...) 选项。
将会打开 Rename Phase( 重命名相) 窗口：
5. 在 New Phase Name( 新相名称) 字段中输入相的新名称。
6. 单击 Ok( 确定) 更改相名称并关闭 Rename Phase( 重命名相) 窗口。
配置相颜色
要配置某个相的颜色：
1. 找到 Project Details( 项目详情) 选项卡的 Phases( 相) 部分：
2. 选择要更改颜色的相。
3. 右键单击该相以访问 Phases( 相) 上下文菜单：
第 24 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
4. 选择 Set Phase Color...( 设置相颜色...) 选项。
将会打开 Set Phase Color( 设置相颜色) 窗口：
5. 使用 Color( 颜色) 下拉菜单选择一种新的颜色来代表该相。
6. 点击 Ok( 确定) 提交颜色更改并关闭 Set Phase Color( 设置相颜色) 窗口。新的相颜色现将用
于在整个软件中代表该相。
点击 Cancel( 取消) 关闭窗口而不对相颜色做任何更改。
移除相
要移除相：
1. 找到 Project Details( 项目详情) 选项卡的 Phases( 相) 部分：
2. 选择要移除的相。
3. 右键单击该相以访问 Phases( 相) 上下文菜单：
第 25 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
4. 选择 Remove Phase from Dataset( 从数据集移除相) 选项。
将会打开 Remove Phase( 移除相) 窗口。例如：
5. 选择 Yes( 是) 关闭窗口并从项目中永久删除相，或选择 No( 否) 取消。
将标定点作为相添加到子集
要将所有已标定为特定相的数据点添加到子集：
1. 通过选择项目树中的数据集或现有子集，选择是否将点添加到新子集或现有子集。
2. 找到 Project Details( 项目详情) 选项卡的 Phases( 相) 部分：
3. 选择要创建子集的相。
4. 右键单击该相以访问 Phases( 相) 上下文菜单：
5. 选择 Phase to Subset( 相到子集) 选项。
如 果 在 项 目 树 中 选 择 了 数 据 集 级 别，则 将 创 建 一 个 包 含 数 据 的 新 子 集 并 将 其 添 加 到 数 据 树
中。
如果在项目树中选择了某个子集，则将把数据添加到现有子集。
第 26 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
样品属性
Sample Properties( 样品属性) 部分位于 Project Tree( 项目树) 选项卡的底部：
它包含以下信息：
• Sample Symmetry( 样品对称性) ：指定样品对称性。选择：
° 三斜。
° 单斜。
° 斜方。
注 意 ：默 认 为 三 斜 ( 即 假 设 无 样 品 对 称 性 ) 。
• Omega angle( ω 角) ：将样本倾斜到扫描倾斜轴的旋转角度。此角度影响 CS1 的取向，如了解
EBSD 取向和坐标部分所述。
对 于 新 的 .h5oina 文 件 格 式，ω 角 被 正 确 导 出 并 显 示 在 ω 字 段 中。此 值 呈 灰 色，因 为 它 是 采 集
系统的固有属性，因此无法调整。
对 于 旧 的 Channel5 .cpr 文 件 格 式，ω 角 未 导 出，在 ω 字 段 中 显 示 为 Unknown( 未 知) 。系 统 假
设它等于 0。这可能不正确，所以在解析取向和分布图之间的关系时需谨慎。可使用下拉菜单
将其设置为其他值。
注 意 ：如 果 将 ω 角 设 置 为 90°、180° 或 270°，则 绘 制 在 XY 投 影 面 上 的 极 图 将 自 动 旋 转 ，以 处 于 与
任意分布图相同的参照帧中。
第 27 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
• CS0 -> CS1：可相对于采集轴指定样本的轧制方向。
最常见的六种关系是：
样品坐标系 (CS0)
CS0 -> CS1
0°、0°、0°
0°、-90°、0°
-90°、0°、0°
90°、90°、-90°
90°、90°、0°
0°、-90°、-90°
第 28 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
选定点选项卡
在 某 种 查 看 模 式 中 选 择 单 个 数 据 点 时，Selected Point( 选 定 点) 选 项 卡 将 出 现 在 Project( 项 目) 窗 格
中。
选项卡顶部会显示三维晶胞模型。此模型显示当前选定数据点的晶体取向( 相对于采集表面) 。
三维模型下方显示数据点的具体信息，包括：
• 相。
• 三个欧拉角。
• 最近的晶体方向和每个晶体轴与那个方向的夹角。
选项卡底部显示一些关于相的一般信息，包括：
• 相名称。
• 劳厄群。
• 晶格尺寸。
• 晶格角度。
3.2.4. 主 工 作 区
主工作区是显示项目数据并可以与之交互的区域。
它有两种不同的显示类型：
1. 详细项目信息显示：在 Project( 项目) 树中选择项目级别时显示。
2. 数据显示：在 Project( 项目) 树中选择数据集或子集级别时显示。
第 29 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
当 某 个 项 目 被 首 次 加 载 到 AZtecCrystal 中 时，默 认 在 Project( 项 目) 树 中 选 择 Dataset( 数 据 集) 级
别，并显示当前选定查看模式的数据。
要 在 Detailed Project Info( 详 细 项 目 信 息) 和 Data( 数 据) 显 示 模 式 之 间 切 换，在 Project( 项 目) 树 中
选择合适的项目级别。
要 调 整 Data( 数 据) 显 示 中 显 示 的 数 据 的 类型，从 主 工 作 区 上 方 的 查 看 模 式 选 择 器 或 View( 视 图)
菜单中选择合适的查看模式。
详细项目信息
Detailed Project Info( 详 细 项 目 信 息) 显 示 提 供 关 于 当 前 在 Project( 项 目) 树 中 选 择 的 项 目 的 更 详 细
的信息。当在 Project( 项目) 中选择项目级别时，它是活动的。例如：
信 息 显 示 被分 成 多 个 部 分。第 一 部分 是 General( 一 般) 部 分。本部 分 包 含 项 目 的 一 般信 息，包 括 文
件尺寸、创建项目的时间和上次修改项目的时间。
第二部分是 Dataset( 数据集) 部分。对于项目中的每个数据集，都将有一个 Dataset( 数据集) 部分。
每个数据集部分的顶部显示一些关于数据集的一般信息，包括像素数量、光栅、步长、采集时间和
速度。在这些信息下面有两个子部分：Phases( 相) 和 Acquisition Settings( 采集设置) 。
Phases( 相) 子部分列出数据集中所有的 Phases( 相) 。
Acquisition Settings( 采 集 设 置) 部 分 包 含 与 数 据 采 集 时 间 相 关 的 所 有 采 集 设 置，包 括 显 微 镜 加 速 电
压和放大倍率、工作距离以及 EBSD 相机采集和标定设置。
数据显示
数据显示模式是默认的显示模式，显示当前选择的查看模式的所有数据。
第 30 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
如果选择了单个查看模式，它的显示将在主工作区中最大化。例如：
选定的分布图查看模式
选定的极图查看模式
如果选择了 Maps( 分布图) 查看模式和任何其他查看模式，则主工作区将被分成两个部分。上半部
分将显示 Maps( 分布图) 查看模式，下半部分将显示其他查看模式。例如：
如果选择了 Maps( 分布图) 查看模式之外的多个查看模式，则每个查看模式都将有自己的选项卡，
并将在主工作区中最大化。例如：
第 31 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
要同时查看这些查看模式中的多个，可以取消停靠这些选项卡，将它们移动到另一个位置。
要取消停靠查看模式窗格：
1. 点击查看模式选项卡右侧的箭头图标：
将取消停靠该窗格到自己的窗口：
2. 在窗口标题上按下鼠标左键并拖动鼠标，将窗口移动到新的位置。松开鼠标左键完成操作。
要重新停靠窗口：
第 32 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
1. 点击窗口标题右侧的箭头：
将和其他查看模式一起重新停靠窗口。
3.2.5. 设 置 窗 格
Settings( 设置) 窗格包含当前查看模式的设置。它位于软件的右侧。
它的显示可以通过点击软件右下侧 Settings( 设置) 选项卡上方的箭头来控制：
Settings( 设 置) 窗 格 的 顶 部 将 显 示 当 前 选 择 的 各 种 查 看 模 式 的 Settings( 设 置) 选 项 卡。例 如，如 果
当 前 选 择 了 Maps( 分 布 图) 和 Pole Figures( 极 图) 查 看 模 式，则 Settings( 设 置) 窗 格 将 包 含 Map
Settings( 分布图设置) 和 Pole Figure Settings( 极图设置) 的设置选项卡：
如 果 取 消 选 择 了 其 中 一 种 查 看 模 式 ( 即 不 再 显 示 在 主 工 作 区 中) ，则 将 从 Settings( 设 置) 窗 格 中 移
除其设置选项卡。
如 果 在 View( 视 图) 下 拉 菜 单 中 选 择 了 Link View with Settings( 链 接 视 图 至 设 置) 选 项，则 当 前 活 动
的 设 置 选 项 卡 将 对 应 主 工 作 区 中 当 前 活 动 的 查 看 模 式。要 选 择 不 同 的 设 置 选 项 卡，点 击 Settings
( 设置) 窗格中的选项卡或在主工作区中选择不同的查看模式。
每 个 选 项 卡 中 都 有 该 查 看 模 式 的 设 置。通 过 设 置，可 配 置 查 看 模 式 以 显 示 所 需 数 据。有 关 各 种 查
看模式的设置的更多信息，请参阅帮助中的相关查看模式部分。
3.3. 了解 EBSD 取向和坐标
要充分解析 EBSD 数据，重要的是要理解：
第 33 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
• SEM 监视器中所显示数据与您的 EBSD 数据之间的关系。
• 系统生成的绝对晶体取向。
识别 SEM 监视器中所显示数据与您的 EBSD 数据之间的关系
本 部分 介绍 了如 何将 Oxford Instruments AZtec 或 HKL EBSD 系 统生 成的 绝对 晶体 取向 链接 至扫 描
所得的电子图像和生成的分布图中的晶体取向。在关联取向数据与图像/分布图之前，了解这一关
系很重要。
AZtec 和 AZtecCrystal 使已存储的晶体取向关联与样品表面或采集坐标系( 又称 CS1) 相关的晶格。
更多关于如何确定 CS1 坐标系的信息，请参阅下述 绝对取向 部分。
要 确 定 扫 描 图 像 取 向 ( 即 在 SEM 监 视 器 上 观 察 到 的 结 果) 与 样 品 -表 面 坐 标 系 (CS 1 ) 之 间 的 关 系，
最 简 单 的 方 法 是 使 用 具 有 可 确 认 颗 粒 特 征 的 样 品，例 如，图 1 所 示 的 边 缘 被 清 晰 标 记 的 不 锈 钢 样
品。Oxford Instruments 的所有 EBSD 系统均随附该样品。
按 照 此 方 向 固 定 样 品 ( 从 EBSD 探 测 器 上 看) ，并 在 SEM 中 成 像 时 定 位 至 参 比 边 缘。SEM 监 视 器
上的样品参比边缘的位置可用于帮助确定 SEM 扫描方向以及确定 EBSD 参比取向。
在 AZtec 和 AZtecCrystal 内，EBSD 数 据 始 终 是 相 对 于 ( CS 1 中 的) EBSD 参 比 取 向 显 示，而 不 考 虑
SEM 监 视 器 中 的 电 子 图 像 的 取 向。也 就 是 说，要 关 联 取 向 数 据 ( 极 图、反 极 图 或 分 布 图) 与 电 子 图
像，必须考虑扫描方向。
为 了 帮 助 确 认 EBSD 参 比 取 向 如 何 关 联 扫 描 方 向，每 一 个 与 EBSD 数 据 集 相 关 并 在 AZtec 或
AZtecCrystal 中 显 示 的 图 像 和 分 布 图 在 左 下 角 都 有 一 个 小 图 标。这 个 图 标 显 示 该 数 据 集 的 CS 1 取
向( EBSD 参比取向) 。
第 34 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
AZtec
AZtecCrystal
对 于 直 接 从 AZtec 导 出 到 新 的 .h5oina 文 件 格 式 中 的 数 据，扫 描 图 像 ( 以 及 由 此 生 成 的 分 布 图) 和
CS 1 之 间 的 关 系 作 为 Omega Angle( ω 角) 存 储 在 导 出 的 文 件 中。此 角 度 在 Project( 项 目) 窗 格 的
Sample Properties( 样品属性) 窗格中显示。
对 于 使 用 旧 的 Channel5 .cpr 文 件 格 式 导 出 并 加 载 到 AZtecCrystal 中 的 数 据，没 有 Omega Angle( ω
角) 的 记 录，系 统 假 设 ω 角 为 0。这 可 能 不 正 确，所 以 在 解 析 取 向 和 分 布 图 之 间 的 关 系 时 需 谨 慎。
对 于 这 种 文 件 类型，ω 值 在 样 品 属 性 窗 格 中 显 示 为 unknown( 未 知) ，而 分 布 图 上 显 示 CS 1 取 向 的
小图标将会消失。如果 ω 值对于特定 SEM 是已知的，那么可以在样品属性窗格中编辑它，并将其
保存到项目中，以简化解析。然后，CS1 取向图标将在所有分布图上显示。
绝对取向
本部分介绍了如何解析 AZtec 或 HKL EBSD 系统生成的绝对晶体取向。
已存储的晶体取向将关联与样品表面或采集坐标系( 又称 CS1) 相关的晶格。CS1 的基矢量 X1、Y1
和 Z1 构成右旋坐标系，其中 X1、Y1 和 Z1 相互垂直。
+Z 1 方 向 平 行 于 样 本 法 线 并 指 向 EBSD 检 测 器 的 方 向。样 品 绕 样 品 台 倾 角 轴 倾 斜，根 据 SEM 不
同，该 轴 被 称 为 X 方 向 或 Y 方 向。EBSD 软 件 将 遵 守 SEM 命 名 规 则。下 面 的 示 意 图 对 上 述 两 种 情
况进行了说明。
图 A. 倾 斜 轴 定 义 为 X。
图 B. 倾 斜 轴 定 义 为 Y。
图 A 中，倾斜轴定义为 X。选择方向 X1：
第 35 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
• 平行于平台 X 方向。
• 从 EBSD 检测器查看样品时，指向 EBSD 检测器的右侧。
图 B 中，倾斜轴定义为 Y。选择方向 Y1：
• 平行于平台 Y 方向。
• 从 EBSD 检测器查看样品时，指向 EBSD 检测器的右侧。
按 照 上 述 规 则，对 于 任 何 传 统 EBSD 设 置，倾 斜 角 将 始 终 为 正 数 ( 逆 时 针 旋 转) ，不 一 定 要 遵 守
TKD 操作的规则。
注 意 ：倾 斜 轴 不 必 一 定 要 平 行 于 荧 光 屏 。
如 果 您 关 注 如 何 确 定 样 品 取 向 的 信 息 或 有 任 何 其 他 疑 问，请 通 过 customer.support@oxinst.com 联
系我们。
第 36 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
4. 像 素 数 据
Pixel Data( 像素数据) 查看模式允许查看项目数据。它可以同时显示：
• 原始数据：存储在未处理数据集中的数据值。
• 分布图数据：当前活动分布图的数据值。
它可用于：
• 浏览项目数据。
• 查看特定参数( 即带对比度) 的统计数据。
• 查看对应于特定数据点的数据。
• 查看当前选择的分布图图层的直方图。
4.1. 像素数据工作区
Pixel Data( 像素数据) 工作区显示当前项目的数据。它分为两个部分：
• 数据表：显示项目的原始数据和当前分布图的分布图数据。
• 数据图：原始数据或分布图数据的某个参数的图形显示和统计信息。
数据表
数据表包含两个选项卡：
第 37 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
• 原始数据：显示各数据点的项目未处理数据，包括：
参数
描述
Phase( 相)
数据点标识的相。如果没有找到解，则将数据点分配为零解
析。
X (µm) 和 Y (µm)
数据点的 X 坐标和 Y 坐标。
Euler 1、2 和 3
Euler 1、2 或 3 的值
MAD
平均角度偏差。这是对解的拟合程度测量。
Band Contrast( 带对比度)
带对比度值指示数据点的标定质量。
Band Slope( 带斜率)
带斜率值指示数据点的标定质量。
Number of bands( 带数
量)
标定的带的数量。
• 分布图数据：显示当前分布图的数据，包括：
参数
描述
Phase( 相)
数据点标识的相。如果没有找到解，则将数据点分配为零解析。
X (µm) 和 Y (µm)
数据点的 X 坐标和 Y 坐标。
分 布 图 数 据 表 中 所 有 附 加 的 列 都 与 当 前 分 布 图 中 显 示 的 数 据 类型 相 关。例 如，如 果 当 前 分 布
图包含带对比度和 Euler 1 分布图图层，则分布图数据表将包含这两个参数列。
数据图
Data Chart( 数据图) 窗格以图形方式显示原始数据或分布图数据的某个参数的统计信息。
图 上 方 的 下 拉 菜 单 可 用 于 选 择 要 显 示 的 参 数。可 用 参 数 取 决 于 选 择 的 是 原 始 数 据 还 是 分 布 图 数
据。
注 意 ：如 果 选 择 了 分 布 图 数 据 选 项 卡 ，则 可 用 参 数 取 决 于 当 前 使 用 的 分 布 图 图 层 。
下拉菜单右侧的齿轮图标可用于访问图的设置：
• 使用下拉菜单可选择将图显示为线形图、区域图或条形图，以及显示的颜色。
• 使用 Show Grid( 显示网格) 复选框选择是否在图上显示网格。
单击图上的某个点可查看与该数据点对应的数据。例如：
第 38 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
当前显示参数的统计数据显示在图的下方。它们包含：
晶粒统计
描述
整个数据集的测量平均值。
计算方式：
平均值
跨选定数据集部分的测量标准偏差。计算方式：
标准偏差
最小值
跨选定数据集部分的测量最小值。
最大值
跨选定数据集部分的测量最大值。
右键单击图以访问上下文菜单，可以：
• 将图导出为图像或数据。
• 指定要转换为新子集的图数据的范围。
4.2. 查看特定数据点的数据
如果选择了多种查看模式，则可以在所有查看模式中可视化相同的数据点。例如：
第 39 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
数据点的晶胞 3D 模型也将在 Project Pane( 项目窗格) 中显示 选定点选项卡：
要在 Pixel Data( 像素数据) 工作区中选择数据点并在其他查看模式中查看相同的数据点：
1. 选择适当的查看模式。
2. 点击 Pixel Data( 像素数据) 工作区的数据表窗格内的数据点。
数据点现在将在数据表和其他查看模式中突出显示。
第 40 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
要在 Maps( 分布图) 工作区中选择数据点并在其他查看模式中查看相同的数据点：
1. 选择适当的查看模式。
2. 在 Maps( 分布图) 查看模式中，从 Palette( 调色板) 工具栏中选择 Select Point( 选择点) 工具：
3. 点击分布图上的某个点以在适当的查看模式中突出显示该点。
4.3. 导出像素数据
测量数据可导出为：
• 分布图数据数据表。
• 数据图数据。
• 数据图图像。
导出分布图数据表中的数据
要导出分布图数据表中显示的数据：
1. 在 Maps( 分布图) 工作区中选择合适的分布图。
2. 在 Pixel Data( 像素数据) 工作区的数据表窗格中选择 Map Data( 分布图数据) 选项卡。
3. 在数据表上右键单击鼠标，打开表上下文菜单：
4. 选择 Export Map Data( 导出分布图数据) 选项。
将会打开导出上下文菜单：
5. 从可用选项中选择：
• Save As( 另存为) ：将会打开 Save Map As...( 分布图另存为) 窗口。
选择合适的文件名称，将数据表保存为数据文件。
• Copy( 复制) ：将数据复制到剪贴板。
将数据图导出为数据
要将图导出为数据：
第 41 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
1. 在 Pixel Data( 像素数据) 工作区中选择图。
2. 在图上右键单击鼠标
将会打开图上下文菜单：
3. 选择 Export Chart Data( 导出图数据) 选项。
将会打开导出上下文菜单：
4. 从可用选项中选择：
• Save As( 另存为) ：将会打开 Save Map As...( 分布图另存为) 窗口。
选择合适的文件名称，将图保存为数据文件。
• Copy( 复制) ：将数据复制到剪贴板。
将数据图导出为图像
要将数据图中显示的数据导出为图像：
1. 在 Pixel Data( 像素数据) 工作区中选择图形。
2. 在图形上右键单击鼠标。
将会打开结果图上下文菜单：
3. 选择 Export Chart( 导出图) 选项。
将会打开导出上下文菜单：
4. 从可用选项中选择：
• Save As( 另存为) ：将会打开 Save Map As...( 分布图另存为) 窗口。
选择合适的文件名称和图像格式，将图保存为图像。
第 42 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
• Copy( 复制) ：将图像复制到剪贴板。
• Chart to PowerPoint( 图到 PowerPoint) ：图将以图像形式粘贴到 PowerPoint 中。
• Settings( 设置) ：将会打开 Export Settings for Line Measurement Chart( 线形测量图导出设置)
窗口：
从可用选项中为导出选择合适的设置。
第 43 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
5. 分 布 图
Maps( 分 布 图) 查 看 模 式 允 许 为 当 前 数 据 集 创 建 用 户 定 义 的 分 层 分 布 图。每 个 分 布 图 可 能 包 含 一
个或多个分布图图层，可以对每个分布图图层进行配置，以显示数据的特定方面。
分布图图层主要有三种类型或种类：
• 像素图层：对应于在特定网格点或像素处进行的测量的分布图图层( 例如，相分布图或显示局
部取向差的 Kernel Average Misorientation( 核平均取向差) 分布图) 。
• 晶粒图层：显示晶粒属性的分布图图层( 例如，可显示分布图中晶粒的一系列不同形态测量的
晶粒参数分布图) 。
• 边界图层：显示特定边界属性的分布图图层。
同 一 分 布 图 中 可 以 使 用 多 种 类型 的 分 布 图 图 层。例 如，下 面 的 分 布 图 包 含 带 对 比 度 和 反 极 图 Z 向
着色的分布图图层，二者都是像素层，也包含晶界( 黑色) 的分布图图层，而它是边界图层。
5.1. 分布图工作区
Maps( 分 布 图) 工 作 区 用 于 创 建、显 示 和 操 作 分 层 分 布 图。例 如，下 面 的 分 布 图 包 含 显 示 带 对 比
度、反极图 Z 向着色和晶界的分布图图层
第 44 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
如果为当前数据集创建了多个分层分布图，它们可能以以下两种方式之一显示：
1. 选项卡格式：各分层分布图都显示在自己的选项卡中。
通过选择不同的选项卡，可以在分层分布图之间进行切换：
2. 平铺格式：分布图以平铺格式呈现：
可以使用工作区顶部的滑块控件来调整分布图的大小：
第 45 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
工作区的左侧是分布图调色板工具栏：
此工具栏包含与分布图交互的工具，包括：
工具
描述
平移：选择此模式时，可以在分布图上平移和缩放。
选 择 点：选 择 此 模 式 时，点 击 分 布 图 上 的 某 个 点 ( 以 闪 烁 的 红 色 十 字 标 记) ，可 在 其 他
查看模式中突出显示同一数据点( 即极图上的红色方块) 。
选 择 晶 粒：选 择 此 模 式 时，点 击 分 布 图 上 的 某 个 晶 粒 ( 以 白 色 轮 廓 标 记) ，可 在 其 他 查
看模式中突出显示同一晶粒( 即晶粒将在晶粒大小排列结果表中突出显示) 。
测量线：用于定义分布图上的线轮廓。测量结果在 Measure( 测量) 查看模式中显示。
Add Rectangle to Subset( 添 加 矩 形 到 子 集) ：允 许 创 建 矩 形 子 集。工 具 处 于 活 动 状 态
时，在 EBSD 分 布 图 中 的 某 个 点 上 按 下 鼠 标 左 键 并 拖 动 鼠 标，形 成 矩 形 区 域。松 开 鼠
标按钮完成操作。
子 集 区 域 将 以 白 色 轮 廓 标 记。子 集 之 外 的 数 据 将 在 Map Display Settings( 分 布 图 显 示
设置) 中显示为已被“反子集设置”选中，即
第 46 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
工具
描述
添 加 多 边 形 到 子 集：允 许 创 建 多 边 形 子 集。工 具 处 于 活 动 状 态 时，左 键 单 击 EBSD 分
布 图 中 的 第 一 个 点，形 成 多 边 形 的 一 部 分。点 击 分 布 图 上 更 多 的 点，形 成 多 边 形 子 集
区域。双击鼠标左键完成定义。
子 集 区 域 将 以 白 色 轮 廓 标 记。子 集 之 外 的 数 据 将 在 Map Display Settings( 分 布 图 显 示
设置) 中显示为已被“反子集，颜色转换设置”选中。
添 加 晶 粒 到 子 集：允 许 通 过 选 择 特 定 晶 粒 来 创 建 子 集。工 具 处 于 活 动 状 态 时，点 击
EBSD 分布图中的某个晶粒，选中它并将其添加到子集。
属 于 子 集 的 晶 粒 将 以 白 色 轮 廓 标 记。子 集 之 外 的 数 据 将 在 Map Display Settings( 分 布
图显示设置) 中显示为已被“反子集，颜色转换设置”选中，即
分布图工作区的右上角有几个图标：
工具
描述
选择分布图查看模式。
选择选项卡或平铺显示模式。当前选中的模式呈橙色。
添加新的分层分布图：单击此图标可向项目添加新的分层分布图。
另请参见“添加分布图到项目”部分。
分布图显示设置：打开分布图显示设置，可在其中指定分布图的外观。
另请参见“自定义分布图显示”部分。
在选项卡式显示模式下，可以在工作区的右侧显示分布图图例：
第 47 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
此图例显示关于当前分层分布图的信息。如果它不可见，则从“视图菜单”中选择 Map Legend( 分布
图图例) 来改变其可见性。
如 果 分 层 分 布 图 包 含 一 个 IPF 图 层，可 以 从 分 布 图 图 例 中 导 出 一 个 高 分 辨 率 的 IPF 图 例，方 法 如
下：
• 右键单击 IPF 图例以打开上下文菜单。
• 选择 Export IPF Color Key( 导出 IPF 颜色代码) 选项。
• 选择是复制、保存副本还是导出到 PowerPoint。
要更详细地查看图例的直方图，在“像素数据”查看模式下使用 Map Data( 分布图数据) 选项卡。
分布图工作区的左下角是一个显示 CS1 取向的图例：
第 48 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
CS1 是 用 于 收 集 数 据 集 的 EBSD 参 考 坐 标 系。它 的 取 向 被 保 存 为 数 据 集 的 一 部 分，在 观 察 取 向 数
据 并 将 其 与 扫 描 方 向 关 联 时 是 重 要 的 考 虑 因 素。有 关 如 何 确 定 此 取 向 的 更 多 信 息，请 参 见 了 解
EBSD 取向和坐标部分。
各分布图的右下角是分布图的缩放控件：
点击 Fit to Window( 满窗口显示) 图标，将分布图的全宽调整为工作区的宽度：
要设置自定义缩放级别，左键单击缩放级别：
将会打开 Zoom( 缩放) 窗口，您可以选择其中一个选项或在窗口顶部的字段中输入一个自定义值：
5.1.1. 配 置 分 布 图 图 层 收 藏
Available Map Layers( 可用分布图图层) 窗口可以显示以下任一内容：
• All( 所有) ：显示所有可用的分布图图层。
• Favorites( 收藏) ：显示标记为收藏的分布图图层。
要从收藏分布图图层列表添加或移除分布图图层：
第 49 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
1. 通过以下任一方式打开 Available Map Layers( 可用分布图图层) 窗口：
• 点击分布图工作区右上角的 "+" 图标：
• 在 Map Settings( 分布图设置) 中点击 Layers( 图层) 右侧的 "+" 图标：
现将打开 Available Map Layers( 可用分布图图层) 窗口：
第 50 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
2. 如果选择了 Favorites( 收藏) 选项，点击 All( 所有) 选项以查看所有可用的分布图图层：
以实心星标记的分布图图层已被选为 Favorites( 收藏) ，将在 Favorites( 收藏) 列表中显示：
以星形轮廓标记的分布图图层未被 Favorites( 收藏) ，不会在 Favorites( 收藏) 列表中显示：
3. 点击某分布图图层的星形图标可从 Favorites( 收藏) 分布图图层列表添加或移除它。
选择了 Favorites( 收藏) 选项时，可从可见列表添加或移除分布图图层。
注 意 ：在 Favorites( 收 藏 ) 视 图 中 ，点 击 分 布 图 图 层 右 侧 的 星 形 图 标 也 可 以 移 除 分 布 图 图 层 。
5.2. 可用分布图图层
Maps( 分布图) 中有三种种类或类型的分布图图层：
• 像素分布图图层( Pixel Map Layers) ：对应于在特定网格点或像素处进行的测量的分布图( 例
如，取向和相分布图) 。
• 晶粒图层( Grain Layers) ：显示晶粒属性的分布图( 例如，显示各晶粒取向散布平均值的晶粒取
向散布分布图) 。
• 边界图层( Boundary Layers) ：显示相邻网格点或像素之间的特定测量差异的分布图( 例如，晶
界分布图) 。
第 51 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
像素分布图图层
当前可用的像素分布图图层包括：
• Band Contrast( 带对比度) ：图案质量分布图清晰显示了晶界和一些样品微结构，包括高应变
区域。
• 带斜率( Band Slope) ：图案质量分布图清晰显示了晶粒之间的对比度差异，以及晶格缺陷浓度
和图案清晰度。可用于区分具有不同缺陷含量的两相。
• 图案错配( Pattern Misfit) ：显示模拟的 Kikuchi 带与测得的带位置的匹配程度。
• 欧拉 1( Euler 1) ：用 Euler 1 角显示取向变化。
• Euler 2( 欧拉 2) ：用 Euler 2 角显示取向变化。
• Euler 3( 欧拉 2) ：用 Euler 3 角显示取向变化。
• All Euler( 所有欧拉) ：使用三个欧拉角的取向分布图。
• Kernel Average Misorientation( 核平均取向差) ：显示精细小角度晶界的位置( 局部取向差) 。
• Local Average Misorientation( 局部平均取向差) ：显示较小的取向变化，允许高变形区域突出显
示。
• GND Density( GND 密度) ：显示几何必须位错 (GND) 密度，源自局部取向梯度。
• Schmid Factor( 施密得因子) ：指示特定滑移系发生滑移的容易程度。
• Texture Components( 织构组分) ：允许具有特定织构的数据突出显示。
• Phases( 相) ：通过为各个相分配不同的颜色显示相的分布情况。
• IPF Coloring( IPF 着色) ：显示 X、Y 或 Z 方向的反极图着色情况。
• EDS Mapping( EDS 分布图绘制) ：显示选定元素的 EDS 分布图。
带对比度分布图
该带对比度源于霍夫变换，描述了 Kikuchi 带的平均强度与总体强度的关系。该参数与高于已归一
化的背景的衍射带亮度水平有关，并且受图案质量和晶体取向的影响。
带 对 比 度 分 布 图 可 用 于 显 示 分 布 图 中 所 有 像 素 在 图 案 质 量 上 的 差 异，不 论 它 们 是 否 被 标 定。
EBSP 质 量 和 局 部 结 晶 完 整 性 越 高，值 就 越 高，像 素 就 越 亮。标 定 引 擎 的 区 域 标 定 EBSP 有 困 难，
如变形的区域、晶界、污染、应变和未知相的出现通常导致较低的值，在分布图中以更暗的区域出
现。
带 对 比 度 分 布 图 对 于 晶 界 的 可 视 化 特 别有 用。一 般 而 言，单 个 晶 粒 内 的 带 对 比 度 值 相 对 一 致，即
便 它 们 也 揭 露 了 一 些 样 品 微 结 构，包 括 在 变 形 样 品 中 的 高 应 变 区 域。它 们 也 有 助 于 辨 别晶 体 结 构
相似但缺陷含量不同的两相( 如铁素体和马氏体) 。
例如：
第 52 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
配置带对比度分布图图层设置
带对比度分布图可以使用 Band Contrast Settings( 带对比度设置) 进行配置：
1. Phases( 相) ：使用下拉菜单中的复选框选择要生成带对比度分布图的相( 包括零解析) ：
2. Color Scheme( 颜色方案) ：使用 Color Scheme( 颜色方案) 下拉菜单选择要使用的颜色方案：
第 53 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
3. 选择是否反转颜色范围。
例 如，在 使 用 灰 度 颜 色 方 案 时，对 数 据 进 行 反 色 处 理，用 最 浅 色 来 显 示 具 有 最 低 带 对 比 度 值
的像素，而不是遵循默认规则使用浅色来显示最高带对比度值。
4. 使用下拉菜单选择颜色 Range Type( 范围类型) ：
• Full Range( 全范围) ：使用全范围的带对比度值 (0-255) 来显示分布图。
• Automatic( 自动化) ：自动优化所使用的带对比度值的范围，使分布图使用全颜色范围。
( 即，在灰度图中，同时显示黑色和白色像素。)
• User-Defined( 用户自定义) ：手动定义要使用的带对比度范围的上限和下限。
注 意 ：最 小 允 许 值 为 0，最 大 允 许 值 为 255。
带斜率分布图
带 斜 率 是 源 于 霍 夫 变 换，并 描 述 了 在 EBSP 中 Kikuchi 带 边 缘 的 最 大 强度 斜 率。该 值 越 大，EBSP
就越尖锐，出现在分布图中的像素就越亮。
带 斜 率 分 布 图 可 用 于 显 示 分 布 图 中 所 有 像 素 在 图 案 质 量 上 的 差 异，不 论 它 们 是 否 被 标 定。EBSP
质 量 和 局 部 结 晶 完 整 性 越 高，值 就 越 高，出 现 在 分 布 图 中 的 像 素 就 越 亮。标 定 引 擎 的 区 域 标 定
EBSP 有 困 难，如 变 形 的 区 域、晶 界、污 染、应 变 和 未 知 相 的 出 现 通 常 导 致 较 低 的 值，以 更 暗 的 区
域出现。
带 斜 率 分 布 图 清 晰 地 显 示 晶 粒 之 间 的 对 比 度 差 异，并 对 指 示 应 变 的 晶 格 缺 陷 浓 度 具 有 敏 感 性。带
斜 率 分 布 图 很 容 易 受 到 由 无 规 律 或 半 规 律 缺 陷 密 度 造 成 的 “模 糊”图 案 的 影 响，使 其 成 为 一 种 强大
的 工 具，用 于 区 分 具 有 不 同 缺 陷 含 量 的 两 相，如 在 钢 中 的 铁 素 体 和 马 氏 体，而 通 过 传 统 的 EBSD
标定并不能辨别这两相。
例如：
配置带斜率分布图图层设置
带斜率分布图图层可以使用 Band Slope Settings( 带斜率设置) 进行配置：
第 54 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
1. Phases( 相) ：使用下拉菜单中的复选框选择要生成带斜率分布图的相( 包括零解析) ：
2. Color Scheme( 颜色方案) ：使用 Color Scheme( 颜色方案) 下拉菜单选择要使用的颜色方案：
3. 选择是否反转颜色范围。
例 如，在 使 用 灰 度 颜 色 方 案 时，对 数 据 进 行 反 色 处 理，用 最 浅 色 来 显 示 具 有 最 低 带 斜 率 值 的
像素，而不是遵循默认规则使用浅色来显示最高带斜率值。
4. 使用下拉菜单选择颜色 Range Type( 范围类型) ：
• Full Range( 全范围) ：使用全范围的带斜率值 (0-255) 来显示分布图。
• Automatic( 自动化) ：自动优化所使用的带斜率值的范围，使分布图使用全颜色范围。( 即，
在灰度图中，同时显示黑色和白色像素。)
• User-Defined( 用户自定义) ：手动定义要使用的带斜率范围的上限和下限。
注 意 ：最 小 允 许 值 为 0，最 大 允 许 值 为 255。
图案错配分布图
第 55 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
图案错配也被称为平均角度偏差 (MAD) 拟合。它是评价模拟 EBSP 中的菊池带与实测位置匹配程
度 的 测 量。值 越 小，表 明 模 拟 的 匹 配 效 果 越 好。在 自 动 EBSD 分 析 过 程 中，MAD 值 最 低 的 解 析 结
果将作为最佳解析结果，而 MAD 值超过特定限值的解析结果可能会被舍弃。
一 般 而 言，对 于 查 看 为 何 晶 界 位 置 的 MAD 高 得 多 以 及 某 些 晶 粒 ( 和 相 的 相 关) 标 定 优 于 其 他 晶 粒
和相的情况，图案错配分布图非常有用。例如：
注 意 ：对 于 没 有 找 到 解 的 数 据 点 ，将 MAD 设 为 零 。在 图 案 错 配 分 布 图 中 ，此 操 作 可 以 使 这 些 数 据 点
看 起 来 好 像 已 良 好 标 定 ( MAD 非 常 低 ，为 零 ) 。
配置图案错配分布图图层设置
Pattern Misfit( 图案错配) 分布图图层可以使用 Pattern Misfit Settings( 图案错配设置) 进行配置：
1. Phases( 相) ：使用复选框选择要生成分布图的相：
第 56 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
2. Color Scheme( 颜色方案) ：使用 Color Scheme( 颜色方案) 下拉菜单选择要使用的颜色方案：
3. 选择是否反转颜色范围。
例 如，在 使 用 灰 度 颜 色 方 案 时，对 数 据 进 行 反 色 处 理，用 深 色 来 显 示 晶 界，而 不 是 遵 循 默 认
规则使用浅色来显示最高 MAD 值。
4. 使用下拉菜单选择颜色 Range Type( 范围类型) ：
• Full Range( 全范围) ：使用全范围的图案错配值 (0-2.5) 来显示分布图。
• Automatic( 自动化) ：自动优化所使用的图案错配值的范围，使分布图使用全颜色范围。
( 即，在灰度图中，同时显示黑色和白色像素。)
• User-Defined( 用户自定义) ：手动定义要使用的图案错配范围的上限和下限。
注 意 ：最 小 允 许 值 为 0，最 大 允 许 值 为 2.5。
Euler 1、2 或 3 分 布 图
Euler 1、2 或 3 分布图图层可用于通过三个欧拉角中的一个显示取向变化( Φ1、Φ、Φ2) 。
注 意：由 于 欧 拉 角 的 定 义 方 式 ，当 欧 拉 角 接 近 极
限 时 ，欧 拉 分 布 图 可 能 会 出 现 包 裹 问 题 。这 意 味
着 较 小 的 取 向 变 化 可 以 导 致 较 大 的 颜 色 变 化 ，如
分布图中某些变形颗粒中所示：
配 置 Euler 1、2 或 3 分 布 图 图 层 设 置
第 57 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
Euler 1、2 或 3 分布图可使用“Euler 1、2 或 3 设置”进行配置。
1. Phases( 相) ：使用下拉菜单中的复选框选择要生成分布图的相：
2. Color Scheme( 颜色方案) ：使用 Color Scheme( 颜色方案) 下拉菜单选择要使用的颜色方案：
3. 选择是否反转颜色范围。
4. 使用下拉菜单选择颜色 Range Type( 范围类型) ：
• Full Range( 全范围) ：使用全范围的欧拉角来显示分布图。Euler 1 是 0-360°，Euler 2 和 3 是
0-90°。
• Automatic( 自动化) ：自动优化所使用的欧拉角的范围，使分布图使用全颜色范围。( 即，在
灰度图中，同时显示黑色和白色像素。)
• User-Defined( 用户自定义) ：手动定义要使用的欧拉角范围的上限和下限。
注 意 ：最 小 允 许 值 是 0。Euler 1 的 最 大 允 许 值 是 360°，Euler 2 和 3 是 90°。
所有欧拉分布图
All Euler( 所有欧拉) 分布图图层可用于创建取向分布图，其中以不同颜色显示不同的取向。这是通
过给各欧拉角分配不同的颜色( 通常是红色、绿色和蓝色) 来实现的。
第 58 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
生成后，All Euler( 所有欧拉) 分布图图层就可以很好地显示样品中的织构。强织构材料会有一致的
着色，而弱织构或无织构样品会有更多的随机着色。
对 于 分 布 图 中 所 有 的 相，每 个 标 定 像 素 都 将 使 用 具 有 最 低 对 称 性 的 相 的 欧 拉 着 色 方 案 进 行 着 色。
对于各个相，只有标定为特定相的像素才会被着色，以创建取向图。
注 意：对 于 单 个 欧 拉 分 布 图 ，当 欧 拉 角 接 近 极
限 时 ，All Euler( 所 有 欧 拉 ) 分 布 图 也 会 出 现 包 裹
问 题 。这 意 味 着 较 小 的 取 向 变 化 可 以 导 致 较 大
的 颜 色 变 化 ，如 分 布 图 中 某 些 变 形 颗 粒 中 所
示：
配置所有欧拉分布图图层设置
All Euler( 所有欧拉) 分布图图层可以使用 All Euler Settings( 所有欧拉设置) 进行配置：
1. Phases( 相) ：使用下拉菜单中的复选框选择要生成带斜率分布图的相( 包括零解析) ：
第 59 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
2. 选择 Euler 1( 欧拉 1) 、Euler 2( 欧拉 2) 和 Euler 3( 欧拉 3) 要用的颜色：
默认颜色( 如上所示) 生成以下颜色网格：
核平均取向差分布图
核 平 均 取 向 差 分 布 图 允 许 显 示 较 小 的 取 向 变 化，突 出 显 示 高 形 变 区 域。例 如，下 面 的 局 部 平 均 取
向差分布图显示了为何在裂纹尖端存在更大的应变：
第 60 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
像素核平均取向差的计算方式为：
1. 计算出核中心的像素与核内( 所定义过滤器尺寸) 或周边( 如果选择了 Only Periphery( 仅边
缘) ) 的每个其他像素之间的取向差。
2. 计算每个像素的所有取向差值的平均值。
3. 将计算得出的平均取向差值分配给每个像素并在分布图中以颜色表示。
为 每 个 像 素 计 算 出 平 均 取 向 差 后，忽 略 Max. Angle( 最 大 角 度) (°) 取 向 差。这 样 可 以 排 除 与 离 散 子
晶粒及晶粒边界相关联的取向差。
与 其 他 许 多 变 形 相 关 组 分 相 比，核 平 均 取 向 差 分 布 图 具 有 一 大 优 点，即 它 们 不 受 晶 粒 尺 寸 的 影
响。这 对 于 严 重 变 形 样 品 而 言 非 常 有 价 值 ( 此 类样 品 具 有 显 著 的 微 结 构 异 质 性) 。对 于 在 一 系 列 应
用中对取向变化进行可视化，它们也非常有用，具体应用包括：
• 可视化细微取向变化，例如在晶界分布图可能不会清晰显示的低角度晶界。
• 可视化样品中变形或应变的区域。
配置核平均取向差分布图图层设置
核平均取向差分布图图层可使用核平均取向差设置进行自定义：
第 61 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
1. Phases( 相) ：使用下拉菜单中的复选框选择要生成核平均取向差分布图的相：
2. Color Scheme( 颜色方案) ：使用 Color Scheme( 颜色方案) 下拉菜单选择要使用的颜色方案：
3. 选择是否反转颜色范围。
例 如，在 使 用 灰 度 颜 色 方 案 时，对 数 据 进 行 反 色 处 理，用 最 浅 色 来 显 示 具 有 最 低 平 均 取 向 差
的像素，而不是遵循默认规则使用浅色来显示最高取向差值。
4. 使用下拉菜单选择颜色 Range Type( 范围类型) ：
• Full Range( 全范围) ：使用全范围的核平均取向差值 (0-180) 来显示分布图。
• Automatic( 自动化) ：自动优化所使用的核平均取向差值的范围，使分布图使用全颜色范
围。( 即，在灰度图中，同时显示黑色和白色像素。)
• User-Defined( 用户自定义) ：手动定义要使用的核平均取向差范围的上限和下限。
注 意 ：最 小 允 许 值 为 0，最 大 允 许 值 为 180。
5. 使用下拉菜单选择 Kernel Shape( 核形状) ，即用于计算核平均取向差的像素所在的区域的形
状：
第 62 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
6. 选择是否使用 Only Periphery( 仅边缘) 的像素：
如果选择了 Only Periphery( 仅边缘) ，则仅使用核区域周边的像素来计算平均取向差。
7. 使用下拉菜单选择 Kernel Size( 核大小) ：
Kernel Size( 核大小) 定义各像素周围用于计算核平均取向差的像素的数量。增大该值( 例如，
到 7x7 或 9x9 过滤器阵列) 将生成一个更平滑的取向差分布图，但会增加计算时间。减小该值
( 例如，到 3x3 或 5x5 阵列) 将允许观察到更多的局部变化。
8. 定义最大角度 (°)。这是允许的最大取向差角：
为 每 个 像 素 计 算 出 平 均 取 向 差 后，忽 略 Max. Angle( 最 大 角 度) (°) 取 向 差。这 样 可 以 排 除 与 离
散子晶粒及晶粒边界相关联的取向差。
局部平均取向差分布图
局 部 平 均 取 向 差 分 布 图 允 许 显 示 较 小 的 取 向 变 化，突 出 显 示 高 形 变 区 域。例 如，下 面 的 局 部 平 均
取向差分布图显示了为何在裂纹尖端存在更大的应变：
第 63 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
像素平均取向差的计算方式为：
1. 计算出所定义过滤器尺寸内的所有相邻像素之间的取向差。
2. 计算每个像素的所有取向差值的平均值。
3. 将计算得出的平均取向差值分配给每个像素并在分布图中以颜色表示。
为 每 个 像 素 计 算 出 平 均 取 向 差 后，忽 略 Max. Angle( 最 大 角 度) (°) 取 向 差。这 样 可 以 排 除 与 离 散 子
晶粒及晶粒边界相关联的取向差。
与 其 他 许 多 变 形 相 关 组 分 相 比，局 部 平 均 取 向 差 分 布 图 具 有 一 大 优 点，即 它 们 不 受 晶 粒 尺 寸 的 影
响。这 对 于 严 重 变 形 样 品 而 言 非 常 有 价 值 ( 此 类样 品 具 有 显 著 的 微 结 构 异 质 性) 。对 于 在 一 系 列 应
用中对取向变化进行可视化，它们也非常有用，具体应用包括：
• 可视化细微取向变化，例如在晶界分布图可能不会清晰显示的低角度晶界。
• 可视化样品中变形或应变的区域。
配置局部平均取向差分布图图层设置
此分布图图层可使用局部平均取向差设置进行自定义：
第 64 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
1. Phases( 相) ：使用下拉菜单中的复选框选择要生成局部平均取向差分布图的相：
2. Color Scheme( 颜色方案) ：使用 Color Scheme( 颜色方案) 下拉菜单选择要使用的颜色方案：
3. 选择是否反转颜色范围。
例 如，在 使 用 灰 度 颜 色 方 案 时，对 数 据 进 行 反 色 处 理，用 最 浅 色 来 显 示 具 有 最 低 平 均 取 向 差
的像素，而不是遵循默认规则使用浅色来显示最高取向差值。
4. 使用下拉菜单选择颜色 Range Type( 范围类型) ：
• Full Range( 全范围) ：使用全范围的局部平均取向差值 (0-180) 来显示分布图。
• Automatic( 自动化) ：自动优化所使用的值的范围，使分布图使用全颜色范围。( 即，在灰度
图中，同时显示黑色和白色像素。)
• User-Defined( 用户自定义) ：手动定义要使用的局部平均取向差范围的上限和下限。
注 意 ：最 小 允 许 值 为 0，最 大 允 许 值 为 180。
5. 使用下拉菜单选择 Kernel Shape( 核形状) ，即用于计算核平均取向差的像素所在的区域的形
状：
第 65 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
6. 使用下拉菜单选择 Kernel Size( 核大小) ：
Kernel Size( 核大小) 定义各像素周围用于确定局域取向差的像素的数量。增大该值( 例如，到
7x7 或 9x9 过 滤 器 阵 列) 将 生 成 一 个 更 平 滑 的 取 向 差 分 布 图，但 会 增 加 计 算 时 间。减 小 该 值
( 例如，到 3x3 或 5x5 阵列) 将允许观察到更多的局部变化。
7. 定义最大角度 (°)。这是允许的最大取向差角：
为 每 个 像 素 计 算 出 平 均 取 向 差 后，忽 略 Max. Angle( 最 大 角 度) (°) 取 向 差。这 样 可 以 排 除 与 离
散子晶粒及晶粒边界相关联的取向差。
GND 密 度 分 布 图
当 晶 体 材 料 有 塑 性 变 形 时，晶 粒 或 晶 内 区 域 边 界 处 的 滑 移 中 可 能 会 发 生 失 配，导 致 晶 粒 间 的 塑 性
应变梯度。这些梯度可能导致几何必须位错 (GND) 的形成，这是晶粒不同部分的变形协调所必需
的。
GND 密度分布图可允许生成阐明估计几何必须位错密度的分布图，它们源自局部取向梯度。此方
法使用 核平均取向差 (KAM) 估计 GND 密度，基于经 EBSD 测量的晶格曲率。
注 意 ：此 分 布 图 图 层 仅 适 用 于 立 方 相 。
创建后，GND 密度图就可用于了解微结构的局部塑性变形。
配 置 GND 密 度 分 布 图 图 层 设 置
GND 密度分布图图层可以使用 GND 密度分布图设置进行自定义：
第 66 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
1. Color Scheme( 颜色方案) ：使用 Color Scheme( 颜色方案) 下拉菜单选择要使用的颜色方案：
2. 选择是否反转颜色范围。
例如，在使用灰度颜色方案时，对数据进行反色处理，用最浅色来显示具有最低 GDN 密度的
像素，而不是遵循默认规则使用浅色来显示最高 GDN 密度。
3. 使用下拉菜单选择颜色 Range Type( 范围类型) ：
• Full Range( 全范围) ：使用全范围的 GDN 密度值 (0-10000) 来显示分布图。
• Automatic( 自动化) ：自动优化所使用的 GDN 密度值的范围，使分布图使用全颜色范围。
( 即，在灰度图中，同时显示黑色和白色像素。)
• User-Defined( 用户自定义) ：手动定义要使用的 GDN 密度范围的上限和下限。
注 意 ：最 小 允 许 值 为 0，最 大 允 许 值 为 10000。
4. 使用下拉菜单选择 Kernel Shape( 核形状) ，即用于计算 GND 密度的像素所在的区域的形状：
5. 使用下拉菜单选择 Kernel Size( 核大小) ：
核大小定义计算 GND 密度时使用的 KAM 过滤器的大小。增大该值通常会产生一个较小的最
终 GND 密度估计，因为计算出的晶格曲率通常较低。
注 意 ：KAM 过 滤 器 在 计 算 GND 密 度 时 使 用 Only Periphery( 仅 边 缘 ) 选 项 。这 意 味 着 只 考 虑 了 过 滤
器周边的像素。
第 67 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
6. 定义最大角度 (°)：
这是阈值取向差角，超过此角度将排除测量。它可消除高角度边界的影响。
7. 要添加 GND 密度组分，点击 GND Density Settings( GND 密度设置) 部分右侧的加号图标：
GND Density( GND 密度) 设置部分现在将被添加到分布图图层设置的底部：
8. 使用下拉菜单选择要应用 GND Density( GND 密度) 设置的相。
9. 为所选相的主 Burgers Vector( 伯格斯矢量) 定义晶格畸变的量值和方向。
FCC 和 BCC 材料最常用的伯格斯矢量分别是 0.5 <110> 和 0.5 <111>。
10. 为 α 输入一个值。该值反映 EBSD 分布图中低角度边界的性质。
建议采用以下值( 参阅下述参考文献) ：
第 68 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
常见边界属性
α
强织构取向差轴
3
随机取向差轴
5.1
纯倾斜边界
2
纯扭曲边界
4
参考文献：
此部分是基于下列出版物中的工作报告：
• P.J. Konijnenberg et al. (2015). Assessment of geometrically necessary dislocation levels derived by
3D EBSD. Acta Materialia 99, 402–414.
• C. Moussa et al. (2015).About quantitative EBSD analysis of deformation and recovery substructures
in pure Tantalum. IOP Conference Series, Materials Science and Engineering 89 (1).
施密得因子分布图
当对晶体材料施加足够的外部载荷时，滑移会引起塑性变形。当一个原子平面通过边缘和/或螺旋
位 错 运 动 滑 过 另 一 平 面 时，就 会 发 生 滑 移。发 生 滑 移 的 平 面 称 为 滑 移 面，滑 移 的 方 向 称 为 滑 移 方
向。滑 移 所 涉 及 的 平 面 通 常 是 那 些 空 间 最 广、平 面 密 度 最 高 的 平 面。滑 移 所 涉 及 的 滑 移 方 向 通 常
是线性密度最高的方向。例如，fcc 晶胞的滑移系由 {111} 平面和 <110> 方向组成。
施 密 得 因 子 分 布 图 指 示 特 定 滑 移 系 发 生 滑 移 的 容 易 程 度。为 每 个 数 据 点 的 取 向 计 算 施 密 得 因 子，
并在分布图中以颜色显示数据。
配置施密得因子分布图图层设置
施密得因子分布图图层可以使用施密得因子设置进行定义：
1. Color Scheme( 颜色方案) ：使用 Color Scheme( 颜色方案) 下拉菜单选择要使用的颜色方案：
第 69 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
2. 选择是否反转颜色范围。例如，在使用灰色方案时，对数据进行反色处理，用最浅色来显示
具有最低滑移的像素，而不是遵循默认规则使用浅色来显示发生最高滑移的像素。
3. 使用下拉菜单选择颜色 Range Type( 范围类型) ：
• Full Range( 全范围) ：使用全范围的施密得因子值 (0-0.5) 来显示分布图。
• Automatic( 自动化) ：自动优化所使用的施密得因子值的范围，使分布图使用全颜色范围。
( 即，在灰度图中，同时显示黑色和白色像素。)
• User-Defined( 用户自定义) ：手动定义要使用的施密得因子范围的上限和下限。
注 意 ：最 小 允 许 值 为 0，最 大 允 许 值 为 0.5。值 0.5 指 示 具 有 理 想 取 向 的 晶 粒 ，该 取 向 适 用 于 所
定义的滑移系上的滑移。
4. 选择参考 CS：选择要生成分布图的参考坐标系。
注 意 ：有 关 AZtecCrystal 所 使 用 的 参 考 坐 标 系 的 更 多 信 息 ，请 参 阅 了 解 EBSD 取 向 和 坐 标 部
分。
5. 选择 Load Direction( 载荷方向) ：
该方向平行于施加载荷的方向。
6. 要添加施密得因子滑移系，点击设置 Slip Systems( 滑移系) 部分右侧的加号图标：
现在将添加一个滑移系部分：
7. 使用下拉菜单选择要计算织构组分的相。
第 70 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
8. 在相关字段中输入平面和方向以定义滑移平面 {hkl} 和滑移方向 <uvw>：
如 果 滑 移 系 定 义 有 效，则 Slip System( 滑 移 系) 设 置 部 分 的 顶 部 将 显 示 一 个 绿 色 圆 圈。这 个 圆
圈内将显示等效滑移系的数量：
将鼠标悬停在这个绿色圆圈上，查看等效的滑移系：
如果滑移系定义无效，则会显示一个红色圆圈：
织构组分分布图
织构组分分布图图层允许具有一个或多个特定织构的数据突出显示。它用一种颜色方案来反映数
据与已定义织构的接近程度。
织构可以通过以下三种方式定义：
• 欧拉角：允许使用三个欧拉角来定义任何织构。
例如，可以使用三个欧拉角 0°、45° 和 90° 来定义高斯织构。
• 平面和方向：这种符号在材料科学中是最常见的。织构是使用用于平行于轧制板材的晶格平
面 {hkl} 和平行于轧制方向的晶体方向的指数来定义的。
第 71 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
例如，使用平面 {100} 和方向 <001>。
注 意 ：在 线 材 中 ，{hkl} 通 常 是 指 径 向 平 面 ，<uvw> 是 指 轴 向 或 拉 伸 方 向 。
• 纤维轴：当某个晶体轴( 该轴具有一个旋转自由度) 与样品中的一个特定方向对齐时，可以定
义一个纤维织构。它是用晶体轴( 即 <uvw>) 和样本与之对齐的方向( 通常是一个主要的样品
方向，如轧制方向) 来定义的。
例如，通过定义平行于轧制方向的纤维轴 <100> 。
注 意 ：纤 维 织 构 在 极 图 中 通 常 是 清 晰 可 见 的 ，因 为 它 们 的 典 型 特 征 是 有 一 个 很 强的 聚 类，而 其 他
极 在 它 周 围 形 成 同 心 聚 类。
配置织构组分分布图图层设置
该 分 布 图 图 层 可 以 通 过 以 下 方 法 使 用 Texture Components Map Layer Settings( 织 构 组 分 分 布 图 图
层设置) 来定义：
1. 使用 Color Scheme( 颜色方案) 下拉菜单选择要使用的颜色方案：
如果显示一个织构组分，则可以选择任何一种颜色方案。如果在一个分布图图层上显示多个
织 构 组 分，则 Class Color( 类颜 色) 方 案 允 许 为 每 个 织 构 组 分 选 择 不 同 的 颜 色，从 而 使 每 个 相
的织构在分布图中都能清晰可见。
2. 选择是否反转颜色范围。
例 如，针 对 灰 度 颜 色 方 案，靠 近 已 定 义 织 构 的 织 构 以 黑 色 显 示，距 离 已 定 义 织 构 最 远 且 在 定
义偏差角度内的织构以白色显示。最好以反色显示，即最靠近已定义织构的织构以最明亮的
颜色显示。
3. 要添加织构组分，点击 Texture Components( 织构组分) 部分右侧的加号图标：
织构组分的定义方法列表将在弹出窗口中显示：
4. 从可用选项中选择定义织构组分的方法。
5. 为织构组分输入一个名称。
注 意 ：此 名 称 仅 在 使 用 Class Color( 类颜 色 ) 颜 色 方 案 时 在 图 例 中 显 示 。
6. 使用下拉菜单选择要计算织构组分的相。
第 72 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
7. 定义织构组分：
• 欧拉角 (°)：输入三个相关的角度。
一些最常见的织构可以用欧拉角定义如下：
织构
欧拉角
立方
0、0、0。
高斯
0、45、0。
黄铜
34、45、0。
• 平面和方向：输入平面和方向。
一些最常见的织构可以用平面和方向定义如下：
织构
{hkl}<uvw>
立方
{100} <001>
高斯
{011} <001>
黄铜
{110} <-112>
• 纤维织构：输入一个纤维轴( 例如 <100>) 和一个与之平行的方向( 例如 X) 。
8. 输入最大偏差角。这是数据点可以偏离已定义织构、但仍被认为有此织构的角度大小。
偏离已定义织构超过定义角度的点将不会显示( 即它们将显示为透明) 。
相分布图
第 73 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
相 分 布 图 图 层 对 于 显 示 分 布 图 中 相 的 分 布 非 常 有 用。数 据 集 中 的 每 个 相 都 被 分 配 一 个 不 同 的 颜
色。例如，下图显示了双相钢中奥氏体( 蓝色) 和铁素体( 红色) 的空间分布。
配置相分布图图层设置
相分布图图层可以使用 Phases Settings( 相设置) 进行配置：
1. 使用下拉菜单中的复选框选择要生成相分布图的相：
提 示 ：用 来 表 示 每 个 相 的 颜 色 都 可 以 指 定 ，如 配 置 相 颜 色 部 分 所 述 。
反极图着色分布图
反 极 图 (IPF) 颜 色 分 布 图 显 示 X、Y 或 Z 方 向 的 晶 向。它 按 照 坐 标 系 ( 例 如，轧 向) 迅 速 解 析 样 品 的
晶 向。此 着 色 方 案 比 All Euler( 所 有 欧 拉) 颜 色 方 案 更 直 观，而 且 不 会 出 现 任 何 包 裹 问 题。但 是，它
每次只考虑一个样品方向。
注 意 ：反 极 图 颜 色 分 布 图 不 是 对 所 有 11 个 劳 厄 群 都 有 效 ( 劳 厄 群 1( 三 斜 ) 、2( 单 斜 ) 、6( 低 三 方 ) 和 10
( 低立方) 行不通) 。
IPF 分布图着色方案可根据与样品方向( 选自 X、Y 或 Z 方向) 对齐的晶轴为每个方向着色。特定晶
轴的颜色取决于其在 IPF 图例中所处的位置。
对 于 有 结 构 的 样 品，由 于 此 取 向 比 任 何 其 他 取 向 更 为 常 见，因 此 IPF 分 布 图 在 此 情 况 下 非 常 有
用。例 如，下 面 的 分 布 图 将 数 据 显 示 为 沿 Y( 轧 制) 方 向 的 IPF 颜 色 分 布 图。它 表 明，大 部 分 晶 粒 首
选 110 取向( 绿色) ，且与轧制方向平行。
第 74 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
配 置 IPF 分 布 图 图 层 设 置
IPF 分布图图层可以使用设置进行配置：
1. Phases( 相) ：使用下拉菜单中的复选框选择要生成 IPF 分布图的相。
2. Reference CS( 参考 CS) ：选择要生成 IPF 分布图的参考坐标系：
注 意 ：有 关 AZtecCrystal 所 使 用 的 参 考 坐 标 系 的 更 多 信 息 ，请 参 阅 了 解 EBSD 取 向 和 坐 标 部
分。
第 75 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
3. 样品方向：选择要生成 IPF 分布图的样品方向：
注 意 ：对 于 Sample Primary( 样 品 主 ) 坐 标 系 (CS0)，Sample Directions( 样 品 方 向 ) 是 X0、Y0 和 Z0。
对 于 Acquisition Surface( 采 集 表 面 ) 坐 标 系 (CS1)，Sample Directions( 样 品 方 向 ) 是 X1、Y1 和 Z1。
EDS 分 布 图
EDS Map( EDS 分 布 图) 图 层 用 于 显 示 化 学 信 息。它 可 以 被 覆 盖 或 与 其 他 分 布 图 图 层 进 行 比 较，并
允 许 晶 体 学 EBSD 数 据 与 通 过 EDS 获 得 的 化 学 信 息 相 关 联。可 以 添 加 到 EDS 分 布 图 图 层 的 元 素
是导出数据时在 AZtec 中检测到的元素。
配 置 EDS 分 布 图 图 层 设 置
EDS 分布图图层可以使用 Map Layer Settings( 分布图图层设置) 进行配置：
1. 使用下拉菜单中的复选框选择要生成 EDS 分布图的相。
2. 从下拉菜单中选择 EDS Data Type( EDS 数据类型) 。取决于已导出 EDS 数据的可用选项。可
用的选项包括：
• 窗口积分：窗口积分 EDS 数据。
• 谱峰面积：TruMaps EDS 数据。
3. 要添加要显示的元素，点击设置 Elements( 元素) 部分右侧的加号图标：
现在将添加一个元素部分：
第 76 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
4. 使用 EDS Window( EDS 窗口) 下拉菜单选择要添加的元素。
注 意 ：可 用 的 元 素 是 那 些 在 数 据 采 集 中 检 测 到 的 元 素 。它 们 使 用 EDS 数 据 类型 的 相 关 符 号 表
示。
5. 选择用于表示元素的颜色。
6. 要添加更多元素，重复第 2 - 4 步。
晶粒图层
当前可用的颜色网格分布图图层包括：
• Grain Parameter( 晶粒参数) ：可显示分布图中晶粒的一系列不同形态测量。
• Grain Orientation Spread( 晶粒取向散布) (GOS)：显示各晶粒取向散布的平均值。
• Grain Internal Statistics( 晶粒内部统计) ：可显示与晶粒相关的一系列统计参数。
• GROD Angle( GROD 角) ：可将样品中的所有子结构可视化。
• GROD Axis( GROD 轴) ：可将样品中的所有子结构可视化。
• Disorientation Coloring( 取向差着色) ：将颜色分配到粒内取向，以突出显示精细的内部晶粒结
构。
• Grains in Random Colors( 随机颜色晶粒) ：以不同的颜色显示分布图上的晶粒。
• Grain EDM( 晶粒 EDM) ：显示各像素到最近晶界的距离。
晶粒参数分布图
晶粒参数分布图是把 EBSD 分布图中的晶粒形态测量值用不同颜色表示在分布图上。它允许绘制
许多不同类型的信息，这些信息是逐粒测量到的。
在 AZtecCrystal 中，当前能在晶粒参数分布图图层中实现可视化的晶粒参数有：
参数
描述
Area (pixels)( 区域( 像
素) )
属于晶粒的像素数量。
面积 (µm2)
晶粒的面积，单位为 µm2。
Perimeter (µm)( 周长
(µm))
晶粒周长的单位为 µm。
Equivalent Circle
圆形直径，面积等于晶粒面积。
第 77 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
参数
描述
Diameter (µm)( 等效圆直
径 (µm))
Max Feret Diameter (µm)
( 最大弗里特直径 (µm))
从最大弗里特直径计算的晶粒最长线性尺寸 (µm)。
Convexity( 凸性)
测量对象的凸度。定义为面积除以凸壳的面积。
Roundness( 圆度)
测量对象的形状与数学完美圆的接近程度。定义为等效圆的周长除
以对象的周长。
Rectangularity( 矩形性)
测量对象的形状与数学完美矩形的接近程度。计算方法是用晶粒的
面积比最小边界矩形的面积。
Fitted Ellipse Major
Diameter (µm)( 拟合椭圆
长径 (µm))
对象椭圆拟合的长轴的长度。
Fitted Ellipse Minor
Diameter (µm)( 拟合椭圆
短径 (µm))
对象椭圆拟合的短轴的长度。
Fitted Ellipse Angle( 拟合
椭圆角度) (°)
对象椭圆拟合的长轴的角度。
Fitted Ellipse Aspect Ratio
( 拟合椭圆长宽比)
对象椭圆拟合的长轴与短轴的比率。
Max Feret Angle( 最大弗
里特角度) (°)
最大弗里特直径与水平线之间的夹角。
Mean Orientation Spread
( 平均取向散布) (°)
平均晶粒取向。
Maximum Orientation
Spread( 最大取向散布)
(°)
晶粒距离平均取向的最大偏差。
Mean Band Contrast( 平
均带对比度) (0..255)
晶粒的平均带对比度值。
Mean Band Slope( 平均
带斜率) (0..255)
晶粒的平均带斜率值。
Mean MAD( 平均 MAD)
(°)
晶粒的平均 MAD 值
Neighbor Grain Count( 邻
近晶粒计数)
相邻晶粒的数量
注 意 ：此 分 布 图 图 层 使 用 当 前 晶 粒 检 测 参 数 。为 了 得 到 最 佳 结 果 ，调 整 下 这 些 设 置 可 能 会 更 好 。
第 78 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
配置晶粒参数分布图图层设置
晶粒参数分布图图层可以使用晶粒参数设置进行自定义：
1. Phases( 相) ：使用下拉菜单中的复选框选择要生成晶粒参数分布图的相。
2. Color Scheme( 颜色方案) ：使用 Color Scheme( 颜色方案) 下拉菜单选择要使用的颜色方案：
3. 选择是否反转颜色范围。例如，针对灰度颜色方案，对数据进行反色处理，用最浅色来显示
最低值，而不是遵循默认规则使用浅色来显示最高值。
4. 使用下拉菜单选择颜色 Range Type( 范围类型) ：
• Full Range( 全范围) ：使用全范围的晶粒参数值来显示分布图。
• Automatic( 自动化) ：自动优化所使用的晶粒参数值的范围，使分布图使用全颜色范围。
( 即，在灰度图中，同时显示黑色和白色像素。)
• User-Defined( 用户自定义) ：手动定义要使用的晶粒参数范围的上限和下限。
5. 使用下拉菜单选择要显示的 Grain Parameter( 晶粒参数) ：
第 79 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
晶 粒 取 向 散 布 (GOS) 分 布 图
晶粒取向散布 (GOS) 分布图可显示分布图中各晶粒取向散布的平均值或最大值。它们是十分有用
的 主 应 变 分 析 工 具，使 您 可 以 观 察 分 布 图 中 哪 些 晶 粒 发 生 变 形。它 们 还 可 以 用 于 图 解 说 明 具 有 特
定应变水平的颗粒的空间分布和数值普遍率。
GOS 分布图是所有晶粒的一个分类。因此，在创建一个 GOS 分布图之前，建议：
• 考虑是否清理数据，注意不要删除任何“真实”的小晶粒。
• 使用用户指定设置执行晶粒探测。
注 意 ：如 果 之 前 没 有 执 行 晶 粒 探 测 ，那 么 晶 粒 探 测 作 为 创 建 GOS 分 布 图 过 程 的 一 部 分 将 自 动 执 行 。
将使用最新的晶粒探测设置。
对于每一个晶粒，GOS 值通过如下方法计算：
1. 确定晶粒平均取向。
2. 计算晶粒中每个像素和晶粒平均取向之间的取向变化度。
3. 晶粒平均或最大取向变化度可使用上一步计算得到的值算出。
配置晶粒取向散布分布图图层设置
晶粒取向散布分布图图层可以使用晶粒取向散布设置进行自定义：
1. Phases( 相) ：使用下拉菜单中的复选框选择要生成晶粒取向散布分布图的相：
2. Color Scheme( 颜色方案) ：使用 Color Scheme( 颜色方案) 下拉菜单选择要使用的颜色方案：
3. 选择是否反转颜色范围。
例 如，在 使 用 灰 度 颜 色 方 案 时，对 数 据 进 行 反 色 处 理，用 最 浅 色 来 显 示 具 有 最 低 平 均 或 最 大
取向散布的像素，而不是遵循默认规则使用浅色来显示最高平均或最大取向散布值。
第 80 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
4. 使用下拉菜单选择颜色 Range Type( 范围类型) ：
• Full Range( 全范围) ：使用全范围的晶粒取向散布值 (0-180) 来显示分布图。
• Automatic( 自动化) ：自动优化所使用的晶粒取向散布值的范围，使分布图使用全颜色范
围。( 即，在灰度图中，同时显示黑色和白色像素。)
• User-Defined( 用户自定义) ：手动定义要使用的范围的上限和下限。
注 意 ：最 小 允 许 值 为 0，最 大 允 许 值 为 180。
5. 使用下拉菜单选择 Parameter( 参数) ：
• 平均取向散布：计算各晶粒的平均取向变化程度。
• 最大取向散布：计算各晶粒的最大取向变化程度。
晶粒内部统计分布图
晶粒内部统计分布图图层允许显示与检测到的晶粒相关联的一系列参数。可用的源参数包括：
• Band Contrast( 带对比度) 。
• Band Slope( 带斜率) 。
• MAD。
• Euler 1、2 和 3。
对于所有这些源参数，都可以选择应显示的统计参数。可用的统计参数包括：
• 平均值。
• 最小值。
• 最大值。
• 标准偏差。
• 变异系数。
• 变化。
注 意 ：所 有 内 部 统 计 参 数 都 与 为 Grain Detection( 晶 粒 检 测 ) 选 择 的 设 置 密 切 相 关 。为 了 得 到 最 佳 结
果 ，有 时 需 要 调 整 这 些 设 置 。
配置晶粒内部统计分布图图层设置
晶粒内部统计分布图图层可以使用晶粒内部统计设置进行自定义：
第 81 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
1. Phases( 相) ：使用下拉菜单中的复选框选择要生成晶粒内部统计分布图的相。
2. Color Scheme( 颜色方案) ：使用 Color Scheme( 颜色方案) 下拉菜单选择要使用的颜色方案：
3. 选择是否反转颜色范围。例如，针对灰度颜色方案，对数据进行反色处理，用最浅色来显示
最低值，而不是遵循默认规则使用浅色来显示最高值。
4. 使用下拉菜单选择颜色 Range Type( 范围类型) ：
• Full Range( 全范围) ：使用全范围的晶粒内部统计值来显示分布图。
• Automatic( 自动化) ：自动优化所使用的晶粒内部统计值的范围，使分布图使用全颜色范
围。( 即，在灰度图中，同时显示黑色和白色像素。)
• User-Defined( 用户自定义) ：手动定义要使用的范围的上限和下限。
5. 使用下拉菜单选择 Source Parameter( 源参数) ：
第 82 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
6. 使用下拉菜单选择 Statistics Parameter( 统计参数) ：
GROD 角 分 布 图
Grain Reference Orientation Deviation( 晶粒参照取向偏差) (GROD) 角分布图图层有助于显示样品中
的 子 结 构。它 对 于 突 出 显 示 晶 粒 中 的 变 形 特 别有 用，甚 至 能 显 示 像 素 对 像 素 的 最 小 取 向 差 角。
GROD Angle( GROD 角) 分 布 图 是 根 据 用 户 定 义 的 晶 粒 检 测 来 确 定 每 个 晶 粒 的 平 均 取 向 而 生 成
的。然后将为每个像素绘制与该平均取向间的偏差。
注 意 ：在 晶 粒 检 测 中 ，可 能 需 要 选 择 定 义 新 的 临 界 取 向 差 值 ，以 重 建 新 的 晶 粒 来 生 成 新 的 分 布 图 。
配 置 GROD 角 分 布 图 图 层 设 置
GROD 角分布图可使用 GROD 角分布图设置进行配置：
1. Phases( 相) ：使用下拉菜单中的复选框选择要生成“GROD 角”分布图的相：
2. Color Scheme( 颜色方案) ：使用 Color Scheme( 颜色方案) 下拉菜单选择要使用的颜色方案：
3. 选择是否反转颜色范围。例如，针对灰度颜色方案，对数据进行反色处理，用最浅色来显示
最低 GROD 角值，而不是遵循默认规则使用浅色来显示最高值。
第 83 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
4. 使用下拉菜单选择颜色 Range Type( 范围类型) ：
• Full Range( 全范围) ：使用全范围的 GROD 角 (0-180°) 来显示分布图。
• Automatic( 自动化) ：自动优化所使用的 GROD 拉角的范围，使分布图使用全颜色范围。
( 即，在灰度图中，同时显示黑色和白色像素。)
• User-Defined( 用户自定义) ：手动定义要使用的 GROD 角范围的上限和下限。
注 意 ：最 小 允 许 值 为 0，最 大 允 许 值 为 180°。
GROD 轴
Grain Reference Orientaiton Deviation( 晶粒参照取向偏差) (GROD) 轴分布图图层有助于显示样品中
的子结构。它的计算方式是：
1. 平均取向根据每个晶粒决定。
2. 对于晶粒中的每个像素，根据 IPF 颜色代码计算并以颜色的形式显示取向差轴。
GROD Axis( GROD 轴) 分 布 图 可 能 有 助 于 突 出 显 示 旋 转 轴，以 显 示 与 晶 粒 尺 寸 无 关 的 首 选 晶 体 学
方向。IPF 着色方案有助于显示晶粒的一般织构特征，取向差轴的方向相对于晶粒参照。
配 置 GROD 轴 分 布 图 图 层 设 置
GROD 轴分布图可使用 GROD 轴分布图设置进行配置：
1. 使用下拉菜单中的复选框选择要生成相分布图的相：
取向差着色分布图
取 向 差 着 色 分 布 图 为 不 同 的 粒 内 取 向 分 配 不 同 的 颜 色，以 突 出 显 示 精 细 的 内 部 晶 粒 结 构。着 色 生
成方式是：
1. 对于晶粒内的每个像素，根据晶粒的平均取向计算方向取向差角和轴。
2. 为晶粒的中心分配中灰色，代表晶粒的平均取向。
3. 根据所选的颜色方案，对晶粒中所有取向差角小于所定义的最大角度的像素分配颜色。颜色
空间的三个轴是：绿色到红色；黄色到蓝色；深灰色到浅灰色。
注 意 ：在 分 布 图 中 ，每 个 晶 粒 都 有 自 己 的 颜 色 方 案 。这 意 味 着 ，在 一 个 晶 粒 内 ，颜 色 相 同 的 多 个 像 素
有 相 同 的 取 向 。但 是 ，在 晶 粒 之 间 ，情 况 则 不 一 定 是 这 样 ，不 同 晶 粒 中 颜 色 相 同 的 两 个 像 素 可 能 取 向
不同。
配置取向差着色分布图图层设置
取向差着色分布图图层可以使用取向差着色设置进行配置：
第 84 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
1. Phases( 相) ：使用下拉菜单中的复选框选择要生成取向差着色分布图的相：
2. 选择最大角度模式。
Max. Angle( 最 大 角 度) 是 最 大 的 取 向 差 角，它 将 被 分 配 一 个 颜 色。超 过 该 值 的 取 向 差 角 将 被
分 配 一 个 特 殊 的 maximum angle exceeded( 超 最 大 角 度) 颜 色 或 undefined color( 未 定 义 的 颜
色) 。
注 意 ：最 大 取 向 差 角 的 值 越 小 ，粒 内 取 向 差 越 明 显 。
Max. Angle Mode( 最大角度模式) 可以使用下拉菜单进行选择：
可用的选项有两个：
• User-Defined( 用户自定义) ：在 Max. Angle( 最大角度) (°) 字段内为整个分布图的取向差着
色指定自定义最大角度：
• Highest MOS Value( 最高 MOS 值) ：软件基于数据集内的最大取向差散布计算最大的允许
取向差角。
第 85 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
3. 从下拉菜单中选择要使用的着色方案。
• CIE94：确保两个粒内位置之间具有相同的可感知颜色差异的颜色方案代表分布图中每个
晶粒内的取向差角大致相同。
• HSI：更传统的颜色方案，颜色更鲜艳，但晶粒之间的均匀性差得多。
随机颜色晶粒分布图
随机颜色晶粒分布图显示以随机颜色检测到的晶粒。当被叠加在带对比度分布图图层等其他分布
图图层上时，它是验证晶粒检测质量的一种有用显示。
配置随机颜色晶粒分布图图层设置
随机颜色晶粒分布图图层可以使用随机颜色晶粒设置进行配置：
1. 使用下拉菜单中的复选框选择要生成随机颜色晶粒分布图的相。
晶 粒 EDM 分 布 图
Grain EDM( 晶 粒 EDM) 分 布 图 图 层 用 于 显 示 Euclidean Distance( 欧 几 里 得 距 离 测 量) 。在 此 种 分 布
图类型中，分布图中的每个像素都被分配与最近晶界的像素距离。
配置晶粒 EDM 分布图图层设置
Grain EDM( 晶粒 EDM) 分布图图层可以使用 Grain EDM( 晶粒 EDM) 设置进行自定义：
第 86 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
1. Phases( 相) ：使用下拉菜单中的复选框选择要生成 Grain EDM( 晶粒 EDM) 分布图的相。
2. Color Scheme( 颜色方案) ：使用 Color Scheme( 颜色方案) 下拉菜单选择要使用的颜色方案：
3. 使用下拉菜单选择颜色 Range Type( 范围类型) ：
• Full Range( 全范围) ：使用全范围的 Grain EDM( 晶粒 EDM) 值来显示分布图。
• Automatic( 自动化) ：自动优化所使用的 Grain EDM( 晶粒 EDM) 值的范围，使分布图使用全
颜色范围。( 即，在灰度图中，同时显示黑色和白色像素) 。
• User-Defined( 用户自定义) ：手动定义要使用的 Grain EDM( 晶粒 EDM) 范围的上限和下
限。
边界图层
当前可用的边界分布图图层包括：
• Grain Boundaries( 晶界) ：显示晶粒之间和晶粒内的边界。可以根据边界的取向差对不同边界
进行着色。
• Special Boundaries( 特殊边界) ：显示具有目标属性的特定边界类型。
• CSL Boundaries( CSL 边界) ：显示 CSL 边界类型。
• Axis Alignment( 轴对齐) ：显示与特定轴对齐的边界。
• Phase Boundaries( 相边界) ：显示不同相之间的边界。
• Lattice Correlation( 晶格相关性) ：显示具有某些属性的选定相之间的边界。
• Orientation Relation( 取向关系) ：显示具有某些属性的选定相之间的边界。
晶界分布图
晶界分布图图层提供了一种基于错位角的灵活晶界显示方法。它用于显示像素间相邻取向变化大
于自定义取向差角的像素间晶界。通常，可视化的边界类型有三种：
• 大角度边界：具有大角度取向差的边界，角度通常大于 10°。
• 小角度边界：具有小角度取向差的边界，角度通常小于 10°。
• 子晶粒边界：可分离两个子晶粒的晶粒内的边界。子晶粒边界的取向差角度通常较小( 小于
10°) 。
当 与 带 对 比 度 等 其 他 分 布 图 图 层 组 合 时，晶 界 分 布 图 可 用 于 对 样 品 的 一 般 结 构 进 行 可 视 化，包 括
允 许 在 进 行 晶 粒 检 测 之 前，在 分 布 图 中 大 致 了 解 晶 粒 尺 寸 和 分 布 情 况。它 们 也 可 用 于 突 出 显 示 数
据中存在的任何子结构、低角度边界和噪音。
在以下的示例中，分布图显示了覆盖在带对比度分布图上的晶界。取向差大于 2° 的晶界以绿色显
示，取向差大于 5° 的晶界以蓝色显示，取向差大于 10° 的晶界以红色显示：
第 87 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
配置晶界分布图图层设置
晶界分布图图层可以使用晶界设置进行自定义：
默认创建两个晶界。
点击 Grain Boundaries( 晶界) 右侧的加号图标以添加一个新的晶界：
要移除一个晶界定义，点击晶界部分右上角的垃圾桶图标。
针对各晶界定义，定义：
第 88 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
1. 晶界类型的最小角度：
阈值是相邻像素对必须超过的取向差角，以便将两个像素之间的边界标记为此类型的边界。
2. 画笔详情：
定义用于在分布图上表示晶界类型的颜色和线粗细。
特殊边界分布图
许 多 材 料 都 具 有 属 性 特 殊 的 晶 界，其 属 性 会 影 响 样 品 的 物 理 性 质。这 些 边 界 在 两 个 邻 近 晶 粒 之 间
具 有 特 定 的 取 向 关 系。例 如，FCC 材 料 中 的 孪 晶 界 (Σ3) 和 高 迁 移 率 边 界 (Σ7)。在 某 些 应 用 程 序
中，这 些 特 殊 边 界 的 发 生 对 材 料 属 性 会 产 生 预 期 影 响。这 意 味 着 可 以 对 特 殊 边 界 的 比 例 及 其 在 材
料中的分布进行确定和可视化。
特 殊 边 界 分 布 图 图 层 允 许 用 取 向 差 旋 转 轴 和 角 定 义 特 殊 边 界，并 在 EBSD 分 布 图 上 进 行 可 视 化。
以下是使用此分布图图层对 FCC 钢中孪晶界的存在实现可视化的示例。取向差大于 10° 的晶界显
示为红色，双特殊边界 (<111> 60°) 以蓝色显示：
配置特殊边界分布图图层设置
第 89 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
特殊边界分布图图层可以使用特殊边界设置进行自定义：
要定义特殊边界：
1. 为将被视作分布图图层内的高角度边界的像素对输入最小取向差角( 最小角度 (°)) 。
2. 点击 Special Boundaries( 特殊边界) 右侧的加号图标：
将会向设置中添加一个特殊边界定义部分。
3. 使用下拉菜单选择要定义特殊边界的相。
4. 使用取向差轴 <hkl> 和取向差角定义特殊边界。例如，孪生 (Σ3) 特殊边界定义为 <111> 60°。
5. 输入特殊边界的偏差角。这是距离理想取向差轴和角的最大允许偏差，单位为度。
6. 定义特殊边界在 EBSD 分布图上的显示方式。线的颜色和粗细均可指定。
注 意 ：该 图 例 显 示 被 划 分 为 已 定 义 特 殊 边 界 的 高 角 度 边 界 ( 由 步 骤 1 定 义 ) 的 百 分 比 。
CSL 边 界 分 布 图
Coincidence Site Lattice (CSL) Boundaries( 重位点阵 (CSL) 边界) 分布图图层与特殊边界分布图图层
相似。它允许在分布图上突出显示满足某些条件的晶界。为了便于使用，已提供用于立方 m3m 材
料的 CSL 库。但是，也可以添加特定于用户的定义。
配 置 CSL 边 界 分 布 图 图 层 设 置
CSL 边界分布图图层可以使用 CSL 边界设置进行自定义：
第 90 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
1. 使用 Phase( 相) 下拉菜单选择要定义 CSL 边界的相。
2. 为将被视作分布图图层内的高角度边界的像素对输入最小取向差角。
3. 勾选要在分层分布图中包含的 CSL 边界。
注 意 ：立 方 m3m 晶 体 结 构 的 CSL 边 界 已 定 义 。
注 意 ：该 图 例 显 示 被 划 分 为 已 定 义 CSL 边 界 的 高 角 度 边 界 ( 由 步 骤 2 定 义 ) 的 百 分 比 。
有关更多高级 CSL 边界配置选项：
1. 点击 CSL Boundaries( CSL 边界) 部分右侧的三个点：
将会打开 CSL Boundaries( CSL 边界) 上下文菜单：
第 91 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
使用此上下文菜单可：
• 添加项目：将新的默认 CSL 边界添加到 CSL Boundaries( CSL 边界) 列表的底部：
• 清除列表：移除当前 CSL 边界列表。
• 为立方 m3m 创建列表：使用立方 m3m 材料的标准 CSL 边界列表填充设置的 CSL
Boundaries( CSL 边界) 部分。
• 用 Σ 值为列表排序：按 Σ 值的升序为当前 CSL 边界列表排序。
• 应用 Brandon 标准到所有：靠近 CSL 取向差的晶粒仍然可以视为 CSL 边界。如果完全重合
关系 θm ( 测量单位为度) 的取向差满足 Brandon 标准 θm < 15 Σ1/2，晶界视为重位点阵类型 Σ 。
2. 点击某个 CSL 边界定义右侧的三个点：
将会打开CSL 边界定义上下文菜单：
使用此上下文菜单可：
• CSL 边界设置：选择以打开 CSL Boundary Settings( CSL 边界设置) 窗口并指定用于 CSL 边
界定义的设置：
第 92 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
• Move CSL Boundary Up( 上移 CSL 边界) ：将 CSL 边界定义在 CSL 边界列表中上移一个位
置。
• Move CLS Boundary Down( 下移 CSL 边界) ：将 CSL 边界定义在 CSL 边界列表中下移一个
位置。
• Remove CSL Boundary( 移除 CSL 边界) ：从 CSL 边界列表中删除 CSL 边界定义。
轴对齐分布图
轴对齐分布图允许在 EBSD 分布图上显示具有特定取向差轴的边界。这些边界的比例和分布就可
以确定。
配置轴对齐分布图图层设置
轴对齐分布图图层可以使用轴对齐设置进行定义：
1. 为将被视作分布图图层内的高角度边界的像素对输入最小取向差角( 最小角度 (°)) 。
2. 点击 Axis Boundaries( 轴边界) 右侧的加号图标以添加一个新的轴边界定义：
一个新的 Axis Boundaries( 轴边界) 定义部分现在将被添加到设置：
3. 使用下拉菜单输入将定义轴边界的相。
4. 输入晶界必须对齐的晶体轴，以便显示。
5. 输入轴对齐的偏差角。这是距离晶体轴的最大允许偏差，单位为度。
6. 定义轴边界在 EBSD 分布图上的显示方式( 线的颜色和粗细) 。
注 意 ：该 图 例 显 示 被 划 分 为 已 定 义 轴 边 界 的 高 角 度 边 界 ( 由 步 骤 1 定 义 ) 的 百 分 比 。
相边界分布图
第 93 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
相边界分布图图层显示 EBSD 分布图中不同相之间的边界。
配置相边界分布图图层
相边界分布图图层可以使用相边界设置进行配置：
要定义要显示的相边界：
1. 点击 Phase Boundaries( 相边界) 右侧的加号图标：
一个相边界定义部分现在将被添加到设置：
2. 使用下拉菜单选择要显示边界的相对。
3. 定义相边界在 EBSD 分布图上的显示方式。线的颜色和粗细均可指定。
晶格相关性分布图
晶格相关性分布图可以用来显示两个相之间的边界，其中两个相之间特定对的平面或方向系列互
相平行。允许绕轴旋转的自由度意味着这两个相之间存在“部分关系”。
两 个 相 之 间 的 关 系 可 以 表 示 为 两 个 相 A 和 B 之 间 的 平 行 条 件，其 中 {hkl} A || {hkl} B 或 <uvw> A ||
<uvw>B。
注 意 ：此 分 布 图 图 层 仅 检 测 边 界 段 是 否 满 足 定 义 的 条 件 。边 界 段 离 理 想 目 标 的 距 离 无 法 可 视 化 。
配置晶格相关性分布图设置
晶格相关性分布图图层可以使用晶格相关性设置进行配置：
要定义晶格相关性边界：
第 94 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
1. 点击 Lattice Correlations( 晶格相关性) 右侧的加号图标：
将会添加一个 Lattice Correlations( 晶格相关性) 定义部分：
2. 使用下拉菜单选择要定义晶格相关性边界的 Phase Pair( 相对) 。
3. 使用 Pen( 画笔) 部分定义晶格相关性边界在 EBSD 分布图上的显示方式。线的颜色和粗细均
可指定：
4. 指定偏差角。这是边界可以偏移指定晶格相关性的角度。
注 意 ：最 大 偏 差 是 10°。
5. 针对每个相，使用下拉菜单选择是否定义平面或方向，并指定平面 {hkl} 或 方向 <uvw>。
取向关系分布图
取 向 关 系 分 布 图 可 以 用 来 显 示 两 个 相 之 间 的 边 界，其 中 两 个 相 之 间 存 在 特 定 取 向 关 系。此 分 布 图
图层不允许任何绕轴旋转的自由度，意味着这两个相之间存在“完整关系”。
在 此 分 布 图 图 层 中，为 每 个 相 指 定 了 一 组 平 行 的 平 面 和 方 向 ( 位 于 这 些 平 面 内) 。关 系 表 示 为 两 个
相 A 和 B 之间的平行条件，其中 {hkl}A || {hkl}B 和 <uvw>A ||<uvw>B。
注 意 ：此 分 布 图 图 层 仅 检 测 边 界 段 是 否 满 足 定 义 的 条 件 。边 界 段 离 理 想 目 标 的 距 离 无 法 可 视 化 。
配置取向关系分布图设置
取向关系分布图图层可以使用取向关系设置进行配置：
第 95 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
要定义取向关系边界：
1. 点击 Orientation Relations( 取向关系) 右侧的加号图标：
将会添加一个 Orientation Relations( 取向关系) 定义部分：
2. 使用下拉菜单选择要定义取向关系边界的相对。
3. 使用 Pen( 画笔) 部分定义取向关系边界在 EBSD 分布图上的显示方式( 线颜色和粗细) 。
4. 指定偏差角。这是边界可以偏移指定取向关系的角度。
注 意 ：最 大 偏 差 角 是 10°。
5. 针对每个相，定义平行平面 {hkl} 或 方向 <uvw>：
例 如，库 尔久 莫 夫 和 萨 克 斯 取 向 关 系 可 定 义 为 {111} Fe(ɣ) || {110} Fe(α) 和 <110> Fe(ɣ) || <111> Fe
(α)，其中 Fe(α) 是铁素体 (BCC)，Fe(ɣ) 是奥氏体 (FCC)。
5.3. 配置分布图
自定义分层分布图是用于在分布图中显示特定数据的有用工具。
第 96 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
本部分描述以下操作：
• 添加新分布图到项目。
• 修改分布图名称。
• 添加分布图图层到分布图。
• 编辑分布图图层的设置。
• 自定义分布图显示。
• 更改分布图显示顺序。
• 移除分布图。
5.3.1. 添 加 分 布 图 到 项 目
要创建分布图：
1. 点击分布图工作区右上角的 "+" 图标：
将会打开 Available Map layers( 可用分布图图层) 窗口：
在此窗口中，使用以多种方式混合和组合的分布图图层的调色板可创建自定义分布图。
注 意 ：在 此 窗 口 中 ，还 可 以 点 击 分 布 图 设 置 中 的 + 图 标 来 查 看 现 有 分 布 图 。
2. 选择查看 All( 所有) 可用的分布图图层或用户定义的 Favorites( 收藏) 分布图图层列表。
3. 点击某个分布图图层来选中它。要选择多个分布图图层，在选择多个分布图图层的同时按下
计算机键盘上的 Ctrl 键。
第 97 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
有关可用分布图图层的更多信息，请参阅“可用分布图图层”部分。
4. 点击 Available Map Layers( 可用分布图图层) 窗口底部的 Create( 创建) 可创建分层分布图。
注 意 ：分 层 分 布 图 也 可 以 通 过 双 击 单 个 分 布 图 图 层 来 创 建 。
一 个 新 的 分 层 分 布 图 现 在 将 被 添 加 到 Maps( 分 布 图) 工 作 区。它 将 使 用 所 选 分 布 图 图 层 的 默
认 设 置 来 创 建。如 果 分 布 图 包 含 多 个 分 布 图 图 层，这 些 图 层 可 以 设 置 为 半 透 明，以 允 许 分 布
图图层之间穿插着部分显示。
5. 根据“指定分布图图层设置”部分所述，使用屏幕右侧的设置窗格配置分层分布图使用的设
置。
有关各类分布图图层设置的更多信息，请参阅“可用分布图图层”的相关分布图图层部分。
例 如，对 于 某 种 两 相 材 料，包 含 Euler 1 分 布 图 图 层 和 相 分 布 图 图 层 ( 包 含 Fe-BCC( 红 色) 和 FeFCC( 绿色) 相组分) 的分层分布图可以同时显示相和晶粒结构：
5.3.2. 修 改 分 布 图 名 称
创 建 或 编 辑 分 布 图 时，会 给 它 一 个 默 认 名 称，其 中 包 含 每 个 分 布 图 图 层 的 短 名 称。这 个 名 称 可 以
修改为一个更有用的名称，方法是：
1. 在分布图选项卡上右键单击鼠标以打开上下文菜单：
2. 选择 Rename...( 重命名…) 选项。
将会打开 Rename( 重命名) 窗口：
第 98 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
3. 为分布图输入一个新名称。
4. 单击 Ok( 确定) 关闭窗口并更改名称，或单击 Cancel( 取消) 关闭窗口而不做任何更改。
要将分布图名称设置回默认命名规则：
1. 在分布图选项卡上右键单击鼠标以打开上下文菜单：
2. 选择 Auto-Name( 自动命名) 选项。
现在将更新分布图名称，以使用默认命名规则，并为每个分布图图层提供短名称。
5.3.3. 添 加 分 布 图 图 层 到 分 布 图
要添加更多分布图图层到现有分布图：
1. 在 Maps( 分布图) 工作区中选择分层分布图。
Map Settings( 分 布 图 设 置) 面 板 现 在 应 显 示 分 布 图 的 当 前 图 层 和 设 置。例 如，对 于 默 认 的
BC + IPF + GB 分层分布图，Map Settings( 分布图设置) 应显示为：
第 99 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
2. 点击 Layers( 图层) 右侧的加号图标：
将会打开 Available Map layers( 可用分布图图层) 窗口：
3. 选择是查看用户定义的 Favorites( 收藏) 还是 All( 所有) 分布图图层的列表。
4. 点击某个分布图图层以将它添加到分层分布图。要添加多个分布图图层，在选择多个分布图
图层的同时按下计算机键盘上的 Ctrl 键。
有关可用分布图图层的更多信息，请参阅“可用分布图图层”部分。
5. 点击 Available Map Layers( 可用分布图图层) 窗口底部的 Add( 添加) 将图层添加到分层分布
图。
选 中 的 图 层 现 在 将 被 添 加 到 当 前 分 层 分 布 图。它 们 将 使 用 所 选 分 布 图 图 层 的 默 认 设 置 来 添
加。这些图层可以设置为半透明，以允许分布图图层之间穿插着部分显示。
6. 根据“指定分布图图层设置”部分所述，使用屏幕右侧的设置窗格配置分层分布图使用的设
置。
有关各类分布图图层设置的更多信息，请参阅“可用分布图图层”的相关分布图图层部分。
第 100 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
5.3.4. 指 定 分 布 图 图 层 设 置
Map Layer Settings( 分布图图层设置) 位于软件右侧的 Settings( 设置) 面板中：
如果不存在此面板，点击软件右侧 Settings( 设置) 上方的箭头。
要编辑分布图图层的设置：
1. 在 Layers( 图层) 部分选择要编辑设置的分布图图层。例如：
Map Layer Settings( 分布图图层设置) 部分现在将更新以显示所选分布图图层的设置。
2. 按照“可用分布图图层”的相应分布图图层部分所述，编辑设置。
5.3.5. 自 定 义 分 布 图 显 示
使用分布图显示设置可自定义分层分布图的显示，包括指定：
• 如何显示未包含在子集( 反子集) 中的数据。
• 晶粒模型是否在分布图上叠加显示。对于展示用于构建形态晶粒参数的模型的构建方式，此
方法很有用。
要访问这些设置，点击分布图工作区右上角的齿轮图标：
第 101 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
该操作将打开 Map Display Settings( 分布图显示设置) 窗口，其中包含以下分布图显示设置：
反子集显示
要指定反子集的显示，在“分布图显示设置”的反子集部分中，使用 Color Transformation( 颜色转换)
下拉菜单：
可用的选项包括：
颜色转换
描述
与子集着色相比，反子集着色更深。
Tone Down( 柔和)
与子集着色相比，反子集着色很淡。
Tone Up( 增强)
反子集着色与子集着色反转。
Invert( 反转)
第 102 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
颜色转换
描述
用灰色级为反子集着色。
Gray Level( 灰度级)
用较暗的带对比度颜色为反子集着色。
Band Contrast( 带对比度) ( 柔和)
用纯白色为反子集着色。
White( 白色)
用纯黑色为反子集着色。
Black( 黑色)
用从 Color( 颜色) 下拉菜单中选择的纯色为反子集着色。
Subset Color( 子集颜色)
第 103 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
晶粒显示模型
要指定晶粒显示模型，在“分布图显示设置”中：
• 使用 Model( 模型) 下拉菜单选择模型：
• 使用 Color( 颜色) 下拉菜单选择用于显示晶粒轮廓的颜色：
可用的模型包括：
模型
无
描述
不显示晶粒叠加。
绘制晶粒外壳的轮廓。
轮廓
用一定的平滑度绘制晶粒的轮廓，减小边界的“阶梯状”程度。
平滑轮廓
注意：这样可以更准确地测量边界长度。
等效圆
为各晶粒构建一个面积等于晶粒面积的圆。圆的中心是各晶粒的重心。
第 104 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
模型
描述
用凸壳绘制各晶粒的轮廓，相当于在晶粒周围绕一根橡皮筋。
凸壳
这是测量晶粒的中心。
重心
用一个与 X 和 Y 对齐的边界框包围晶粒。
边界框
最小边界框
针对各晶粒，从各方向上所有可能的边界矩形框中，使用面积最小的那个框。
第 105 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
模型
描述
叠加显示最适合晶粒的椭圆。它的面积和晶粒一样大。
拟合椭圆
注意：它也可用于通过一条线 ( 椭圆的轴 ) 来表示散布点的趋势。
从连接晶界上两点的所有可能的线中选出的距离最大的线。
弗里特最大线
能容纳晶粒的尺寸最小的圆。
边界圆
晶胞
各晶粒上显示一个晶胞，指示该晶粒的方向。
第 106 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
模型
描述
5.3.6. 更 改 分 布 图 显 示 顺 序
分布图的显示顺序可以在选项卡显示或平铺显示中更改。
要更改分布图显示顺序：
1. 右键单击分布图名称以打开分布图上下文菜单：
2. 在选项卡模式中，选择 Move Map backward( 向后移动分布图) 将分布图往左移动一个选项
卡，或 Move Map forward( 向前移动分布图) 将分布图往右移动一个选项卡。
在 平 铺 模 式 中，选 择 MenuItemMoveUp( 向 上 移 动 菜 单 项) 将 分 布 图 往 左 或 往 上 移 动 一 个 位
置，或 Move Map backward( 向后移动分布图) 将分布图往右或往下移动一个位置。
5.3.7. 移 除 分 布 图
单个分布图图层可通过以下方式从分层分布图中移除：
1. 在分布图工作区中，选择要移除分布图图层的分层分布图。
2. 在 Map Settings( 分布图设置) 的 Layers( 图层) 部分，选择要移除的分布图图层。
3. 点击分布图图层右侧的垃圾桶图标：
第 107 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
分 布 图 图 层 现 将 被 删 除。它 将 从 Map Settings( 分 布 图 设 置) 的 Layers( 图 层) 列 表 以 及 分 层 分
布图中移除。
如果分层分布图使用的是默认命名规则，名称也会更新，不再包含已删除分布图图层的短名
称。
分层分布图可通过以下方式从项目中移除：
1. 在分层分布图选项卡上右键单击鼠标以打开上下文菜单：
2. 选择 Remove( 移除) 选项以永久删除分层分布图。
5.4. 平移和缩放分布图
为了便于查看和查询 EBSD 分布图，分布图可以：
• 平移( 移动) 。
• 重置比例。
• 缩放。
5.4.1. 缩 放 工 具
在分布图上进行缩放操作的方法有两种：
1. 选择一个自定义缩放级别：
• 点击分布图右下角的缩放控件：
将会打开 Zoom( 缩放) 窗口：
第 108 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
选择其中一个选项或在窗口顶部的输入栏中输入一个自定义值。
2. 使用鼠标滚轮来缩放鼠标光标周围的图像。
• 从屏幕左侧的调色板工具栏中选择平移工具：
• 将鼠标悬停在分布图上的目标点上。
• 向上滚动鼠标滚轮可放大，向下滚动鼠标滚轮可缩小。
5.4.2. 重 置 比 例 工 具
重设缩放级别的方法有两种：
1. 从分布图右下侧的缩放控件中使用满窗口显示工具：
• 点击 Fit to Window( 满窗口显示) 图标，将分布图的全宽调整为工作区的宽度：
2. 使用分布图上下文菜单中的 Rescale Image( 重置图像比例) 工具：
• 右键单击分布图以打开分布图上下文菜单：
• 选择 Rescale Image( 重置图像比例) 打开重置图像比例菜单：
• 选择 Fit Image to Display( 使图像适合显示屏大小) 将分布图的全宽调整为显示屏的宽度或
Fill Display with Image( 使用图像填充显示屏) 来缩放分布图以使其填充整个显示屏。
5.4.3. 平 移 工 具
要平移或移动分布图：
1. 从屏幕左侧的调色板工具栏中选择平移工具：
2. 在分布图上按下鼠标左键并移动鼠标移动图像。
3. 松开鼠标左键可停止平移分布图。
第 109 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
5.5. 查看特定数据点的数据
如果选择了多种查看模式，则可以在所有查看模式中可视化相同的数据点。例如：
数据点的晶胞 3D 模型也将在 Project Pane( 项目窗格) 中显示 选定点选项卡：
要在 Pixel Data( 像素数据) 工作区中选择数据点并在其他查看模式中查看相同的数据点：
第 110 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
1. 选择适当的查看模式。
2. 点击 Pixel Data( 像素数据) 工作区的数据表窗格内的数据点。
数据点现在将在数据表和其他查看模式中突出显示。
要在 Maps( 分布图) 工作区中选择数据点并在其他查看模式中查看相同的数据点：
1. 选择适当的查看模式。
2. 在 Maps( 分布图) 查看模式中，从 Palette( 调色板) 工具栏中选择 Select Point( 选择点) 工具：
3. 点击分布图上的某个点以在适当的查看模式中突出显示该点。
5.6. 查看特定晶粒的数据
如果选择了多种查看模式，则可以在其他查看模式中突出显示相同的晶粒。例如：
要在 Grain Size( 晶粒尺寸) 工作区中选择晶粒并在其他查看模式中查看相同的晶粒：
第 111 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
1. 选择适当的查看模式。
2. 点击 Grain Sizing Results( 晶粒大小排列结果) 工作区的晶粒列表内的晶粒。
晶粒现在将在晶粒列表、晶粒统计图和其他查看模式中突出显示。
要在 Maps( 分布图) 工作区中选择晶粒并在其他查看模式中查看相同的晶粒：
1. 选择适当的查看模式。
2. 在 Maps( 分布图) 查看模式中，从 Palette( 调色板) 工具栏中选择 Select Grain( 选择晶粒) 工具：
3. 点击分布图上的某个晶粒。
晶粒将在适当的查看模式中突出显示。
5.7. 导出分布图
构建后，分层分布图可以导出为：
• 图像。
• 数据。
此 外，当 前 为 数 据 集 创 建 的 所 有 分 布 图、极 图、反 极 图 和 取 向 分 布 函 数 可 以 通 过 以 下 方 式 导 出 到
PowerPoint：
1. 在项目树中选择数据集。
2. 右键单击数据集以打开上下文菜单。
3. 选择 Export Maps/Pole Figures/ODFs to PowerPoint...( 导出分布图/极图/ODF 到 PowerPoint…)
选项。
现将打开一个包含所有图像的 PowerPoint 演示文稿。
将分层分布图导出为数据
要将分层分布图导出为数据：
1. 在 Maps( 分布图) 工作区中选择分层分布图。
2. 在分层分布图上右键单击鼠标以打开上下文菜单：
第 112 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
3. 选择 Export Map Data( 导出分布图数据) 选项。
将会打开导出上下文菜单：
4. 从可用选项中选择：
• Save As( 另存为) ：将会打开 Save Map As...( 分布图另存为) 窗口。
选择合适的文件名称，将分层分布图保存为数据文件。
• Copy( 复制) ：将数据复制到剪贴板。
将分层分布图导出为图像
要将分布图导出为图像：
1. 在 Maps( 分布图) 工作区中选择分层分布图。
2. 在分层分布图上右键单击鼠标。
将会打开分布图上下文菜单：
3. 选择 Export Map( 导出分布图) 选项。
将会打开导出上下文菜单：
4. 从可用选项中选择：
• Save As( 另存为) ：将会打开 Save Map As...( 分布图另存为) 窗口。
选择合适的文件名称和图像格式，将分层分布图保存为图像。
• Copy( 复制) ：将图像复制到剪贴板。
• Map to PowerPoint( 分布图到 PowerPoint) ：将当前分布图以图像形式复制到 PowerPoint
中。
• All Maps to PowerPoint( 所有分布图到 PowerPoint) ：将所有分布图以图像形式复制到
PowerPoint 中。
第 113 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
• Settings( 设置) ：将会打开 Export Settings for Map( 分布图导出设置) 窗口。
从可用选项中为导出选择合适的设置。
注 意 ：图 像 分 辨 率 和 图 例 字 体 大 小 是 从 之 前 的 导 出 中 调 取 出 来 的 。点 击 Use Original
Resolution( 使 用 原 始 分 辨 率 ) 将 分 辨 率 设 置 为 原 始 光 栅大 小 。对 于 小 数 据 集 ，手 动 增 加 分 辨 率
可以更好地平衡图像和图例。
此 外，当 前 为 数 据 集 创 建 的 所 有 分 布 图、极 图、反 极 图 和 取 向 分 布 函 数 可 以 通 过 以 下 方 式 导 出 到
PowerPoint：
1. 在项目树中选择数据集。
2. 右键单击数据集以打开上下文菜单。
3. 选择 Export Maps/Pole Figures/ODFs to PowerPoint...( 导出分布图/极图/ODF 到 PowerPoint…)
选项。
现将打开一个包含所有图像的 PowerPoint 演示文稿。
第 114 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
6. 清 理
采 集 EBSD 数 据 时，某 些 像 素 可 能 被 错 误 标 记 或 根 本 未 被 标 记。如 果 数 据 要 用 于 晶 粒 统 计 或 晶 界
分 析，根 据 这 些 像 素 的 位 置，它 们 可 能 会 影 响 结 果。因 此，在 某 些 情 况 下，比 较 可 取 的 做 法 是，通
过从数据集中去除这些像素并用与邻近像素取向相同的像素替换它们来清理数据。
注 意 ：使 用 这 种 方 法 不 创 建 新 的 数 据 ，仅 复 制 现 有 取 向 数 据 。
在 AZtecCrystal 中有两种类型的数据可以被“清除”：
1. Wild Spikes( 杂乱的尖峰) ：Wild Spikes( 杂乱的尖峰) ：非常小的晶粒，取向不同于周围的晶粒。
2. Zero Solutions( 零解析) ：Zero Solutions( 零解析) ：尚未标定的像素。
杂乱的尖峰
杂 乱 的 尖 峰 是 由 不 超 过 四 个 像 素 组 成 的 细 小 晶 粒，其 取 向 与 周 围 属 于 同 一 晶 粒 的 像 素 完 全 不 同。
这些像素有可能被错误标定。
在 AZtec 中，使用以下步骤去除杂乱的尖峰：
1. 由小于指定像素数( 一个用于默认去除杂乱的尖峰) 组成且仅由另外一个晶粒包围的所有晶
粒被识别为杂乱的尖峰。
2. 对于每个杂乱的尖峰，从距离最近的四个像素中，与所有其他邻近像素相比，其晶向偏离角
之和最小的像素被识别为最相似的邻近像素。
3. 杂乱的尖峰的取向被替换为最相似的邻近像素的相同取向。
注 意 ：只 要 没 有 其 他 零 解 析 且 所 有 其 他 像 素 属 于 同 一 晶 粒 ，则 忽 略 杂 乱 的 尖 峰 旁 边 的 零 解 析 。
建议在去除零解析之前先去除杂乱的尖峰。
零解析
零 解 析 是 尚 未 标 定 的 像 素。由 于 存 在 晶 界、变 形 的 区 域，污 染 或 未 知 相，EBSP 可 能 不 会 被 标 定。
如果将 EBSP 作为数据采集的一部分进行存储，可以查看 EBSP 以了解在进行任何重大清除之前
不对其进行标定的原因。
第 115 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
6.1. 清理工作区
在 AZtecCrystal 中清理数据时，建议选择同时显示 Maps( 分布图) 和 Clean Up( 清理) 查看模式。即：
如果两个查看模式都被选中，主工作区将包含两个分布图：
1. 数据清理预览 - IPF || Z：显示叠加在带对比度分布图上的反极图 Z 方向着色。零解析显示为
白色。
2. 数据清理预览 - 相颜色：显示叠加在带对比度分布图上的相分布图。零解析显示为白色。
例如：
这些分布图可用于显示应用在数据集上的清理的结果，并确保应用了适当等级的清理。
主工作区左侧的工具栏是分布图调色板工具栏。有关此工具栏中的工具的信息，请参阅“分布图工
作区”部分。
6.2. 清理数据
第 116 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
要清理 AZtec 中的 EBSD 数据集：
1. 从 Project( 项目) 数据树中选择要清理的数据集。
2. 选择 Maps( 分布图) 和 Clean Up( 清理) 查看模式。
3. 检查数据并确定要执行的清理。
4. 从软件右侧的 Settings( 设置) 面板中选择 Clean Up( 清理设置) 窗格：
5. 在 General Settings( 一般设置) 部分中，使用 phases( 相) 下拉菜单选择将执行清理的相。
6. 使用 Dataset( 数据集) 下拉菜单选择要清理的数据集。可用的选项包括：
• Selected Dataset( 选定的数据集) ：这是默认选项。当前在项目树中选择的数据集将被清理
( 即整个数据集或已创建的子集) 。
• Entire Dataset( 整个数据集) ：确保将为整个当前数据集执行清理，而不管是否在项目树中
选择了某个子集。
• A subset of the dataset( 数据集的子集) ：将会为选定的子集执行清理，而不管在项目树中选
择的是什么。
注 意 ：此 选 项 仅 在 为 数 据 集 定 义 了 子 集 时 才 可 用 。
7. 选择在执行清理时是否“排除孔隙”。排除孔隙可以保留裂缝和孔隙。
如果选择了 Exclude Voids( 排除孔隙) ，则使用下拉菜单选择是使用带斜率还是带对比度值来
确定是否存在孔隙。
8. 选择要应用到数据集的第一个清理步骤。选择执行一个自动清理程序或去除杂乱的尖峰和
零解析。
• Auto Clean-Up( 自动清理) ：一个自动清理程序，执行杂乱尖峰去除后，再执行 3 级( 6 个相
邻像素) 零解析去除和 4 级( 5 个相邻像素) 零解析去除。
要执行自动清理，点击 General( 通用) 部分中的 Auto Clean-Up( 自动清理) 按钮。
• Wild Spikes( 杂乱的尖峰) ：从数据集去除晶粒尺寸为 1 个像素的杂乱的尖峰。
要执行杂乱尖峰清理步骤，点击 Wild Spike Removal( 杂乱尖峰去除) 部分中的 Remove Wild
Spikes( 去除杂乱的尖峰) 按钮。
第 117 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
• Zero Solution Removal( 零解析去除) ：从数据集中去除零解析。
使 用 Level( 等 级) 下 拉 菜 单 选 择 要 应 用 的 零 解 析 去 除 等 级。最 不 活 跃 的 零 解 析 去 除 等 级 为
1( 必须标定 8 个相邻的像素才能去除零解析) ，而最活跃的零解析去除等级为 8( 只须标定
1 个相邻的像素即可去除零解析) 。
选 择 是 否 应 用 迭 代 方 法。将 重 复 进 行 零 解 析 去 除，直 到 剩 余 的 零 解 析 的 数 量 不 再 变 化，或
者达到 max( 最大值) 字段中定义的最大迭代次数。
要 执 行 零 解 析 去 除 清 理 步 骤，点 击 Zero Solution Removal( 零 解 析 去 除) 部 分 中 的 Remove
Zero Solutions( 去除零解析) 按钮。
应 用 后，清 理 步 骤 将 被 添 加 到 Clean Up Settings( 清 理 设 置) 底 部 的 Clean up Steps( 清 理 步 骤)
部分的已应用清理步骤列表中。它包含数据集清理效果的摘要。例如：
如 果 Maps( 分 布 图) 模 式 也 被 选 中，Data Clean Up Preview( 数 据 清 理 预 览) 分 布 图 将 被 更 新，
以显示分布图清理效果。
9. 对于需要应用到数据集的任何其他清理步骤，重复第 8 步。可根据需要同时对单个数据集应
用多个清理步骤。
10. 如果清理的最终结果不符合要求，清理程序可通过以下方式修改：
• 移除清理步骤：任何清理步骤都可以通过点击步骤右边的垃圾桶图标来移除。例如，点击
高亮显示的垃圾桶图标，可以从清理程序中移除下面的第二步：
第 118 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
• 改变清理步骤的顺序：清理步骤的顺序可以通过点击步骤右边的向上和向下箭头来更改：
注 意 ：每 次 对 Clean Up Steps( 清 理 步 骤 ) 进 行 调 整 后 ，整 个 清 理 步 骤 顺 序 会 应 用 到 原 始 数 据 集 。
11. 数据清理优化后，点击 Clean Up Settings( 清理设置) 顶部的 Apply( 应用) 按钮，将其应用到数
据集：
现在可以在任何查看模式下查看清理后的数据。
6.2.1. 清 理 时 排 除 孔 隙
本部分介绍 AZtecCrystal 自动检测孔隙的方法，以在数据清理时排除孔隙：
1. 生成要清理分布图区域的带对比度值或带斜率值直方图。
2. 直方图采用两步中值滤波处理，以降低噪音：
1. 第一个中值用于消除低值噪音。这种低值噪音必须去除，因为它可以模拟低带对比度值，
从而被解读为孔隙。
2. 第二个中值用于平滑直方图，并消除所有可能影响孔隙检测的小“假”谷和小“假”峰。
3. 孔隙算法决定分布是否为双峰分布。也就是说，它会在高带对比度值或高带斜率值处寻找大
山，在低值处寻找小山，并在两山之间寻找山谷。例如：
第 119 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
如 果 存 在 这 种 双 峰 结 构，则 代 表 分 布 图 区 域 内 有 孔 隙，以 小 山 表 示。两 山 之 间 的 山 谷 底 部 被
用作阈值。
如果不存在这种双峰结构，则代表分布图区域内没有孔隙。
4. 从要清理的数据中过滤检测到的孔隙。
6.3. 恢复数据集
清理后的数据集可以通过以下任一方法恢复到原始( 未清理的) 版本：
• Project Tree( 项目树) 。
• Clean Up Settings( 清理设置) 。
注 意 ：对 于 .h5oina 文 件 ，清 理 后 的 数 据 会 被 添 加 到 数 据 文 件 中 。这 意 味 着 可 以 在 .h5oina 项 目 中 保 存
清 理 后 的 数 据 ，并 在 将 来 任 何 时 候 恢 复 原 始 数 据 。对 于 .cpr 文 件 ，只 有 在 项 目 打 开 和 未 保 存 时 才 能 恢
复 清 理 后 的 数 据 。一 旦 项 目 被 保 存 ，数 据 就 会 被 覆 盖 ，原 始 数 据 就 会 丢 失 。
要从 Project Pane( 项目窗格) 恢复数据：
1. 在 Project Tree( 项目树) 中选择数据集。
2. 右键单击数据集或点击数据集右侧的三个点以访问上下文菜单。
3. 选择 Restore Dataset( 恢复数据集) 。将会打开 Restore Dataset( 恢复数据集) 窗口：
4. 点击 Ok( 确定) 将数据集恢复到原始版本，或点击 Cancel( 取消) 关闭窗口而不对数据集做任
何更改。
要从 Clean Up Settings( 清理设置) 恢复数据：
1. 在 Project Tree( 项目树) 中选择数据集。
2. 选择 Clean Up( 清理) 模式。
第 120 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
3. 点击 Clean Up Settings( 清理设置) 窗格顶部的 Restore( 恢复) 按钮：
项目数据现将恢复到清理前的状态。
第 121 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
7. 晶 粒 尺 寸
Grain Size( 晶粒尺寸) 查看模式允许在当前数据集上执行晶粒检测。
在 EBSD 中，晶 粒 被 定 义 为 相 邻 像 素 的 集 合，其 像 素 到 像 素 的 取 向 差 小 于 临 界 取 向 差 角，并 被 取
向差角大于临界取向差角的边界完全包围。
临界取向差角被定义为 Threshold( 阈值) (°) 角。运行晶粒检测时，软件对 EBSD 分布图中的每个邻
近像素对进行检查，并确定其取向差角。那么：
• 取向差大于所定义的 Threshold( 阈值) 角的所有像素对被定义为晶界。
• 取向差小于 Threshold( 阈值) 角且完全被晶界包围的所有像素对被视为属于同一晶粒。
有 时，特 别是 在 强织 构 样 品 中，相 邻 的 晶 粒 可 能 具 有 与 分 界 边 界 中 的 片 段 相 似 的 取 向，它 们 小 于
临界取向差角。这些被称为开放边界。
例如：
这 些 开 放 边 界 可 以 保 持 打 开，也 可 以 通 过 将 取 向 差 角 下 调 至 指 定 的 “完 成 角”来 关 闭。完 成 角 通 常
设置为一个低值( 0° 到 2° 之间) 。
如果边界保持打开，则两个晶粒将被视为同一个。如果边界封闭，则两个晶粒可以分别辨认。
注 意 ：如 果 被 分 析 样 品 的 晶 粒 内 部 有 子 结 构 ，建 议 不 要 关 闭 晶 界 。
AZtecCrystal 还允许定义特殊晶界。在晶界分析中，符合所定义特殊边界标准的任何边界均不视为
晶界。这符合国际晶粒尺寸测量标准。这可能会对结果产生重大影响。
例如，对于 FCC 钢样品，最初进行晶粒分析时没有定义任何特殊边界。然后，将具有 <111> 60° 的
Sigma 3 CSL 孪 晶 界 定 义 为 特 殊 边 界，重 复 晶 粒 分 析。排 除 孪 晶 界 的 晶 粒 分 析 的 平 均 晶 粒 面 积 要
比不定义任何特殊边界的晶粒分析的平均晶粒面积大得多：
孪晶界被视为晶界
第 122 页，共 244 页
孪 晶 界 (Sigma 3 CSL) 被 排 除
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
平 均 晶 粒 面 积 ：92.23 µm2
平 均 晶 粒 面 积 ：273.07 µm2
完成晶粒分析和创建晶粒列表后，用户可以查看：
• 各晶粒的晶粒细节。
• 晶粒统计摘要。
• 以直方图显示的晶粒统计。
7.1. 晶粒分析的注意事项
为了执行符合要求的晶粒分析，需要考虑许多注意事项。它们包含：
• 分析是否需要满足某个晶粒尺寸测量标准的要求？
• 应该使用哪些 SEM 条件？
• 应该使用什么步长？
• 应该分析多大的区域？
• 数据采集速度可以多快？
• 应该执行多少数据清理？
• 样品是否包含孪晶界？如何处理他们？
答案取决于要满足的晶粒测量标准和正在分析的样品。
晶粒尺寸测量标准
使用 EBSD 进行晶粒尺寸测量有两个国际标准：
• ASTM E2627-13 (2013)
° 必须分析 500 个以上的晶粒。
° 每个晶粒内必须有 100 个以上的像素。
° 在执行清理或过滤时，测量修改必须小于 10%。
• ISO 13067 (2011)
° 必须在至少三个视场内分析 50 个以上的晶粒。
° 最好是考虑 500 - 1000 个晶粒。
° 每个晶粒内必须有 10 个以上的像素。
° 在执行清理或过滤时，标定率必须增加 5% 以下。
采集区域
为获得良好统计数据而需分析的区域的大小和晶粒的数量取决于样品的微结构。
例如，对于下图所示的具有均质结构的再结晶等轴镁样品，被分析的整个区域包含 3775 个平均尺
寸 为 3.509 µm 的 晶 粒。当 对 这 整 个 区 域 的 小 部 分 执 行 晶 粒 分 析 时，发 现 区 域 越 小，百 分 比 误 差 越
大：
第 123 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
当 在 一 个 具 有 异 质 结 构 的 增 材 制 造 Ti64 样 品 上 执 行 类似 实 验 时，发 现 整 个 区 域 内 有 4486 个 平 均
尺 寸 为 2.69 µm 的 晶 粒。当 对 这 整 个 区 域 的 小 部 分 执 行 晶 粒 分 析 时，发 现 平 均 晶 粒 尺 寸 的 变 化 更
大，并且取决于所考虑区域内的晶粒结构。
这表明，对于均质微结构，一个包含 100 - 200 个晶粒的较小采集区域可以用来确定一个有代表性
的 晶 粒 尺 寸。然 而，对 于 异 质 微 结 构，需 要 考 虑 一 个 包 含 1000 个 以 上 晶 粒 的 更 大 的 采 集 区 域。它
还演示了如何从样品中随机分配的多个视场中采集数据，以确保所考虑的分析区域能够代表整个
样品。
对于多相样品，建议分析与异质微结构相似数量的晶粒。
SEM 条件
应设置 SEM，提供能被可靠标定的高质量 EBSP。
对于金属和合金，高束流( 即 10 - 30 nA) 可用于实现高速分析。
对于非常精细的晶粒材料，应选择较低的加速电压。
步长尺寸
为了满足晶粒测量标准，确保选择合适的步长很重要，以便为分析提供足够数量的晶粒数据点：
• ISO 标准：每个晶粒必须至少有 10 个像素。因此，~0.1 x 晶粒尺寸的步长为应使用的最大步
长。
• ASTM 标准：每个晶粒必须有 100 个以上的像素。因此，步长应设置为 <0.05 x 晶粒尺寸。
然而，更小的步长可以显著提高晶粒尺寸测量的精度。
在执行任何分布图绘制之前，FSD 图像是用于可视化和计算平均晶粒尺寸的有用工具。例如：
第 124 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
清理数据
在 执 行 晶 粒 分 析 之 前 对 数 据 进 行 清 除 时，最 好 最 大 限 度 减 少 过 滤 和 清 除。这 是 因 为 大 量 的 清 除 和
过 滤 会 对 测 量 到 的 晶 粒 尺 寸 产 生 显 著 的 影 响。例 如，可 以 删 除 孤 立 的 错 误 ( 杂 乱 的 尖 峰) ，因 为 它
们 不 应 显 著 影 响 统 计 数 据。但 是，建 议 不 要 删 除 晶 界 处 的 未 标 定 数 据 点，因 为 它 们 会 影 响 统 计 数
据，如下所示：
清 除 前 ：平 均 晶 粒 尺 寸 = 3.13 µm
清 除 后 ：平 均 晶 粒 尺 寸 = 3.37 µm
7.2. 晶粒尺寸工作区
Grain Size( 晶粒尺寸) 查看模式允许对现有 EBSD 数据集执行晶粒测量。
在 AZtecCrystal 中 执 行 晶 粒 分 析 时，建 议 选 择 同 时 显 示 Maps( 分 布 图) 和 Grain Size( 晶 粒 尺 寸) 查
看模式。即：
如果两个查看模式都被选中，主工作区将分为两个窗格：
第 125 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
1. 上窗格：显示分布图工作区。可用于验证晶粒检测是否按要求检测了晶粒。
2. 下窗格：显示 Grain Size( 晶粒尺寸) 工作区。查看晶粒检测的结果。
Grain Size( 晶粒尺寸) 工作区可分为两个部分：
1. 左窗格：以表格形式显示当前晶粒检测的晶粒列表。
2. 右窗格：显示当前晶粒分析的统计数据。晶粒统计同时以图和摘要的形式显示。
7.2.1. 晶 粒 列 表
晶粒列表以表格的形式显示在 Grain Sizing Results( 晶粒大小排列结果) 工作区的左侧：
第 126 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
可能显示的晶粒参数包括：
描述
ID
唯一晶粒编号。
Phase( 相)
晶粒所属的相名称。
Area (pixels)( 区域( 像素) )
属于晶粒的像素数量。
尺寸
Area (µm2)( 面积 (µm2))
晶粒面积的单位为 µm2。
Perimeter (µm)( 周长 (µm))
晶粒周长的单位为 µm。
Equivalent Circle Diameter (µm)( 等效
圆直径 (µm))
圆形直径，面积等于晶粒面积。
Max Feret Diameter (µm)( 最大弗里
特直径 (µm))
从最大弗里特直径计算的晶粒最长线性尺寸 (µm)
Fitted Ellipse Major Diameter (µm)( 拟
合椭圆长径 (µm))
对象椭圆拟合的长轴的长度。
Fitted Ellipse Minor Diameter (µm)( 拟
合椭圆短径 (µm))
对象椭圆拟合的短轴的长度。
形状
测量曲率，描述晶粒轮廓向外凸起的程度。
Convexity( 凸性)
计算方法是用晶粒的面积除以凸壳的面积。最大值为 1，
表示完全凸性。
测量晶粒与数学完美圆的接近程度。
Roundness( 圆度)
第 127 页，共 244 页
计算方法是用等效圆的周长除以真实周长。最大值为 1，
表示完全圆度。
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
描述
测量晶粒与数学完美矩形的接近程度。
Rectangularity( 矩形性)
计 算 方 法 是 用 晶 粒 的 面 积 比 最 小 边 界 矩 形 的 面 积。最 大
值为 1，表示完美的矩形性。
Fitted Ellipse Aspect Ratio( 拟合椭圆
长宽比)
对象椭圆拟合的长轴与短轴的比率。
Neighbor Grain Count( 邻近晶粒计
数)
晶粒周围邻近晶粒的数量。
角度
Fitted Ellipse Angle( 拟合椭圆角度)
(°)
对象椭圆拟合的长轴的角度。
Max Feret Angle( 最大弗里特角度)
(°)
最大弗里特直径与水平线之间的夹角。
取向
Mean Orientation Spread( 平均取向
散布) (°)
晶粒的平均取向变化程度。
Maximum Orientation Spread( 最大取
向散布) (°)
晶粒的最大取向变化程度。
像素值
Mean Band Contrast( 平均带对比度)
(0..255)
晶粒的平均带对比度值。
Mean Band Slope( 平均带斜率)
(0..255)
晶粒的平均带斜率值。
Mean MAD( 平均 MAD) (°)
晶粒的平均 MAD( 平均角度偏差) 值。
显 示 的 晶 粒 参 数 可 以 在 Available Parameters( 可 用 参 数) 窗 口 中 指 定，点 击 晶 粒 列 表 上 方 的
Parameter...( 参数…) 按钮即可打开此窗口：
第 128 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
选 择 是 查 看 Favorites( 收 藏) 还 是 All( 所 有) 参 数，并 使 用 复 选 框 来 配 置 要 显 示 在 晶 粒 列 表 中 的 参
数。
有关将可用参数配置为 Favorites( 收藏) 的更多信息，请参阅“配置可用参数收藏”部分。
要排列晶粒列表内任何列中的值，单击标题。该列将按值的递增顺序排序。要颠倒顺序，再次单击
标题。
要更改列的显示顺序，可将列拖动到所需位置。
晶粒列表下方是晶粒检测的摘要。它包含：
• 晶粒计数：这是使用当前设置在分布图中检测到的晶粒数。
• 晶粒号 (ASTM E2627)：这是符合 ASTM E2627 的晶粒号。
注 意 ：为 了 满 足 ASTM E2627 的 标 准 ，晶 粒 中 的 最 小 像 素 数 量 应 在 100 以 上 ，晶 粒 中 的 平 均 像 素
数 量 应 在 500 以 上 。
配置可用参数收藏
Available Parameters( 可用参数) 窗口可以显示以下任一内容：
• All( 所有) ：显示所有可用的参数。
• Favorites( 收藏) ：显示标记为收藏的所有参数。
要从收藏参数列表添加或移除参数：
第 129 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
1. 点击 Grain Size( 晶粒尺寸) 模式中晶粒列表上方的 Parameters...( 参数...) 按钮：
现将打开 Available Map Layers( 可用分布图图层) 窗口：
2. 如果选择了 Favorites( 收藏) 选项，点击 All( 所有) 选项以查看所有可用的参数：
以实心星标记的参数已被选为 Favorites( 收藏) ，将在 Favorites( 收藏) 列表中显示：
第 130 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
以星形轮廓标记的参数未被 Favorites( 收藏) ，不会在 Favorites( 收藏) 列表中显示：
3. 点击某参数的星形图标可从 Favorites( 收藏) 参数列表添加或移除它。
选择了 Favorites( 收藏) 选项时，可从可见列表添加或移除参数。
注 意 ：在 Favorites( 收 藏 ) 视 图 中 ，点 击 参 数 右 侧 的 星 形 图 标 也 可 以 移 除 参 数 。
7.2.2. 晶 粒 检 测 统 计
当前晶粒列表的统计数据显示在 Grain Size( 晶粒尺寸) 工作区的右侧：
统计窗格顶部的下拉菜单可用于选择：
第 131 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
• 要显示在图中的统计参数。
• 图使用的像素合并模式。
可用的统计参数包括：
参数
描述
Area (pixels)( 区域( 像
素) )
属于晶粒的像素数量。
Area (µm2)( 面积
(µm2))
晶粒面积的单位为 µm2。
Perimeter (µm)( 周长
(µm))
晶粒周长的单位为 µm。
Equivalent Circle
Diameter (µm)( 等效圆
直径 (µm))
圆形直径，面积等于晶粒面积。
Max Feret Diameter
(µm)( 最大弗里特直径
(µm))
从最大弗里特直径计算的晶粒最长线性尺寸 (µm)
Fitted Ellipse Major
Diameter (µm)( 拟合椭
圆长径 (µm))
对象椭圆拟合的长轴的长度。
Fitted Ellipse Angle( 拟
合椭圆角度) (°)
对象椭圆拟合的长轴的角度。
Fitted Ellipse Aspect
Ratio( 拟合椭圆长宽
比)
对象椭圆拟合的长轴与短轴的比率。
Mean Orientation
Spread( 平均取向散
布) (°)
整个晶粒的平均取向变化程度。
Maximum Orientation
Spread( 最大取向散
布) (°)
整个晶粒的最大取向变化程度。
Neighbor Grain Count
( 邻近晶粒计数)
晶粒周围邻近晶粒的数量。
可用的像素合并模式包括：
参数
描述
Standard( 标准)
在相关的晶粒尺寸分组中，每次晶粒测量计数为一。
Area Weighted
( 面积加权)
每个计数根据其对整个面积的相对贡献来加权( 即每个分组都表示为“面积
加权分数”，即该相总面积的分数) 。
像素合并模式下拉菜单的右侧是一个齿轮图标，可以用来访问图的设置：
第 132 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
使用下拉菜单选择：
• Chart Type( 图的类型) ：选择线形、区域或条形。
• Histogram Color( 直方图颜色) ：选择用于为图着色的颜色。
• Selected Grain Marker( 选定晶粒标记) ：选择用于为图中标记当前选定晶粒位置的线条着色的
颜色。
• Show Grid( 显示网格) ：选择是否在图上显示网格。
右键单击图以显示上下文菜单，可以：
• 将图导出为图像或数据。
• 指定要转换为新子集的图数据的范围。
直方图中当前显示参数的统计数据显示在直方图的下方。
晶粒统计
描述
整个数据集的测量平均值。计算方式：
平均值
跨选定数据集部分的测量标准偏差。
计算方式：
标准偏差
最小值
跨选定数据集部分的测量最小值。
最大值
跨选定数据集部分的测量最大值。
注 意 ：直 方 图 显 示 二 维 晶 粒 剖 面 尺 寸 的 分 布 。即 使 是 面 积 或 等 效 圆 直 径 等 参 数 也 不 能 用 来 指 示 晶 粒
尺 寸 分 布 。平 均 尺 寸 统 计 可 以 用 来 更 有 效 地 指 示 晶 粒 尺 寸 ( 尽 管 需 要 立 体 校 正 才 能 给 出 正 确 的 三 维 晶
粒尺寸) 。
7.3. 执行晶粒检测
第 133 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
选择 Grain Size( 晶粒尺寸) 查看模式时，将使用当前设置自动执行晶粒检测，并在 Grain Size( 晶粒
尺 寸) 工 作 区 中 显 示 晶 粒 尺 寸 结 果。每 次 更 改 晶 粒 检 测 设 置 后，都 将 使 用 最 新 设 置 再 次 执 行 晶 粒
检测。
要指定用于执行晶粒检测的设置：
1. 在 Settings( 设置) 面板中选择 Grain Sizing Settings( 晶粒大小排列设置) 选项卡：
2. 选择是否在以下位置上执行晶粒检测：
• Selected Dataset( 选定的数据集) ：这是默认选项。将在当前在项目树中选定的子集上执行
晶粒检测。( 即整个数据集或已创建的子集) 。
• Entire Dataset( 整个数据集) ：确保在整个当前数据集上执行晶粒检测，而不管是否在项目
树中选择了某个子集。
• A subset of the dataset( 数据集的子集) ：将在选定的子集上执行晶粒检测，而不管在项目树
中选择的是什么。
注 意 ：此 选 项 仅 在 为 数 据 集 定 义 了 子 集 时 才 可 用 。
3. 选择应如何考虑子集中的晶粒：
注 意 ：如 果 在 项 目 树 中 没 有 选 择 子 集 ，则 忽 略 此 设 置 。
• All Pixels in Subset( 所有像素在子集中) ：这是默认选项。只要属于晶粒的所有像素都在定
义的子集内，子集的晶粒大小排列结果中就会包含此晶粒。( 例如，如果某个晶粒与子集
的边界重叠，则它不包括在内。)
• At least 1 Pixel in Subset( 至少 1 个像素在子集中) ：只要至少 1 个像素在定义的子集内，子
集的晶粒大小排列结果中就会包含此晶粒。
• At least 50% in Subset( 至少 50% 在子集中) ：只要属于晶粒的像素中至少 50% 在定义的子
集内，子集的晶粒大小排列结果中就会包含此晶粒。
注 意 ：这 些 选 项 可 用 于 修 改 现 有 的 子 集 ，使 其 包 含 与 子 集 的 边 界 重 叠 的 完 整 晶 粒 。根 据 “将 晶 粒
列 表 转 换 为 子 集 ”部 分 的 描 述 ，选 择 相 关 选 项 以 包 含 晶 粒 ，然 后 将 晶 粒 列 表 转 换 为 ( 新 的 ) 子 集 。
4. Threshold( 阈值) (°)：输入阈值 (°) 角。
这 是 临 界 取 向 差 角，超 过 临 界 取 向 差 角 的 像 素 对 被 识 别为 晶 界。默 认 值 为 10°。对 于 等 轴 结
构，采 用 较 小 的 角 度，一 般 为 5°，而 对 于 较 为 复 杂 的 结 构，应 采 用 较 大 的 角 度，一 般 为 10° 或
15°。
第 134 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
5. 选择是否允许晶界完成，关闭取向差小于阈值 (°) 角的开放边界。
要 允 许 晶 界 完 成，勾 选 Close Boundaries( 关 闭 边 界) 选 项。down to (°)( 最 小 (°)) 字 段 将 会 出
现，可在其中输入关闭边界时允许的最小取向差角：
6. 从晶粒大小排列结果中选择是包含还是排除数据集边界处的晶粒。
此 设 置 对 晶 粒 尺 寸 统 计 数 据 有 很 大 的 影 响，在 选 择 使 用 哪 个 选 项 时 应 谨 慎。例 如，如 果 分 布
图区域呈双峰分布，一些非常大的晶粒可能会接触到分布图的边缘，那么排除这些晶粒可能
会 严 重 影 响 数 据，应 选 择 Include( 包 含) 选 项。但 是，如 果 分 布 图 区 域 包 含 的 晶 粒 数 量 相 对 较
多，且二维晶粒剖面尺寸服从正态高斯分布，则 Exclude( 排除) 选项可能更合适。
注 意 ：使 用 Include( 包 含 ) 选 项 时 ，边 界 晶 粒 不 加 权。
7. 选择是否忽略特殊边界。
要定义某个要忽略的特殊边界，点击 Join Grains with Special Boundaries( 加入带特殊边界的晶
粒) 部分右侧的加号图标：
一个 Special Boundary Definition( 特殊边界定义) 现在将被添加到设置：
定义要忽略的特殊边界，包括：
• 要定义边界的相。
• 取向差轴 <hkl> 和取向差角。例如，孪生 (Σ3) 特殊边界定义为 <111> 60°。
• 偏差角。这是距离理想取向差轴和角的最大允许偏差，单位为度。
第 135 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
7.4. 查看特定晶粒的数据
如果选择了多种查看模式，则可以在其他查看模式中突出显示相同的晶粒。例如：
要在 Grain Size( 晶粒尺寸) 工作区中选择晶粒并在其他查看模式中查看相同的晶粒：
1. 选择适当的查看模式。
2. 点击 Grain Sizing Results( 晶粒大小排列结果) 工作区的晶粒列表内的晶粒。
晶粒现在将在晶粒列表、晶粒统计图和其他查看模式中突出显示。
要在 Maps( 分布图) 工作区中选择晶粒并在其他查看模式中查看相同的晶粒：
1. 选择适当的查看模式。
2. 在 Maps( 分布图) 查看模式中，从 Palette( 调色板) 工具栏中选择 Select Grain( 选择晶粒) 工具：
第 136 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
3. 点击分布图上的某个晶粒。
晶粒将在适当的查看模式中突出显示。
7.5. 查看晶粒大小排列统计
粒度大小排列统计数据可以在 Grain Size( 晶粒尺寸工作区) 的右侧窗格中查看，如下所示：
• 图。
• 当前显示参数的一些统计值。
该图图显示二维晶粒剖面尺寸的分布。即使是面积或等效圆直径等参数也不能用来指示晶粒尺寸
分 布。图 下 的 平 均 尺 寸 统 计 可 以 用 来 更 有 效 地 指 示 晶 粒 尺 寸 ( 尽 管 需 要 立 体 校 正 才 能 给 出 正 确 的
三维晶粒尺寸) 。
可以通过单击图中的数据点来查看关于图中某个点的详细信息。例如：
注 意 ：根 据 所 选 的 参 数 和 像 素 合 并 模 式 ，细 节 会 有 所 不 同 。
选择像素合并模式
通常，在分析 EBSD 分布图中的晶粒时，可以观察到存在大量的小晶粒，这些小晶粒对整体面积、
体 积 或 织 构 的 影 响 不 大。在 查 看 晶 粒 尺 寸 分 布 的 统 计 数 据 时，这 些 小 晶 粒 会 导 致 分 布 集 中 在 低 晶
粒尺寸的高峰上，使数据很难看到任何合理的趋势。例如：
第 137 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
在这种情况下，最好使用面积加权像素合并模式，在这种模式下，大晶粒比较小晶粒更重要。这可
以在不影响任何统计数据的情况下得到更好看的晶粒尺寸分布。例如：
7.6. 过滤晶粒列表
过 滤 晶 粒 列 表 可 创 建 仅 包 含 满 足 特 定 条 件 或 具 有 特 定 属 性 的 晶 粒 的 晶 粒 列 表。例 如，晶 粒 列 表 可
被过滤，只显示以下晶粒：
• 具有特定尺寸( 即定义了最小和最大尺寸) 。
• 属于特定相。
过滤后，晶粒列表可用于：
• 创建只包含具有特定属性的晶粒的子集。
• 查看符合定义标准的晶粒的统计数据。
• 确定所选晶粒是否具有特定属性( 即首选取向) 。
要过滤晶粒列表：
1. 选择过滤晶粒列表的参数。
2. 右键单击参数的标题以打开参数的 Filter( 过滤器) 窗口。例如：
第 138 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
3. 定义针对所选参数过滤晶粒的方式。
例如，对于 面积( 像素) ，可以 对数据进行过 滤，使晶粒列表只 包含面积在 10 到 100 个像素之
间的晶粒：
4. 点击 Close( 关闭) 应用过滤器并关闭 Filter( 过滤器) 窗口。
晶粒列表现将显示过滤后的晶粒列表。统计数据也会更新，与过滤后的晶粒列表相对应。
要移除某个过滤器，可使用以下任一方式：
• 点击晶粒列表顶部的“清除所有过滤器”按钮。将会从晶粒列表中移除所有过滤器。
• 右键单击要清除过滤器的参数的标题以打开 Filter( 过滤器) 窗口，然后单击 Clear( 清除) 以清
除当前过滤器定义
7.7. 将晶粒列表转换为子集
晶粒列表( 或过滤后的晶粒列表) 可以通过以下方式转换为子集：
1. 在晶粒列表上右键单击鼠标。
将会打开晶粒列表上下文菜单：
2. 选择：
• Convert Grain List to Subset( 将晶粒列表转换为子集) 选项将当前晶粒列表转换为子集。
• One Pixel per Crystallite to Subset( 每个微晶一个像素到子集) 选项按每个晶粒一个点转换到
子集。
软件将选择大约处于晶粒中心的一个像素。
注 意 ：此 选 项 对 于 消 除 织 构 ( 或 CPO) 测 量 中 的 大 晶 粒 偏 差 很 有 用 。
现将创建一个新子集并将其添加到 Project( 项目) 树中。
例 如 ：从 过 滤 后 的 晶 粒 列 表 创 建 子 集
对于使用默认设置检测晶粒的马氏体钢样品，可以对晶粒列表进行过滤，使其只包含面积在 10 到
100 个 像 素 之 间 的 晶 粒。然 后 可 以 将 这 个 过 滤 后 的 晶 粒 列 表 转 换 为 子 集。子 集 对 应 的 分 布 图 将 只
显示尺寸在 10 到 100 个像素之间的晶粒，而所有其他晶粒都将在对比中淡出：
第 139 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
完整数据集的分布图。
包 含 尺 寸 在 10 到 100 个 像 素 之 间 的
晶粒的子集。
例 如 ：修 改 现 有 子 集 以 包 含 完 整 晶 粒
针 对 马 氏 体 钢，定 义 分 布 图 区 域 的 矩 形 子 集。然 后 使 用 子 集 设 置 Grain in Subset if at least 50% in
subset( 如 果 至 少 50% 在 子 集 中，则 晶 粒 在 子 集 中) 来 执 行 晶 粒 检 测。随 后，将 过 滤 后 的 晶 粒 列 表
转换为子集。得到的子集是基于原始子集的，但现在在周边上包括至少 50% 在原始子集内的完整
晶粒，而不包括少于 50% 在原始子集内的晶粒：
具有矩形子集的数据的分布图。
晶 粒 检 测 之 后 创 建 的 新 子 集 ，其 中 晶 粒 至 少
有 50% 必 须 包 含 在 原 始 子 集 中 。
7.8. 导出晶粒列表
创建后，晶粒列表( 或过滤后的晶粒列表) 中的数据可以通过以下方式导出：
1. 在晶粒列表上右键单击鼠标。
将会打开晶粒列表上下文菜单：
第 140 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
2. 选择 Export Grain List( 导出晶粒列表) 选项。
将会打开导出上下文菜单：
3. 从可用选项中选择：
• Save As( 另存为) ：将会打开 Save Map As...( 分布图另存为) 窗口。
选择合适的文件名称，将晶粒列表保存为数据文件。
• Copy( 复制) ：将数据复制到剪贴板。
晶粒列表的数据现在可以在另一个程序( 如 Excel) 中查看。
第 141 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
8. 测 量
Measure( 测 量) 查 看 模 式 用 于 沿 分 布 图 上 绘 制 的 线 显 示 轮 廓。它 最 多 可 以 同 时 比 较 两 个 参 数，而
且用途广泛，包括：
• 实现整个晶粒或子晶粒内精细取向变化的可视化。
• 确定错误标定点的取向差关系。
• 评估颗粒特征尺寸。
8.1. 测量工作区
Measure( 测量) 工作区显示使用 Maps( 分布图) 查看模式中可用的 Measurement( 测量) 工具创建的
一个或多个线轮廓的结果。它分为两个部分：
• 结果表：显示线轮廓摘要。
• 结果图：以图形方式显示最多两个参数的线轮廓。
结果表
结果表显示：
参数
描述
ID
每条测量线都有自己的 ID。
Phase Start & Phase End( 相起点和相
终点)
在测量线的起点或终点确定的相。
Width (pixels)( 宽度( 像素) )
测 量 线 的 宽 度 ( 以 像 素 为 单 位) 。使 用 下 拉 菜 单 可 调 整
线的宽度。
注 意 ：增 加 线 宽 可 减 少 线 轮 廓 中 的 噪 音 。
Length (µm)( 长度 (µm))
测量线的长度。
Start-to-End Disorientation( 开始-结束
取向差)
将两个端点之间的取向差显示为取向差角、轴和轴角
对偏差。
第 142 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
Results( 结果) 表下方显示几个摘要参数：
参数
描述
Count( 计数)
当前定义的测量线的数量。
Mean Length( 平均长度)
当前定义的所有测量线的平均长度。
使用 Clear List( 清除列表) 按钮删除所有当前定义的测量线。
结果图
结果图一次最多可以显示一条测量线的两个参数。使用图形上方的 Profile 1( 轮廓 1) 和 Profile 2( 轮
廓 2) 下拉菜单可选择要显示的参数。可用的参数包括：
• Disorientation( 取向差) ( 点到点或累积) 。
• PhaseID( 相 ID) 。
• Band Contrast( 带对比度) 。
• Band Slope( 带斜率) 。
• MAD。
• Euler 1、2 或 3。
Profile( 轮廓) 下拉菜单右侧的齿轮图标可用于访问 Chart Display Settings( 图显示设置) ：
使用下拉菜单可指定将轮廓显示为线形或区域，以及显示的颜色。
使用 Show Grid( 显示网格) 复选框指定是否在图上显示网格。
单击图上的某个点可查看与该数据点的值。例如：
8.2. 测量线轮廓
第 143 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
要沿分布图上定义的线测量轮廓：
1. 在 Maps( 分布图) 查看模式中，从调色板工具栏中选择 Distance Measurement( 距离测量) 工
具：
将会激活距离测量工具和 Measure( 测量) 查看模式：
2. 在起点处按下鼠标左键并拖动鼠标，在 EBSD 分布图上绘制测量线。松开鼠标左键完成测量
线定义。例如：
测 量 线 的 结 果 现 在 将 填 充 Interactive Measurement Results( 交 互 式 测 量 结 果) 工 作 区。结 果 以
表格和图形形式显示。例如：
第 144 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
3. 要显示沿测量线不同参数的数据，使用结果图上方的轮廓下拉菜单。可供选择的参数包括：
• Disorientation( 取向差) ( 点到点或累积) 。
• PhaseID( 相 ID) 。
• Band Contrast( 带对比度) 。
• Band Slope( 带斜率) 。
• MAD。
• Euler 1、2 或 3。
4. 为了减少结果中的噪音，可以使用结果表宽度列中的下拉菜单增加测量线的宽度：
例如：
1 个像素线宽
11 个 像 素 线 宽
注 意 ：累 积 取 向 差 只 适 用 于 横 断 面 的 原 相 ，并 显 示 相 对 于 第 一 点 的 取 向 差 。
重 复 上 述 步 骤 可 以 添 加 更 多 的 测 量 线。各 测 量 线 的 数 据 将 被 添 加 到 Interactive Measurement
Results( 交互式测量结果) 工作区中的结果表。在结果表中选择某条测量线可查看相应的结果图。
第 145 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
8.3. 编辑和删除线轮廓
要编辑测量线：
1. 点击测量线，使其突出显示：
2. 当鼠标移到测量线的一端时，按下鼠标左键并移动鼠标来重新定位测量线的这一端。松开鼠
标左键完成操作。
3. 根据需要重复操作，直到获得满意的新测量线位置。
4. 点击 EBSD 分布图的其他地方以完成编辑并自动更新 Interactive Measurement Results( 交互式
测量结果) 工作区中的结果。
要删除单根测量线：
1. 点击测量线，使其突出显示( 参见上文) 。
2. 按下电脑键盘上的删除键。
要删除多根测量线：
1. 在 Interactive Measurement Results( 交互式测量结果) 工作区中，按下结果表底部的 Clear List
( 清除列表) 按钮。
8.4. 导出测量数据
测量数据可导出为：
• 结果表。
• 结果图图像。
• 结果图数据。
导出结果表中的数据
要导出结果表中显示的数据：
1. 在 Interactive Measurement Results( 交互式测量结果) 工作区中选择结果表。
2. 在结果表上右键单击鼠标。
将会打开结果表上下文菜单：
3. 选择 Export( 导出) 选项。
将会打开导出上下文菜单：
第 146 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
4. 从可用选项中选择：
• Save As( 另存为) ：将会打开 Save Map As...( 分布图另存为) 窗口。
选择合适的文件名称，将结果表保存为数据文件。
• Copy( 复制) ：将数据复制到剪贴板。
将结果图导出为数据
要将结果图导出为数据：
1. 在 Interactive Measurement Results( 交互式测量结果) 工作区中选择结果图。
2. 在结果图上右键单击鼠标。
将会打开结果图上下文菜单：
3. 选择 Export Chart Data( 导出图数据) 选项。
将会打开导出上下文菜单：
4. 从可用选项中选择：
• Save As( 另存为) ：将会打开 Save Map As...( 分布图另存为) 窗口。
选择合适的文件名称，将结果图保存为数据文件。
• Copy( 复制) ：将数据复制到剪贴板。
将结果图导出为图像
要将结果图中显示的数据导出为图像：
1. 在 Interactive Measurement Results( 交互式测量结果) 工作区中选择结果图。
2. 在结果图上右键单击鼠标。
将会打开结果图上下文菜单：
3. 选择 Export Chart( 导出图) 选项。
将会打开导出上下文菜单：
第 147 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
4. 从可用选项中选择：
• Save As( 另存为) ：将会打开 Save Map As...( 分布图另存为) 窗口。
选择合适的文件名称和图像格式，将结果图保存为图像。
• Copy( 复制) ：将图像复制到剪贴板。
• Settings( 设置) ：将会打开 Export Settings for Line Measurement Chart( 线形测量图导出设置)
窗口。
从可用选项中为导出选择合适的设置。
第 148 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
9. 极 图
极图 (PF) 是一种很有用的方法，可以将某个分布图区域的各点测量数据组合起来，以显示该区域
在特定平面上是否具有任何织构。它们通过在同一极图上显示各数据点相对于样品坐标系的取向
来 显 示 样 品 的 织 构。例 如，对 于 奥 氏 体 不 锈 钢，001、110 和 111 平 面 的 极 图 显 示 垂 直 于 法 线 方 向
的 {110} 平面的数量比其他方向多：
9.1. 极图工作区
极图工作区用于创建、显示和操作极图 (PF)：
注 意 ：如 果 ω 角 已 被 设 置 为 90°、180° 或 270°，则 绘 制 在 XY 投 影 面 上 的 极 图 将 自 动 旋 转 ，以 处 于 与 任
意分布图相同的参照帧中。
工作区的左侧是极图调色板工具栏。
此工具栏包含与极图交互的工具，包括：
第 149 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
工具
描述
Default interaction mode( 默 认 交 互 模 式) ：将 鼠 标 悬 停 在 极 图 上 的 某 个 点 上 可 显 示 该
点的强度。
Angle Measurement tool( 角 度 测 量 工 具) ：在 极 图 上 按 下 鼠 标 左 键 并 拖 动 鼠 标。松 开
鼠标按钮完成测量。将显示测量到的角度。它表示某个点与某个方向的距离。
Angular Subset Selection tool( 角 形 子 集 选 择 工 具) ：允 许 创 建 角 形 子 集。工 具 处 于 活
动 状 态 时，在 极 图 中 的 某 个 点 上 按 下 鼠 标 左 键，形 成 子 集 的 中 心。拖 动 鼠 标 以 形 成 要
成为子集的角形区域。松开鼠标左键完成操作。
子 集 区 域 将 用 白 色 ( 带 等 高 线 的 数 据) 或 灰 色 ( 分 散 数 据) 轮 廓 来 标 记。子 集 之 外 的 数
据将被删除，即
注 意 ：活 动 分 布 图 也 将 更 新 ，突 出 显 示 具 有 极 图 上 所 选 择 的 取 向 的 那 些 点 。
沿着极图工作区的顶部，将出现一个或多个 Pole Figure Set( 极图集) 选项卡。
每个选项卡对应一组不同的极图。单击某个选项卡可在主工作区中查看该组的所有极图。
极图工作区的右上角有几个图标：
工具
描述
Add Pole Figure Set( 添加极图集) ：为项目添加一个新的极图集。
一 个 新 Pole Figure Set( 极 图 集) 选 项 卡 将 出 现 在 工 作 区 的 顶 部。它 将 包 含 一 个 使 用 默
认设置构建的极图。
Pole Figure Display Settings( 极 图 显 示 设 置) ：打 开 极 图 显 示 设 置，可 在 其 中 指 定 极
图的外观。
另请参阅“自定义极图显示”。
工作区的右下角是极图的缩放控件：
第 150 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
点击 Fit to Window( 铺满窗口) 图标，将极图的高度调整为工作区的高度：
要设置自定义缩放级别，左键单击缩放级别：
将会打开 Zoom( 缩放) 窗口：
选择其中一个选项或在窗口顶部的输入栏中输入一个自定义值。
9.2. 配置极图
在 AZtecCrystal 中，可将极图划分到极图集中。各极图集在极图工作区显示为一个单独的选项卡：
创 建 极 图 集 时，将 使 用 默 认 设 置 添 加 单 个 极 图。可 以 使 用 工 作 区 的 右 侧 的 极 图 设 置 更 改 此 极 图 的
设置。
更 多 极 图 可 根 据 需 要 添 加 到 极 图 集，并 同 时 显 示。在 选 择 要 绘 制 的 极 图 时，确 保 为 特 定 的 晶 系 选
择合适的极很重要。
保 持 右 旋 坐 标 系 的 要 求 意 味 着 一 些 晶 体 的 方 向 是 极 性 的 而 不 是 轴 向 的，正 方 向 和 负 方 向 并 不 等
效。例 如，在 高 立 方 晶 体 ( m3m 对 称 性) 中，[234] 方 向 并 不 等 效 于 [2-34]。这 意 味 着 在 AZtecCrystal
中 绘 制 [234] 极 图 时，需 要 同 时 绘 制 上、下 半 球。这 在 对 称 性 较 低 的 相 中 更 为 常 见。例 如，在 三 斜
晶 系 相 中，[100] 不 等 效 于 [-100]，在 低 六 方 或 低 三 方 相 中，+c 和 -c 轴 也 不 等 效。AZtecCrystal 会 自
动判断两个半球是否都是必需的，并根据需要绘制它们。
第 151 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
此外，考虑所选择的晶系有哪些极是对称等效的也很重要。例如，如果绘制立方晶体的数据，那么
绘 制 (010) 和 (001) 极 是 没 有 意 义 的，因 为 它 们 是 对 称 等 效 的，极 图 是 相 同 的。相 反，在 三 斜 晶 体
中，为了真实地显示织构特征，可能 3 个主要方向都需要绘制：<100>、<010> 和 <001>。
下表给出了各种晶系需要绘制的极的起点。它仅作参考。
晶系
PF1
PF2
PF3
立方
(100)
(110)
(111)
正方
(100)
(001)
(111)
六方
(0001)
(10-10)
三方/菱方
(0001)
(10-10)
(11-20)
斜方
(100)
(010)
(001)
单斜*
(100)
(010)
(001)
三斜
<100>
<010>
<001>
* 对于单斜晶体，有时可以绘制晶体的方向，而不是从极到平面，但该方向取决于晶胞内的哪个角
不是 90°。
下面是一个双相钢样品的极图集示例。它包含 BCC 相的 {001}、{011} 和 {111} 方向的极图：
注 意 ：在 XY 投 影 面 上 绘 制 极 图 时 ，如 果 设 置 了 有 效 的 ω 角 ，极 图 就 会 自 动 旋 转 ，使 极 图 轴 与 分 布 图
的 XY 轴 对 齐 。在 其 他 投 影 面 上 绘 制 极 图 时 ，轴 的 位 置 也 会 用 到 ，但 与 分 布 图 没 有 直 接 的 相 关 性 。
9.2.1. 创 建 极 图 集
要创建新极图集：
1. 点击主工作区右上角的加号图标：
将会打开 Add Pole Figure Set( 添加极图集) 菜单：
第 152 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
2. 从可用选项中选择：
• 新极图集：创建一个包含采用默认设置构建的单个极图的新极图集。
• 相的默认极图集：从具有默认极图的相的列表中选择( 基于劳厄群) ，创建一个包含所选相
的默认极图的新极图集。例如，选择：
3. 现在将创建一个新 Pole Figure Set( 极图集) 。
一个新 Pole Figure Set( 极图集) 选项卡将出现在工作区的顶部：
如 果 选 择 了 New Pole Figure Set( 新 极 图 集) 选 项，将 向 极 图 集 添 加 单 个 极 图。它 将 使 用 默 认
设置进行构建。例如：
如 果 选 择 Default Pole Figure Set for Phase( 相 的 默 认 极 图 集) 选 项，将 向 极 图 集 添 加 一 组 极
图。例如，对于双相钢中的铁 fcc，为 {100}、{110} 和 {111} 方向创建极图：
第 153 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
各极图的设置都可以在“极图设置”中修改。
9.2.2. 修 改 极 图 集 名 称
某个极图集被创建后，默认名称为 Pole Figure Set( 极图集) 。这个名称可以修改为一个更有用的名
称，方法是：
1. 在极图集选项卡上右键单击鼠标，打开上下文菜单：
2. 选择 Rename...( 重命名…) 选项。
将会打开 Rename( 重命名) 窗口：
3. 为极图集输入一个新名称。
4. 单击 Ok( 确定) 关闭窗口并更改名称，或单击 Cancel( 取消) 关闭窗口而不做任何更改。
9.2.3. 创 建 极 图
新极图可通过以下方式添加至极图集：
1. 点击极图工作区中相应的极图集选项卡，选择将添加极图的 Pole Figure( 极图) 集。
2. 在主工作区右侧的 Pole Figure( 极图设置) 中，点击 Pole Figure Items( 极图项目) 右侧的 "+" 图
标：
一个新的极图项目现在将被添加到 Pole Figure Items( 极图项目) 部分中可用的极图：
第 154 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
它将使用默认设置进行创建。这些设置可以根据“极图设置”部分中的描述进行修改。
3. 如果在单个极图集中定义了多个极图，可以配置它们的显示顺序。
使用各极图项目右侧的向上和向下箭头，在极图项目列表中向上或向下移动项目。这也将影
响极图项目的显示顺序。
9.2.4. 指 定 极 图 设 置
Pole Figure Settings( 极图设置) 位于软件右侧的 Settings( 设置) 面板中：
它们可以分为两个部分：
1. 一般极图设置：本部分包含用于创建极图的一般设置。
2. 个别极图设置：本部分包含极图集中各极图项目的设置。
一般极图设置
对于一般极图部分，选择：
第 155 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
• 显示极线图：选择是否将极线的分布以图形的方式显示为与所选极线的夹角的函数。
• Dataset( 数据集) ：选择创建极图时要使用的数据集。可用的选项包括：
° 过滤后的晶粒列表：显示当前晶粒列表的极图。
如 果 对 晶 粒 列 表 有 任 何 更 改，它 们 将 在 极 图 中 更 新。例 如，只 能 显 示 特 定 尺 寸 和 相 的 晶
粒。
注 意 ：选 择 此 选 项 时 ，默 认 排 除 尺 寸 小 于 10 个 像 素 的 晶 粒 。
° Selected dataset( 选定的数据集) ：这是默认选项。极图将显示当前在项目树中选择的数据
集( 即整个数据集或已创建的子集) 。
° Entire dataset( 整个数据集) ：确保将为当前数据集绘制所有测量数据，而不管是否在项目
树中选择了某个子集。
° A subset of the dataset( 数据集的子集) ：显示选定的子集，而不管在项目树中选择的是什
么。
• Reference CS( 参考 CS) ：选择创建极图时要使用的坐标系。可用的选项包括：
° 采集表面坐标系 (CS1)。
° 样品主要坐标系 (CS0)。
• Sample Symmetry( 样品对称性) ：选择是否在创建极图时应用样品对称性。
注 意 ：样 品 对 称 性 在 Project( 项 目 窗 格 ) 的 “样 品 属 性 ”部 分 中 指 定 。
• Half Width( 半宽) (°)：半宽控制扩散到球体表面的极( 平面法向或晶粒方向) 的数量。
默 认 值 为 10°，适 用 于 大 多 数 情 况。然 而，如 果 数 据 点 的 数 量 有 限，那 么 尝 试 使 用 较 高 的 半 宽
值来对数据进行进一步地平滑可能有用。
注 意 ：比 较 多 个 数 据 集 的 极 图 时 ，对 所 有 极 图 使 用 相 同 的 半 宽 值 很 重 要 。
注 意 ：为 了 提 高 密 度 计 算 的 速 度 ，Data Clustering( 数 据 聚 类) 已 设 置 为 3°。
• Range Type( 范围类型) ：使用下拉菜单选择用于显示带等高线的数据的颜色 Range Type( 范
围类型) ：
° Automatic( 自动化) ：自动优化所使用的随机取向倍数 (MUD) 值的范围，使极图使用全颜色
范围。( 即同时使用蓝色和红色) 。
° User-Defined( 用户自定义) ：手动定义要使用的 MUD 范围的上限和下限。
注 意 ：用 户 自 定 义 颜 色 范 围 对 于 比 较 来 自 多 个 数 据 集 的 极 图 集 很 有 用 ，因 为 可 以 为 所 有 极 图
集 定 义 相 同 的 范 围 ，实 现 直 接 比 较 。
• Projection Type( 投影类型) ：在等面积和之间选择立体。
冶金中最常用的是立体投影，地质中最常用的是等面积投影。
• Projection Plane( 投影面) ：从下拉菜单中选择投影面。
投 影 面 是 极 被 投 影 到 的 平 面 ( 即 构 成 极 图 的 平 面) 。按 照 样 品 被 切 割 和 安 装 在 SEM 中 的 方 式
选 择 合 适 的 平 面。选 择 正 确 的 投 影 面 对 于 已 变 形 的 样 品 ( 例 如，轧 制 薄 板 或 层 状 岩 石) 尤 其 重
要。
注 意 ：如 果 ω 角 已 被 设 置 为 90°、180° 或 270°，则 绘 制 在 XY 投 影 面 上 的 极 图 将 自 动 旋 转 ，以 处 于
与任意分布图相同的参照帧中。
• Hemisphere( 半球) ：选择投射极的半球。
材料科学中的惯例是使用上半球，而地球科学中更常用下半球。
• Column Count( 列计数) ：选择要在一行中显示的极图的数量。默认为 4。
第 156 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
个别极图设置
Pole Figure Items( 极图项目) 部分用于定义所创建的各极图的设置。
对于各极图项目，选择：
• Phase( 相) ：选择极图将使用的相。
• Type( 类型) ：选择是使用平面还是方向。
• Indices( 指数) ：定义要使用的方向或平面。
9.2.5. 自 定 义 极 图 显 示
极 图 的 显 示 可 以 使 用 极 图 显 示 设 置 进 行 自 定 义。要 访 问 这 些 设 置，点 击 主 工 作 区 中 极 图 窗 格 右 上
角的齿轮图标：
将会打开 Pole Figure Display Settings( 极图显示设置) 窗口：
选择：
• Data presentation( 数据显示) ：选择是否显示极图数据：
° Contoured( 等高线) ：选择为数据绘制等高线。
为极图中的数据绘制等高线将显示极聚类相对于随机分布的强度，即数据按照随机取向的
倍 数 (MUD) 显 示。对 于 查 看 任 意 织 构 的 强度 和 性 质 的 一 般 趋 势 或 晶 体 首 选 取 向，它 很 有
用。对于从分散的极图数据中很难看出趋势的大型数据集，它特别有用。
° Scattered( 分散) ：选择将数据显示为单独的数据点。
这种显示数据的方法在观察单个晶粒组成的小区域时特别有用，因为分散的数据可以指示
与单个滑移系活动相关的离散路径。特别是对于低对称性相。
° Superimposed( 叠加) ：带等高线的数据叠加在分散数据上。
移 动 滑 块 可 调 整 各 数 据 显 示 方 法 的 影 响。滑 块 一 直 滑 到 最 左 侧 时，只 显 示 带 等 高 线 的 数
据。滑块一直滑到最右侧时，只显示分散的数据。
第 157 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
这种显示方法对于利用散布数据点比较等高线的水准很有用。
注 意 ：在 查 看 带 等 高 线 的 极 图 和 使 用 当 前 晶 粒 交 互 模 式 与 分 布 图 进 行 交 互 时 ，该 显 示 方 法 将
自 动 启 用 ，将 选 中 晶 粒 的 点 叠 加 到 整 个 数 据 集 的 带 等 高 线 的 极 图 的 顶 部 。
• Color Scheme( 颜色方案) ：
° 使用下拉菜单选择为数据绘制等高线的着色方案。选择：
灰度
热图
射流
射流延长
谱图
岩浆
地狱
血浆
翠绿
北极光
° Inverted( 反色) ：选择以反色显示带等高线的数据。
例 如，在 使 用 灰 度 颜 色 方 案 时，对 数 据 进 行 反 色 处 理，用 深 色 来 显 示 高 密 度 区 域，而 不 是
遵循默认约定使用浅色来显示最高密度。
° Color Gradient( 颜色渐变) ：选择为带等高线的数据提供平滑的颜色渐变或取消选择提供离
散的等高线水准。例如：
无颜色渐变
颜色渐变
• Symbols( 符号) ：选择在查看分散数据时符号的显示方式。
° Size( 尺寸) ：选择绘制分散数据时用于显示每个数据点的符号的尺寸。
调 整 符 号 的 尺 寸 对 于 优 化 数 据 的 显 示 很 有 用。例 如，在 检 查 包 含 少 量 数 据 点 的 数 据 集 时，
比 如 显 示 单 个 晶 粒 中 的 离 散 度 时，使 用 较 大 的 符 号 尺 寸 可 能 更 有 利。但 是，在 检 查 包 含 大
量数据点的数据集时，较小的符号尺寸可能效果更好，以便能够清楚地看到所有数据点。
第 158 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
小
中
大
° Color( 颜色) ：使用下拉菜单指定绘制分散数据时像素的显示颜色。可用的选项包括以黑色
或以 Maps( 分布图) 查看模式中当前选中分布图的颜色显示所有像素。
• Overlay( 重叠) ：选择是否在极图上显示大圆：
无大圆
大圆( 立体投影)
9.2.6. 更 改 极 图 显 示 顺 序
极图的显示顺序可通过以下方式更改：
1. 选择极图集。
2. 右键单击极图集名称以打开极图上下文菜单：
3. 选择 Move Pole Figure backward( 向后移动极图) 将极图集往左移动一个选项卡，或 Move Pole
Figure forward( 向前移动极图) 将极图往右移动一个选项卡。
9.2.7. 移 除 极 图
单个极图可通过以下方式从极图集中移除：
1. 在极图工作区中，选择要移除极图的极图集。
2. 在极图设置中，找到要移除的极图项目。
第 159 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
3. 点击极图项目右侧的垃圾桶图标：
极图集可通过以下方式永久移除：
1. 在极图集选项卡上右键单击鼠标以打开上下文菜单：
2. 选择 Remove( 移除) 选项。
9.3. 平移和缩放极图
为了便于查看和查询 EBSD 极图，AZtecCrystal 具有极图平移( 移动) 和缩放功能。
平移工具
让极图集平移或移动的方法有两种：
1. 使用默认交互工具：
• 从屏幕左侧的调色板工具栏中选择默认交互工具：
• 在极图集上按下鼠标左键并移动鼠标移动极图。
• 松开鼠标左键可停止平移极图集。
2. 使用滑动条：
• 在极图集底部或右侧的滑动条上按下鼠标左键并移动鼠标移动极图。
• 松开鼠标左键可停止移动极图集。
第 160 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
缩放工具
调整极图集缩放级别的方法有三种：
1. 选择一个自定义缩放级别：
• 点击极图集右下角的缩放控件：
将会打开 Zoom( 缩放) 窗口：
选择其中一个选项或在窗口顶部的输入栏中输入一个自定义值。
2. 使用鼠标滚轮进行缩放。
• 从屏幕左侧的调色板工具栏中选择默认交互工具：
• 向上滚动鼠标滚轮可放大，向下滚动鼠标滚轮可缩小。
3. 从极图集右下侧的缩放控件中使用铺满窗口工具：
• 点击 Fit to Window( 铺满窗口) 图标，将极图的全高调整为工作区的高度：
9.4. 查看极线图
极 线 图 将 极 线 的 分 布 显 示 为 与 所 选 方 向 的 夹角 的 函 数。它 有 助 于 查 看 纤 维 织 构 的 强度 和 锐 度。它
们最常用在薄膜数据集中，薄膜中垂直于薄膜表面通常有着强纤维织构。
极 线 图 本 质 上 类似 于 X 射 线 摇 摆 曲 线，不 同 之 处 在 于 在 测 量 过 程 中 会 不 断 旋 转 样 品。它 给 出 特 定
极图从中心到边缘的的平均强度。
例 如，对 于 某 金 织 构 带，{111} 极 图 显 示 了 与 Z 方 向 平 行 的 强 <111> 纤 维 织 构。该 极 图 的 极 线 图 可
以用来显示与此完美 <111> 织构之间的偏差：
第 161 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
要查看极图设置中的极线图，勾选 Pole Plot( 极线图) 选项：
一个新的极线图选将卡将被添加到主工作区：
在此 Pole Plot( 极线图) 选项卡中，将为当前构建的各极图集添加单独的 Pole Figure Set( 极图集) 选
项卡：
在各 Pole Figure Set( 极图集) 中，将为当前定义的各极图创建极线图。
点击极线图右上角的齿轮图标，访问图显示设置：
使用下拉菜单选择：
第 162 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
• 是将图显示为线形、区域还是条形图。
• 图的颜色。
• 是否在图上显示网格。
单击图上的某个点可显示该数据点的数据。例如：
9.5. 旋转极图数据
有时，样品可能未被正确切割或切片，或未在 SEM 中正确对齐。这可能会导致极图中出现某个未
对齐的强织构。例如：
要旋转数据并使织构对齐：
1. 从调色板工具栏中选择角度测量工具：
2. 根据 Pole Figure Workspace( 极图工作区) 的“角度测量工具”部分所述，从强织构的中心到织
构要对齐的方向上创建一个角度测量：
第 163 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
3. 右键单击测量以访问角度测量上下文菜单：
4. 选择 Rotate Data( 旋转数据) 。
数据现将按照箭头定义的角度旋转( 即角度测量起点的数据旋转到角度测量终点) 。例如：
用 于 转 换 数 据 的 旋 转 值 显 示 在 Project Tree( 项 目 树) 底 部 的 Sample Properties( 样 品 属 性) 的
CS0 到 CS1 字段中。
9.6. 导出极图数据
Pole Figure( 极图) 数据可导出为：
• 极图集。
• 极线图。
此 外，当 前 为 数 据 集 创 建 的 所 有 分 布 图、极 图、反 极 图 和 取 向 分 布 函 数 可 以 通 过 以 下 方 式 导 出 到
PowerPoint：
1. 在项目树中的数据集上右键单击鼠标以打开上下文菜单。
2. 选择 Export Maps/Pole Figures/ODFs to PowerPoint...( 导出分布图/极图/ODF 到 PowerPoint…)
选项。
现将打开一个包含所有图像的 PowerPoint 演示文稿。
导出极图集
构建后，某个极图集内的所有极图可通过以下方式导出：
1. 在极图工作区内右键单击鼠标以打开极图上下文菜单：
第 164 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
2. 选择 Export Pole Figure Set( 导出极图集) 选项以打开导出上下文菜单：
3. 从可用选项中选择：
• Save As( 另存为) ：将会打开 Save Pole Figure Set As...( 极图集另存为...) 窗口。选择合适的
文件名称和图像格式，将极图集保存为图像。
• Copy( 复制) ：将图像复制到剪贴板。
• Pole Figure Set to PowerPoint( 极图集到 PowerPoint) ：将当前极图集以图像形式复制到
PowerPoint 中。
• All Pole Figure Sets to PowerPoint( 所有极图集到 PowerPoint) ：将所有极图集以图像形式复
制到 PowerPoint 中。
• Export Settings( 导出设置) ：将会打开 Export Settings for Pole Figure Set( 极图集导出设置) 窗
口。
从可用选项中为导出选择合适的设置。
导出极线图
创建后，极线图可通过以下方式导出：
1. 在要导出的极线图上右键单击鼠标。将会打开极线图上下文菜单：
2. 选择导出数据的方式：
• Export Chart( 导出图) ：将极线图导出为图像。
• Export Chart Data( 导出图数据) ：将极线图导出为数据。
3. 选择是导出图像还是导出数据，方法是：
第 165 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
• 复制到电脑剪贴板。
• 保存到文件。
• 复制图像到 PowerPoint。
注 意 ：在 将 极 线 图 导 出 为 图 像 时 ，选 择 设 置 选 项 来 指 定 图 像 质 量 以 及 是 否 包 含 图 像 标 题 。
第 166 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
10. 反 极 图
反极图 (IPF)用于显示与样本轴对齐的晶体方向。它们有助于实现特定类型的织构的可视化，而且
与传统极图相比有几大好处，包括：
• 每个数据点都以单个点的形式出现在反极图中。在许多极图中，对于高对称性相，单个数据
点可由极图上的多个点表示( 例如 2 个对称等效的 {100} 极) 。
• 使用反极图来辨别特定纤维织构通常更加容易。
• 反极图通常被用作取向分布图的默认着色方案( 通过用原色为反极图三角形的三个角着色) ：
10.1. 反极图工作区
反极图工作区用于创建、显示和操作反极图 (IPF)：
工作区的左侧是反极图调色板工具栏。
此工具栏包含与反极图交互的工具，包括：
工具
描述
Default interaction mode( 默 认 交 互 模 式) ：点 击 反 极 图 中 的 某 个 数 据 点 可 显 示 最 近 的
晶 体 轴 和 数 据 点 偏 离 该 轴 的 距 离。此 信 息 可 用 于 解 释 IPF 中 任 意 最 大 值 的 位 置 ( 例
如，可以显示 <hkl> 方向优先与 X 轴对齐) 。
如果为反极图绘制等高线，则反极图图例上的滑动比例尺也将显示等高线密度。
第 167 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
工具
描述
Angle Measurement tool( 角度测量工具) ：测量某个点与某个晶体轴的距离。
要 执 行 测 量，按 下 鼠 标 左 键 并 拖 动 鼠 标。松 开 鼠 标 按 钮 完 成 测 量。将 显 示 测 量 到 的 角
度。
Angular Subset Selection tool( 角形子集选择工具) ：允许创建角形子集。
工 具 处 于 活 动 状 态 时，在 EBSD 反 极 图 中 的 某 个 点 上 按 下 鼠 标 左 键，形 成 子 集 的 中
心。拖动鼠标以形成要成为子集的角形区域。松开鼠标左键完成操作。
子 集 区 域 将 用 白 色 ( 带 等 高 线 的 数 据) 或 灰 色 ( 分 散 数 据) 轮 廓 来 标 记。子 集 之 外 的 数
据将被删除，即
沿着反极图工作区的顶部，将出现一个或多个 Inverse Pole Figure Set( 反极图集) 选项卡。
每个选项卡对应一组不同的反极图。单击某个选项卡可在主工作区中查看该组的所有反极图。
反极图工作区的右上角有几个图标：
工具
描述
Add Inverse Pole Figure Set( 添加反极图集) ：为项目添加一个新的反极图集。
一 个 新 Inverse Pole Figure Set( 反 极 图 集) 选 项 卡 将 出 现 在 工 作 区 的 顶 部。它 将 包 含 一
个使用标准设置构建的反极图。
Inverse Pole Figure Display Settings( 反 极 图 显 示 设 置) ：打 开 反 极 图 显 示 设 置，可 在
其中指定反极图的外观。
另请参阅“自定义反极图显示”。
工作区的右下角是反极图的缩放控件：
第 168 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
点击 Fit to Window( 满窗口显示) 图标，将反极图的高度调整为工作区的高度：
要设置自定义缩放级别，左键单击缩放级别：
将会打开 Zoom( 缩放) 窗口：
选择其中一个选项或在窗口顶部的输入栏中输入一个自定义值。
10.2. 配置反极图
在 AZtecCrystal 中，可 将 反 极 图 划 分 到 反 极 图 集 中。各 反 极 图 集 在 反 极 图 工 作 区 显 示 为 一 个 单 独
的选项卡：
创 建 反 极 图 集 时，将 使 用 默 认 设 置 添 加 单 个 反 极 图。可 以 使 用 工 作 区 的 右 侧 的 反 极 图 设 置 更 改 此
反极图的设置。
更多反极图可根据需要添加到反极图集。它们将同时显示。例如，对于某个双相钢样品，可用单个
反极图集来显示 FCC 相的 X、Y 和 Z 方向的极图：
第 169 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
10.2.1. 创 建 反 极 图 集
要创建新反极图集：
1. 点击主工作区右上角的加号图标：
将会打开 Add Pole Figure Set( 添加极图集) 菜单：
2. 从可用选项中选择：
• 新反极图集：创建一个包含采用默认设置构建的单个反极图的新反极图集。
• 相的默认反极图集：从具有默认反极图的相的列表中选择，创建一个包含所选相的默认反
极图的新反极图集。例如，选择：
3. 现在将创建一个新 Inverse Pole Figure Set( 反极图集) 。
一个新 Inverse Pole Figure Set( 反极图集) 选项卡将出现在工作区的顶部：
如 果 选 择 New Inverse Pole Figure Set( 新 反 极 图 集) 选 项，将 向 反 极 图 集 添 加 单 个 反 极 图。它
将使用默认设置进行构建。例如：
第 170 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
如 果 选 择 Default Inverse Pole Figure Set for Phase( 相 的 默 认 反 极 图 集) 选 项，将 向 反 极 图 集 添
加 一 组 X、Y 和 Z 样 品 方 向 的 反 极 图。例 如，对 于 双 相 钢 中 的 铁 fcc，为 X、Y 和 Z 方 向 创 建 极
图：
各反极图的设置都可以在“反极图设置”中修改。
10.2.2. 修 改 反 极 图 集 名 称
某 个 反 极 图 集 被 创 建 后，默 认 名 称 为 Inverse Pole Figure Set( 反 极 图 集) 。这 个 名 称 可 以 修 改 为 一
个更有用的名称，方法是：
1. 在反极图集选项卡上右键单击鼠标，打开上下文菜单：
2. 选择 Rename...( 重命名…) 选项。将会打开 Rename( 重命名) 窗口：
3. 为反极图集输入一个新名称。
4. 单击 Ok( 确定) 关闭窗口并更改名称，或单击 Cancel( 取消) 关闭窗口而不做任何更改。
第 171 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
10.2.3. 创 建 新 反 极 图
新反极图可通过以下方式添加至反极图集：
1. 点击反极图工作区中相应的反极图集选项卡，选择将添加极图的 Inverse Pole Figure( 反极图)
集。
2. 在主工作区右侧的 Inverse Pole Figure Settings( 反极图设置) 中，点击 Inverse Pole Figure Items
( 反极图项目) 右侧的 "+" 图标：
一 个 新 的 反 极 图 项 目 现 在 将 被 添 加 到 Inverse Pole Figure Items( 反 极 图 项 目) 部 分 中 可 用 的 反
极图：
它将使用默认设置进行创建。这些设置可以根据“反极图设置”部分中的描述进行修改。
3. 如果在单个反极图集中定义了多个反极图，可以配置它们的显示顺序。
使用各反极图项目右侧的向上和向下箭头，在反极图项目列表中向上或向下移动项目。这也
将影响反极图项目的显示顺序。
10.2.4. 指 定 反 极 图 设 置
Inverse Pole Figure Settings( 反极图设置) 位于软件右侧的 Settings( 设置) 面板中：
它们可以分为两个部分：
第 172 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
1. 一般反极图设置：本部分包含用于创建反极图的一般设置。
2. 个别反极图设置：本部分包含反极图集中各反极图项目的设置。
一一般反极图设置
对于一般反极图部分，选择：
• Dataset( 数据集) ：选择创建反极图时要使用的数据集。可用的选项包括：
° 过滤后的晶粒列表：显示当前晶粒列表的反极图。如果对晶粒列表有任何更改，它们将在
反极图中更新。例如，只能显示特定尺寸和相的晶粒。
注 意 ：选 择 此 选 项 时 ，默 认 排 除 尺 寸 小 于 10 个 像 素 的 晶 粒 。
° Selected dataset( 选定的数据集) ：这是默认选项。反极图将显示当前在项目树中选择的数
据集( 即整个数据集或已创建的子集) 。
° Entire dataset( 整个数据集) ：确保将为当前数据集绘制所有测量数据，而不管是否在项目
树中选择了某个子集。
° A subset of the dataset( 数据集的子集) ：将会显示选定的子集，而不管在项目树中选择的是
什么。
• Reference CS( 参考 CS) ：选择创建反极图时要使用的坐标系。可用的选项包括：
° 采集表面坐标系 (CS1)。
° 样品主要坐标系 (CS0)。
• Half Width( 半宽) (°)：半宽控制扩散到球体表面的极( 平面法向或晶粒方向) 的数量。
默 认 值 为 10°，适 用 于 大 多 数 情 况。然 而，如 果 数 据 点 的 数 量 有 限，那 么 尝 试 使 用 较 高 的 半 宽
值来对数据进行进一步地平滑可能有用。
注 意 ：比 较 多 个 数 据 集 的 反 极 图 时 ，对 所 有 反 极 图 使 用 相 同 的 半 宽 值 很 重 要 。
注 意 ：为 了 提 高 反 极 图 密 度 计 算 的 速 度 ，Data Clustering( 数 据 聚 类) 已 设 置 为 3°。
• Range Type( 范围类型) ：使用下拉菜单选择用于显示带等高线的数据的颜色 Range Type( 范
围类型) ：
° Automatic( 自动化) ：自动优化所使用的随机取向倍数 (MUD) 值的范围，使极图使用全颜色
范围。( 即同时使用蓝色和红色。)
° User-Defined( 用户自定义) ：手动定义要使用的 MUD 范围的上限和下限。
注 意 ：用 户 自 定 义 颜 色 范 围 对 于 比 较 来 自 多 个 数 据 集 的 极 图 集 很 有 用 ，因 为 可 以 为 所 有 极 图
集 定 义 相 同 的 范 围 ，实 现 直 接 比 较 。
• Projection Type( 投影类型) ：在等面积和之间选择立体。
冶金中最常用的是立体投影，地质中最常用的是等面积投影。
• Folded( 折叠) ：选择 Folded( 折叠) 以使用折叠不对称图案单位( APU 或“单位三角形”) 。
注 意 ：反 极 图 显 示 时 通 常 选 择 了 此 选 项 。
• Column Count( 列计数) ：选择要在一行中显示的反极图的数量。
默认为 4。
第 173 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
个别反极图设置
对于各反极图，选择：
• Phase( 相) ：使用 Phase( 相) 下拉菜单选择相。
• Sample Direction( 样品方向) ：使用 Sample Direction( 样品方向) 下拉菜单选择创建反极图的
样品方向。可用的选项包括 X、Y 和 Z 样品方向。
10.2.5. 自 定 义 反 极 图 显 示
反 极 图 的 显 示 可 以 使 用 反 极 图 显 示 设 置 进 行 自 定 义。要 访 问 这 些 设 置，点 击 主 工 作 区 中 反 极 图 窗
格右上角的齿轮图标：
将会打开 Inverse Pole Figure Display Settings( 反极图显示设置) 窗口：
选择：
• Data presentation( 数据显示) ：选择反极图数据的显示方式：
° Contoured( 等高线) ：选择为数据绘制等高线。
为反极图中的数据绘制等高线将显示极聚类相对于随机分布的强度，即数据按照随机取向
的倍数 (MUD) 显示。对于查看任意织构的强度和性质的一般趋势或晶体首选取向，它很有
用。对于从分散的反极图数据中很难看出趋势的大型数据集，它特别有用。
° Scattered( 分散) ：选择将数据显示为单独的数据点。
这种显示数据的方法在观察单个晶粒组成的小区域时特别有用，因为分散的数据可以指示
与单个滑移系活动相关的离散路径。特别是对于低对称性相。
第 174 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
° Superimposed( 叠加) ：带等高线的数据叠加在分散数据上。
移 动 滑 块 可 调 整 各 数 据 显 示 方 法 的 影 响。滑 块 一 直 滑 到 最 左 侧 时，只 显 示 带 等 高 线 的 数
据。滑块一直滑到最右侧时，只显示分散的数据。
这种显示方法对于利用散布数据点比较等高线的水准很有用。
注 意 ：在 查 看 带 等 高 线 的 反 极 图 和 使 用 当 前 晶 粒 交 互 模 式 与 分 布 图 进 行 交 互 时 ，该 显 示 方 法
将 自 动 启 用 ，将 选 中 晶 粒 的 点 叠 加 到 整 个 数 据 集 的 带 等 高 线 的 反 极 图 的 顶 部 。
• Color Scheme( 颜色方案) ：
° 使用下拉菜单选择为数据绘制等高线的着色方案。选择：
灰度
热分布图
射流
射流延长
谱图
岩浆
地狱
血浆
翠绿
北极光
° Inverted( 反色) ：选择以反色显示带等高线的数据。
例 如，在 使 用 灰 度 颜 色 方 案 时，对 数 据 进 行 反 色 处 理，用 深 色 来 显 示 高 密 度 区 域，而 不 是
遵循默认约定使用浅色来显示最高密度。
° Color Gradient( 颜色渐变) ：选择为带等高线的数据赋予平滑颜色渐变。例如：
无颜色渐变
颜色渐变
• Symbol Size( 符号尺寸) ：选择绘制分散数据时用于显示每个数据点的符号的尺寸。
调 整 符 号 的 尺 寸 对 于 优 化 数 据 的 显 示 很 有 用。例 如，在 检 查 包 含 少 量 数 据 点 的 数 据 集 时，比
如 显 示 单 个 晶 粒 中 的 离 散 度 时，使 用 较 大 的 符 号 尺 寸 可 能 更 有 利。但 是，在 检 查 包 含 大 量 数
据点的数据集时，较小的符号尺寸可能效果更好，以便能够清楚地看到所有数据点。
第 175 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
小
中
大
• Color Scheme( 颜色方案) ：选择用于显示分散数据的颜色方案：
° All Black( 全黑) ：反极图中的所有数据点都显示为黑色。
° 当前分布图像素颜色：各数据点的颜色都与当前分布图中用于显示数据点的颜色相同。
• Overlay( 重叠) ：选择是否在极图上显示大圆：
无大圆
大圆
( 立体投影)
10.2.6. 更 改 反 极 图 显 示 顺 序
反极图的显示顺序可通过以下方式更改：
1. 选择反极图集。
2. 右键单击反极图集名称以打开上下文菜单：
3. 选择 Move Pole Figure backward( 向后移动极图) 将极图集往左移动一个选项卡，或 Move Pole
Figure forward( 向前移动极图) 将反极图往右移动一个选项卡。
10.2.7. 移 除 反 极 图
单个反极图可通过以下方式从反极图集中移除：
1. 在反极图工作区中，选择要移除反极图的反极图集。
2. 在反极图设置中，找到要移除的反极图项目。
第 176 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
3. 点击反极图项目右侧的垃圾桶图标：
反极图集可通过以下方式移除：
1. 在反极图集选项卡上右键单击鼠标，打开上下文菜单：
2. 选择 Remove( 移除) 选项。
反极图集现将被永久删除。
10.3. 平移和缩放反极图
为了便于查看和查询反极图，AZtecCrystal 具有反极图平移( 移动) 和缩放功能。
缩放工具
调整反极图集缩放级别的方法有三种：
1. 使用鼠标滚轮进行缩放。
• 从屏幕左侧的调色板工具栏中选择默认交互工具：
• 向上滚动鼠标滚轮可放大，向下滚动鼠标滚轮可缩小。
2. 选择一个自定义缩放级别：
• 点击反极图集右下角的缩放控件：
将会打开 Zoom( 缩放) 窗口：
第 177 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
• 选择其中一个选项或在窗口顶部的输入栏中输入一个自定义值。
3. 从反极图集右下侧的缩放控件中使用铺满窗口工具：
• 点击 Fit to Window( 铺满窗口) 图标，将反极图的全高调整为工作区的高度：
平移工具
让反极图集平移或移动的方法有两种：
1. 使用默认交互工具：
• 从屏幕左侧的调色板工具栏中选择默认交互工具：
• 在反极图集上按下鼠标左键并移动鼠标移动反极图。
• 松开鼠标左键可停止平移反极图集。
2. 使用滑动条：
• 在反极图集底部或右侧的滑动条上按下鼠标左键并移动鼠标移动反极图。
• 松开鼠标左键可停止移动反极图集。
10.4. 导出反极图集
构建后，某个反极图集内的所有反极图可通过以下方式导出：
1. 在反极图工作区内选择反极图集。
2. 在工作区内右键单击鼠标。
将会打开反极图上下文菜单：
3. 选择 Export Pole Figure Set( 导出极图集) 选项。
将会打开导出上下文菜单：
第 178 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
4. 从可用选项中选择：
• Save As( 另存为) ：将会打开 Save Pole Figure Set As...( 极图集另存为...) 窗口。
选择合适的文件名称和图像格式，将反极图集保存为图像。
• Copy( 复制) ：将图像复制到剪贴板。
• Pole Figure Set to PowerPoint( 极图集到 PowerPoint) ：将当前极图集以图像形式复制到
PowerPoint 中。
• All Pole Figure Sets to PowerPoint( 所有极图集到 PowerPoint) ：将所有极图集以图像形式复
制到 PowerPoint 中。
• Settings( 设置) ：将会打开 Export Settings for Inverse Pole Figure Set( 反极图集导出设置) 窗
口。
从可用选项中为导出选择合适的设置。
此 外，当 前 为 数 据 集 创 建 的 所 有 分 布 图、极 图、反 极 图 和 取 向 分 布 函 数 可 以 通 过 以 下 方 式 导 出 到
PowerPoint：
1. 在项目树中选择数据集。
2. 右键单击数据集以打开上下文菜单。
3. 选择 Export Maps/Pole Figures/ODFs to PowerPoint...( 导出分布图/极图/ODF 到 PowerPoint…)
选项。
现将打开一个包含所有图像的 PowerPoint 演示文稿。
第 179 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
11. 取 向 分 布 函 数
取 向 分 布 函 数 (ODF) 是 表 示 织 构 的 一 种 统 计 方 法，提 供 对 样 本 织 构 的 完 整 定 量 描 述。它 们 是 由 三
个欧拉角( φ1、Φ、φ2) 和密度值构成的四维对象，对应于某个特定取向的强度。此强度表示为与完
全随机取向分布的预期强度的比率。
与 极 图 相 比，ODF 的 优 点 是 各 取 向 都 用 单 个 点 表 示，而 在 极 图 中，各 取 向 都 是 用 任 意 极 图 上 的 多
个点表示，单个极图不能提供完整的取向( 如六边形材料中的 {0001} PF) 。
要 更 深 入 地 了 解 ODF，请 参 阅 H.-J. Bunge 的 《材 料 科 学 中 的 织 构 分 析》一 书 (Cuviller Verlag, 1993,
ISBN 3-928815-18-4)。
ODF 计算的结果是一个密度的三维阵列，表示为随机取向分布函数的倍数。在 AZtecCrystal 中，每
个 阵 列 项 目 表 示 一 个 晶 胞，其 宽 度 用 Cell Width( 晶 胞 宽 度) 参 数 定 义，单 位 为 度。晶 胞 宽 度 越 小，
ODF 的分辨率就越好，外观也就越平滑，但计算所需的时间越长。
在 AZtecCystal 中，ODF 计 算 的 结 果 可 以 视 为 取 向 ( 分 散 的) 或 ODF( 带 等 高 线 的) 数 据。这 些 数 据
可以表示为：
• 一系列连续剖面：可实现对织构的全面检查。
• 单个剖面：可实现对织构关键组分的研究。
• 单个剖面内获取的一个密度轮廓。
11.1. 取向分布函数工作区
取 向 分 布 函 数 (ODF) 工 作 区 用 于 创 建、显 示 和 操 作 取 向 分 布 函 数。主 工 作 区 内 可 以 显 示 以 下 任 一
内容：
• 一系列连续剖面。例如：
第 180 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
• 一个单一剖面，或者该剖面内的一个密度轮廓。例如：
• 如果使用球面谐波计算方法，对于单个或连续 ODF 显示，用于计算 ODF 的系数也可以选择
在表中显示。例如：
工作区的左侧是 ODF 调色板工具栏：
第 181 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
此工具栏包含与取向分布函数交互的工具，包括：
项目
描述
Default Interaction Mode( 默认交互模式) ：将鼠标悬停在 ODF 上的某个点上可显示该
点的三个欧拉角和计算出的密度 (f)。
Add Rectangle to Subset( 添 加 矩 形 到 子 集) ：这 个 工 具 允 许 创 建 矩 形 子 集。工 具 处 于
活动状态时，在 ODF 剖面的某个点上按下鼠标左键并拖动鼠标，形成要成为子集的矩
形区域。松开鼠标左键完成操作。
在 Project( 项目) 树中选中子集时，子集区域将在 ODF 剖面上以白色轮廓标记。
沿着取向分布函数工作区的顶部，将出现一个或多个 "ODF" 选项卡：
每个选项卡对应一个不同的 ODF。点击某个选项卡可查看该 ODF 的数据。
取向分布函数工作区的右上角有几个图标：
工具
描述
Add ODF( 添加 ODF) ：为项目增加了一个新的取向分布函数。
一 个 新 "ODF" 选 项 卡 将 出 现 在 工 作 区 的 顶 部。它 将 包 含 一 组 使 用 默 认 设 置 构 建 的 取
向分布函数连续剖面。
另请参阅“创建取向分布函数”部分。
ODF Display Settings( ODF 显 示 设 置) ：打 开 取 向 分 布 函 数 显 示 设 置，可 在 其 中 指 定
ODF 的外观。
另请参阅“自定义取向分布函数显示”部分。
在连续或单个剖面下方，织构指数 (J) 与缩放控件一起显示。
点击 Fit to Window( 铺满窗口) 图标，将 ODF 连续剖面调整到满工作区显示：
要设置自定义缩放级别，左键单击缩放级别：
第 182 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
将会打开 Zoom( 缩放) 窗口：
选择其中一个选项或在窗口顶部的输入栏中输入一个自定义值。
如果显示的是密度轮廓，图的右侧是一个齿轮图标，可以用来访问图的设置：
使用下拉菜单选择：
• Chart Type( 图的类型) ：选择线形、区域或条形图。
• Chart Color( 图的颜色) ：选择用于为图着色的颜色。
使用 Show Grid( 显示网格) 复选框选择是否在图上显示网格。
要查看图上某个点的欧拉角和平均均匀密度 (mud)，点击这个点。例如：
第 183 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
如果显示的是用于执行球面谐波计算方法的系数，表顶部的复选框可用来选择是否对系数进行归
一化。
11.2. 配置取向分布函数
在 AZtecCrystal 中，各 取 向 分 布 函 数 在 取 向 分 布 函 数 工 作 区 中 的 单 独 选 项 卡 上 作 为 一 系 列 连 续 剖
面显示:
取向分布函数创建后，使用默认设置进行计算。可以使用工作区的右侧的ODF settings( ODF 设置)
更改此 ODF 的设置。
11.2.1. 创 建 取 向 分 布 函 数
要创建新的 ODF：
1. 点击 ODF 工作区右上角的加号图标：
将会打开 Add ODF( 添加 ODF) 菜单：
2. 从可用选项中选择：
• New ODF( 新 ODF) ：创建采用默认设置构建的新 ODF。
• Default ODF for Phase( 相默认 ODF) ：从具有默认 ODF 的相的列表中进行选择，以创建一
个包含所选相的默认设置的新 ODF。例如，选择：
现在将创建一个新 ODF，并显示在工作区顶部的一个新 "ODF" 选项卡中。
此 ODF 的设置可使用“ODF 设置”进行修改。
11.2.2. 修 改 取 向 分 布 函 数 名 称
创建 ODF 时，会给它一个默认名称。这个名称可通过以下方式修改：
第 184 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
1. 在 ODF 选项卡上右键单击鼠标以打开上下文菜单：
2. 选择 Rename...( 重命名…) 选项。
将会打开 Rename( 重命名) 窗口：
3. 为 ODF 输入一个新名称。
4. 单击 Ok( 确定) 关闭窗口并更改名称，或单击 Cancel( 取消) 关闭窗口而不做任何更改。
注 意 ：双 击 ODF 选 项 卡 也 可 以 打 开 Rename ODF( 重 命 名 ODF) 窗 口 。
11.2.3. 指 定 取 向 分 布 函 数 设 置
ODF Settings( ODF 设置) 位于软件右侧的 Settings( 设置) 面板中：
它们可以分为三个部分：
1. General ODF Settings( 一般 ODF 设置) ：本部分包含针对所有 ODF 的一些一般设置。
2. Calculation Settings( 计算设置) ：本部分包含用于计算 ODF 的一般设置。
3. Section Settings( 剖面设置) ：本部分包含用于计算连续剖面或单个剖面的设置。
第 185 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
一般 ODF 设置
在一般 ODF 部分，选择：
1. 每次在软件其他位置使用 Auto( 自动) 复选框更改数据集的设置后是否应重新计算 ODF。
注 意 ：ODF 的 计 算 可 能 会 花 费 大 量 时 间 ，因 此 建 议 取 消 选 择 此 选 项 。如 果 已 取 消 选 择 Auto( 自
动 ) 选 项 ，则 可 以 随 时 点 击 ODF Settings( ODF 设 置 ) 顶 部 的 Recalculate( 重 新 计 算 ) 按 钮 重 新 计 算
ODF。
计算设置
在 Calculation Settings( 计算设置) 部分，选择：
1. Phase( 相) ：使用下拉菜单选择要计算 ODF 的相。
2. Dataset( 数据集) ：选择创建 ODF 时要使用的数据集。可用的选项包括：
• Selected dataset( 选定的数据集) ：这是默认选项。将为当前在项目树中选择的数据集计算
ODF( 即整个数据集或已创建的子集) 。
• Entire dataset( 整个数据集) ：确保计算将包含当前数据集的整个数据集，而不管是否在项
目树中选择了某个子集。
• A subset of the dataset( 数据集的子集) ：将为选定的子集计算 ODF，而不管在项目树中选择
的是什么。
3. Reference CS( 参考 CS) ：选择计算 ODF 时要使用的坐标系。可用的选项包括：
• 采集表面坐标系 (CS1)。
• 样品主要坐标系 (CS0)。
注 意 ：如 果 样 品 主 (CS0) 和 采 集 表 面 (CS1) 互 不 相 同 ，那 么 知 道 用 于 计 算 ODF 的 是 哪 个 坐 标 系
很 重 要 。一 般 来 说 ，它 们 应 针 对 Sample Primary( 样 品 主 ) 坐 标 系 (CS0) 进 行 计 算 。
4. Sample Symmetry( 样品对称性) ：使用复选框可指定是否使用在 Project( 项目) 窗格的
Sample Properties( 样品属性) 部分中为相指定的样品对称性。
注 意 ：样 品 对 称 性 可 以 减 少 欧 拉 空 间 ( 即 对 于 “劳 厄 群 11”的 三 斜 或 高 立 方 晶 体 结 构 ：φ1max =
360°、Φmax = 90°、φ2max = 90°，而 对 于 “劳 厄 群 3”的 斜 方 晶 体 结 构 ：φ1max = 180°、Φmax = 90°、
φ2max = 90°) 。因 此 ，如 果 已 选 择 样 品 对 称 性 选 项 ，应 小 心 确 保 选 择 了 正 确 的 对 称 性 。
5. Method( 方法) ：使用下拉菜单选择计算方法。
• Spherical Harmonics( 球面谐波) ：这是默认方法。
• Gaussian Smoothing( 高斯平滑) 。
6. 如果选择了 Spherical Harmonics( 球面谐波) 方法，则输入 Series Rank( 级数秩) (Lmax) 值。
注 意 ：通 常 建 议 使 用 默 认 值 22。如 果 增 大 该 值 ，ODF 的 计 算 时 间 也 会 增 加 。
7. 如果选择了 Spherical Harmonics( 球面谐波) 方法，则选择是否 Show Coefficients( 显示系数) 。
如 果 选 择 此 选 项，将 显 示 用 于 生 成 ODF 显 示 的 系 数。右 键 单 击 系 数 表 访 问 上 下 文 菜 单 并 选
择“导出”可将其导出到其他软件中使用。
8. Half Width( 半宽) (°)：半宽控制扩散( 平滑) 到球体表面上的 ODF 数据的数量。
默 认 值 为 5°，适 用 于 大 多 数 情 况。然 而，如 果 数 据 点 的 数 量 有 限，那 么 使 用 较 高 的 半 宽 值 来
对数据进行进一步地平滑可能有用。
注 意 ：比 较 多 个 数 据 集 的 ODF 时 ，对 所 有 ODF 使 用 相 同 的 半 宽 值 很 重 要 。
第 186 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
9. Range Type( 范围类型) ：使用下拉菜单选择用于显示带等高线的数据的颜色 Range Type( 范
围类型) ：
• Automatic( 自动化) ：自动优化所使用的随机取向倍数 (MUD) 值的范围，使极图使用全颜色
范围。( 即同时使用蓝色和红色) 。
• User Defined( 用户自定义) ：手动定义要使用的 MUD 范围的上限和下限。
注 意 ：用 户 自 定 义 颜 色 范 围 对 于 比 较 来 自 多 个 数 据 集 的 ODF 很 有 用 ，因 为 可 以 为 所 有 ODF
定 义 相 同 的 范 围 ，实 现 更 直 接 的 比 较 。
10. Cell Width( 晶胞宽度) (°)：使用下拉菜单选择晶胞宽度。晶胞宽度用于定义 ODF 内阵列的大
小。值越小，分辨率越高，带等高线的 ODF 就越平滑，但计算时间将更长。
Calculation Settings( 计算设置) 的底部显示两个参数：
1. Dimensions (cells)( 尺寸( 晶胞) ) ：显示 φ1、Φ 和 φ2 的晶胞的数量。
这些值取决于 ODF 的尺寸和晶胞宽度。
2. Dimensions( 尺寸) (°)：ODF 的尺寸，单位为度。
这些尺寸取决于样品对称性。
剖面设置
在 Section Settings( 剖面设置) 部分，选择：
1. Section Mode( 剖面模式) ：选择是查看单个剖面还是连续剖面。
2. Keep Constant( 保持不变) ：选择三个欧拉值中哪个保持不变：Euler 1 (φ1)、Euler 2 (Φ) 或
Euler 3 (φ2)。
注 意 ：通 常 而 言 ，对 于 FCC 金 属 ，Euler 3 保 持 不 变 ，而 对 于 BCC 金 属 ，有 时 最 好 保 持 Euler 1 不
变。
如果已选择 Serial Sections( 连续剖面) 模式，则选择：
1. Step Width( 步长) (°)：选择步长的大小。默认值为 5°，代表将以要保持不变的欧拉值的 5° 增
量显示剖面。
注 意 ：步 长 决 定 剖 面 的 创 建 数 量 。
2. Column Count( 列计数) ：指定应在屏幕上显示的 ODF 的数量( 即 ODF 列的创建数量) 。
如果已选择 Single Section( 单个剖面) 模式，则选择：
1. Where φ1, Φ or φ2 =( 其中 φ1、Φ 或 φ2 =) ：应为其创建剖面的不变欧拉值的角度。
2. Step Width( 步长) (°)：显示的剖面的厚度。
注 意 ：此 设 置 与 分 散 数 据 的 显 示 相 关 。对 于 带 等 高 线 的 数 据 ，剖 面 是 通 过 切 割 计 算 出 的 三 维 空
间而获得的。
3. Show Density Profile( 显示密度轮廓) ：选择是否通过连续剖面显示密度轮廓。
如果已选择 Show Density Profile( 显示密度轮廓) 选项，则选择：
1. Orientation( 取向) ：选择是否通过单个剖面的水平或垂直轮廓显示密度轮廓。
2. Where φ1, Φ or φ2 =( 其中 φ1、Φ 或 φ2 =) ：为其创建轮廓的 φ1、Φ 或 φ2 的角度。当前角度
在 ODF 剖面上标记为一条白线。
注 意 ：这 个 角 度 也 可 以 通 过 在 剖 面 上 的 线 上 按 下 鼠 标 左 键 并 将 线 拖 动 到 ODF 剖 面 上 所 需 的 角
度( 位置) 来调整。
第 187 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
11.2.4. 自 定 义 取 向 分 布 函 数 显 示
ODF 的显示可以使用取向分布函数显示设置进行自定义。要访问这些设置，点击主工作区中反极
图窗格右上角的齿轮图标：
将会打开 ODF Display Settings( ODF 显示设置) 窗口：
选择：
• Data presentation( 数据显示) ：选择 ODF 数据的显示方式：
° Contoured( 等高线) ：选择为数据绘制等高线。
为 ODF 中 的 数 据 绘 制 等 高 线 将 显 示 取 向 聚 类相 对 于 随 机 分 布 的 强度，即 数 据 按 照 随 机 取
向的倍数 (MUD) 显示。对于查看任意织构的强度和性质的一般趋势或晶体首选取向，它很
有用。对于从分散的数据中很难看出趋势的大型数据集，它特别有用。
° Scattered( 分散) ：选择将数据显示为单独的数据点。
这种显示取向数据的方法在观察单个晶粒组成的小区域时特别有用，因为分散的数据可以
指示与单个滑移系活动相关的离散路径。特别是对于低对称性相。
° Superimposed( 叠加) ：带等高线的数据叠加在分散数据上。
移 动 滑 块 可 调 整 各 数 据 显 示 方 法 的 影 响。滑 块 一 直 滑 到 最 左 侧 时，只 显 示 带 等 高 线 的 数
据。滑块一直滑到最左侧时，只显示带等高线的数据。
这种显示方法对于利用散布数据点比较等高线的水准很有用。
• Color Scheme( 颜色方案) ：
° 使用下拉菜单选择为数据绘制等高线的着色方案。可用的选项与极图和反极图相同。
° Inverted( 反色) ：选择以反色显示带等高线的数据。
例 如，在 使 用 灰 度 颜 色 方 案 时，对 数 据 进 行 反 色 处 理，用 深 色 来 显 示 高 密 度 区 域，而 不 是
遵循默认约定使用浅色来显示最高密度。
第 188 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
° Color Gradient( 颜色渐变) ：选择为带等高线的数据赋予平滑颜色渐变。例如：
无颜色渐变
颜色渐变
• Symbol Size( 符号尺寸) ：选择绘制分散数据时用于显示每个数据点的符号的尺寸。
调 整 符 号 的 尺 寸 对 于 优 化 数 据 的 显 示 很 有 用。例 如，在 检 查 包 含 少 量 数 据 点 的 数 据 集 时，使
用 较 大 的 符 号 尺 寸 可 能 更 有 利。但 是，在 检 查 包 含 大 量 数 据 点 的 数 据 集 时，较 小 的 符 号 尺 寸
可能效果更好，以便能够清楚地看到所有数据点。
小
中
大
• Color Scheme( 颜色方案) ：选择用于显示分散数据的颜色方案：
° All Black( 全黑) ：ODF 中的所有数据点都显示为黑色。
° 当前分布图像素颜色：各数据点的颜色都与当前分布图中用于显示数据点的颜色相同。
11.2.5. 更 改 取 向 分 布 函 数 显 示 顺 序
取向分布函数的显示顺序可通过以下方式更改：
1. 选择取向分布函数。
2. 右键单击 ODF 名称以打开 ODF 上下文菜单：
3. 选择 Move ODF backward( 向后移动 ODF) 将 ODF 往左移动一个选项卡，或 Move ODF forward
( 向前移动 ODF) 将 ODF 往右移动一个选项卡。
第 189 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
11.2.6. 移 除 取 向 分 布 函 数
ODF 集可通过以下方式移除：
1. 在 ODF 集选项卡上右键单击鼠标以打开上下文菜单：
2. 选择 Remove( 移除) 选项。ODF 集现将被永久删除。
11.3. 平移和缩放取向分布函 数
为 了 便 于 查 看 和 查 询 取 向 分 布 函 数，AZtecCrystal 具 有 ODF 平 移 ( 移 动) 和 缩 放 功 能。要 访 问 这 些
工具，从屏幕左侧的调色板工具栏中选择默认交互工具：
缩放工具
调整反极图集缩放级别的方法有三种：
1. 使用鼠标滚轮进行缩放。
• 从屏幕左侧的调色板工具栏中选择默认交互工具：
• 向上滚动鼠标滚轮可放大，向下滚动鼠标滚轮可缩小。
2. 选择一个自定义缩放级别：
• 点击 ODF 集右下角的缩放控件：
将会打开 Zoom( 缩放) 窗口：
第 190 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
• 选择其中一个选项或在窗口顶部的输入栏中输入一个自定义值。
3. 从 ODF 集右下侧的缩放控件中使用铺满窗口工具：
• 点击 Fit to Window( 铺满窗口) 图标，将取向分布函数的全高调整为工作区的高度：
平移工具
让 ODF 集平移或移动的方法有两种：
1. 使用默认交互工具：
• 从屏幕左侧的调色板工具栏中选择默认交互工具：
• 在 ODF 集上按下鼠标左键并移动鼠标移动取向分布函数。
• 松开鼠标左键可停止平移 ODF 集。
2. 使用滑动条：
• 在 ODF 集底部或右侧的滑动条上按下鼠标左键并移动鼠标移动取向分布函数。
• 松开鼠标左键可停止移动 ODF 集。
11.4. 配置取向分布函数
计算后，取向分布函数数据可导出为：
• 连续或单个剖面图像。
• 密度轮廓图图像。
• ODF 剖面、密度轮廓或系数数据。
此 外，当 前 为 数 据 集 创 建 的 所 有 分 布 图、极 图、反 极 图 和 取 向 分 布 函 数 可 以 通 过 以 下 方 式 导 出 到
PowerPoint：
第 191 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
1. 在项目树中选择数据集。
2. 右键单击数据集以打开上下文菜单。
3. 选择 Export Maps/Pole Figures/ODFs to PowerPoint...( 导出分布图/极图/ODF 到 PowerPoint…)
选项。
现将打开一个包含所有图像的 PowerPoint 演示文稿。
导出连续或单个剖面图像
要将所有连续剖面或单个剖面导出为图像：
1. 在 ODF 工作区中选择 ODF 集。
2. 在 ODF 剖面上右键单击鼠标。
将会打开取向分布函数上下文菜单：
3. 选择 Export ODF Section(s)( 导出 ODF 剖面) 选项。
将会打开导出上下文菜单：
4. 从可用选项中选择：
• Save As( 另存为) ：将会打开 Save ODF Set As...( ODF 集另存为...) 窗口。
选择合适的文件名称和图像格式，将 ODF 集保存为图像。
• Copy( 复制) ：将图像复制到剪贴板。
• ODF to PowerPoint( ODF 到 PowerPoint) ：将当前 ODF 集以图像形式复制到 PowerPoint 中。
• All ODFs to PowerPoint( 所有 ODF 到 PowerPoint) ：将所有 ODF 集以图像形式复制到
PowerPoint 中。
• Settings( 设置) ：将会打开 Export Settings for Inverse Pole Figure Set( 反极图集导出设置) 窗
口。
第 192 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
从可用选项中为导出选择合适的设置。
将密度轮廓图导出为图像
要将密度轮廓图导出为图像：
1. 在密度轮廓图上右键单击鼠标。
将会打开图上下文菜单：
2. 选择 Export Chart Data( 导出图数据) 选项。
将会打开导出上下文菜单：
3. 从可用选项中选择：
• Save As( 另存为) ：将会打开 Save Map As...( 分布图另存为) 窗口。
选择合适的文件名称，将图保存为数据文件。
•
Copy( 复制) ：将数据复制到剪贴板。
将 ODF 数据导出为数据
要将 ODF 连续或单个剖面、密度轮廓或系数导出为数据：
1. 在 ODF 工作区中选择 ODF。
2. 右键单击工作区中包含要导出的数据的部分，即 ODF 单个剖面或系数表。
将会打开上下文菜单。例如：
第 193 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
3. 视情况选择 Export ODF Data( 导出 ODF 数据) 、Export Chart Data( 导出图数据) 或 Export( 导
出) 选项。
将会打开导出数据上下文菜单：
4. 从可用选项中选择：
• Save As( 另存为) ：将会打开 Save ODF As...( ODF 另存为...) 窗口。
选择合适的文件名称以保存数据。
• Copy( 复制) ：将数据复制到剪贴板。
第 194 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
12. 边 界
Boundaries( 边界) 查看模式允许以下述形式查看数据集的边界取向差分布：
• Disorientation Angle Distribution( 取向差角分布) ：数据以图显示。
• Disorientation Axes( 取向差轴) ：数据以极图显示。
取向差角分布
取 向 差 是 两 个 取 向 测 量 之 间 晶 体 学 上 最 小 的 等 效 取 向 差。图 中 最 多 可 显 示 三 种 类型 的 取 向 差 数
据：
• Neighbor Pair( 相邻对) ：相邻数据点之间的取向差( 即晶界分布图图层中标记的边界) 。
• Random Pair( 随机对) ：数据集中任意位置随机选择的数据点对之间的取向差( 即它们与可见
的实际边界无关) 。
• Theoretical( Mackenzie-图) ：对于各劳厄群，晶体对称性将决定随机取向晶体之间的取向差分
布。
例如：
整 体 晶 体 学 首 选 取 向 和 内 部 晶 体 对 称 性 对 图 形 的 形 状 有 着 重 大 影 响。在 许 多 情 况 下，随 机 对 取 向
差分布和相邻对取向差分布在统计学上有着显著差异。这些差异意味着相邻的晶粒在物理上相互
作用或源自于原丝微结构。
注 意 ：在 这 种 情 况 下 ，相 邻 对 分 布 有 大 量 的 边 界 < 15°，这 与 样 品 中 此 相 的 应 变 /变 形 有 关 ( 即 Fe-BCC
晶粒中包含许多由塑性变形引起的低中角度边界) 。
不同曲线之间的相似性以表示。一致性值。例如：
通常来说，数值更高，曲线越相似。
取向差轴
第 195 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
在极图中绘制的取向差轴数据的分布可用来分析某个样本中的特殊边界，包括轴是如何相对于样
品对齐的。
例 如，对 于 某 辉 长 岩 中 的 某 变 形 橄 榄 石 ( 镁 橄 榄 石) 晶 粒，GROD 分 布 图 显 示 了 橄 榄 石 中 大 量 的 直
低角度边界( 此类晶粒的典型特征) ：
Boundaries( 边 界) 查 看 模 式 的 取 向 差 轴 选 项 卡 可 用 于 研 究 旋 转 轴，以 了 解 有 关 滑 移 系 的 信 息。对
于该样品，低角度边界( 特别是 5-10°) 在 <010> 方向附近有很强的聚类：
这种聚类的原因可能是由于 (001)[100] 滑移系的作用，该滑移系是橄榄石中的主要滑移系之一。
在 晶 体 坐 标 系 中 绘 制 高 角 度 边 界 的 取 向 差 轴 时，需 要 注 意 的 是，高 角 度 范 围 的 反 极 图 中 有 某 些 区
域是“禁用”的。所讨论的相的对称性决定着这些禁用区域的性质。
例 如，在 某 个 高 立 方 晶 体 ( 劳 厄 群 m3m) 中，绕 <100> 轴 旋 转 45° 以 上 与 反 方 向 旋 转 45° 以 下 是 等
效 的。根 据 规 则，我 们 采 用 最 低 的 等 效 取 向 差，这 意 味 着 绕 <100> 轴 旋 转 不 可 能 有 超 过 45° 的 取
向差。
随着取向差角的增大，禁用区域也随之增大，并在反极图上以边界线和白色区域标记。例如：
第 196 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
12.1. 边界工作区
Boundaries( 边 界) 工 作 区 显 示 当 前 数 据 集 的 取 向 差 角 分 布 和 轴。各 数 据 类型 都 显 示 在 自 己 的 选 项
卡中。
取向差轴选项卡
Disorientation Axes( 取向差轴) 工作区用于创建、显示和操作取向差轴数据：
取向差角分布选项卡
取向差角分布选项卡的主要部分是数据的图形显示。图的右侧是：
• 设置：指定要显示的数据。
• 结果：显示为一致性( 两条曲线之间的相似性) 和 M 指数( 指示织构强度) 。
单击图上的某个点可查看与该数据点对应的数据。例如：
第 197 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
12.2. 配置取向差角分布
取 向 差 角 分 布 数 据 的 显 示 可 从 Boundaries( 边 界) 模 式 的 主 Disorientation Angle Distribution( 取 向 差
角分布) 工作区内的 Settings( 设置) 窗格中进行配置。
从此窗格可配置：
• 要计算数据的设置。
• 图显示设置。
12.2.1. 指 定 取 向 差 角 分 布 设 置
取向差角分布设置位于取向差角分布工作区中的图显示的右侧。
要配置设置，选择：
第 198 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
• Phase( 相) ：使用 Phase( 相) 下拉菜单选择要显示数据的相。
• Dataset( 数据集) ：选择要用于计算取向差角分布的数据集：
° Selected Dataset( 选定的数据集) ：这是默认选项。取向差角分布将显示当前在项目树中选
择的数据集( 即整个数据集或已创建的子集) 。
° Entire Dataset( 整个数据集) ：确保将为当前数据集绘制所有测量数据，而不管是否在项目
树中选择了某个子集。
° A Subset of the Dataset( 数据集的子集) ：将会显示选定的子集，而不管在项目树中选择的是
什么。
• Show Neighbor Pair Distribution( 显示相邻对分布) ：选择以绘制分布图中相邻点之间的取向
差数据。
° 选择后，指定要使用的阈值角 (°)。默认值为 5°。
• Show Random Pair Distribution( 显示随机对分布) ：选择以绘制数据集中随机选择的点之间
的取向差数据。
° 选择后，指定取样大小。默认值为 10000。
注 意 ：选 择 取 向 差 的 数 量 ( 样 本 大 小 ) 时 ，建 议 考 虑 数 据 集 中 晶 粒 的 数 量 。
• Show Theoretical (Mackenzie-Plot)( 显示理论( Mackenzie-图) ) ：选择以绘制一组随机取向的
期望理论分布。
• Bin Width( 分组宽度) (°)：指定分组宽度。默认值为 1°。
12.2.2. 自 定 义 取 向 差 角 分 布 显 示
要自定义取向差角分布图的显示：
1. 点击取向差角分布工作区设置部分中的 Bin Width( 分组宽度) (°) 字段右侧的齿轮图标：
将会打开 Chart Display Settings( 图显示设置) 窗口：
2. 使用下拉菜单选择：
• 各种数据类型的显示格式( 即线形、条形或区域) 。
• 各种数据类型的颜色。
第 199 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
3. 使用窗口底部的复选框以选择是否显示网格。
12.3. 配置取向差轴数据
取 向 差 轴 数据 可 以 划 分 到 取 向 差轴 集 中。各 取 向 差 轴 集在 Boundaries( 边 界) 工 作 区 的取 向 差 轴 选
项卡内显示为一个单独的选项卡：
创 建 取 向 差 轴 集 时，将 使 用 默 认 设 置 添 加 单 个 项 目。它 的 设 置 可 通 过 工 作 区 右 侧 的 取 向 差 轴 设 置
进行更改。这些设置也可用于根据需要配置更多要添加到取向差轴集的项目。它们将同时显示。
另外，可以使用默认设置创建包含三个项目的默认集。例如：
12.3.1. 创 建 取 向 差 轴 集
要创建新取向差轴集：
1. 点击主工作区右上角的加号图标：
将会打开 Add Disorientation Axes Set( 添加取向差轴集) 菜单：
2. 从可用选项中选择：
• 新取向差轴集：创建一个包含采用默认设置构建的单个项目的新取向差轴集。
• 默认取向差轴集：从默认集的列表中进行选择，以创建一个包含所选选项的默认项目的新
第 200 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
集。例如，选择：
3. 现在将创建一个新取向差轴集。
一个新选项卡将出现在工作区的顶部。名称将说明创建的取向差轴集的类型。例如：
如 果 选 择 了 New Disorientation Axes Set( 新 取 向 差 轴 集) 选 项，将 向 此 集 添 加 单 个 项 目。它 将
使用默认设置进行构建。例如：
如 果 选 择 了 Default Disorientation Axes Set for Phase( 默 认 取 向 差 轴 集) 选 项，将 向 此 集 添 加 一
组项目。例如，对于晶体坐标集中的低角度，为 2-5°、5-10° 和 10-15° 创建反极图：
各项目的设置都可以在“取向差轴设置”中修改。
12.3.2. 修 改 取 向 差 轴 集 名 称
创 建 取 向 差 轴 集 后，会 根 据 所 创 建 的 取 向 差 轴 集 的 类型 给 它 一 个 默 认 名 称。这 个 名 称 可 以 修 改 为
一个更有用的名称，方法是：
第 201 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
1. 在取向差轴集选项卡上右键单击鼠标以打开上下文菜单：
2. 选择 Rename...( 重命名…) 选项。
将会打开 Rename( 重命名) 窗口：
3. 为取向差轴集输入一个新名称。
4. 单击 Ok( 确定) 关闭窗口并更改名称，或单击 Cancel( 取消) 关闭窗口而不做任何更改。
12.3.3. 创 建 新 取 向 差 轴 项 目
新取向差轴项目可通过以下方式添加至取向差轴集：
1. 选择要添加项目的取向差轴集。
要选择取向差轴，点击 Boundaries( 边界) 工作区中的相应选项卡。
2. 在 Disorientation Axes Settings( 取向差轴设置) 中，点击 Items( 项目) 右侧的 "+" 图标。
一个新项目现在将被添加到 Items( 项目) 部分中的项目列表，即
它 将 使 用 默 认 设 置 进 行 创 建。这 些 设 置 可 以 根 据 “指 定 取 向 差 轴 设 置”部 分 中 的 描 述 进 行 修
改。
3. 如果在单个取向差轴集中定义了多个项目，可以配置它们的显示顺序。
使用各项目右侧的向上和向下箭头，在列表中向上或向下移动项目。这还将影响项目在主工
作区中的显示顺序。
第 202 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
12.3.4. 指 定 取 向 差 轴 设 置
Disorientation Axes Settings( 取向差轴设置) 位于软件右侧的 Settings( 设置) 面板中：
它们可以分为两个部分：
1. 计算设置：本部分包含用于计算取向差轴项目的设置。
2. 项目设置：本部分包含取向差轴集中各取向差轴项目的设置。
计算设置
在 Calculation Settings( 计算设置) 部分，选择：
1. Show Axes in( 显示轴) ：使用下拉菜单选择是显示在 Crystal( 晶体) 还是 Sample( 样品) 坐标
系中的取向差轴数据。
2. Phase( 相) ：使用下拉菜单选择将显示取向差轴数据的相。
3. Dataset( 数据集) ：选择要用于计算取向差轴集的数据集：可用的选项包括：
• Selected dataset( 选定的数据集) ：这是默认选项。将为当前在项目树中选择的数据集计算
数据( 即整个数据集或已创建的子集) 。
• Entire dataset( 整个数据集) ：确保将为当前数据集计算数据，而不管是否在项目树中选择
了某个子集。
• A subset of the dataset( 数据集的子集) ：将为选定的子集执行计算，而不管在项目树中选择
的是什么。
4. Half Width( 半宽) (°)：半宽控制扩散( 平滑) 到球体表面上的数据( 平面法向或晶粒方向) 的数
量。
默 认 值 为 10°，适 用 于 大 多 数 情 况。然 而，如 果 数 据 点 的 数量 有 限，那 么 尝 试 使 用较 高 的 半 宽
值来对数据进行进一步地平滑可能有用。
注 意 ：比 较 多 个 数 据 集 的 取 向 差 轴 数 据 时 ，对 所 有 数 据 集 使 用 相 同 的 半 宽 值 很 重 要 。
注 意 ：为 了 提 高 密 度 计 算 的 速 度 ，Data Clustering( 数 据 聚 类) 已 设 置 为 3°。
第 203 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
5. Range Type( 范围类型) ：使用下拉菜单选择用于显示带等高线的数据的颜色 Range Type( 范
围类型) ：
• Automatic( 自动化) ：自动优化所使用的随机取向倍数 (MUD) 值的范围，以使用全颜色范
围。( 即同时使用蓝色和红色。)
• User-Defined( 用户自定义) ：手动定义要使用的 MUD 范围的上限和下限。
注 意 ：用 户 自 定 义 颜 色 范 围 对 于 比 较 来 自 多 个 数 据 集 的 取 向 差 轴 集 很 有 用 ，因 为 可 以 为 所 有
取 向 差 轴 集 定 义 相 同 的 范 围 ，实 现 直 接 比 较 。
6. Projection Type( 投影类型) ：在等面积和之间选择立体。
冶金中最常用的是立体投影，地质中最常用的是等面积投影。
7. Column Count( 列计数) ：选择要在一行中显示的项目的数量。
默认为 4。
项目设置
对于各个项目，指定：
1. 要计算数据的角度范围。上限和下限已指定。
12.3.5. 自 定 义 取 向 差 轴 显 示
取 向 差 轴 的 显 示 可 以 使 用 Disorientation Axes Display Settings( 取 向 差 轴 显 示 设 置) 进 行 自 定 义。要
访问这些设置，点击 Disorientation Axes( 取向差轴) 选项卡右上角的齿轮图标：
将会打开 Disorientation Axes Display Settings( 取向差轴显示设置) 窗口：
第 204 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
选择：
• Data presentation( 数据显示) ：选择数据的显示方式：
° Contoured( 等高线) ：选择为数据绘制等高线。
为 数 据 绘 制 等 高 线 将 显 示 极 聚 类相 对 于 随 机 分 布 的 强度，即 数 据 按 照 随 机 取 向 的 倍 数
(MUD) 显 示。它 对 于 允 许 显 示 特 殊 边 界 ( 例 如 孪 晶 界 或 重 合 晶 格 点 (CSL) 边 界) 、突 出 显 示
主 滑 移 系 ( 在 查 看 晶 体 坐 标 系 中 的 低 角 度 边 界 时) 或 显 示 相 对 于 样 本 坐 标 系 的 首 选 旋 转 很
有用。对于使用其他方法很难看出趋势的大型数据集，绘制等高线特别有用。
° Scattered( 分散) ：选择将数据显示为单独的数据点。
这对于研究单个边界的影响和查看在带等高线的数据中观察到的与高密度簇相关的散点
很有用。
° Superimposed( 叠加) ：带等高线的数据叠加在分散数据上。
移 动 滑 块 可 调 整 各 数 据 显 示 方 法 的 影 响。滑 块 一 直 滑 到 最 左 侧 时，只 显 示 带 等 高 线 的 数
据。滑块一直滑到最左侧时，只显示带等高线的数据。
这种显示方法对于利用散布数据点比较等高线的水准很有用。
• Color Scheme( 颜色方案) ：
° 使用下拉菜单选择为数据绘制等高线的着色方案。“指定反极图显示设置”和“指定极图显示
设置”部分中介绍了可用的不同着色方案。
° Inverted( 反色) ：选择以反色显示带等高线的数据。
例 如，在 使 用 灰 度 颜 色 方 案 时，对 数 据 进 行 反 色 处 理，用 深 色 来 显 示 高 密 度 区 域，而 不 是
遵循默认约定使用浅色来显示最高密度。
第 205 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
° Color Gradient( 颜色渐变) ：选择为带等高线的数据赋予平滑颜色渐变。例如：
无颜色渐变
颜色渐变
• Symbol Size( 符号尺寸) ：选择绘制分散数据时用于显示每个数据点的符号的尺寸。
调 整 符 号 的 尺 寸 对 于 优 化 数 据 的 显 示 很 有 用。例 如，在 检 查 包 含 少 量 数 据 点 的 数 据 集 时，比
如 显 示 单 个 晶 粒 中 的 离 散 度 时，使 用 较 大 的 符 号 尺 寸 可 能 更 有 利。但 是，在 检 查 包 含 大 量 数
据点的数据集时，较小的符号尺寸可能效果更好，以便能够清楚地看到所有数据点。
小
中
大
• Color Scheme( 颜色方案) ：选择用于显示分散数据的颜色方案：
° All Black( 全黑) ：所有数据点都显示为黑色。
° 当前分布图像素颜色：各数据点的颜色都与当前分布图中用于显示数据点的颜色相同。
• Overlay( 重叠) ：选择是否显示大圆：例如：
无大圆
大圆
( 立体投影)
12.3.6. 更 改 取 向 差 轴 显 示 顺 序
第 206 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
取向差轴集的显示顺序可通过以下方式更改：
1. 右键单击取向差轴集名称以打开取向差轴上下文菜单：
2. 选择向后移动选项将集往左移动一个选项卡，或向前移动选项将集往右移动一个选项卡。
12.3.7. 移 除 取 向 差 轴 集
取向差轴集中的单个项目可通过以下方式从取向差轴集中移除：
1. 选择要移除项目的取向差轴集。
2. 在取向差轴设置中，找到要移除的项目。
3. 点击项目右侧的垃圾桶图标：
取向差轴集可通过以下方式永久移除：
1. 在取向差轴集选项卡上右键单击鼠标以打开上下文菜单。
2. 选择 Remove( 移除) 选项。
12.3.8. 缩 放 和 平 移 取 向 差 轴 集
为了便于查看和查询取向差轴数据，AZtecCrystal 具有数据平移( 移动) 和缩放功能。
缩放工具
调整取向差轴集缩放级别的方法有三种：
1. 使用鼠标滚轮进行缩放。
• 从屏幕左侧的调色板工具栏中选择默认交互工具：
• 向上滚动鼠标滚轮可放大，向下滚动鼠标滚轮可缩小。
第 207 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
2. 选择一个自定义缩放级别：
• 点击取向差轴集右下角的缩放控件：
将会打开 Zoom( 缩放) 窗口：
• 选择其中一个选项或在窗口顶部的输入栏中输入一个自定义值。
3. 从取向差轴集右下侧的缩放控件中使用铺满窗口工具：
• 点击 Fit to Window( 铺满窗口) 图标，将图的全高调整为工作区的高度：
平移工具
让取向差轴集平移或移动的方法有两种：
1. 使用默认交互工具：
• 从屏幕左侧的调色板工具栏中选择默认交互工具：
• 在数据集上按下鼠标左键并移动鼠标移动数据视图。
• 松开鼠标左键可停止平移。
2. 使用滑动条：
• 在取向差轴集底部或右侧的滑动条上按下鼠标左键并移动鼠标移动数据视图。
• 松开鼠标左键可停止移动数据视图。
12.4. 导出边界数据
构建后，Boundaries( 边界) 模式内的“取向差角分布”和“取向差轴”工作区中的数据都可以导出。
导出取向差轴数据
第 208 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
要导出取向差轴数据：
1. 在取向差轴工作区中选择数据集。
2. 在工作区内右键单击鼠标。
将会打开上下文菜单：
3. 选择 Export Pole Figure Set( 导出极图集) 选项。
将会打开导出上下文菜单：
4. 从可用选项中选择：
• Save As( 另存为) ：将会打开 Save Pole Figure Set As...( 极图集另存为...) 窗口。
选择合适的文件名称和图像格式，将数据集保存为图像。
• Copy( 复制) ：将图像复制到剪贴板。
• Pole Figure Set to PowerPoint( 极图集到 PowerPoint) ：将当前 数据集以图像形式复制到
PowerPoint 中。
• All Pole Figure Sets to PowerPoint( 所有极图集到 PowerPoint) ：将所有当前数据集以图像形
式复制到 PowerPoint 中。
• Settings( 设置) ：将会打开 Export Settings for ...( 导出设置) 窗口。
从可用选项中为导出选择合适的设置。
导出取向差角分布数据
Disorientation Angle Distribution( 取向差角分布) 工作区中的图可以导出为：
• 图像。
• 数据。
第 209 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
要将图导出为图像：
1. 在图上右键单击鼠标以打开上下文菜单：
2. 选择 Export Chart( 导出图) 选项。
将会打开导出上下文菜单：
3. 从可用选项中选择：
• Save As( 另存为) ：将会打开 Save Map As...( 分布图另存为) 窗口。
选择合适的文件名称和图像格式，将图保存为图像。
• Copy( 复制) ：将图像复制到剪贴板。
• Settings( 设置) ：将会打开 Export Settings for Line Measurement Chart( 线形测量图导出设置)
窗口。
从可用选项中为导出选择合适的设置。
要将图导出为数据：
1. 在图上右键单击鼠标
将会打开图上下文菜单：
第 210 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
2. 选择 Export Chart Data( 导出图数据) 选项。
将会打开导出上下文菜单：
3. 从可用选项中选择：
• Save As( 另存为) ：将会打开 Save Map As...( 分布图另存为) 窗口。
选择合适的文件名称，将图保存为数据文件。
• Copy( 复制) ：将数据复制到剪贴板。
第 211 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
13. 子 集
子 集 是 可 引 起 特 定 兴趣 的 数 据 集 ( 项 目) 的 一 部 分。它 们 是 一 种 有 用 的 工 具，允 许 选 择、操 作 和 显
示 EBSD 数据集中的特定数据，即可以为在分布图上选择的矩形区域或在反极图上选择的角形区
域创建子集。创建后，子集会被添加到项目树，它在其中：
• 可被当作独立的数据集，可以用任意查看模式进行分析。
• 可被转换成新项目。
• 与其他子集组合( 即只显示同时位于子集 1 和子集 2 中的像素) 。
• 可被操作( 即膨胀或侵蚀) 。
13.1. 创建子集
在 AZtecCrystal 内，创建子集的方法有很多。它们包含：
• Data Range( 数据范围) ：可通过以下方式为 Pixel( 像素) 或 Grain Sizing( 晶粒大小排列) 模式中
某个图上显示的部分数据范围创建子集：
° 右键单击该图以访问上下文菜单。
° 选择 Range to subset( 范围到子集) 选项。
将会打开 Range to subset( 范围到子集) 窗口：
° 输入要添加到子集的数据范围并点击 OK( 确定) 。
现在将创建包含选定数据范围的新子集。
• Region of a Map( 分布图区域) ：可以使用分布图工作区左侧调色板工具栏中的子集工具为分
布图上定义的区域创建子集：
工具
描述
矩形子集选择：允许创建矩形子集。
工 具 处 于 活 动 状 态 时，在 EBSD 分 布 图 的 某 个 点 上 按 下 鼠 标 左 键 并 拖 动 鼠 标，形
成要成为子集的矩形区域。松开鼠标左键完成操作。
子集区域将以白色轮廓标记，即
第 212 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
工具
描述
晶粒点击子集选择：允许通过选择特定晶粒来创建子集。
工 具 处 于 活 动 状 态 时，点 击 EBSD 分 布 图 中 的 某 个 晶 粒，选 中 它 并 将 其 添 加 到 子
集。
属于子集的晶粒将以白色轮廓标记，即
多边形子集选择：允许创建多边形子集。
工 具 处 于 活 动 状 态 时，左 键 单 击 EBSD 分 布 图 中 的 第 一 个 点，形 成 多 边 形 的 一 部
分。点击分布图上更多的点，形成多边形子集区域。双击以完成定义。
子集区域将以白色轮廓标记。
注 意 ：所 定 义 的 子 集 之 外 的 数 据 将 在 Map Display Settings( 分 布 图 显 示 设 置 ) 中 显 示 为 已 被 “反 子
集 ，颜 色 转 换 设 置 ”选 中 。
• 角形区域：可以为在极图或反极图上定义的角形区域创建子集。
要定义角形子集：
° 从 Pole Figures( 极图) 工作区左侧的调色板工具栏中选择角形子集选择工具。
° 在 EBSD 极图或反极图中的点上按下鼠标左键，形成子集的中心。拖动鼠标以形成要成为
子集的角形区域。松开鼠标左键完成操作。
子 集 区 域 将 用 白 色 ( 带 等 高 线 的 数 据) 或 灰 色 ( 分 散 数 据) 轮 廓 来 标 记。子 集 之 外 的 数 据 将
被删除，即
• 取向差分布函数模式区域：
° 从 Orientation Distribution Function( 取向差分布函数) 工作区左侧的调色板工具栏中选择矩
形子集选择工具。
第 213 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
这个工具允许创建矩形子集。
° 工具处于活动状态时，在 ODF 剖面的某个点上按下鼠标左键并拖动鼠标，形成要成为子
集的矩形区域。松开鼠标左键完成操作。
子集区域将以白色轮廓在 ODF 上标记。
• 当前晶粒列表：Grain Sizing( 晶粒大小排列) 模式中的当前晶粒列表可通过以下方式添加到某
个子集：
° 右键单击晶粒大小排列结果表以访问上下文菜单。
° 选择 Convert Grain List to Subset( 将晶粒列表转换为子集) 将整个晶粒列表转换为子集或
One Pixel per Crystallite to Subset( 每个微晶一个像素到子集) 按每个晶粒一个点( 大约从晶
粒中心) 转换到子集。
注 意 ：要 创 建 一 个 仅 包 含 特 定 属 性 的 晶 粒 的 子 集 ( 即 在 特 定 范 围 内 的 区 域 ) ，过 滤 晶 粒 列 表 以 只
包 含 此 类晶 粒 。然 后 将 晶 粒 列 表 转 换 为 子 集 。有 关 更 多 信 息 ，请 参 阅 “过 滤 晶 粒 列 表 ”部 分 。
• 按相：所有已标定为特定相的数据点可通过以下方式添加到子集：
° 在 Project( 项目) 树中的 Phases( 相) 部分，选择要创建子集的相。
° 右键单击该相以访问 Phases( 相) 上下文菜单。
° 选择 Phase to Subset( 相到子集) 选项。
如果在项目树中选择了数据集级别，则将创建一个包含数据的新子集并将其添加到项目树
中。
如果在项目树中选择了某个子集，则将把数据添加到现有子集。
• n x m 网格：数据集通过以下方式分成用户自定义数量的水平和垂直子集：
° 在 Project( 项目) 详情中，右键单击数据集以打开上下文菜单。
° 选择 Create Grid of n x m Subsets...( 创建 n x m 子集网格...) 。
将会打开 Grid of Subsets( 子集网格) 窗口：
° 输入要创建的水平和垂直子集的数量。
° 单击 OK( 确定) 创建子集。
创建后，子集将作为 Dataset( 数据集) 下的子集子文件夹添加到 Project Tree( 项目树) 。
13.2. 添加数据到现有子集
可通过以下方式向现有子集添加更多数据：
1. 在 Project Tree( 项目树) 中选择子集。
2. 选择将从中选择附加数据的查看模式( 即 Map( 分布图) 或特定极图) 。
第 214 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
3. 从主工作区左侧的调色板工具栏中选择一个子集定义工具。
4. 定义附加区域。
例 如，对 于 一 个 包 含 单 个 矩 形 区 域 的 子 集 Subset 1 ( 子 集 1) ，在 数 据 树 中 选 择 子 集 并 使 用
Rectangular Subset Selection( 矩形子集选择) 工具在分布图上定义另一个区域即可添加另一个矩形
区域。子集现在将包含两个不同的矩形区域：
13.3. 使用子集
为数据集创建一个或多个子集后，可以多种方式编辑( 即可以更改其名称) 或操作它们，包括：
• Rename Subset( 重命名子集) ：赋予子集一个自定义名称。
• Remove Subset( 移除子集) ：删除子集。
• Editing the Size or Position of the Subset( 编辑子集的尺寸或位置) 。
• Invert Subset( 反转子集) ：反转子集。
• Exclude from Subset( 从子集排除) ：从子集排除选定区域内的数据。
• Overlay Order( 叠加顺序) ：改变子集相互叠加的顺序。
• Combine Subset with other Subset( 将子集与其他子集相组合) ：将两个子集组合在一起，形成一
个新的子集。
• Dilate Subset( 膨胀子集) ：使用膨胀扩大子集的尺寸。
• Erode Subset( 侵蚀子集) ：使用侵蚀缩小子集的尺寸。
• Morphological Open( 形态打开) ：减小子集的尺寸，消除不良数据点的小块。
• Morphological Close( 形态关闭) ：扩大子集的边界。
• Nullify Subset( 作废子集) ：将子集内的所有数据点设为具有零解析。
• Reassign Phase to Subset( 重新分配相至子集) ：更改分配给子集内数据点的相。
• Convert Subset to new Project( 将子集转换成新项目) ：将子集保存为新的单独项目。
• Modify Subset to Include Complete Grains( 修改子集以包含完整晶粒) ：修改子集以包含完整晶
粒，而不是部分晶粒。
提供子集编辑选项上下文菜单有两个：
1. 项目树子集上下文菜单。
2. 子集上下文菜单。
第 215 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
要访问项目树子集上下文菜单：
1. 在 Project Tree( 项目树) 中找到某个子集：
2. 右键单击子集名称或点击子集右侧的三个点：
将会打开 Project Tree( 项目树) 子集上下文菜单：
要访问子集上下文菜单：
1. 选择适当的查看模式( 即 Maps( 分布图) 查看模式) 。
2. 右键单击子集的一条边。
子集上下文菜单将会打开：
第 216 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
13.3.1. 重 命 名 子 集
在 一 个 新 子 集 被 创 建 后，该 子 集 会 被 分 配 一 个 默 认 名 称。例 如，Subset 1( 子 集 1) 。这 个 名 称 可 以
更改为一个更有意义的名称：
1. 从项目树子集上下文菜单中选择 Rename Subset...( 重命名子集...) 选项。
将会打开一个 Rename Subset( 重命名子集) 窗口：
2. 为该子集输入一个新名称，点击 OK( 确定) 提交更改并关闭窗口。
子集现将在 Project Tree( 项目树) 中以新名称显示。
13.3.2. 删 除 子 集
可以删除以下之一：
• 单个子集。
• 数据集内的所有子集。
删除单个子集
永久删除单个子集的方法有三种：
1. 从 Project( 项目) 树：
• 从项目树子集上下文菜单中选择 Delete Subset( 删除子集) 选项。
将会从 Project( 项目) 树中移除子集。
2. 从适当的查看模式：
• 选择适当的查看模式( 即 Maps( 分布图) 查看模式) 。
• 从 Project( 项目) 树中选择要编辑的子集。
• 将鼠标悬停在子集的一条边上，直到看到四向箭头。
第 217 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
• 点击子集。
子集现在将突出显示。例如：
• 按下电脑键盘上的删除键。
3. 从子集上下文菜单：
• 从子集上下文菜单中选择删除选项。
删除多个子集
如果数据集包含多个子集，可一步删除所有子集：
1. 在 Project( 项目) 树中选择数据集：
2. 右键单击数据集或点击数据集右侧的三个点以访问数据集上下文菜单。
3. 选择 Remove All Subsets...( 移除所有子集...) 选项：
与数据库关联的所有子集现在将被永久删除。
13.3.3. 更 改 子 集 的 尺 寸 或 位 置
创建后，矩形或角形子集可通过以下方式进行编辑：
• 重新定位它。
• 更改它的尺寸。
第 218 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
要编辑子集：
1. 选择适当的查看模式( 即 Maps( 分布图) 查看模式) 。
2. 从 Project( 项目) 树中选择要编辑的子集。
3. 从 Palette( 调色板) 工具栏中选择 Pan( 平移) 或子集创建工具。
4. 将鼠标悬停在子集的一条边上，直到看到四向箭头。
5. 点击子集。
子集现在将突出显示并且可以编辑。例如：
要重新定位选定子集：
1. 在子集的一条边上按下鼠标左键。
2. 拖动子集到它的新位置。
3. 松开鼠标左键停止移动子集。
4. 点击软件其他位置以取消选择子集。
要更改选定子集的尺寸：
1. 在突出显示子集的某个灰色方块上按下鼠标左键。
2. 拖动鼠标将此点移动到它的新位置。
3. 松开鼠标左键完成操作。
4. 如果需要，为其他子集选择方块重复第 1-3 步。
5. 点击软件其他位置以取消选择子集。
13.3.4. 反 转 子 集
某子集被反转后，数据会被反转，使该子集成为反子集，反之亦然。
要反转子集：
1. 从项目树子集上下文菜单中选择 Invert Subset( 反转子集) 选项。
子集现在将被反转。
13.3.5. 从 子 集 排 除
选择了“从子集排除”后，子集内的数据会从子集排除。
要从子集排除：
第 219 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
1. 从子集上下文菜单中选择 Exclude from Subset( 从子集排除) 选项。
子集内的数据现在将被排除在外。
13.3.6. 子 集 叠 加 顺 序
如 果 定 义 了 多 个 相 互 叠 加 的 子 集，则 它 们 叠 加 的 顺 序 可 能 会 影 响 其 行 为。例 如，如 果 两 个 子 集 相
互叠加，其中一个应用了 exclude from subset( 从子集排除) 条件，则它们叠加的顺序很重要：
应 用 了 exclude from subset( 从 子 集 排 除 ) 条 件 的
子集叠加在另一个
子集
应 用 了 exclude from subset( 从 子 集 排 除 ) 条 件 的
叠加在另一个子集上
子集
要更改子集的叠加顺序：
1. 右键单击要编辑的子集以打开子集上下文菜单。
2. 选择相应的选项将子集往前或往后移动。可用的选项包括：
• Bring Forward( 前移一层) ：将子集前( 上) 移一个图层。
• Bring to Front( 置于最前层) ：将子集移至最前层，使其位于其他所有图层的顶部。
• Send Backward( 后移一层) ：将子集后( 下) 移一个图层。
• Send to Back( 置于最后层) ：将子集移至最后层，使其位于其他所有图层的下面。
13.3.7. 组 合 子 集
如 果 为 一 个 数 据 集 创 建 了 两 个 或 多 个 子 集，则 可 以 将 它 们 组 合 起 来，并 为 这 些 组 合 数 据 创 建 一 个
新 子 集。对 于 查 找 那 些 具 有 特 定 纤 维 织 构 且 位 于 分 布 图 特 定 区 域 的 数 据 点 等 操 作，这 提 供 了 一 种
简单的方法。
要组合两个子集：
1. 从项目树子集上下文菜单中选择 Combine Subset with other Subset...( 将子集与其他子集相组
合...) 选项。
将会打开 Combine Subsets( 组合子集) 窗口：
第 220 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
2. 如果需要，使用下拉菜单将要使用的子集更改为 Subset 1( 子集 1) 。
3. 使用 Subset 2( 子集 2) 下拉菜单选择要组合的第二个子集。
4. 点击其中一个 Operator( 运算符) 按钮，选择这两个子集的组合方式。可用的选项包括：
• And：只有那些两个子集中都出现的数据点才会被添加到组合子集中。
定义的两个叠加子集
组合子集
• Or：在任一子集中出现的数据点都将被添加到组合子集中( 即两个子集将合并在一起) 。
定义的两个叠加子集
组合子集
• Xor：只在其中一个子集中出现的数据点将被添加到组合子集中。
定义的两个叠加子集
组合子集
注 意 ：当 前 选 中 的 运 算 符 呈 橙 色 。
第 221 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
5. 点击 Ok( 确定) 关闭 Combine Subsets( 组合子集) 窗口并创建组合子集。
新的组合子集将在 Project( 项目) 树中显示。
13.3.8. 膨 胀 子 集
子 集 创 建 后，可 以 使 用 膨 胀 子 集 选 项 进 行 扩 展 或 加 宽。对 于 研 究 两 个 子 集 之 间 的 交 叉 区 域，这 个
办法很有用。
要膨胀子集：
1. 从项目树子集上下文菜单中选择 Dilate Subset( 膨胀子集) 选项。将会打开 Morphological Filter
on Subset( 子集上的形态过滤器) 窗口：
2. 确保在 Filter( 过滤器) 下拉菜单中选择 Dilation( 膨胀) 选项。
3. 输入要执行的迭代次数。
每次迭代都将子集膨胀一个像素。
单个晶粒子集
三次膨胀迭代
13.3.9. 侵 蚀 子 集
子集创建后，可以使用侵蚀子集选项进行缩小。
要侵蚀子集：
1. 从项目树子集上下文菜单中选择 Erode Subset( 侵蚀子集) 选项。将会打开 Morphological Filter
on Subset( 子集上的形态过滤器) 窗口：
2. 确保在 Filter( 过滤器) 下拉菜单中选择 Erosion( 侵蚀) 选项。
第 222 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
3. 输入要执行的迭代次数。
每次迭代会将子集侵蚀一个像素。
单个晶粒子集
三次侵蚀迭代
13.3.10. 形 态 打 开 过 滤 器 子 集
形 态 打 开 过 滤 器 先 侵 蚀 子 集，再 膨 胀 子 集。它 可 以 产 生 类似 于 侵 蚀 的 效 果，并 有 助 于 消 除 不 良 数
据点的小块。
例如，对形状不规则的晶粒应用形态打开过滤器将产生以下效果：
由单个晶粒组成的
子集
形态打开过滤器三次
迭代后的子集
要对子集应用形态打开过滤器：
1. 从项目树子集上下文菜单中选择 Morphological Open( 形态打开) 选项。
将会打开 Morphological Filter on Subset( 子集上的形态过滤器) 窗口：
2. 确保在 Filter( 过滤器) 下拉菜单中选择 Morphological Open( 形态打开) 选项。
3. 输入要执行的迭代次数。
迭代次数越多，可以移除的小对象越多。
第 223 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
13.3.11. 形 态 关 闭 过 滤 器 子 集
形 态 关 闭 过 滤 器 先 膨 胀 子 集，再 侵 蚀 子 集。它 与 膨 胀 有 相 似 的 效 果，因 为 它 倾 向 于 扩 大 子 集 的 边
界，但通常对原始边界形状的破坏较小。它对于平滑子集的整体形状很有用。
例如，对形状不规则的晶粒应用形态关闭过滤器将产生以下效果：
由单个晶粒组成的
子集
形态关闭过滤器五次
迭代后的子集
要对子集应用形态关闭过滤器：
1. 从项目树子集上下文菜单中选择 Morphological Close( 形态关闭) 选项。
将会打开 Morphological Filter on Subset( 子集上的形态过滤器) 窗口：
2. 确保在 Filter( 过滤器) 下拉菜单中选择 Morphological Close( 形态关闭) 选项。
3. 输入要执行的迭代次数。
迭代次数越多，子集受的影响越大。
13.3.12. 作 废 子 集
作废子集会将子集内的所有数据点设为零解析。
在许多情况下，可能需要从项目中移除数据点。例如，当某些点或相的标定不可信时。
要作废子集：
1. 从项目树子集上下文菜单中选择 Nullify Subset( 作废子集) 选项。
子集内的所有数据点将被设为零解析。
13.3.13. 重 新 分 配 相 至 子 集
第 224 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
对于子集中所有已标定的点，可以使用 Reassign Phase to Subset( 重新分配相至子集) 更改相。
注 意 ：如 果 两 个 相 在 晶 体 学 上 是 相 似 的 ，则 此 操 作 很 有 用 。或 者 ，可 以 对 欧 拉 角 进 行 归 一 化 ，但 不 建
议这样做。
要重新分配相至子集：
1. 从项目树子集上下文菜单中选择 Reassign Phase to Subset( 重新分配相至子集) 选项。
将会打开 Reassign Phase to Subset( 重新分配相至子集) 窗口：
2. 使用下拉菜单选择要重新分配子集的相。
注 意 ：只 有 项 目 中 已 经 包 含 的 相 才 可 以 使 用 。
3. 选择重新分配的方式：
• Only if same Laue Group( 仅相同劳厄群) ：这是默认选项。只有当前属于与新相相同劳厄群
的相的数据点才会被重新分配。
注 意 ：如 果 选 择 了 此 选 项 ，其 他 选 项 将 不 可 用 。
• Normalize Euler Angles( 归一化欧拉角) ：如果当前相属于与新相不同的劳厄群，则应选择
此选项。
• Include Zero Solutions( 包含零解析) ：选择此选项以包含子集中的所有数据点( 而不仅仅是
标定点) 以用于重新分析。
4. 点击 Ok( 确定) 关闭 Reassign Phase to Subset( 重新分配相至子集) 窗口并对子集应用重新分
配。
13.3.14. 将 子 集 转 换 成 新 项 目
可将子集保存为新的单独项目。
要将子集转换成新项目：
1. 从项目树子集上下文菜单中选择 Convert Subset to new Project( 将子集转换成新项目) 选项。
将会打开 Save Subset as Project( 将子集保存为项目) 窗口。
2. 浏览找到合适的文件位置，并为数据集输入文件名称。
3. 点击 Save( 保存) 将子集保存为新项目并关闭窗口。
第 225 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
注 意 ：当 子 集 被 转 换 为 一 个 新 数 据 集 时 ，不 管 子 集 的 形 状 如 何 ，都 会 创 建 一 个 包 含 子 集 整 个 区 域 的
矩 形 数 据 集 。子 集 之 外 的 数 据 点 将 被 设 置 为 零 解 析 ，尽 管 可 能 会 显 示 这 些 数 据 点 的 图 案 质 量 数 据 。要
隐 藏 图 案 质 量 数 据 的 显 示 ，在 分 布 图 图 层 的 设 置 中 ，在 Phases( 相 ) 下 拉 菜 单 中 取 消 选 择 Zero Solutions
( 零解析) 选项。
13.3.15. 修 改 子 集 以 包 含 完 整 晶 粒
定义特定类型的子集时，该子集可能包含不完整的晶粒，这不利于进一步分析。例如：
• 如果在分布图上定义了一个矩形子集，那么它可能“切割”周边的一些晶粒。
• 如果子集是基于某个带斜率值范围来定义的，那么晶粒内带斜率值的变化可能意味着晶粒只
有某些部分包含在子集中。
例如，针对马氏体钢，为 0 到 150 之间的带斜率值创建一个子集：
整个数据集的带斜率分布图
带 斜 率 值 为 0 到 150 的 子 集
这些子集可以修改，以包括完整的晶粒：
1. 从项目树中选择 Grain Sizing( 晶粒大小排列) 模式和子集。
2. 在 Grain Sizing Settings( 晶粒大小排列设置) 的 Grain Detection( 晶粒检测) 部分，使用 Grain in
Subset if( 晶粒在子集中如果) 下拉菜单来定义应包含在子集中的晶粒。可用的选项包括：
• All pixels in subset( 所有像素在子集中) ：这是默认选项。只要属于晶粒的所有像素都在定义
的子集内，子集的晶粒大小排列结果中就会包含此晶粒。( 例如，如果某个晶粒与子集的
边界重叠，则它不包括在内。)
• At least 1 Pixel in Subset( 至少 1 个像素在子集中) ：只要至少 1 个像素在定义的子集内，子
集的晶粒大小排列结果中就会包含此晶粒。
• At least 50% in Subset( 至少 50% 在子集中) ：只要属于晶粒的像素中至少 50% 在定义的子
集内，子集的晶粒大小排列结果中就会包含此晶粒。
3. 根据“执行晶粒检测”部分的描述，选择合适的晶粒大小排列设置。
4. 根据“将晶粒列表转换为子集”部分的描述，将从晶粒大小排列获得的晶粒添加到子集。
第 226 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
附录
附 录 A. Oxford Instruments NanoAnalysis HDF5 文 件 规 范
本 文 档 详 细 说 明 Oxford Instruments NanoAnalysis HDF5 文 件 格 式 (.h5oina) 的 规 范。此 文 件 格 式 可
用 于 导 出 EBSD 采 集 和 EBSD/EDS 组 合 采 集。文 件 格 式 在 很 大 程 度 上 受 到 Jackson 等 人 (2014)
[doi] 开 发 的 H5EBSD 文 件 格 式 的 影 响。它 使 用 层 次 数 据 格 式 5 文 件 格 式 库，该 库 有 几 种 不 同 编 程
语言的实现。
HDF5 文件版本
AZtec 版本
1.0
AZtec 4.2
2.0
AZtec 4.3
一般说明
• 所有包含物理量的数据集都有一个属性 Unit( 单位) ，以指定值的单位。注意，这并不意味着给
定的数据集可以使用不同的单位。Unit( 单位) 属性只是一个提示，让用户知道数据集中使用
的单位。
• 所有的角度都用 Radians( 弧度) 表示。
• 欧拉角遵循 Bunge 规则 ZXZ，即 +Z +X’ +Z’’。
• 每个定义欧拉角的数据集都包含三个列，每个列对应一个欧拉角。
• 所有 H5T_STRING 类型的数据集和属性都编码为 UTF8( 参见 H5T_CSET_UTF8) 。
• 每个定义颜色的数据集都包含对应于红色、绿色和蓝色组分的三个列。
• 一个 .h5oina 文件可能不包含本规范中说明的所有数据集。不同的硬件和采集条件意味着一
些参数不可用，因此不能导出。强制性数据集如下所示。
AZtec 项 目 数 据 树
以 下 是 将 AZtec 数 据 导 出 到 .h5oina 的 方 法。AZtec 项 目 通 常 是 采 用 Specimen( 样 本) 和 Site( 位 点)
而 构 造 的。一 个 Site( 位 点) 可 能 包 含 一 个 或 多 个 采 集，如 ED 谱 图、ED 分 布 图 绘 制、EDS 分 布 图
绘制、EBSD 分布图绘制、电子图像等。如果用户决定将整个项目导出到 .h5oina，则将为每个采集
创建一个 .h5oina 文件。例如，以下项目将被导出为两个 .h5oina 文件：一个用于“分布图分析 1”、另
一 个 用 于 “分 布 图 分 析 2”。注 意，“分 布 图 分 析 1”的 EDS 和 EBSD 数 据 存 储 在 同 一 个 .h5oina 文 件
中，而“电子图像 1”和“电子图像 2”存储在“分布图分析 1”和“分布图分析 2”的 .h5oina 文件中。
第 227 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
.h5oina 文件：
• Project 1 - Specimen 1 - Site 1 - Map Analysis 1.h5oina
• Project 1 - Specimen 1 - Site 1 - Map Analysis 2.h5oina
文件布局
根级别规范
每个文件在根级别下都有以下数据集。
数据集名称
强制
性
维数
HDF5 类型
(行,
列)
备注
Manufacturer( 制造商)
H5T_
STRING
(1, 1)
即 Oxford Instruments。
Software Version( 软件
版本)
H5T_
STRING
(1, 1)
用于创建此文件的软件版本。
Format Version( 格式版
本)
是
H5T_
STRING
(1, 1)
此文件格式的版本。
Index( 指数)
是
H5T_
STRING
(层数,
1)
此文件中包含的层( 即采集) 的名称的
列表。
层组规范
各 Slice( 层) ( 即 采 集) 都 有 自 己 的 H5G_GROUP，该 组 的 Name( 名 称) 即 该 层 的 指 数。Index( 指 数)
数 据 集 中 给 出 了 所 有 层 的 名 称。目 前，.h5oina 只 支 持 每 个 文 件 一 个 采 集，因 此 文 件 只 包 含 一 个
层，标记为 1。
各 Slice( 层) 组 中 至 少 有 一 个 Technique( 技 术) 组，表 示 用 于 采 集 的 技 术。一 个 层 组 可 以 包 含 多 个
技术组。这些技术可以是( 但不限于) ：
第 228 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
强制
性
组名称
备注
EBSD
包含一个 EBSD 采集。
EDS
包含一个 EDS 采集。
Electron Image
( 电子图像)
包含一个 EDS 采集。
Data Processing
( 数据处理)
包含由数据处理软件( 如 AZtec Crystal) 创建
的结果。
技术组规范
每个技术组包含两个组，名称为 Data( 数据) 和 Header( 标题) 。
组名称
强制性
备注
Data( 数据)
是
包含所有数据列。
Header( 标题)
是
包含所有标题条目。
通用标题组规范
下列组对于 EBSD 和 EDS 技术的标头组是通用的。
组名称
强制性
Stage Position( 载物台位置)
备注
包含有关此采集的载物台位置的数据集。
下列数据集对于 EBSD 和 EDS 技术的标头组是通用的。
数据集名称
强
制
性
HDF5 类型
维
数
(行,
列)
备注
H5T_STRING
(1,
1)
采集日期/时间符合 ISO8601，yyyyMM-ddTHH:mm:ss。
H5T_STRING
(1,
1)
AZtec 项目名称。
Project Notes( 项目注释)
H5T_STRING
(1,
1)
Project File( 项目文件)
5T_STRING
(1,
1)
Specimen Label( 样本标签)
H5T_STRING
(1,
1)
Acquisition Date( 采集日期)
Project Label( 项目标签)
第 229 页，共 244 页
是
包含此采集的样本的标签。
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
数据集名称
强
制
性
HDF5 类型
维
数
备注
(行,
列)
Specimen Notes( 样品注
释)
H5T_STRING
(1,
1)
Site Label( 位点标签)
H5T_STRING
(1,
1)
Site Notes( 位点注释)
H5T_STRING
(1,
1)
H5T_STRING
(1,
1)
此采集的标签。
Analysis Unique Identifier
( 分析惟一标识符)
H5T_STRING
(1,
1)
此采集的唯一标识符。它在任何
AZtec 项目中都是唯一的。
Magnification( 放大倍率)
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(1,
1)
Beam Voltage( 束流电压)
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(1,
1)
单位为千伏特。
Working Distance( 工作距
离)
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(1,
1)
显微镜的工作距离，单位为毫米。
Tilt Angle( 倾斜角度)
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(1,
1)
样品的倾斜角度( 从载物台倾斜装置
或预倾斜支架) 。
Tilt Axis( 倾斜轴)
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(1,
1)
x 轴 为 0，y 轴为 π/2。
是
H5T_
NATIVE_
INT32
(1,
1)
分布图的宽度，单位为像素。
Y Cells( Y 晶胞)
是
H5T_
NATIVE_
INT32
(1,
1)
分布图的高度，单位为像素。
X Step( X 步)
是
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(1,
1)
沿 x 轴的步长，单位为微米。
Y Step( Y 步)
是
H5T_
NATIVE_
(1,
1)
沿 y 轴的步长，单位为微米。
Analysis Label( 分析标签)
X Cells( X 晶胞)
第 230 页，共 244 页
是
包含此采集的位点的标签。
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
强
制
性
数据集名称
HDF5 类型
维
数
备注
(行,
列)
FLOAT
H5T_
NATIVE_
HBOOL
Drift Correction( 漂移修正)
(1,
1)
此采集过程中是否使用了漂移校正。
载物台组规范
Stage Group( 载物台组) 包含以下数据集。
数据集名称
强制性
维数
HDF5 类型
备注
(行, 列)
X
是
H5T_NATIVE_FLOAT
(1, 1)
单位为毫米。
Y
是
H5T_NATIVE_FLOAT
(1, 1)
单位为毫米。
Z
H5T_NATIVE_FLOAT
(1, 1)
单位为毫米。
Tilt( 倾斜)
H5T_NATIVE_FLOAT
(1, 1)
载物台的倾斜角度，单位为弧度。
Rotation( 旋转)
H5T_NATIVE_FLOAT
(1, 1)
载物台的旋转角度，单位为弧度。
EBSD 技术
数据组规范
所 有 数 据 集 的 行 数 ( 阵 列 的 第 一 个 维 数) 等 于 采 集 的 尺 寸 ( 即 宽 度 x 高 度) 。换 言 之，它 等 于 采 集 中
的像素的总数。
EBSD 数据组包含以下数据集。
强
制
性
HDF5 类
型
是
H5T_
NATIVE_
INT32
(尺寸, 1)
相的指数，如无指数则为 0。
X
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(尺寸, 1)
X 位置，单位为微米。
Y
H5T_
(尺寸, 1)
Y 位置，单位为微米。
数据集名称
Phase( 相)
第 231 页，共 244 页
维数
(行, 列)
备注
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
数据集名称
强
制
性
HDF5 类
型
维数
备注
(行, 列)
NATIVE_
FLOAT
Bands( 带)
H5T_
NATIVE_
INT32
Error( 错误)
(尺寸, 1)
正标定的带的数量。
H5T_
NATIVE_
INT32
(尺寸, 1)
错误代码。下述代码中有些为历史代
码，不再适用。未分析=0、成功=1、无
解=2、低带对比度=3、低带斜率=4、高
MAD=5、意外错误=6、已更换=7。
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(尺寸, 3)
“晶体 (CS2)”到“样品表面 (CS1)”的取
向。有关更多信息，请参见“坐标系的定
义”。
Mean
Angular
Deviation
( 平均角度
偏差)
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(尺寸, 1)
单位为弧度。
Band
Contrast( 带
对比度)
H5T_
NATIVE_
INT32
(尺寸, 1)
Band Slope
( 带斜率)
H5T_
NATIVE_
INT32
(尺寸, 1)
Pattern
Quality( 图
案质量)
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(尺寸, 1)
Pattern
Center X( 图
案中心 X)
H5T_
NATIVE_
FLOAT
Pattern
Center Y( 图
案中心 Y)
Euler
是
(尺寸, 1)
图案中心 X 位置缩放到图像宽度。这意
味着 X 值 0.5 位于图像横轴的中间。原
点位于左下角。
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(尺寸, 1)
图案中心 Y 位置缩放到图像宽度。注
意，对于非方形图像，Y 值 0.5 不 在图像
纵轴的中心。原点位于左下角。
Detector
Distance( 检
测器距离)
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(尺寸, 1)
检测器距离缩放到图像宽度。
Beam
Position X
( 束流位置
X)
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(尺寸, 1)
束流在真实世界中的 X 位置，单位为微
米。原点在图像和一个从下到上为正的
数学 Y 轴的中心。
第 232 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
数据集名称
强
制
性
Beam
Position Y
( 束流位置
Y)
HDF5 类
型
H5T_
NATIVE_
FLOAT
维数
备注
(行, 列)
(尺寸, 1)
束流在真实世界中的 Y 位置，单位为微
米。原点在图像和一个从下到上为正的
数学 Y 轴的中心。
标题组规范
除通用标题规范之外，“EBSD 标题组”还包含以下组。
组名称
Phases( 相)
强制性
是
备注
包含各相的子组，其中每个子组的名称即相的指数，始于 1。
除通用标题规范之外，EBSD 标题组还包含以下数据集。
数据集名称
强
制
性
HDF5 类型
维
数
备注
(行,
列)
Detector Orientation
Euler( 检测器取向欧
拉)
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(1,
3)
“检测器 (CS3)”到“显微镜 (CSm)”的取向。有
关更多信息，请参见“坐标系的定义”。
Detector Insertion
Distance( 检测器插入距
离)
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(1,
1)
EBSD 检测器的插入距离，单位为毫米。
Lens Distortion( 透镜失
真)
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(1,
1)
Lens Field View( 透镜视
场视图)
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(1,
1)
单位为毫米。
Camera Binning Mode
( 相机像素合并模式)
H5T_
STRING
(1,
1)
例如，"4x4"。
Camera Exposure Time
( 相机曝光时间)
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(1,
1)
单位为毫秒。
Camera Gain( 相机增
益)
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(1,
1)
Number Frames
Averaged( 已平均帧的
H5T_
NATIVE_
(1,
1)
第 233 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
数据集名称
强
制
性
HDF5 类型
维
数
备注
(行,
列)
数量)
INT32
Pattern Width( 图案宽
度)
H5T_
NATIVE_
INT32
(1,
1)
衍射图案图像宽度，单位为像素。
Pattern Height( 图案高
度)
H5T_
NATIVE_
INT32
(1,
1)
衍射图案图像高度，单位为像素。
Static Background
Correction( 静态背景校
正)
H5T_
NATIVE_
HBOOL
(1,
1)
是否应用了静态背景校正。
Auto Background
Correction( 自动背景校
正)
H5T_
NATIVE_
HBOOL
(1,
1)
是否应用了自动背景校正。
Hough Resolution( 霍夫
分辨率)
H5T_
NATIVE_
INT32
(1,
1)
Δρ 等于 1 /( 2 * Hough 分辨率 + 1) ，Δθ 等于 π
/( 2 * Hough R分辨率 + 1) 。
Band Detection Mode( 带
检测模式)
H5T_
STRING
(1,
1)
“中心 ”或“边缘 ”。
Number Bands Detected
( 已检测带的数量)
H5T_
NATIVE_
INT32
(1,
1)
Indexing Mode( 标定模
式)
H5T_
STRING
(1,
1)
“优化 - EBSD”、“优化 - TKD”或“改进精度 ”。
Hit Rate( 命中率)
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(1,
1)
命中率，已标定像素的百分比。
Acquisition Time( 采集时
间)
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(1,
1)
单位为秒。
Acquisition Speed( 采集
速度)
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(1,
1)
单位为像素每秒。
Specimen Orientation
Euler( 样本取向欧拉)
是
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(1,
3)
“样品表面 (CS1)”到“样品主 (CS0)”的取向。
有关更多信息，请参见“坐标系的定义”。
Scanning Rotation Angle
是
H5T_
(1,
样本倾斜轴与扫描倾斜轴之间的角度，单位
第 234 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
强
制
性
数据集名称
HDF5 类型
NATIVE_
FLOAT
( 扫描旋转角度)
维
数
备注
(行,
列)
1)
为弧度。如果 NaN，角度未知。
Phase Group Specification( 相 组 规 范 )
各相组由以下数据集定义。
数据集名称
强
制
性
HDF5 类型
维
数
备注
(行,
列)
Phase Name( 相名
称)
是
H5T_STRING
(1,
1)
Reference( 参考)
是
H5T_STRING
(1,
1)
Lattice Angles( 晶格
角度)
是
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(1,
3)
三列显示 α、β 和 γ 角度，单位为弧度。
Lattice Dimensions
( 晶格尺寸)
是
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(1,
3)
三列显示 a、b 和 c 尺寸，单位为埃。
Laue Group( 劳厄群)
是
H5T_
NATIVE_
INT32
(1,
1)
劳厄群指数。属性 Symbol( 符号) 包含字符
串表示，例如 m-3m。
Space Group( 空间
组)
H5T_
NATIVE_
INT32
(1,
1)
空间组指数。属性 Symbol( 符号) 包含字符
串表示，例如 P m -3 m。
Number Reflectors
( 反射面数量)
H5T_
NATIVE_
INT32
(1,
1)
反射面数量
Color( 颜色)
H5T_
NATIVE_
UINT8
(1,
3)
三列显示 RGB 值。
Database Id( 数据库
Id)
H5T_
NATIVE_
UINT8
(1,
1)
此相所在的数据库的 Id
Phase Id( 相 Id)
H5T_
(1,
数据库中相的 Id
第 235 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
强
制
性
数据集名称
HDF5 类型
NATIVE_
UINT8
维
数
备注
(行,
列)
1)
坐标系的定义
将 某 个 坐 标 系 (CS) 旋 转 到 与 另 一 个 坐 标 系 (CS) 重 合，取 向 就 是 通 过 这 组 旋 转 来 量 化 的。根 据 应
用的不同，可能需要表示相对于特定 CS 的取向。定义了五个坐标系：
CS
名称
描述
CSm
显微镜
载物台
从载物台 (XY) 开始遵循命名规则。
CS0
样品主
对于轧制金属薄板，这就是轧制、横断、法线 (RTN) 系统。在地质学上，这可
能是在某些层状岩石中见到的叶理和线理系统。
CS1
样品表
面
我们采集 EBSD 测量的表面。
CS2
晶体
遵循规则：Z 平行于晶胞的 c 轴，X 垂直于晶胞的 b 轴和 c 轴，Y 垂直于 X 和
Z。
CS3
EBSD
探测器
EBSD 检测器对位置敏感，当我们改变检测器在 SEM 中的位置时，EBSP 也
随之改变。
绝对晶体取向是由晶体 (CS2) 到样品表面 (CS1) 的取向给出的。
EDS 技术
数据组规范
所 有 数 据 集 的 行 数 ( 阵 列 的 第 一 个 维 数) 等 于 采 集 的 尺 寸 ( 即 宽 度 x 高 度) 。换 言 之，它 等 于 采 集 中
的像素的总数。
“EDS 数据组”至少包含以下一个组，但也可能包含两个或三个组。
组名称
强
制
性
备注
Window
Integral( 窗
口积分)
包含一个用于已分析的各元素和 X 射线谱线的数据集( 例如 Al Ka1) 。每个值
( 存储为 H5T_NATIVE_FLOAT) 对应于能量窗原始 X 射线计数除以活时间的
积分。单位为计数每秒。数据集具有属性“原子序数”(H5T_NATIVE_INT32)
和 “X 射线谱线”(H5T_STRING)。
Peak Area
包含一个用于已分析的各元素和 X 射线谱线的数据集( 例如 Al K 线系) 。每
第 236 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
组名称
强
制
性
备注
( 谱峰面积)
个值( 存储为 H5T_NATIVE_FLOAT) 对应于拟合谱峰面积除以活时间。单位
为计数每秒。数据集具有属性“原子序数”(H5T_NATIVE_INT32) 和 “X 射线谱
线”(H5T_STRING)。
Composition
( 组成)
包含一个用于已分析的各元素的数据集( 例如 Al) 。每个值( 存储为 H5T_
NATIVE_FLOAT) 对应于以 wt% 表示的浓度。数据集具有属性 Atomic
Number( 原子序数) (H5T_NATIVE_INT32)。
Window Integral( 窗口积分) 和 Peak Area( 谱峰面积) 组中的每个数据集都具有以下属性。
属性名称
强
制
性
HDF5 类型
维数
(行,
列)
Atomic
Number( 原
子序数)
是
H5T_
NATIVE_
INT32
(1, 1)
已分析元素的原子序数。
X-ray Line( X
射线谱线)
是
H5T_
STRING
(1, 1)
已分析的 X 射线谱线( 例如 Ka1，K 线系) 。
Lower Value
( 下限值)
是
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(1, 1)
与此数据集关联的调色板的下限值( 单位为计数每
秒) 。
是
H5T_
NATIVE_
UINT8
(1, 3)
三列显示与下限值关联的颜色的 RGB 值。
Upper Value
( 上限值)
是
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(1, 1)
与此数据集关联的调色板的上限值( 单位为计数每
秒) 。
Upper Color
( 高色)
是
H5T_
NATIVE_
UINT8
(1, 3)
三列显示与上限值关联的颜色的 RGB 值。
Gamma
是
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(1, 1)
用于创建与此数据集相关的调色板的 γ 校正的指
数：I’ = I ^ (1 / γ)，其中 I 为强度，I’ 为校正后的强度。
Lower Color
( 低色)
备注
Composition( 组成) 组中的每个数据集都具有以下属性：
属性名称
强
制
性
HDF5 类
型
维数
(行,
列)
Atomic
Number( 原
子序数)
是
H5T_
NATIVE_
INT32
(1, 1)
第 237 页，共 244 页
备注
已分析元素的原子序数。
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
属性名称
强
制
性
HDF5 类
型
维数
(行,
列)
Lower Value
( 下限值)
是
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(1, 1)
与此数据集关联的调色板的下限值( 单位为 wt%) 。
是
H5T_
NATIVE_
UINT8
(1, 3)
三列显示与下限值关联的颜色的 RGB 值。
Upper Value
( 上限值)
是
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(1, 1)
与此数据集关联的调色板的上限值( 单位为 wt%) 。
Upper Color
( 高色)
是
H5T_
NATIVE_
UINT8
(1, 3)
三列显示与上限值关联的颜色的 RGB 值。
Gamma
是
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(1, 1)
用于创建与此数据集相关的调色板的 γ 校正的指
数：I’ = I ^ (1 / γ)，其中 I 为强度，I’ 为校正后的强度。
Lower Color
( 低色)
备注
EDS 数据组包含以下数据集。
数据集名称
强制
性
维数
HDF5 类型
备注
(行,
列)
X
H5T_NATIVE_
FLOAT
(尺寸,
1)
X 位置，单位为微米。
Y
H5T_NATIVE_
FLOAT
(尺寸,
1)
Y 位置，单位为微米。
H5T_NATIVE_
FLOAT
(尺寸,
1)
单位为秒。
H5T_NATIVE_
FLOAT
(尺寸,
1)
单位为秒。
Live Time( 活
时间)
是
Real Time( 实
时)
标题组规范
除通用标题规范之外，EDS 标题组还包含以下数据集。
数据集名称
强
制
性
Channel Width( 通道宽
是
第 238 页，共 244 页
HDF5 类型
H5T_
维
数
(行,
列)
(1,
备注
通道的宽度，单位为电子伏特。
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
数据集名称
强
制
性
HDF5 类型
维
数
备注
(行,
列)
度)
NATIVE_
FLOAT
1)
Start Channel( 启动通
道)
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(1,
1)
通道 0 的值，单位为电子伏特。
Process Time( 处理时
间)
H5T_
NATIVE_
INT32
(1,
1)
已使用的处理时间。
Number Frames( 帧数
量)
H5T_
NATIVE_
INT32
(1,
1)
采集中采集到的帧的数量。
Energy Range( 能量范
围)
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(1,
1)
使用的能量范围，单位为千电子伏特。
Number Channels( 通道
数量)
H5T_
NATIVE_
INT32
(1,
1)
通道的数量，单位为光谱。
Detector Elevation( 检测
器提升)
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(1,
1)
ED 检测器与 XY 平面的夹角，单位为弧
度。
Detector Azimuth( 检测
器方位角)
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(1,
1)
倾斜方向( 与倾斜轴成 90 度) 与检测器平
面之间的角度，单位为弧度。
Detector Serial Number
( 检测器序列号)
H5T_
STRING
(1,
1)
Detector Type Id( 探测
器类型 Id)
H5T_
NATIVE_
INT32
(1,
1)
属性 Name( 名称) 给出检测器的友好名
称。
处理器类型
H5T_
STRING
(1,
1)
脉冲处理器的名称。
Window Type( 窗口类
型)
H5T_
STRING
(1,
1)
窗口的描述。
Strobe FWHM( 选通脉
冲 FWHM)
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(1,
1)
选通脉冲的半高全宽，单位为电子伏特。
Strobe Area( 选通脉冲
H5T_
(1,
选通脉冲峰值的计数数量。
第 239 页，共 244 页
是
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
强
制
性
数据集名称
HDF5 类型
维
数
备注
(行,
列)
区间)
NATIVE_
INT32
1)
Binning( 像素合并)
H5T_
NATIVE_
INT32
(1,
1)
原始数据的像素合并因子。
电子图像技术
数据组规范
Electron Image( 电 子 图 像) 数 据 组 至 少 包 含 以 下 一 个 组，但 也 可 能 包 含 两 个 或 三 个 组。每 组 包 含 一
个 或 多 个 对 应 于 在 ED/EBSD 采 集 之 前、期 间 或 之 后 采 集 到 的 电 子 图 像 的 数 据 集。数 据 集 的 名 称
无 要 求。根 据 电 子 图 像 的 深 度，数 据 集 可 以 采 用 不 同 的 HDF5 类型：H5T_NATIVE_UINT8、H5T_
NATIVE_UINT16 等。
所 有 数 据 集 的 行 数 ( 阵 列 的 第 一 个 维 数) 等 于 图 像 的 尺 寸 ( 即 宽 度 x 高 度) 。换 言 之，它 等 于 图 像 中
的像素的总数。“数据组”中的所有图像具有相同的维数。
组名称
强制性
备注
SE
包含二次电子检测器采集的电子图像。
BSE
包含反向散射电子检测器采集的电子图像。
FSE
包含正向散射电子检测器采集的电子图像。
标题组规范
除通用标题规范之外，Electron Image( 电子图像) 标题组还包含以下数据集。
数据集名称
强制
性
HDF5 类型
维数 (行,
列)
Number Frames Averaged( 已平均
帧的数量)
H5T_NATIVE_
INT32
(1, 1)
Dwell Time( 驻留时间)
H5T_NATIVE_
FLOAT
(1, 1)
备注
驻留时间，单位为
微秒。
数据处理技术
第 240 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
该 组 包 含 由 数 据 处 理 软 件 ( 如 AZtec Crystal) 创 建 的 结 果。构 建 该 组 的 一 个 原 因 是 为 了 永 不 覆 盖
EBSD 和 EDS 技术组中的原始数据集。如果在数据处理软件中执行清理等操作，则修改后的数据
集存储在该组中。
数据组规范
所 有 数 据 集 的 行 数 ( 阵 列 的 第 一 个 维 数) 等 于 采 集 的 尺 寸 ( 即 宽 度 x 高 度) 。换 言 之，它 等 于 采 集 中
的像素的总数。
Data Processing( 数据处理) 数据组包含以下数据集，其为“EBSD 数据组”中的数据集的子集。
数据集名称
Phase( 相)
Euler
Mean Angular
Deviation( 平均角度
偏差)
强
制
性
HDF5 类型
维数
(行,
列)
是
H5T_
NATIVE_
INT32
(尺寸,
1)
相的指数，如无指数则为 0。
是
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(尺寸,
3)
“晶体 (CS2)”到“样品表面 (CS1)”的取向。有
关更多信息，请参见“坐标系的定义”。
H5T_
NATIVE_
FLOAT
(尺寸,
1)
单位为弧度。
备注
标题组规范
Data Processing( 数据处理) 标题组包含以下数据集。
数据集名称
强制性
Specimen Symmetry( 样本对称性)
HDF5 类型
维数 (行, 列)
H5T_STRING (1, 1)
备注
三斜、单斜或立方。
“数据处理标题组”只包含以下组。
组名称
Phases( 相)
强制性
是
备注
包含各相的子组，其中每个子组的名称即相的指数，始于 1。
分析组规范
Analyses( 分 析) 组 包 含 经 EBSD、EDS 或 Electron Image( 电 子 图 像) 数 据 后 处 理 得 到 的 分 析 结 果。
每 个 子 组 对 应 于 使 用 某 些 参 数 执 行 的 一 种 分 析 类型 。如 果 使 用 不 同 的 参 数 ( 例 如，不 同 检 测 角 度
的 晶 粒 识 别) 进 行 相 同 类型 的 分 析 ，则 结 果 存 储 在 不 同 的 子 组 中 ( 例 如，“晶 粒 检 测 1”、“晶 粒 检 测
2”) 。
与 EBSD、EDS 和 电 子 图 像 技 术 一 样，每 个 分 析 都 包 含 一 个 标 题 和 数 据 组。标 题 组 包 含 带 有 用 于
分析的参数的数据集，而数据组包含带有计算值的数据集。标题组始终包含以下强制性数据集：
第 241 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
数据集名称
强制
性
HDF5 类型
维数 (行,
列)
备注
Analysis Type( 分
析类型)
是
H5T_STRING
(1, 1)
分析类型，当前：晶粒检测、核平均取
向差、反极图。
X Cells( X 晶胞)
是
H5T_NATIVE_
INT32
(1, 1)
分布图的宽度，单位为像素。
Y Cells( Y 晶胞)
是
H5T_NATIVE_
INT32
(1, 1)
分布图的高度，单位为像素。
X Step( X 步)
是
H5T_NATIVE_
FLOAT
(1, 1)
沿 x 轴的步长，单位为微米。
Y Step( Y 步)
是
H5T_NATIVE_
FLOAT
(1, 1)
沿 y 轴的步长，单位为微米。
下面是一些分析类型及其参数的示例。
晶粒检测
除常用的标题数据集之外，Grain Detection( 晶粒检测) 标题组还包含以下数据集。
强制
性
数据集名称
HDF5 类型
维数
(行, 列)
Minimum Angle( 最小角度)
是
H5T_NATIVE_
FLOAT
(1, 1)
Close Boundaries( 关闭边
界)
是
H5T_NATIVE_
HBOOL
(1, 1)
Close Boundaries Angle( 关
闭边界角度)
是
H5T_NATIVE_
FLOAT
(1, 1)
备注
定义边界的临界取向差角，
单位为弧度。
“晶粒检测标题组”还包含以下组。
组名称
Special Boundaries( 特
殊边界)
强制
性
备注
包含各特殊边界定义的子组，其中每个子组的名称即特殊边
界的指数，始于 1。
是
每个 Special Boundary( 特殊边界) 组包含以下数据集。
数据集名称
强制
性
HDF5 类型
维数
(行, 列)
备注
Phase( 相)
是
H5T_NATIVE_
UINT8
(1, 1)
关联相的指数。
Axis( 轴)
是
H5T_NATIVE_
FLOAT
(1, 3)
轴/角表示的轴。
第 242 页，共 244 页
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
强制
性
数据集名称
维数
(行, 列)
HDF5 类型
备注
Angle( 角度)
是
H5T_NATIVE_
FLOAT
(1, 1)
轴/角表示的角度，单位为弧
度。
Maximum Deviation Angle( 最
大偏差角)
是
H5T_NATIVE_
FLOAT
(1, 1)
与特殊边界的最大偏差角，
单位为弧度。
Color( 颜色)
H5T_NATIVE_
UINT8
(1, 3)
三列显示用于绘制特殊边界
的 RGB 值。
Line Thickness( 线粗细)
H5T_NATIVE_
INT32
(1, 1)
绘制特殊边界的线粗细。
Grain Detection( 晶 粒 检 测) 数 据 组 包 含 以 下 数 据 集。仅 当 定 义 了 特 殊 边 界 时 才 包 含 Crystallite Index
( 微晶指数) 数据集。在 Grain Index( 晶粒指数) 和 Crystallite Index( 微晶指数) 数据集中，每个晶粒都
被分配一个唯一的指数。
强制
性
数据集名称
Grain Index( 晶粒指
数)
是
Crystallite Index( 微晶
指数)
HDF5 类型
维数 (行,
列)
备注
H5T_NATIVE_
INT32
(尺寸, 1)
包含特殊边界( 如果有) 的各晶粒
的指数。
H5T_NATIVE_
INT32
(尺寸, 1)
无特殊边界的各晶粒的指数。
核平均取向差
除 常 用 的 标 题 数 据 集 之 外，Kernel Average Misorientation( 核 平 均 取 向 差) 标 题 组 还 包 含 以 下 数 据
集。
强制
性
数据集名称
HDF5 类型
维数 (行,
列)
备注
Kernel Size( 核尺寸)
是
H5T_STRING
(1, 1)
核维数( 例如 "3x3")
Kernel Shape( 核形
状)
是
H5T_STRING
(1, 1)
“圆形”或“方形”。
Maximum Angle( 最
大角度)
是
H5T_NATIVE_
FLOAT
(1, 1)
忽略取向差的临界取向差角，单
位为弧度。
Only Periphery( 仅边
缘)
是
H5T_NATIVE_
HBOOL
(1, 1)
取向差计算是否只包含核边缘的
像素。
Kernel Average Misorientation( 核平均取向差) 数据组包含以下数据集。
数据集名称
Misorientation
第 243 页，共 244 页
强
制
性
HDF5 类型
是
H5T_
维数
(行,
列)
(尺寸,
备注
取向差角，单位为弧度。
产品编号 51-1720-439
AZtecCrystal 用 户 指 南
强
制
性
数据集名称
Angle( 取向差
角)
HDF5 类型
NATIVE_
FLOAT
维数
(行,
列)
备注
1)
反极图
除常用的标题数据集之外，Inverse Pole Figure( 反极图) 标题组还包含以下数据集。
数据集名称
强制性
HDF5 类型
维数 (行, 列)
备注
Sample Direction( 样品方向)
是
H5T_STRING
(1, 1)
X、Y 或 Z。
Phase( 相)
是
H5T_NATIVE_UINT8
(相数, 1)
相的指数。
Inverse Pole Figure( 反极图) 数据组包含以下数据集。
数据集名称
强制性
Color( 颜色)
是
第 244 页，共 244 页
HDF5 类型
H5T_NATIVE_UINT8
维数 (行, 列)
(1, 3)
备注
三列显示 RGB 值。
产品编号 51-1720-439