ARTÍCULO 4
A02
63
T-410
Alcance. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
T-420
General. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
63
T-421
Requerimientos básicos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
63
T-422
Requisitos procedimiento escrito. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
63
Equipo. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
64
T-430
T-431
Requisitos instrumento. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
64
T-432
Unidades de búsqueda. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
64
T-433
Acoplante. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
64
T-434
Los bloques de calibración. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
64
T-440
T-441
T-460
Requisitos diversos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
68
Identificación de áreas de fiscalización de soldadura. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
68
La calibración. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
68
T-461
Comprobaciones de linealidad del instrumento. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
68
T-462
Requisitos Generales de calibración. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
69
T-463
Calibración para No-Piping. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
70
T-464
La calibración de la tubería. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
72
T-465
Calibración: Revestimiento. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
72
T-466
La confirmación de calibración. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
72
Examen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
73
T-470
T-471
Requisitos de Examen general. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
73
T-472
Técnica de soldadura conjunta distancia-amplitud. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
73
T-473
Las técnicas de revestimiento. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
74
T-474
No Distancia Técnicas de amplitud. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
74
Evaluación. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
74
T-481
General. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
74
T-482
Nivel de evaluación. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
74
T-483
Evaluación de reflectores laminar Re. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
75
T-484
Las evaluaciones alternativas. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
75
Documentación. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
75
T-491
Indicaciones de grabación. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
75
T-492
Registros de exámenes. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
75
T-493
Informe. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
75
T-480
T-490
Apéndices obligatorios
Apéndice I
La linealidad de la pantalla Altura. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
76
I-410
Alcance. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
76
I-440
Requisitos diversos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
76
Apéndice II
Amplitud de linealidad de control. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
76
II-410
Alcance. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
76
II-440
Requisitos diversos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
76
T-434.1.7.2
Límites de relación para superficies curvas. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
66
T-434.2.1
Las tuberías no-Bloques de calibración. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
67
Figuras
60
T-434.3
Bloque de calibración para pipa. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
68
T-434.4.1
Bloque de calibración para Técnica Uno. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
69
T-434.4.2.1
Bloque de calibración alternativo para Técnica Uno. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
70
T-434.4.2.2
Bloque de calibración alternativo para Técnica Uno. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
71
T-434.4.3
Bloque de calibración alternativo para Técnica Dos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
71
I-440
Linealidad. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
76
Requisitos de un procedimiento de examen ultrasónico. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
64
Mesa
T-422
Apéndices no obligatorios
Apéndice A
Disposición de los puntos de referencia del vaso. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
77
A-410
Alcance. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
77
A-440
Requisitos diversos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
77
A-441
Circunferenciales (Circunferencia) soldaduras. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
77
A-442
Las soldaduras longitudinales. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
77
77
A-443
-Boquilla a un recipiente de soldaduras. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
apéndice B
Técnicas generales de ángulo del haz calibraciones. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
77
B-410
Alcance. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
77
B-460
La calibración. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
78
B-461
Interior t / 4 Volumen. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
78
B-462
Gama de la distancia de calibración (Ver Fig. B-462). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
78
B-463
Distancia-Amplitud de corrección (Primaria Nivel de Referencia) (Ver Fig. B-463). . . . . . .
78
B-464
Calibración de la posición (Ver Fig. B-464). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
79
B-465
Corrección de calibración para reflectores planar Re perpendicular al Examen
De superficie en o cerca de la superficie opuesta (ver Fig. B-465). . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
B-466
Beam Spread (Ver Fig. B-466). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
80
80
Apéndice C
Técnicas generales para calibraciones de haces recta. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
81
C-410
Alcance. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
81
C-460
La calibración. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
81
C-461
Gama de la distancia de calibración (Ver Fig. C-461). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
81
C-462
Distancia-Amplitud de corrección (Ver Fig. C-462). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
82
Apéndice D
Ejemplo de registro de datos para un reflector Re fl planar. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
82
D-10
Alcance. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
82
82
D-90
Documentación. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Apéndice E
Técnicas de imagen computarizada. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
84
E-410
Alcance. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
84
E-420
General. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
84
E-460
La calibración. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
84
E-470
Examen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
85
E-471
Apertura Sintética de enfoque ultrasónico Técnica de Pruebas (SAFT-UT). . . . . . . .
85
E-472
Line-Synthetic Aperture Centrándose Technique (L-SAFT). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
87
E-473
Técnica de banda ancha holografía. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
87
E-474
UT-red en fase técnica. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
89
E-475
UT-Amplitud de Tiempo de Vuelo Locus-curva de análisis Técnica. . . . . . . . . . . . . . . . . .
89
E-476
Automatizado de adquisición de datos y Técnica de escaneo. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
89
Apéndice F
El examen de la boquilla. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
90
F-410
Alcance. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
90
F-420
General. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
90
F-421
Requisitos de personal. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
90
F-422
Requisitos procedimiento escrito. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
90
F-423
Procedimiento Quali fi cación. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
91
61
Procedimiento Requali fi cación. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
91
Equipo. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
91
F-431
Requisitos instrumento. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
91
F-432
Quali fi cación Specimen. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
91
La calibración. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
92
92
F-424
F-430
F-460
F-461
Los controles de calibración. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Apéndice G
Alterna fi guración de calibración bloque CON. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
92
G-410
Alcance. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
92
G-460
La calibración. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
92
G-461
Determinación de la corrección de la ganancia. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
92
Apéndice H
Ángulo del haz de grabación de datos para examen reflectores planar Re. . . . . . . . . . . . . . . . . .
95
H-410
Alcance. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
95
95
H-490
Registros / Documentación. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Apéndice I
El examen de soldaduras utilizando unidades de ángulo del haz de búsqueda. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
95
I-410
Alcance. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
95
I-470
Examen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
95
I-471
Requisitos generales de exploración. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
95
I-472
Excepciones a los requisitos generales de exploración. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
96
I-473
Cobertura examen. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
96
Apéndice J
Bloque de calibración básica alternativa. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
96
J-410
Alcance. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
96
J-430
Equipo. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
96
J-431
Bloque de calibración básica. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
96
J-432
La calibración básica material del bloque. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
96
96
J-433
reflectores de calibración re. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Apéndice K
Grabación de marco recto Examen de datos para reflectores planar Re. . . . . . . . . . . . . . . .
99
K-410
Alcance. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
99
K-470
Examen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
99
Solapamiento. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
99
K-490
Registros / Documentación. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
99
Apéndice L
Demostración ToFD Dimensionamiento / sonda dual - Técnica de imágenes de PC. . . . . . . .
99
L-410
Alcance. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
99
L-420
General. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
99
L-430
Equipo. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
99
L-431
Sistema. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
99
L-432
Bloque de demostración. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
99
La calibración. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
99
L-461
Sistema. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
99
L-462
Verificaciones del sistema. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
99
L-470
Examen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
99.1
L-480
Evaluación. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
99.1
L-481
Determinación dimensionamiento. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
99.1
La L-482
Determinaciones dimensionamiento de precisión. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
99.1
L-483
Clasi fi cación / sistema del apresto. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
99.1
Documentación. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
99.2
Informe de demostración. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
99.2
78
K-471
L-460
L-490
L-491
Figuras
A03
B-462
Rango barrer. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
B-463
La sensibilidad y la corrección de distancia-amplitud. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
79
B-464
Profundidad posición y trayectoria del haz. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
80
B-465
Re fl exiones plana. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
80
B-466
Extensión de la viga. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
81
62
81
C-461
Rango barrer. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
C-462
La sensibilidad y la corrección de distancia-amplitud. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
82
D-10
Re fl ector de lectura. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
83
E-460,1
Resolución lateral y de profundidad Discriminación bloque de 45 grados y 60 grados
E-460.2
Lateral y de profundidad Resolución Bloque de 0 Aplicaciones deg. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
88
G-461 (a)
radio crítico R do para el transductor / acoplador combinaciones. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
93
G-461 (b)
Corrección de Factor (Ganancia) para parámetros de examen ultrasónico Varios. . . . . . . . . .
94
J-431
Bloque de calibración básica. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
97
L-432
Ejemplo de un bloque de demostración plana con tres muescas. . . . . . . . . . . . . .
99.1
Factor transductor F 1 para Varios transductor ultrasónico Diámetros y frecuencias. . . .
92
Aplicaciones. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
86
Mesa
G-461
62.1
A03
ARTÍCULO 4
ULTRASONIDOS EXAMEN
MÉTODOS PARA SOLDADURAS
T-410
en el depósito de soldadura y de elementos transductores de ondas longitudinales
ALCANCE
simples o dobles.
En este artículo se proporciona o requisitos de referencias para los
exámenes de soldadura, que se van a utilizar en la selección y el desarrollo de
T-421.2 técnicas de imagen computarizada. El mayor atributo de
los procedimientos de examen por ultrasonidos cuando el examen de cualquier
técnicas de imagen computarizada (CIT) es su eficacia cuando se utiliza para
parte de este artículo es un requisito de una sección de código referencia. Estos
caracterizar y evaluar indicaciones; sin embargo, las TIC también se pueden
procedimientos se van a utilizar para el examen ultrasónico de soldaduras y el
utilizar para llevar a cabo las funciones básicas de exploración necesarios
dimensionamiento de indicaciones para la comparación con los estándares de
para la detección fl aw. técnicas de análisis y visualización de datos del
aceptación cuando así lo requiera el área de instrucciones referencia; el área de
ordenador-procesado se utilizan conjuntamente con los mecanismos de
instrucciones referencia será consultado para los requisitos especí fi cos para lo
exploración automática o semi-automática para producir dos y las imágenes
siguiente:
tridimensionales de fl AWS, que proporciona una capacidad mejorada para el
examen de los componentes y las estructuras críticas. procesos informáticos
(un) de personal cuali / requisitos certi fi cación fi cación
pueden utilizarse para evaluar cuantitativamente el tipo, tamaño, forma,
(segundo) requisitos del procedimiento / demostración, cali fi cación,
ubicación y orientación de AWS FL detectados por exploración ultrasónica u
otros métodos de ECM. Descripciones para algunos las TIC que pueden ser
aceptación
utilizados se proporcionan en el Apéndice E. no mandatorio
(do) características del sistema de examen
(re) la retención y el control de los bloques de calibración
(mi) extensión de la exploración y / o el volumen que va a escanear
(F) normas de aceptación
(gramo) retención de los registros
T-422
(H) requisitos de informe
Requisitos procedimiento escrito T-422,1
requisitos. examen ultrasónico se realizará de acuerdo con un
Definiciones de los términos utilizados en el presente artículo están contenidas en
procedimiento en la que constarán, como mínimo, contener los
Mandatory Apéndice III del artículo 5.
requisitos enumerados en la Tabla T-422. La fase escrita establecer
un solo valor, o rango de valores, para cada requisito.
T-420
GENERAL
T-421
Requerimientos básicos
T-422.2 Procedimiento Quali fi cación. Cuando procedimiento cuali fi
Los requisitos del presente artículo podrán utilizarse en conjunto con el
catión es especi fi, un cambio de un requisito en la Tabla T-422 identi fi ed
artículo 1, Requisitos Generales.
como una variable esencial a partir del valor fi cado, o intervalo de valores,
se requerirá requali fi cación del procedimiento escrito. Un cambio de un
T-421,1 Depósitos austenítico de tipo de soldadura. exámenes ultrasónicos
de depósitos de soldadura de tipo austenítico son generalmente más difícil que los
requisito de fi identificado como variables no esenciales a partir del valor fi
exámenes de soldadura de tipo ferrítico, a causa de las amplias variaciones que
cado, o intervalo de valores, no requiere requali fi cación del procedimiento
ocurren generalmente en las propiedades acústicas del depósito de soldadura. Por
escrito. Todos los cambios de las variables esenciales o no esenciales
lo general, es necesario modificar y / o complementar las disposiciones del
desde el valor, o intervalo de valores, especi fi cada por el procedimiento
presente artículo de conformidad con T-150 (a) al examinar dichas soldaduras. Los
escrito requerirá revisión de, o una adición a, el procedimiento escrito.
elementos adicionales, que pueden ser necesarias, son maquetas de soldadura
con referencia re reflectores
63
2001 SECCIÓN V
T-430
T-434.1.2
Tabla T-422
Requisitos de un ULTRASONIDOS PROCEDIMIENTO DE INVESTIGACIÓN
Esencial
Requisito
Variable
No esencial
Variable
Weld Configuraciones para efectuar el examen, incluyendo espesor
X
dimensiones y forma de la base material del producto (tubo, placa, etc.)
requisitos de cualificación del personal
X
requisitos de desempeño del personal, cuando sea necesario
X
Las superficies de las cuales se realizará el examen
X
X
Estado de la superficie (superficie de examen, el bloque de calibración)
X
Acoplante: nombre de marca o tipo
Technique (s) (viga recta, haz angular, contacto, y / o inmersión)
X
Ángulo (s) y el modo (s) de propagación de la onda en el material de
X
tipo (s) unidad de búsqueda, la frecuencia (es), y el tamaño (s) elemento / forma (s)
X
búsqueda Especial unidades, cuñas, zapatos, o sillas de montar, cuando se utilizan
X
instrumento (s) ultrasónico
X
Calibración [bloque de calibración (s) y la técnica (s)]
X
Direcciones y extensión de la digitalización
X
alarma automática y / o equipos de grabación, en su caso
X
Scanning (vs. Manual Automático)
X
Método para discriminar geométrica de indicaciones de defectos
X
Método para indicaciones de tamaño
X
Ordenador de adquisición de datos mejorada, cuando se usa
X
Records, incluyendo datos de calibración mínimos para ser registrados (por ejemplo, instrumento
ajustes)
X
X
solapamiento de exploración (disminuir solamente)
T-430
EQUIPO
T-431
REQUISITOS DEL iNSTRUMENTO
entre el haz caminos serán tales que el punto focal efectiva de la
unidad de búsqueda se centra en el área de interés.
A-eco de tipo pulso del instrumento ultrasónico se utilizará. El
instrumento es capaz de operar a frecuencias en el rango de al menos
T-433
1 MHz a 5 MHz y deberá estar equipado con un control de ganancia
Acoplante T-433.1 General. El medio de acoplamiento, incluidos
los aditivos, no deberá ser perjudicial para el material que está siendo examinado.
escalonada en unidades de 2,0 dB o menos. Si el equipo dispone de
un control de la amortiguación, que puede ser utilizado si no reduce la
sensibilidad de la exploración. El control de rechazar deberá estar en la
T-433.2 Control de Contaminantes
posición “off” para todos los exámenes, a menos que se pueda
(un) Acopladores utilizados en aleaciones a base de níquel no deberán
demostrar que no afecta a la linealidad del examen.
contener más de 250 ppm de azufre.
(segundo) Acopladores utilizados en el acero inoxidable austenítico o de titanio
no deberán contener más de 250 ppm de haluros (cloruros, además de fluoruros).
T-432
Buscar Unidades T-432.1 General. La frecuencia nominal
será de 1 MHz a 5 MHz a menos variables, como la estructura de grano
T-434
material de producción, requieren el uso de otras frecuencias para asegurar
Los bloques de calibración
T-434,1 general
una penetración adecuada o mejor resolución. unidades de la búsqueda con
cuñas de contacto contorneadas pueden ser utilizados para ayudar
reflectores T-434.1.1 re. Conocido re reflectores (es decir, el lado perforado
acoplamiento ultrasónico.
agujeros, FL en los agujeros inferiores, muescas, etc.) se utilizará para establecer
respuestas referencia primarios de los equipos.
T-432,2 Unidades Revestimiento-búsqueda para Técnica Uno. 1 se
utilizan dos unidades de búsqueda elemento utilizando una técnica
Material de T-434.1.2. El material del que se fabrica el bloque debe
pitchcatch en ángulo. El ángulo incluido
ser de la misma forma del producto, y el material de especificación o
equivalente P-Número de agrupación como uno de los materiales que están
1 Véase
el punto T-473 para las técnicas de revestimiento.
siendo examinados. por
64
ARTÍCULO 4 - ULTRASONIDOS métodos de examen para soldaduras de
T-434.1.2
los efectos de la presente paragrpah, P-núms. 1, 3, 4, y 5 materiales se
T-434.4.2
bloques como se muestra en la Fig. T-434.1.7.2 para cualquier intervalo de espesor.
consideran equivalentes.
Calidad T-434.1.3. Antes de la fabricación, el material del bloque será
Alternativa T-434.1.7.3 para la superficie convexa.
examinado por completo con una unidad de búsqueda viga recta. Las áreas
Como alternativa a los requisitos de la T-434.1.7.1 cuando se examina
que contienen una indicación superior a los restantes reflexión posterior de la
desde la superficie convexa por la técnica de contacto viga recta,
pared serán excluidos de las trayectorias de los rayos necesarios para llegar a
Apéndice G puede ser utilizado.
los distintos calibración re fl ectores.
T-434.1.4 Revestimiento. Cuando está revestido el material
componente, el bloque será revestido por el mismo procedimiento de soldadura
como la parte de producción. Es deseable tener materiales de los componentes
que han sido revestidos antes de los abandonos o prolongaciones se eliminan.
T-434.2 no-Piping bloques de calibración
T-434.2.1 bloque de calibración básico. El bloque de calibración con fi
guración básica y re reflectores serán los que se muestran en la Fig. T-434.2.1. El
tamaño del bloque y ubicaciones reflector deberán ser adecuadas para realizar
calibraciones para las ángulos de haz utilizados.
Cuando el revestimiento se deposita mediante un proceso de soldadura
T-434.2.2 Bloque de espesor. Cuando dos o más bases
automática, y, si es debido al tamaño del bloque, el proceso de soldadura
automática es poco práctico, deposición de clad puede ser por el método
espesores de material están involucrados, el espesor del bloque de
manual.
calibración se determinará por el espesor medio de la soldadura.
T-434.2.3 Bloque rango de uso. Cuando el espesor de bloques ± 1 pulg.
Tratamiento térmico T-434.1.5. El bloque de calibración debe recibir
al menos el mínimo de tratamiento de templado requerida por el material de
(25 mm) se extiende por dos rangos de espesor de la soldadura como se muestra
especificación para el tipo y grado. Si el bloque de calibración contiene
en la Fig. T-434.2.1, el uso del bloque debe ser aceptable en aquellas porciones
soldaduras distintos de revestimiento, y la soldadura de componentes en el
de cada intervalo de espesor cubierto por 1 pulg. (25 mm) .
momento del examen ha sido tratado con calor, el bloque debe recibir el
mismo tratamiento térmico.
T-434.2.4 alternativo del bloque. Alternativamente,
el
bloque puede ser construido como se muestra no mandatorio Apéndice J,
T-434.1.6 acabado superficial. El acabado fi en las superficies
escaneo del bloque será Representante legal del acabados de superficie de
barrido sobre el componente a ser examinado.
Fig. J-431.
T-434.3 de tuberías de calibración bloques. El bloque de calibración con
fi guración básica y re reflectores serán los que se muestran en la Fig.
T-434.3. El bloque de calibración de base será una sección de tubería del
T-434.1.7 Bloque curvatura (A excepción de la tubería)
Materiales T-434.1.7.1 con diámetros mayores de 20 pulg. (508
mismo tamaño nominal y horario. El tamaño del bloque y ubicaciones reflector
deberán ser adecuadas para realizar la calibración de los ángulos de haz
utilizados.
mm). Para exámenes en materiales en los que el diámetro de la superficie
examen es mayor que 20 pulg. (508 mm), un bloque de esencialmente la
misma curvatura, o alternativamente, un FL en bloque de calibración básica,
T-434.4 Revestimiento de bloques de calibración 2
Bloque de calibración T-434.4.1 para la técnica de una sola.
puede ser utilizado.
El bloque de calibración con fi guración básica y re reflectores serán los que se
muestran en la Fig. T-434.4.1. Cualquiera de un agujero sidedrilled o una fl en el
Materiales T-434.1.7.2 con diámetros 20 pulg. (508 mm) y
agujero de la parte inferior pueden ser utilizados. El espesor de la soldadura
menos. Para exámenes en materiales en los que el diámetro de la
overaly deberá ser al menos tan gruesa como la que se examinará. El espesor
superficie examen es igual o inferior a 20 pulg. (508 mm), se utilizará un
del material de base será de al menos dos veces el espesor del revestimiento.
bloque curvo. Excepto donde se indique lo contrario en el presente
artículo, un solo bloque de calibración básica curvada puede ser
utilizado para exámenes en el rango de curvatura de 0,9 a 1,5 veces el
diámetro básico bloque de calibración. Por ejemplo, un 8 en el bloque
diámetro (203 mm) se puede usar para calibrar los exámenes en las
superficies en el intervalo de curvatura de 7,2 pulg. A 12 pulg. (183 mm
a 305 mm) de diámetro. El rango de curvatura de 0,94 pulg. A 20 pulg.
T-434.4.2 alternos bloques de calibración para Técnica Uno. Alternativamente,
los bloques de calibración como se muestra en la Fig. T-434.4.2.1 o T-434.4.2.2
pueden ser utilizados. El espesor de la superposición de soldadura debe ser al
menos tan gruesa como la que se examinará. El espesor de la base de
(25 mm a 508 mm) de diámetro requiere 6 curvada
2 Véase
sesenta y cinco
el punto T-465, Calibración: Revestimiento.
Fig. T-434.1.7.2
2001 SECCIÓN V
0,93 (24)
1,56 (40)
2,69 (68)
4,32 (110)
7,2 (183)
20 (508)
12 (305)
ió
n
bl
oq
ue
ar
20 (508)
9
Lí
m
ite
13,33 (339)
0.
BA
SI
C
Diámetro, mm (pulg.)
La calibración básica del bloque Examen de superficie
ca
lib
r
ac
15 (381)
1.5
Lím
ite
10 (254)
(203)
5 (127)
4,8 (122) 8
2,88 (74)
1,73 (44)
1,04 (26)
0
0
5 (127)
10 (254)
Examen diámetro de la superficie, en. (Mm)
HIGO. Límites de la relación T-434.1.7.2 para superficies curvadas,
66
15 (381)
20 (508)
ARTÍCULO 4 - ULTRASONIDOS métodos de examen para soldaduras de
Fig. T-434.2.1
3T
1/2 T
re
1/4 T
1/2 T
6 pulg. (152 mm)
3/4 T
1/2 T
T
1/2 T
1/2 T
1/2 T
re
dimensión mínima
= D 1/2 pulg. (13 mm)
Revestimiento de si (presente)
Bloque de calibración
Weld Espesor ( t)
in. (mm)
Hasta 1 (25)
Diámetro
(Mm)
3
Notch Dimensiones
Agujero
Espesor ( T) en.
in. (mm)
in. (mm)
/ 4 ( 19) o t
3
/ 32 ( 2.4)
Más de 1 (25) a través de 2 (51)
1 1 / 2 ( 38) o t
1
/ 8 ( 3.2)
Más de 2 (51) a través de 4 (102)
3 (76) o t
3
/ dieciséis ( 4.8)
Más de 4 (102)
t ± 1 (25)
**
Profundidad Notch pag 2% T
muesca Ancho pag 1 / 4 ( 6.4) máx. Longitud
muesca pag 1 (25) min.
** Para cada aumento de espesor de la soldadura de 2 pulg. (51 mm), o fracción de más de 4 pulg. (102 mm), el diámetro del agujero aumentará 1 / dieciséis
in. (1,6 mm).
NOTAS GENERALES:
(A) Los agujeros se perforan y escariado 1,5 pulg. (38 mm) mínimo de profundidad, esencialmente paralelas a la superficie de examen. (B) Para superficies curvas, se utilizan dos conjuntos de
calibración re reflectores (orificios, muescas) orientadas 90 ° entre sí. Alternativamente,
dos bloques de calibración curvas pueden ser utilizados. (C) La tolerancia para el diámetro del agujero será de ± 1 / 32 in. (0,8 mm). La tolerancia para la ubicación del orificio a través del espesor del
bloque de calibración
(Es decir, la distancia desde la superficie de examen) será de ± 1 / 8 in. (3,2 mm).
(D) Todos los tres orificios pueden estar situados en la misma cara (lado) del bloque de calibración proporcionado se tiene cuidado para localizar los orificios de lejos
suficientemente separados para evitar un agujero de enmascarar la indicación de otro agujero durante la calibración. (E) profundidad de la muesca mínima será de 1,6% T y la máxima
profundidad de la muesca será 2,2% T más el espesor de revestimiento, si está presente.
HIGO. T-434.2.1 NO-Piping BLOQUES DE CALIBRACIÓN
67
2001 SECCIÓN V
T-434.4.2
T-461.1
L
espesor de pared
nominal ( T)
Longitud de arco
*
Las muescas deben ubicarse a no menos de T o 1 pulg. (mm 25), el que sea mayor, a cualquier borde de bloque o a otras muescas. NOTAS GENERALES:
(A) La longitud de bloque de calibración mínimo ( L) será el 8 pulg. (203 mm) o 8 T, lo que sea mayor.
(B) Para OD 4 pulg. (102 mm) o menos, la longitud mínima de arco será de 270 °. Para OD mayor que 4 pulg. (102 mm), el arco mínimo
longitud será de 8 pulg. (203 mm) o 3 T, lo que sea mayor. (C) profundidades Notch deberán ser de 8% T mínimo al 11% T máximo. anchos de Notch serán 1 / 4 en. máximo (6,4 mm).
longitudes Notch
será 1 en. mínimo (25 mm).
HIGO. T-434.3 bloque de calibración para la pipa
material deberá ser de al menos dos veces el espesor del revestimiento.
(B) Marcado. Si las soldaduras deben ser marcados de manera permanente, sellos
de baja tensión y / o vibratooling se pueden utilizar. Las marcas aplicadas después del
alivio de la tensión final del componente no podrán ser más profundo que cualquier 3 / 64 in.
Bloque de calibración T-434.4.3 Técnica para dos.
(1,2 mm).
El bloque de calibración con fi guración básica y re reflectores serán los que se
(C) sistema de referencia. Cada soldadura debe ser localizado y identificado
muestran en la Fig. T-434.4.3. Se utilizará un FL en el agujero inferior
por un sistema de puntos de referencia. El sistema deberá permitir la identificación
perforado a la interfaz de superposición de metal de soldadura. Este agujero
fi de cada línea central de soldadura y designación de intervalos regulares a lo
puede ser perforado a partir del material de base o lado recubrimiento de
largo de la longitud de la soldadura. Un sistema general de la disposición de las
soldadura. El espesor de la superposición de soldadura debe ser al menos tan
soldaduras de los vasos se describe en el Apéndice A no mandatorio; sin embargo,
gruesa como la que se examinará. El espesor del material de base debe estar
un sistema diferente se puede utilizar siempre que cumpla los requisitos anteriores.
dentro de 1 pulg. (25 mm) del espesor del bloque de calibración cuando el
examen se realiza desde la superficie del material base. El espesor del
material de base en el bloque de calibración deberá ser al menos dos veces el
espesor del revestimiento cuando el examen se realiza desde la superficie
revestida.
T-440
T-460
CALIBRACIÓN
T-461
Comprobaciones de linealidad del instrumento
Los requisitos de T-461.1 y T-461.2 deberán cumplirse a intervalos no
REQUISITOS DE
mayores de tres meses o antes Fi utilizan primera partir de entonces.
DIVERSAS
T-441 La identificación de áreas de soldadura de examen
T-linealidad 461,1 Altura de la pantalla. linealidad altura de la
(A) Puntos de soldadura. ubicaciones de soldadura y su identi fi cación se
pantalla del instrumento ultrasónico se evaluará de acuerdo con
registrarán en un mapa de soldadura o en un plan de identi fi cación.
Mandatory Apéndice I.
68
ARTÍCULO 4 - ULTRASONIDOS métodos de examen para soldaduras de
T-461.2
T-462,6
Eje de bolas revestidos
11/2 pulg. (38 mm) min.
profundidad
revestimiento
1/16 pulg. (1,6 mm) agujero
perforado de lado a la tolerancia
interface = 1/64 pulg. (0,4 mm)
1/8 pulg. (3,2 mm) agujero de
fondo plano perforado a la
tolerancia interfaz clad = 1/64
pulg. (0,4 mm)
HIGO. Bloque de calibración T-434.4.1 PARA UNA TECNICA
T-461.2 de amplitud de control de linealidad. linealidad de control
T-462.4 contacto cuñas. Las mismas cuñas de contacto que se
de amplitud del instrumento ultrasónico se evaluará de acuerdo con el
utilizarán durante el examen serán utilizados para la calibración.
apéndice Obligatorio II.
T-462
Controles T-462.5 instrumento. Cualquier control que afecta a la
Requisitos de calibración en general T-462,1
linealidad del instrumento (por ejemplo, filtros, rechazar o recorte) deberá estar
sistema ultrasónico. Calibraciones incluirán el sistema ultrasónico
en la misma posición para la calibración, controles de calibración, cheques
completo y se llevará a cabo antes del uso del sistema en el rango de
instrumento de linealidad, y el examen.
espesor bajo examen.
T-462,2 superficie de calibración. Las calibraciones se llevarán a
T-462.6 temperatura. Para el examen de contacto, el diferencial de
cabo desde la superficie (revestido o sin revestir; convexa o cóncava)
correspondiente a la superficie del componente de la que se llevará a
temperatura entre las superficies del bloque de calibración y de examen debe
cabo el examen.
estar dentro de 25 ° F (14 ° C). Para el examen de inmersión, la temperatura
de medio de acoplamiento para la calibración debe estar dentro de 25 ° F (14
° C) de la temperatura acoplante para su examen.
T-462.3 Couplant. El mismo medio de acoplamiento para ser utilizado
durante el examen se utiliza para la calibración.
69
2001 SECCIÓN V
T-463
T-463,2
mm)
pulg. (51
3/4 CT
1/2 CT
1/4 CT
(min) 2
Connecticut
2 CT
1 en. (Típico) [25
mm (típico)]
1 en. (Típico) [25
mm (típico)]
NOTA GENERAL: Todos fl agujeros en la parte inferior-son 1 / 8 en. de diámetro (3,2 mm). Tolerancias para diámetro del orificio y profundidad con respecto al lado de revestimiento del bloque son ± 1 / 64 in. (0,4
mm).
HIGO. T-434.4.2.1 bloque de calibración ALTERNATIVA PARA UNA TECNICA
T-463
Calibración para no Tuberías T-463,1 Sistema de
bloque de calibración de base se igualó en el rango de distancia para ser
empleado en el examen. La línea de igualación de respuesta estará a
calibración de Técnicas Distancia Amplitud
una altura de la pantalla de 40% a 80% de la altura de pantalla completa.
Bloque de calibración T-463.1.1 (s). Las calibraciones se llevarán a cabo
T-463.1.4 recta haz de calibración. La calibración debe
utilizando el bloque de calibración se muestra en la Fig. T-434.2.1.
proporcionar los siguientes mediciones (no mandatorio Apéndice C da
una técnica general):
Técnicas de T-463.1.2. No mandatorio apéndices B y C
(un) calibración rango de distancia;
proporcionan técnicas generales para ambos haz angular y
(segundo) distancia de amplitud corrección. Cuando se utiliza un dispositivo
calibraciones viga recta. Otras técnicas pueden ser utilizadas.
de corrección de la distancia de amplitud electrónico, las respuestas de
referencia primarios desde el bloque de calibración básica se igualan en el
rango de distancia para ser empleado en el examen. La línea de igualación de
BeamCalibration ángulo T-463.1.3. Como corresponde, la
respuesta estará a una altura de la pantalla de 40% a 80% de la altura de
calibración deberá proporcionar las siguientes mediciones (no
pantalla completa.
mandatorio Apéndice B contiene una técnica general):
(un) calibración rango de distancia;
T-463,2 Sistema de calibración de técnicas no Distancia
(segundo) corrección de la distancia de amplitud;
amplitud. Calibración incluye todas las acciones necesarias para
(do) eco de medición de la amplitud de la muesca de superficie en el
asegurar que la sensibilidad y la exactitud de las salidas de amplitud de
la señal y de tiempo del sistema de examen (si se muestra, grabados,
bloque de calibración básica.
o automáticamente procesados) se repiten de examen para exami-
Cuando se utiliza un dispositivo de corrección de la distancia de amplitud
electrónico, las respuestas de referencia primarios de la
70
Fig. T-434.4.2.2
ARTÍCULO 4 - ULTRASONIDOS métodos de examen para soldaduras de
Fig. T-434.4.3
mm)
pulg. (51
1 en. (Típico) [25
mm (típico)]
1 en. (Típico) [25
mm (típico)]
3/4 CT
1/2 CT
1/4 CT
(min) 2
Connecticut
2 CT
NOTA GENERAL: Todos los agujeros perforados laterales son 1 / dieciséis en. de diámetro (1,6 mm). tolerancia Holes ubicación es ± 1 / 64 in. (0,4 mm). Todos los agujeros perforados a una profundidad mínima de 1,5 pulg. (38
mm).
HIGO. T-434.4.2.2 bloque de calibración ALTERNATIVA PARA UNA TECNICA
1 pulg. (25 mm) mínimo (típ.)
revestimiento
3/8 pulg. (9,5 mm) Diámetro del orificio de fondo plano a
máquina para el revestimiento de interfaz dentro de 1/64 pulg.
(0,4 mm)
HIGO. T-434.4.3 de bloqueo alternativa de calibración para TÉCNICA DE DOS
71
2001 SECCIÓN V
T-463,2
T-466.2
minación. La calibración puede ser por el uso de los bloques básicos de
T-465
calibración con arti fi cial o discontinuidad re fl ectores. Se proporcionan
Técnica Uno. Las calibraciones se llevarán a cabo utilizando el bloque de
métodos en no mandatorio apéndices B y C. Otros métodos de calibración
calibración se muestra en la Fig. T-434.4.1. La unidad de búsqueda se
puede incluir el ajuste de sensibilidad basado en el material de examen,
colocará para la respuesta máxima de la calibración de re fl ector. El control
etc.
Calibración: Revestimiento de T-465,1 calibración para
de ganancia se establece de modo que esta respuesta es 80% ± 5% de la
altura de pantalla completa. Este será el nivel de referencia primaria.
T-464
Calibración para tuberías
T-465.2 Técnica de calibración para dos. Las calibraciones se
Calibración T-464.1 Sistema de Técnicas de amplitud Distancia
llevarán a cabo utilizando el bloque de calibración se muestra en la Fig.
T-434.4.3. La unidad de búsqueda se colocará para la respuesta máxima
de la indicación resoluble primera desde el fondo de la calibración
Bloque de calibración T-464.1.1 (s). Las calibraciones se llevarán a cabo
reflector. La ganancia se ajusta de manera que esta respuesta es 80% ±
utilizando el bloque de calibración se muestra en la Fig. T-434.3.
5% de la altura de pantalla completa. Este será el nivel de referencia
primaria.
T-464.1.2 ángulo del haz de calibración. El haz de ángulo será
dirigida hacia la calibración re ector fl que produce la respuesta máxima. El
T-465,3 calibración alternativo para la técnica de una sola.
control de ganancia se establece de modo que esta respuesta es 80% ±
5% de la altura de pantalla completa. Este será el nivel de referencia
Las calibraciones se llevarán a cabo utilizando los bloques de
primaria. La unidad de búsqueda A continuación se manipula, sin cambiar
calibración mostradas en la Fig. T-434.4.2.1 o T-434.4.2.2. La
los ajustes del instrumento, para obtener las respuestas máximas de la
calibración se realizó como sigue:
(un) La unidad de búsqueda se colocará para la máxima respuesta
calibración re reflectores en los incrementos de distancia necesarios para
del reflector, lo que da la amplitud más alta.
generar una curva de tres puntos de corrección distanceamplitude (DAC).
Se establecerán calibraciones separadas tanto para el muescas axial y
circunferencial. Estas calibraciones establecerán tanto la calibración de
(segundo) La ganancia se ajusta de manera que esta respuesta es 80% ±
rango de distancia y la corrección de amplitud distancia.
5% de la altura de pantalla completa. Este será el nivel de referencia primaria.
Marcar el pico de la indicación en la pantalla.
(do) Sin cambiar los ajustes del instrumento, la posición de la unidad de
búsqueda de la máxima respuesta de cada uno de los otros reflectores y
reflectores T-464.1.3 alternativo de calibración re. agujeros
marcar sus picos en la pantalla.
Sidedrilled pueden ser utilizados siempre que se pueda demostrar que
(re) Conectar los puntos de trama para cada reflector para proporcionar una
la calibración agujero produce una sensibilidad igual o mayor que la
curva DAC.
calibración muesca.
T-464.1.4 recta haz de calibración. Cuando sea necesario, las
T-466
calibraciones viga recta se llevarán a cabo a los requisitos de no
Calibración confirmación T-466,1 Cambios en el
mandatorio Apéndice C. Esta calibración debe establecer tanto la
sistema. Cuando se cambia cualquier parte del sistema de exámenes, una
calibración rango de distancia y la corrección de amplitud distancia.
comprobación de la calibración se realizará en el bloque de calibración básica
para verificar que los puntos del rango de distancia y ajuste de sensibilidad (s)
satisfacer los requisitos de T-466.3.
T-464,2 Sistema de calibración de técnicas no Distancia
amplitud. Calibración incluye todas las acciones necesarias para
asegurar que la sensibilidad y la exactitud de las salidas de amplitud de
T-466.2 cheques examen periódico. Una comprobación de la
la señal y de tiempo del sistema de examen (si se muestra, grabados, o
calibración sobre al menos uno de los reflectores básicos re fl en el
procesados ​automáticamente) se repiten de examen a examen. La
bloque de calibración básico o un cheque utilizando un simulador se hará
calibración puede ser por el uso de los bloques básicos de calibración
en la fi acabado de cada examen o serie de exámenes similares, cada 4
con arti fi cial o discontinuidad re fl ectores. Se proporcionan métodos
horas durante el examen, y cuando el personal de examen (excepto para
en no mandatorio apéndices B y C. Otros métodos de calibración
equipo automatizado) están cambiado. Los puntos del rango de distancia
puede incluir el ajuste de sensibilidad basado en el material de examen,
y ajuste de la sensibilidad (s) registrada deberán cumplir los requisitos
etc.
T-466.3.
72
ARTÍCULO 4 - ULTRASONIDOS métodos de examen para soldaduras de
T-466.2.1
Los cheques T-466.2.1 simulador. Cualquier cheque simuladores
T-472
(segundo) Alternativamente, cada pasada de la unidad de búsqueda puede
que se utilizan se pueden correlacionar con la calibración original en el
superponerse una dimensión menor que la dimensión mínima del haz como se
bloque de calibración básica durante la calibración original. Los controles
determina en el apéndice no mandatorio
del simulador pueden utilizar diferentes tipos de calibración re reflectores o
B, B-466, la viga separada. Se permite Oscilliation de la unidad de búsqueda
bloques (tales como IIW) y / o simulación electrónica. Sin embargo, la
siempre la mejora de la cobertura se demuestra.
simulación utilizado será identi fi capaz en la hoja (s) de calibración. El
T-471,2 pulso tasa de repetición. La tasa de repetición de impulsos deberá
simulador de comprobación se hará en todo el sistema de exámenes. Todo
el sistema no tiene que ser comprobado en una sola operación; sin
ser lo suficientemente pequeño para asegurar que una señal de un reflector
embargo, para su comprobación, la unidad de búsqueda se conecta al
situado a la distancia máxima en el volumen de exploración será llegar de nuevo a
instrumento ultrasónico y se comprueba con una calibración re fl ector. La
la unidad de búsqueda antes de que el siguiente pulso se coloca sobre el
exactitud de las comprobaciones simulador será con rma fi, utilizando el
transductor.
bloque de calibración básica, en la conclusión de cada periodo de uso
T-471,3 Tasa de búsqueda Movimiento Unidad. La velocidad de movimiento de la
prolongado, o cada tres meses, lo que sea menor.
unidad de búsqueda (velocidad de exploración) no deberá exceder de 6 pulg./s (152 mm / s),
a menos que:
(un) la tasa de repetición de impulsos instrumento ultrasónico es su fi ciente
para pulsar la unidad de búsqueda de al menos seis veces dentro del tiempo
necesario para mover la mitad de la transductor (elemento piezoeléctrico)
T-466,3 confirmación de aceptación Valores
dimensión paralela a la dirección de la exploración a la velocidad máxima de
Puntos T-466.3.1 Distancia rango. Si cualquier punto rango de
exploración; o,
distancia se ha movido en la línea de barrido en más del 10% de la lectura
(segundo) una calibración dinámica se lleva a cabo en múltiples reflectores re fl,
de la distancia o el 5% de barrido completo, lo que sea mayor, corregir la
los cuales están dentro de ± 2 dB de una calibración estática y la tasa de repetición
calibración rango de distancia y tenga en cuenta la corrección en el registro
de impulsos cumple los requisitos de T-471,2.
de examen. Todas las indicaciones registradas desde la última revisión de
la calibración o calibración válida deberán ser revisadas y sus valores se
T-471.4 Escaneo nivel de sensibilidad
pueden cambiar en las hojas de datos o graban los.
Técnicas de T-471.4.1 Distancia amplitud. El nivel de
sensibilidad de la búsqueda será de un mínimo de 6 dB mayor que el
ajuste de ganancia nivel de referencia.
T-466.3.2 Ajustes de sensibilidad. Si cualquier ajuste de sensibilidad
ha cambiado en más de un 20% o 2 dB de su amplitud, corregir la calibración
Técnicas de T-471.4.2 no Distancia amplitud.
de la sensibilidad y tenga en cuenta la corrección en el registro de examen. Si
El nivel de ganancia utilizada para la exploración será apropiado para
el ajuste de sensibilidad ha disminuido, todas las hojas de datos desde la
la con fi guración siendo examinado y será capaz de detectar la
última revisión de la calibración válida deberán estar marcados sin efecto y el
calibración re reflectores a la máxima velocidad de exploración.
área cubierta por los datos anulados deben ser revisadas. Si el ajuste de
sensibilidad ha aumentado, todas las indicaciones registradas desde la última
revisión de la calibración o calibración válida deberán ser revisadas y sus
T-471.5 Preparación de la superficie. Cuando el material de base o
valores se pueden cambiar en las hojas de datos o volver a grabar.
superficie de soldadura interfiere con el examen, el material de base o de
soldadura se pueden preparar según sea necesario para permitir que el examen.
T-470
EXAMEN
T-471
Requisitos de Examen general de T-471.1 Examen de
T-472
Junta de soldadura Distancia Amplitud
Técnica
Cuando la referencia Código Sección específico es una técnica
cobertura. El volumen que va a escanear será examinada por mover la
amplitud distancia, juntas de soldadura se escanea con una unidad de
unidad de búsqueda sobre la superficie de exploración con el fin de explorar
búsqueda en haz ángulo en direcciones tanto paralelas y transversales (4
la totalidad del volumen de examen para cada unidad de búsqueda
barridos) con respecto al eje de soldadura. Antes de realizar los exámenes
requerida.
de haz angular, un examen viga recta se realiza en el volumen del material
(un) Cada pasada de la unidad de búsqueda se solapan un mínimo de
de base a través del cual las vigas angulares viajarán a localizar los
10% de la dimensión transductor activo (elemento piezoeléctrico)
reflectores que pueden limitar la capacidad del haz angular para examinar
perpendicular a la dirección de la exploración.
el volumen de soldadura.
73
2001 SECCIÓN V
T-472,1
T-472.1 Ángulo de haz Técnica
T-482,1
la unidad de búsqueda puede mover ya sea perpendicular o paralelo a la
dirección de soldadura.
Ángulo de haz T-472.1.1. El ángulo de unidad de búsqueda y haz
seleccionado deberá ser apropiado para la con fi guración siendo examinado y
será capaz de detectar la calibración re reflectores, sobre la trayectoria del
T-474
haz ángulo requerido.
Técnicas de amplitud distinta de Distancia
El número de ángulos y direcciones de las exploraciones se desarrolló en
T-472.1.2 Re reflectores paralela a la costura de soldadura.
el procedimiento y deberá demostrar la capacidad de detectar las
El haz de ángulo será dirigida en ángulo aproximadamente recto con respecto al
discontinuidades rechazables tamaño mínimo en las referencias a las normas
eje de la soldadura de ambos lados de la soldadura (es decir, a partir de dos
de aceptación área de instrucciones. Las técnicas detalladas deberán estar
direcciones) en la misma superficie cuando sea posible. La unidad de búsqueda
en conformidad con los requisitos de la Sección de Código de referencia.
debe ser manipulado de modo que la energía ultrasónica pasa a través del
volumen requerido de soldadura y material de base adyacente.
T-472.1.3 Re reflectores transversal a la costura de soldadura. El
haz de ángulo será dirigido esencialmente paralelo al eje de soldadura. La
unidad de búsqueda debe ser manipulado de modo que la energía
T-480
EVALUACIÓN
T-481
General
Se reconoce que no todos los reflectores ultrasónicos indican fl
ultrasónica pasa a través del volumen requerido de soldadura y material de
base adyacente. La unidad de búsqueda se puede girar 180 grados y
AWS, ya que ciertas discontinuidades metalúrgicos y condiciones
repetir el examen.
geométricas pueden producir indicaciones que no son relevantes.
Incluido en esta categoría están placa segrega en la zona afectada por
el calor que se convierten reflexivo después de la fabricación. Bajo
T-472,2 restringido el acceso soldaduras. Las soldaduras que no pueden ser
examen viga recta, éstos pueden aparecer como indicaciones del
examinadas completamente a partir de dos direcciones usando la técnica de haz de
punto o línea. Bajo examen haz de ángulo, las indicaciones que se
ángulo (por ejemplo, esquina y tee articulaciones) también serán examinados, si es
determina que se originan a partir de condiciones de la superficie
posible, con una técnica de viga recta. Estas áreas de acceso restringido se harán
(como la geometría raíz de la soldadura) o variaciones en la estructura
constar en el informe de examen.
metalúrgica en materiales austeníticos (tales como la interfaz de
chapado de soldadura automática-manual) pueden ser clasificados
como indicaciones geométricas. La identidad, la amplitud máxima, la
T-472.3 inacessible soldaduras. Las soldaduras que no puede ser
examinada desde al menos un lado (borde) utilizando la técnica de haz de
ubicación, y el alcance de reflector causando una indicación
ángulo se harán constar en el informe de examen. Para soldaduras brida, la
geométrica se registrarán. [Por ejemplo: fijación interna, 200% DAC, 1
soldadura puede ser examinado con un haz lineal o de ondas longitudinales
en.
bajo ángulo de la cara de brida proporciona el volumen examen puede ser
cubierto.
T-473
(un) Interpretar el área que contiene el reflector de acuerdo con el
Las técnicas de revestimiento
procedimiento de examen aplicable.
(segundo) Trama y verificar las coordenadas reflector. Preparar un bosquejo
Las técnicas descritas en estos párrafos se utilizarán cuando los
exámenes de soldadura de revestimiento de capa de metal son
sección transversal que muestra las discontinuidades de posición y de la superficie del
requeridos por una sección de código referencia. Cuando se requiere un
ector re fl tales como raíz y escariado.
(do) Revisión de fabricación o dibujos preparación de soldadura. Otras
examen por falta de unión y las indicaciones aw fl vestidos, Técnica Uno
se utilizará. Cuando sólo se requiere un examen por falta de unión,
técnicas de ultrasonidos o métodos de examen no destructivos pueden ser útiles
Técnica de dos puede ser utilizado.
en la determinación de un re fl ector de verdadera posición, tamaño y orientación.
T-473.1 técnica de una sola. El examen se lleva a cabo desde la superficie
T-482
de revestimiento con el plano de separación de los elementos de la unidad de
Nivel de evaluación T-482,1 Técnicas Distancia
búsqueda de doble elemento posicionado paralelo al eje del cordón de
amplitud. Todas las indicaciones superior al 20% del nivel de referencia
soldadura. La unidad de búsqueda se trasladó perpendicular a la dirección de
deberán ser investigadas en la medida en que puedan ser evaluados en
soldadura.
términos de los criterios de aceptación de la Sección de Código de
referencia.
T-473.2 Técnica Dos. El examen se puede realizar de cualquiera
de la vaina o de la superficie no chapada y
74
ARTÍCULO 4 - ULTRASONIDOS métodos de examen para soldaduras de
T-482.2
T-482,2 técnicas no Distancia amplitud. Todas las indicaciones
T-493
(do) unidad (s) búsqueda de la identi fi cación (incluyendo el número de serie del
más de 40% del tamaño de un w fl rechazable serán investigadas en la
fabricante, la frecuencia y el tamaño);
medida en que puedan ser evaluados en términos de los criterios de
(re) ángulo de haz (s) utilizado;
aceptación de la Sección de Código de referencia.
(mi) acoplante utilizado, nombre de marca o tipo;
(F) cable de la unidad de búsqueda (s) utilizado, el tipo y longitud;
T-483
(gramo) equipo especial cuando se usa (unidades de búsqueda, cuñas,
Evaluación de reflectores laminar Re
zapatos, equipos de escaneo automático, equipo de grabación, etc.);
Re reflectores evaluados como laminar re reflectores en material
base que interfieren con el escaneo de los volúmenes de examen
(H) computarizado programa identi fi cación y revisión cuando se utiliza;
requerirá la técnica de examen haz angular a ser modi fi tal que el
volumen máximo factible es examinada, y se anotará en el registro de
(yo) bloque de calibración identificación;
la exploración (T-493) .
(J) bloque de simulación (s) y el simulador electrónico (s) identificación
cuando se utiliza;
(K) ganancia de nivel de referencia del instrumento y, si se utiliza, de amortiguación y
T-484
ajuste de rechazo (s);
Las evaluaciones alternativas
(L) los datos de calibración [incluyendo referencia re ector fl (s), amplitud
dimensiones reflector superiores a las que hacen referencia a los requisitos de la
(s) indicación, y lectura de la distancia (s)];
sección de código pueden ser evaluados a cualquier punto de vista alternativos
(metro) datos que correlacionan bloque de simulación (s) y el simulador electrónico
proporcionados por el área de instrucciones referencia.
(s), cuando se usa, con la calibración inicial;
(norte) identi fi cación y la ubicación de la soldadura o el volumen escaneada;
T-490
DOCUMENTACIÓN
T-491
Indicaciones de grabación T-491,1 indicaciones no
(O) superficie (s) de la que se llevó a cabo el examen, incluyendo
estado de la superficie;
(pag) mapa o registro de indicaciones rechazables detecta o áreas
rechazable. indicaciones no rechazables se registrarán como fi especificados
despejadas;
por el área de instrucciones referencia.
(Q) zonas de acceso restringido o soldaduras de difícil acceso;
(R) examen de la identidad personal y, cuando sea requerido por
T-491,2 Indicaciones rechazable. rechazables indicaciones deberán ser
referencia a la sección del código, cali fi cación nivel;
registrados. Como mínimo, el tipo de indicación (es decir, crack, no es de
(S) Se realizaron exámenes de fecha y hora. Artículos ( segundo) mediante ( metro)
fusión, escoria, etc.), la ubicación, y la extensión (es decir, longitud) se
puede ser incluido en un registro de calibración independiente, siempre el
registrará.
registro de calibración de cationes identi fi está incluido en el registro de
examen.
T-492
Los registros de exámenes
T-493
Para cada examen ultrasónico, la siguiente información se
registrará:
Se hará un informe de los exámenes. El informe incluirá los
(un) procedimiento identi fi cación y revisión;
(segundo) instrumento ultrasónico
Informe
registros indicados en la T-491 y T-492. El informe se llevó fi y
mantenido de acuerdo con el área de instrucciones referencia.
identificación (incluyendo
número de serie del fabricante);
75
Artículo 4 APÉNDICES
OBLIGATORIOS
ANEXO I - Altura de la pantalla
LINEARIDAD
I-410
ALCANCE
Este Obligatorio Apéndice proporciona los requisitos para el control de
linealidad altura de la pantalla y es aplicable a instrumentos ultrasónicos
con pantallas A-scan.
I-440
REQUISITOS DE
DIVERSAS
Coloque una unidad de búsqueda en haz ángulo en un bloque de calibración,
como se muestra en la Fig. I-440 de modo que las indicaciones tanto de la 1 / 2 y 3 / 4
T agujeros dan una proporción de 2: 1 de amplitudes entre las dos indicaciones.
Ajuste la sensibilidad (ganancia) de modo que la indicación más grande se
HIGO. LINEARIDAD I-440
establece en 80% de la altura de pantalla completa (FSH). Sin mover la unidad
de búsqueda, ajustar la sensibilidad (ganancia) para establecer sucesivamente la
indicación más grande del 100% al 20% de la altura de pantalla completa, en
incrementos de 10% (o de 2 dB si un control fi ne no está disponible), y leer la
más pequeña indicación en cada ajuste. La lectura será del 50% de la amplitud
II-440
más grande, dentro del 5% de FSH. Los ajustes y lecturas deberán estimarse
con una precisión de 1% de pantalla completa. Alternativamente, una unidad
REQUISITOS DE DIVERSAS
Coloque una unidad de búsqueda en haz ángulo en un bloque de calibración
búsqueda viga recta puede ser utilizado en cualquier bloque de calibración que
básica, como se muestra en la Fig. I-440 de modo que la indicación de la 1 / 2 T taladro
proporciona diferencias de amplitud, con su fi separación señal ciente para evitar
lateral se alcanzó su punto máximo en la pantalla. Ajuste la sensibilidad (ganancia)
la superposición de las dos señales.
como se muestra en la siguiente tabla. La indicación deberá caer dentro de los
límites fi cados. Alternativamente, cualquier otra conveniente reflector de cualquier
bloque de calibración se puede utilizar con ángulo o unidades de búsqueda viga
recta.
Indicación Ajuste en
ANEXO II - AMPLITUD
% De pantalla completa
LINEALIDAD DE CONTROL
II-410
ALCANCE
Este Obligatorio Apéndice proporciona los requisitos para el control de
control de dB
Cambio
Límites de indicación
% De pantalla completa
80%
- 6 dB
32 a 48%
80%
- 12 dB
16 a 24%
40%
+ 6 dB
64 a 96%
20%
+ 12 dB
64 a 96%
linealidad de control de amplitud y es aplicable a instrumentos ultrasónicos
Los ajustes y lecturas deberán estimarse con una precisión de 1% de
con pantallas A-scan.
pantalla completa.
76
ARTÍCULO 4
APÉNDICES no obligatoria
APÉNDICE A - DISPOSICIÓN DE PUNTOS
A-443
recipiente de referencia A-410
Las soldaduras-boquilla a vaso
El círculo de referencia externa deberá tener un radio su fi ciente para que
el círculo cae sobre la superficie externa del recipiente más allá de fi llet de la
ALCANCE
soldadura. El círculo de referencia interna deberá tener un radio su fi ciente
Este apéndice proporciona requisitos para establecer puntos de
para que el círculo cae dentro de 1 / 2 pulg. (13 mm) de la línea central de
referencia del vaso.
soldadura. El punto de 0 ° en la soldadura será la parte superior de la boquilla.
El punto 0 deg para soldaduras de boquillas orientadas veritcally se encuentra
en el 0 eje de DEG de la embarcación, o, para recipientes horizontales, el
punto más cercano al extremo de entrada de la vasija. disposición angular de
A-440
REQUISITOS DE
la soldadura se hará las agujas del reloj en la superficie externa y en sentido
DIVERSAS
contrario en la superficie interna. El 0 °, 90 °, 180 °, y 270 líneas deg será
marcado en todas las soldaduras de las toberas examinados; 30 líneas de
El diseño de la soldadura debe consistir en la colocación de puntos de
incremento deg serán marcados en soldaduras de las toberas mayor que un
referencia en la línea central de la soldadura. La separación de los puntos de
nominal 8 en (203 mm) de diámetro.; 15 líneas de incremento deg serán
referencia deberá ser en incrementos iguales (por ejemplo, 12 en., 3 pies, 1 M,
marcados en soldaduras de las toberas mayor que un nominal 24 en (610
etc.) y ed identificación con los números (por ejemplo, 0, 1, 2, 3, 4, etc.). La
mm) de diámetro.; 5 líneas de incremento deg serán marcados en soldaduras
separación de la subasta, el número de puntos, y el punto de partida se
de las toberas mayor que 48 in. De diámetro (1,22 m).
registrarán en la forma de informes. La línea central de soldadura será el
divisor para las dos superficies de examen.
A-441
Circunferenciales (Circunferencia) Soldaduras
ANEXO B - TÉCNICAS GENERALES PARA
El punto de partida estándar será el 0 eje de DEG de la embarcación. Los
ángulo del haz
puntos de referencia se numerarán en una dirección hacia la derecha, según se
CALIBRACIONES
ve desde la parte superior del recipiente o, para recipientes horizontales, desde el
extremo de entrada del recipiente. Las superficies de examen se deberá ed identi
B-410
ALCANCE
fi (por ejemplo, para los recipientes verticales, como por encima o por debajo de
Este Apéndice proporciona técnicas generales para la calibración del haz de
la soldadura).
ángulo. Otras técnicas pueden ser utilizadas.
Las descripciones y figuras de las técnicas generales se refieren posición
y la profundidad del reflector a octavos de la V-path. El intervalo de barrido
A-442
puede ser calibrado en términos de unidades de camino metal, 1 distancia
Las soldaduras longitudinales
proyectada superficie o profundidad real al reflector (como se muestra en la
Fig. B-
soldaduras longitudinales, deberán estar dispuestos de la línea central de las
462). El método particular puede seleccionarse de acuerdo a la
soldaduras circunferenciales en el extremo superior de la soldadura o, para
preferencia del examinador.
recipientes horizontales, el fin de la soldadura más cercano al extremo de entrada de
la vasija. La superficie examen deberá ser identificado como las agujas del reloj o en
1 Re
sentido contrario como se ve desde la parte superior del recipiente o, para
reflexiones de las superficies cilíndricas concéntricas tales como las proporcionadas por
algunos IIW bloques y el bloque de calibración distancia AWS puede ser usado para ajustar
recipientes horizontales, desde el extremo de entrada del recipiente.
retardo cero y barrer gama para la calibración camino metal.
77
2001 SECCIÓN V
B-460
B-463.1
HIGO. B-462 rango de barrido
B-460
B-461
t
CALIBRACIÓN
B-462.3 Repetir ajustes. Repita los ajustes de retardo y de control hasta
que el rango 1 / 4 T y 3 / 4 T indicaciones SDH comienzan a partir de las líneas de
Interior t / 4 Volumen B-461.1 Número de ángulos de haz. los
barrido de 2 y 6.
/ 4 volumen requisito de calibración del ángulo puede ser satisfecha mediante el
B-462.4 Indicación Notch. Coloque la unidad de búsqueda de la máxima
uso de uno o más haces como se requiere para calibrar el 1 / 8 en. lateral (3,2 mm)
respuesta de la muesca cuadrada en la superficie opuesta. La indicación
de diámetro máximo perfora agujeros en ese volumen.
aparecerá cerca de la línea de barrido 8.
B-462.5 Lecturas barrido. Dos divisiones en el barrido ahora igual 1
B-461.2 calibración desde el exterior de la superficie. Cuando el
/ 4 T.
examen se realiza desde la superficie exterior, calibrar en el 1 / 8 in. (3,2 mm)
lado de diámetro perforados agujeros para proporcionar la forma de la DAC de 1
/ 2 pulg. (13 mm) a t / 4 profundidad, pero ajustar la ganancia en el hoyo en el
Distancia-Amplitud de corrección
B-463
Código t / 4.
(Primaria Nivel de Referencia) (Ver Fig. B-463)
B-463.1 calibración desde el lado revestido
B-461.3 calibración desde el interior de la superficie. Cuando el
examen se realiza desde la superficie interior, calibrar en el 1 / 8 en. lateral
(un) Coloque la unidad de búsqueda de la máxima respuesta de la
(3,2 mm) de diámetro perforados agujeros para proporcionar la forma de la
SDH, lo que da la amplitud más alta.
DAC y el ajuste de ganancia.
(segundo) Ajuste el control de sensibilidad (ganancia) para proporcionar una
indicación de 80% (± 5%) de altura de la pantalla completa (FSH). Marcar el pico de
la indicación en la pantalla.
B-462
(do) Coloque la unidad de búsqueda de la máxima respuesta de otro
Gama de la distancia de calibración (Ver Fig. B-462)
SDH.
(re) Marcar el pico de la indicación en la pantalla.
B-462.1 Retardo de ajuste de control. Coloque la unidad de
(mi) Coloque la unidad de búsqueda de la amplitud máxima de la
búsqueda de la máxima primera indicación de la
1 / 4 T agujero perforado de lado (SDH). Ajuste el borde izquierdo de esta
tercera SDH y marcar el pico en la pantalla.
(F) Coloque la unidad de búsqueda de la máxima amplitud de la 3 / 4 T SDH
indicación a la línea 2 en la pantalla con el control de retardo.
después de que el haz ha rebotado desde la superficie opuesta. La indicación
deberá aparecer cerca de la línea de barrido 10. Marque el pico en la pantalla
B-462.2 Rango de ajuste de control. Coloque la unidad de
durante la
5 / 4 T posición.
búsqueda de la máxima indicación de la 3 / 4 T
SDH. Ajuste el borde izquierdo de esta indicación a la línea 6 en la pantalla
(gramo) Conectar los puntos de trama para los DSS para proporcionar la curva
con el control de la gama.
de distancia-amplitud (DAC).
78
ARTÍCULO 4 - APÉNDICES no obligatoria
B-463.1
B-464.6
HIGO. B-463 SENSIBILIDAD Y corrección de distancia de amplitud
(H) Para la corrección de calibración para reflectores re fl perpendiculares
de la viga. Marca el número 2 en la tira de indexación en la línea de marcado
a la superficie opuesta, consulte B-465.
que está directamente encima de la SDH. (Si la unidad de búsqueda cubre la
línea marcada, las marcas se pueden hacer en el lado de la unidad de
B-463.2 de calibración desde el lado sin revestir
búsqueda.)
(un) Desde el lado de revestimiento del bloque, determinar el cambio
dB de amplitud entre la 3 / 4 T y 5 / 4 T posiciones SDH.
B-464.2 1 / 2 T y 3 / 4 T Indicaciones SDH. Coloque la unidad de búsqueda
de indicios máximo rendimiento del 1 / 2 T y
3 / 4 T DSS. Mantener el mismo extremo de la tira de indexación contra el frente
(segundo) Desde el lado sin revestir, realizar calibraciones como se indica en
B-463.1 (a) a través de B-463.1 (e).
de la unidad de búsqueda. Marque los números 4 y 6 en la tira de indexación
(do) Para determinar la amplitud para el 5 / 4 T SDH posición, la posición
en la línea de trazado, que son directamente encima de la DSS.
de la unidad de búsqueda de la máxima amplitud de la 3 / 4 T SDH.
Disminuir la amplitud de señal por el número de dB determina en ( un) encima.
Marque la altura de esta amplitud de la señal en la línea de barrido 10 ( 5 / 4 T
posición).
B-464.3 5 / 4 Indicación T SDH. Si es posible, la posición de la unidad de
búsqueda de manera que los rebotes de haz desde la superficie opuesta a la 3 /
4
(re) Conectar los puntos de trama para proporcionar la DAC. Esto permitirá la
T SDH. Marca el número 10 en la tira de indexación en la línea de marcado,
que está directamente encima de la SDH.
evaluación de las indicaciones hasta la superficie revestida (cerca de la línea de
barrido 8).
B-464.4 Indicación Notch. Coloque la unidad de búsqueda de la máxima
(mi) Para la corrección de calibración para planar perpendicular re reflectores
indicación de primera superficie opuesta. Marca el número 8 en la tira de
cerca de la superficie opuesta, consulte B-465.
indexación en la línea de marcado, que está directamente encima de la
B-464
muesca.
Calibración de la posición (Véase la Fig. B-464)
B-464.5 Números índice. Los números en la tira de indexación
Las siguientes mediciones se pueden hacer con una regla, escala, o
marcados en una tira de indexación. 2
indican la posición directamente sobre el reflector en dieciseisavos de
la V-path.
B-464.1 1 / 4 T Indicación SDH. Coloque la unidad de búsqueda de la
máxima respuesta de la 1 / 4 T SDH. Coloque un extremo de la tira de
B-464.6 Profundidad. La profundidad de la superficie examen al
indexación contra el frente de la unidad de búsqueda, el otro extremo que se
reflector es T a las 8, 3 / 4 T a las 6 y 10, 1 / 2 T
extiende en la dirección
2 El
a las 4, 1 / 4 T a los 2, y 0 a 0. La interpolación es posible que los incrementos
más pequeños de profundidad. Las marcas de posición sobre la tira de
saldo de las calibraciones en este apéndice está escrito basado en el uso de la tira de
indexación pueden ser corregidos para el radio del agujero si el radio es
indexación. Sin embargo, los procedimientos pueden ser transformadas para otros métodos
considerado significativo a la precisión de la ubicación re fl ector de.
de mediciones a la discreción del examinador.
79
2001 SECCIÓN V
B-465
B-466.2
HIGO. B-464 PROFUNDIDAD POSICIÓN Y trayectoria del haz
B-465
Corrección de calibración para reflectores planar
Re perpendicular a la superficie de la examinación
en o cerca de la superficie opuesta (Ver Fig. B-465)
Una onda de corte del haz ángulo de 45 ° Refleja bien desde una esquina
reflector. Sin embargo, la conversión de modo y la redirección de la reflexión
se produce a una parte de la viga cuando una onda ángulo del haz de
cizallamiento 60 ° golpea el mismo reflector. Este problema existe también,
en menor grado en toda la gama de onda de corte del haz 50 ° a 70 ° de
ángulo. Por lo tanto, se requiere una corrección con el fin de ser igualmente
crítico de una imperfección tal independientemente del ángulo de haz de
examen.
B-465.1 Indicación Notch. Coloque la unidad de búsqueda de
HIGO. B-465 PLANAR REFLEXIONES
amplitud máxima de la muesca en la superficie opuesta. Marque el pico
de la indicación con una “X” en la pantalla.
B-465.2 45 ° vs. 60 deg. La muesca superficie opuesta puede dar una
Unidad para medir en re fl exiones de los RBHs de la siguiente manera.
indicación de 2 a 1 por encima de DAC para una onda de corte 45 °, pero
sólo 1 / 2 DAC para una onda de corte 60 °. Por lo tanto, las indicaciones de
la muesca deberán ser considerados al evaluar re reflectores en la
B-466.1 Hacia 1 / 4 T Agujero. Establecer la indicación máxima del 1 / 4 T RBH
superficie opuesta.
a 80% de FSH. Mover la unidad de búsqueda hacia el agujero hasta que la
indicación es igual a 40% de la FSH. Marque la línea central del haz “hacia
la” posición en el bloque.
B-466
Beam Spread (Ver Fig. B-466)
B-466.2 lejos de 1 / 4 T Agujero. Repita B-466.1, excepto que la unidad de
Las mediciones de la extensión de la viga se efectuarán sobre el fondo
hemisférico de agujeros de fondo redondo (RBHs). El medio límite máximo de la
búsqueda mueven lejos del agujero hasta que la indicación es igual a 40% de
amplitud del lóbulo principal de la viga se representa gráficamente mediante la
la FSH. Marque la línea central del haz posición “lejos” en el bloque.
manipulación de la búsqueda
80
ARTÍCULO 4 - APÉNDICES no obligatoria
B-466.3
C-461,2
HIGO. C-461 rango de barrido
HIGO. B-466 SPREAD BEAM
NOTA: Si reflectores laminar re fl están presentes en el bloque de calibración básica, las lecturas de
B-466.3 Derecho de 1 / 4 T Agujero. Volver a colocar la unidad de búsqueda
amplitud del haz pueden verse afectados; Si este es el caso, las mediciones de dispersión del haz deben
para el original 80% de la indicación de la FSH
1
basarse en las mejores lecturas disponibles.
/ 4 T RBH. Mover la unidad de búsqueda a la derecha sin hacer girar la
viga hacia el reflector hasta que la indicación es igual a 40% de la FSH.
Marcar la posición central de la viga línea “derecho” en el bloque. 3
ANEXO C - Las técnicas generales para viga
recta
B-466.4 de la izquierda 1 / 4 T Agujero. Repita B-466.3, excepto mover la
CALIBRACIONES
unidad de búsqueda de la izquierda y sin hacer girar la viga hacia el reflector
C-410
hasta que la indicación es igual a 40% de la FSH. Marcar la posición del haz
línea central “izquierda” en el bloque. 3
ALCANCE
Este Apéndice proporciona en general
técnicas para
calibración viga recta. Otras técnicas pueden ser utilizadas.
B-466.5 1 / 2 T y 3 / 4 T Agujeros. Repita los pasos en B-
466.1 a través de B-466.4 para el 1 / 2 T y 3 / 4 T RBHs.
B-466.6 de ficha Dimensiones. Registrar las dimensiones de los
“hacia” a posiciones “distancia” y del “derecho” a posiciones de
“izquierda” marcados en el bloque.
C-460
CALIBRACIÓN
C-461
Gama de la distancia de calibración 4 ( Ver Fig.
C-461) C-461,1 Delay Ajuste de control. Coloque la unidad de
B-466.7 de indexación perpendicular. El más pequeño de los tres
búsqueda de la máxima primera indicación de la
“hacia” a “distancia” no podrá superarse dimensiones al indexar entre
exploraciones perpendicular a la dirección del haz.
1
/ 4 T SDH. Ajuste el borde izquierdo de esta indicación a la línea 2 en la
pantalla con el control de retardo.
B-466.8 de indexación paralelo. El más pequeño de los tres “derecho”
C-461,2 Ajuste de control de rango. Coloque la unidad de búsqueda
a dimensiones “izquierda”, no debe superar al indexar entre exploraciones
de la máxima indicación de 3 / 4 T SDH. Ajuste el borde izquierdo de esta
paralelo a la dirección del haz.
indicación a la línea 6 en la pantalla con el control de la gama.
B-466,9 Otras rutas de metal. El ángulo de dispersión del haz proyectado
determinado por estas mediciones se utiliza para determinar los límites como se
requiere en otras trayectorias metálicas.
4 Calibración
por medición trayectoria del haz puede ser utilizado por posicionamiento control
de rango por el bloque de nuevo la reflexión al número de la división de barrido (o múltiple)
3
Al posicionar manualmente la unidad de búsqueda, un borde recto puede ser usada para guiar la
igual al espesor medido. los 1 / 4 T indicación SDH debe ser retraso de control de posición para 1 / 4
unidad de búsqueda mientras se mueve a la derecha y la izquierda para asegurar que el
del número de la división de barrido.
posicionamiento axial y la alineación del haz se mantienen.
81
2001 SECCIÓN V
C-461,3
D-90
HIGO. C-462 SENSIBILIDAD Y corrección de distancia de amplitud
C-461,3 Repita los ajustes. Repetir los ajustes de retardo y de control hasta
(F) Conectar los puntos de trama para el DSS y se extienden a
que el rango 1 / 4 T y 3 / 4 T indicaciones SDH comienzan a partir de las líneas de
través del grosor para proporcionar la curva de amplitud distancia-.
barrido de 2 y 6.
C-461,4 Volver Indicación de superficie. La indicación de la superficie posterior
aparecerá cerca de la línea de barrido 8.
ANEXO D - REGISTRO DE DATOS
Ejemplo Para un PLANAR
C-461,5 Lecturas de barrido. Dos divisiones en el barrido de igualdad 1 / 4 T.
REFLECTOR
D-10
C-462
ALCANCE
Este Apéndice proporciona un ejemplo de los datos necesarios para
Distancia-Amplitud de corrección (Ver Fig.
dimensionar un DAC 120% reflector encontrado al escanear perpendicular
C-462)
a una soldadura. Figura D-10 es una ilustración de la exploración amplitud
El siguiente se utiliza para la calibración, ya sea del lado de revestimiento o
máxima y la tabulación de dichos datos con datos de exploración adicional
el lado sin revestir:
que podría ser tomada en el reflector re.
(un) Coloque la unidad de búsqueda de la máxima indicación de la
SDH, lo que da la indicación más alta.
(segundo) Ajuste el control de sensibilidad (ganancia) para proporcionar un
80% (± 5%) de indicación de FSH. Este es el nivel de referencia primaria.
D-90
Marcar el pico de esta indicación en la pantalla.
DOCUMENTACIÓN
Coloque la unidad de búsqueda para dar la máxima amplitud del
(do) Coloque la unidad de búsqueda de la máxima indicación de otro
reflector re.
SDH.
(un) Leer y registrar la máximo la amplitud de por ciento de DAC.
(re) Marcar el pico de la indicación en la pantalla.
(mi) Coloque la unidad de búsqueda de la máxima indicación de la
(segundo) Leer y registrar la lectura de barrido re fl ector a (en el lado
tercera SDH y marcar el pico en la pantalla.
izquierdo de la indicación en el barrido).
82
ARTÍCULO 4 - APÉNDICES no obligatoria
Fig. D-10
100
80
60
10
0%
40
DA
C
20
20% DAC
0
1
2
3
4
5
7
6
t
8
10
9
Reflector movió a través de la viga
NOTA GENERAL: A medida que el reflector se mueve a través del haz, la indicación de defecto alcanza el 20% DAC en divisiones
4.4 de barrido, los aumentos en la amplitud a 120% DAC en el 4,0 divisiones de barrido, y cae al 20% DAC en 3,6 divisiones de
barrido. El 20% de cambio de DAC en la lectura de barrido, dividido por la lectura de barrido espesor, los tiempos de 100
representa la profundidad reflector (es decir, 10% de t) o el 2 (a) dimensión de la indicación del subsuelo defecto.
HIGO. D-10 LECTURA REFLECTOR
Tabulación de los datos para la FIG. D-10
(un)
(segundo)
(do)
(re)
(mi)
(F)
(gramo)
(H)
20% DAC
Mínimo
Buscar Unidad
barrido máximo
Posición,
% lectura DAC
mm
Ubicación,
mm
(J)
(yo)
% de t
Máximo
barrer
Distancia
barrer
De
computación o
Posición lectura Posición lectura de profundidad de la superficie
120
4.0
4.6
23
3.6
4.2
4.4
5.2 10
80
4.0
4.6
22.1
3.8
4.3
4.2
4.8
observaciones
45
04.04 a 03.06
47.5
04.02 a 03.08
8.0
5
8.0
. . .
20
4.0
4.6
21.7
. . .
. . .
. . .
. . .
0
90
4.1
4.7
23.9
3.7
4.3
4.3
5.2
7,5 46
70
4.1
4.7
24.8
3.9
4.4
4.3
5.2
5
50
04.03 a 03.07
8.0
46
4.3 a 3.9
8.0
. . .
20
4.2
4.6
25
. . .
. . .
. . .
. . .
0
50
profundidad: 10% de t
longitud: 3,3 mm
NOTA GENERAL: Letras de las columnas se refieren a D-90 apartados. Las unidades de medida son arbitrarios, pero deben ser consistentes.
83
D-90
2001 SECCIÓN V
E-460
ANEXO E - computarizado
(do) Leer y registrar la posición de la unidad de búsqueda con respecto a la
TÉCNICAS DE IMAGEN
línea de referencia.
(re) Leer y registrar la ubicación de la indicación en la línea de intersección
E-410
ALCANCE
central de la viga con respecto a la línea de referencia de los puntos de
Este apéndice proporciona los requisitos para las técnicas de imagen del
referencia de diseño de soldadura.
ordenador.
Mover la unidad de búsqueda hacia el reflector hasta que la
amplitud cae a 60% DAC (amplitud mitad del máximo).
(mi) Leer y registrar la lectura mínima de barrido. (F) Leer y registrar
E-420
la posición mínima unidad de búsqueda.
GENERAL
técnicas de imagen computarizada (TCI) deberán satisfacer todos los
requisitos básicos instrumento descrito en T-431 y T-461. Las unidades de
Mover la unidad de búsqueda de distancia del reflector allá de la posición
búsqueda utilizadas para aplicaciones de transporte de fondos se
de la amplitud máxima hasta que la amplitud cae a 60% del CAD (la mitad
caracterizarán como se especifica en B-
del máximo de amplitud).
466. CIT serán cali fi cado de acuerdo con los requisitos para la detección
y / o dimensionamiento fl aw que son especificados en el área de
(gramo) Leer y registrar la lectura máxima de barrido. (H) Leer y registrar
instrucciones referencia.
la máxima posición de la unidad de búsqueda.
El procedimiento escrito para aplicaciones de transporte de fondos deberá
identificar la frecuencia de prueba especí fi ca y ancho de banda para ser utilizada.
Puntos de datos ( un) mediante ( h) supra deberá ser leído y grabado
Además, dichos procedimientos de definir las técnicas de procesamiento de
durante el examen. (Cálculos para yo)
señales, deberá incluir directrices explícitas para la interpretación de las imágenes,
profundidad, ( j) distancia de la superficie, y la longitud del reflector se
y deberán identificar la versión del código de software / programa a utilizar. Esta
harán antes de la finalización del informe de examen.
información también se incluirá en el informe de examen. Cada informe de examen
debe documentar los procesos de detección fi c y de formación de imágenes
específicas que se utilizaron de manera que estas funciones se pueden repetir con
(yo) Restar la lectura de barrido mínimo de la lectura de barrido
exactitud en un momento posterior si es necesario.
máximo y se divide por la lectura de barrido para un espesor de pared.
Multiplicar por 100 y expediente como profundidad en% de t (t pag soldadura
espesor)
El proceso de formación de imágenes computarizado incluirá una
(J) Restar la lectura máxima de barrido de la lectura de barrido para
característica que genera una escala dimensional (en dos o tres dimensiones,
un espesor de pared o utilizar la lectura de barrido mínimo, lo que da el
según el caso) para ayudar al operador en relación las características con
número más pequeño. Se divide el número por el barrido de lectura
para un espesor de pared. Multiplicar por 100 y expediente como distancia
imagen formada a las dimensiones reales, pertinentes del componente que está
siendo examinado. Además, los indicadores de factor de escala automatizados
se incluirán integralmente para relacionar colores y / o intensidad de la imagen a
desde la superficie en% de t y la longitud de la reflexión.
la variable relevante (es decir, amplitud de la señal, la atenuación, etc.).
Sucesivamente leer y registrar los datos a lo largo de trayectorias de exploración
en incrementos no mayores de nueve décimas partes del transductor (medida en
paralelo al cambio de exploración incremento) en el 60% DAC (media de amplitud
máxima). Continuar exploraciones hasta que la amplitud máxima que se encuentra en
los puntos extremos de la ector re fl es 20% DAC.
E-460
La longitud del reflector es la distancia entre los puntos finales
CALIBRACIÓN
La calibración de los sistemas de imágenes de ordenador se llevará a cabo de
medidos en el reflector re. La longitud será repartida por t y multiplicado
tal manera que los niveles de ganancia están optimizados para fines de adquisición
por 100 para dar longitud en% de t. Los datos tabulados en la Fig. D-10
de datos y de imágenes. El proceso de calibración basada en DAC tradicional
se lleva a cabo a ambos lados de la máxima indicada de señal hasta
también puede ser necesaria para establecer el escaneado fi específico y / o
que se alcanza el punto de DAC 20% en ambos extremos de la
niveles de sensibilidad de detección de aw fl.
indicación. Sólo es necesario para registrar los datos para obtener la
longitud (3.3) y la profundidad, (10% de
Para aquellos que emplean las TIC procesamiento de señales para
lograr la mejora de imagen (SAFT-UT, L-SAFT, y la holografía de
t). La primera, tercera y sexta líneas de la tabulación de los datos son todos los
banda ancha), al menos un bloque especial resolución y la profundidad
que son necesarios para definir la través de la pared y la longitud de la
lateral discriminación para cada examen fi cado se utiliza además de la
indicación en este ejemplo.
84
ARTÍCULO 4 - APÉNDICES no obligatoria
E-460
E-471
bloque de calibración aplicable exige el artículo 4. Estos bloques
procesamiento tura. El proceso de SAFT-UT ofrece una ventaja inherente sobre
deberán cumplir con J-431.
los procesos físicos que se centran porque la imagen resultante es un volumen
completo, caracterización enfocada del volumen de material que está siendo
El bloque se describe en la Fig. E-460.1 proporciona un alcance efectivo de
resolución para 45 grados y 60 grados las unidades de búsqueda y caminos de
examinada. procesos centrados físicos tradicionales proporcionan datos sobre
metal hasta aproximadamente 4 pulg. (102 mm). Esto es adecuado para las
enfocadas sólo la profundidad de la zona de enfoque del transductor.
tuberías y componentes similares, pero se requieren longitudes de trayectoria más
Para el sistema de recogida de datos de impulso-eco típica utilizada con
largas para recipientes a presión del reactor. distancia mínima se requiere un
bloque más gruesa con los mismos tamaños de fl atbottom agujeros, espaciados,
SAFT-UT, una unidad de búsqueda centrado se coloca con el punto focal
profundidades, y tolerancias para las trayectorias de metal mayor que 4 pulg. (102
situado en la superficie del material bajo examen. Esta configuración con fi
mm), y un 4 pulg. (102 mm) entre el borde de los agujeros y se requiere que el
produce un haz ultrasónico divergente en el material. Alternativamente, una
borde del bloque. Estos bloques proporcionan un medio para determinar la
unidad de búsqueda de contactos de pequeño diámetro puede ser usado
resolución lateral y la discriminación de profundidad de un sistema de formación de
para generar un haz divergente. Como la unidad de búsqueda se explora
imágenes ultrasónicas.
sobre la superficie del material, el registro A-scan (forma de onda de RF) se
digitaliza para cada posición de la unidad de búsqueda. Cualquier reflector
presentes produce una colección de ecos en los registros A-scan. Para un
punto único primaria reflector, la colección de ecos formará una superficie
Resolución lateral se define como el espacio mínimo entre los agujeros que
puede ser resuelto por el sistema. Los agujeros están espaciados de tal
hiperbólica dentro del volumen conjunto de datos. La forma de la
manera que la separación máxima entre bordes adyacentes de orificios
hiperboloide está determinada por la profundidad del reflector y de la
sucesivos es 1,000 in. (25.400 mm). El espaciamiento disminuye
velocidad del sonido en el material. La relación entre la localización de eco
progresivamente por un factor de dos entre pares sucesivos de agujeros, y el
en la serie de A-scan y la ubicación real de volver reflectores dentro del
espaciado mínimo es de 0,015 pulg. (0,381 mm). discriminación de
material hace que sea posible reconstruir una imagen de alta resolución
profundidad se demostró mediante la observación de las trayectorias
que tiene una alta relación señal-ruido. Dos SAFT-UT con fi guraciones
mostradas metal (o las profundidades) de los diversos orificios. Debido a que
separadas son posibles: (a) el single-transductor, de impulso-eco con fi
las caras del agujero no son paralelas a la superficie de exploración, cada
guración; y (b) el doble transductor, en tándem con fi guración (TSAFT).
agujero muestra un intervalo [acerca
0,1 pulg. (2,54 mm)] de las trayectorias de metal. La “A” fila tiene la trayectoria de
metal media más corta, la fila de “C” tiene el camino de metal media más larga, y
En general, los aws fl detectados pueden ser categorizados como
los orificios “B” variar en la trayectoria de metal media.
volumétricas, planar, o grietas. dimensionamiento de defectos se realiza
se requieren bloques adicionales para verificar resolución y profundidad
normalmente mediante la medición de la extensión vertical (grietas) o la
de discriminación lateral cuando se realiza el examen longitudinalwave 0 deg.
distancia de la sección transversal (volumétrico / planar) en los niveles de dB -6
longitudes de trayectoria de metal de 2 pulg. y 8 pulg. (51 mm y 203 mm),
una vez que el aw fl se ha aislado y la imagen normalizada al valor máximo de la
según el caso, se proporcionan como se muestra en la Fig. E-460.2 para la
aw fl. Las imágenes múltiples se requieren a menudo para clasificar
sección espesores de 4 pulg. (102 mm), y un bloque similar con 8 en. se
adecuadamente (clasificar) la fl aw y caracterizar la forma fl aw real y tamaño.
necesita (203 mm) caminos de metal para la sección espesores de más de 4
Tandem dimensionamiento y análisis utiliza técnicas similares a impulso-eco,
pulg. (102 mm).
sino que proporciona las imágenes que pueden ser más fáciles de interpretar.
La ubicación de las indicaciones en el espacio de imagen es
E-470
EXAMEN
E-471
Centrándose sintética Técnica abertura
influenciada por el espesor del material, la velocidad, y el ángulo
refractado de la viga UT. El algoritmo SAFT asume material isotrópico y
homogéneo; es decir, el algoritmo SAFT requiere (para un rendimiento
para ultrasónico Prueba (SAFT-UT)
óptimo) que la velocidad acústica sea conocida con precisión y
constante en todo el volumen de material.
El Synthetic Aperture técnica de enfoque (SAFT) se refiere a un proceso
Resolución lateral es la capacidad del sistema de UT SAFT para
en el que las propiedades focal de una gran apertura centraron unidad de
búsqueda son generados sintéticamente a partir de los datos recogidos
distinguir entre dos objetos en un plano XY que es perpendicular al eje
durante la exploración sobre un área grande con una pequeña unidad de
del haz de sonido. Resolución lateral se mide mediante la
búsqueda con un haz de sonido divergentes. El procesamiento requerido para
determinación de la separación mínima entre pares de orificios que
enfocar esta colección de datos es un proceso tridimensional llamado de
están claramente separados en la imagen. Se considera que un par de
formación de haz, suma coherente, o aper- sintética
agujeros separados si la amplitud de señal en el
85
Fig. E-460.1
2001 SECCIÓN V
1,250 pulg. (31,75 mm)
0,750 pulg. (19,05 mm)
0,500 pulg. (12,7 mm)
0,375 pulg. (9,53 mm)
Todos los diámetros de los agujeros
0,313 pulg. (7,95 mm)
0,250 pulg. (6,35 mm)
0,281 pulg. (7,14 mm)
0,266 pulg. (6,76 mm)
A8 A7 A6 A5 A4 A3
A1
A2
B7 B6 B5 B4
B3
C8 C7 C6 C5 C4
C3
B1
B2
1,250 pulg.
(31,75 mm)
2,000 pulg. (50,80 mm)
2,500 pulg. (63,50 mm)
2,875 pulg. (73,03 mm)
3,187 pulg. (80,95 mm)
3,469 pulg. (88,11 mm)
3,734 pulg. (94,84 mm)
detalle 1
5,87 pulg. (149,1 mm)
8,00 pulg. (203,2
2,79 pulg. (70,9 mm)
mm)
VT
TLA
40
1,01 pulg. (25,7
00
Ver detalle 1
mm)
2,13 pulg. (54,1
mm)
30 grados
Ver detalle 1
1,750 pulg. (44,45
mm)
45 grados
1,000 pulg.
3,50 pulg. (88,9
(25,40 mm)
mm)
2 X 0,50 pulg.
(12,7 mm)
9,75 pulg. (247,7 mm)
HIGO. E-460,1 resolución lateral y la Discriminación PROFUNDIDAD
Bloque para 45 grados y 60 APLICACIONES deg
(No a escala)
86
ARTÍCULO 4 - APÉNDICES no obligatoria
E-471
E-473
NOTAS a la Fig. E-460.1:
Indicaciones generales: (a) Ver girado para
mayor claridad.
(B) superficie Insoni fi cación se muestra en la parte inferior. (C) Tolerancias: decimales: 0.XX pag ± 0,03; 0.XXX pag ±
0.005; angular: ± 1 ° C. (D) del agujero identificación:
(1) grabar o sello como se muestra con los personajes en posición vertical cuando la gran cara del bloque es hacia arriba. (2) altura de los caracteres
nominal es de 0,25 pulg. (6,4 mm) (3) iniciar la numeración en el lado más ancho espaciados. (4) la fila de etiquetas de ocho agujeros A1-A8. (5) ajustada
de la etiqueta diagonal de siete agujeros B1-B7. (6) Label restante seis agujeros C3-C8.
(E) Agujero espaciamiento: mínimo 0,010 en (0,25 mm) de material entre los bordes de los orificios.. profundidades (f)
del agujero: 30 DEG. cara: 1,000 en (25,40 mm);. 45 grados. cara: 1,750 en (g) presentación Dibujo:. orificios se
muestran de la cara perforada de bloque.
(H) Agujero termina a FL en y paralelo a la superficie perforado dentro de 0,001 pulg. (0,03 mm) a través de la cara de agujero. (I) el radio máximo
entre el lado y la cara de agujero es 0,005 pulg. (0,13 mm)
imagen disminuye en al menos 6 dB entre las señales de los picos de dos
la imagen superpuesta de dos mediciones hechas usando diferentes
agujeros.
direcciones de incidencia ofrece otra.
Todas las restricciones para SAFT-UT aplican a L-SAFT y
resolución de profundidad es la capacidad de un sistema de UT SAFT
para distinguir entre la profundidad de dos orificios cuyos ejes son
viceversa. La diferencia entre L-SAFT y SAFTUT es que SAFTUT
paralelos al eje mayor del haz de sonido. resolución de profundidad se
proporciona una imagen de mayor resolución que puede obtenerse con
mide determinando la diferencia mínima en profundidad entre dos
L-SAFT.
agujeros.
La resolución lateral para un sistema de SAFT-UT es típicamente de 1,5
E-473
longitudes de onda (o mejor) para el examen de los componentes ferríticos
forjados, y 2,0 longitudes de onda (o mejor) para el examen de componentes
La holografía banda ancha Técnica
La técnica de holografía produce una imagen objeto por el cálculo
de acero inoxidable forjado. La resolución de profundidad para estos mismos
basado en los datos de un modelo de difracción. Si el resultado es una
materiales será típicamente de 0,25 longitudes de onda (o mejor).
imagen de dos dimensiones y los datos son adquiridos a lo largo de una
exploración, el proceso se denomina “lineholography”. Si el resultado es una
imagen de dos dimensiones basado en un área escaneada, entonces se le
E-472
llama “holografía”. Para el caso especial de la aplicación de principios de
Line-Synthetic Aperture Centrándose
holografía a prueba ultrasónica, la imagen de AWS fl (en más de una
Technique (L-SAFT)
dimensión) se puede obtener mediante el registro de la amplitud, fase y
de--tiempo fl ight datos del volumen escaneada. El proceso de holografía
La línea de apertura sintética de enfoque Técnica (LSAFT) es útil para
analizar detectado indicios. LSAFT es un proceso de dos dimensiones en el que
ofrece una característica única debido a que la imagen resultante es una
las propiedades focal de una gran apertura, se centraron linealmente unidad de
caracterización de una o dos dimensiones del material.
búsqueda son generados sintéticamente a partir de los datos recogidos a través
de una línea de exploración utilizando una pequeña unidad de búsqueda con un
Esta técnica proporciona una buena resolución en la dirección axial
haz de sonido divergente. El procesamiento requerido para imponer un efecto de
enfoque de los datos adquiridos es también llamado el procesamiento de apertura
mediante el uso de unidades de búsqueda de banda ancha. Estas unidades
sintética. El sistema L-SAFT puede funcionar como equipo de UT convencional
de búsqueda transmiten un impulso muy corto, y por lo tanto se mejora la
para la grabación de datos. Que funcionará con cualquiera de los transductores
resolución axial. El máximo ancho de banda puede ser de 20 MHz sin utilizar
de una o dualelement.
fi ltrado, y hasta 8 MHz con un filtro integrado.
mediciones de análisis, en general, se llevan a cabo para obtener
mediciones de análisis, en general, se llevan a cabo para determinar el
información sobre el tamaño, el volumen, la ubicación y con fi guración de
tamaño fl aw, el volumen, la ubicación y configuración con fi. Para decidir si el fl
detectado fl AWS. Los resultados de los holografía-mediciones por línea de
aw es una grieta o volumétrica, la respuesta de la grieta de punta de difracción
exploración muestran una imagen de dos dimensiones de la aw fl por pantalla
ofrece un criterio, y
un código de colores.
87
Fig. E-460.2
2001 SECCIÓN V
Y
S
UV
K
XL
W
UN
T
do
un
eg
s
R
n
po
L
M
Q
HG
re
m
F
do
i
yo
J
Y
superficie de
STUVWX
barrido
7,50 pulg. (190,5
mm)
R QP ONML
2 in. (50,8 mm)
mi
do
segundo
D 8 in. (203,2
mm)
J
yo
HG
UN
FK
X
Índice
2 in. (50,8 mm)
Y
4 en.
tolerancias (101,6 mm)
0,010
Generales
pulg. Y 1 ° (0,25 mm y
1 °)
HIGO. E-BLOQUE 460,2 resolución lateral y profundidad para APLICACIONES 0 deg
88
ARTÍCULO 4 - APÉNDICES no obligatoria
E-473
E-476
El tamaño de AWS FL puede ser determinada mediante el uso de la caída de 6
con otras técnicas, el proceso de disposición en fase asume material
dB en el código de color. Más información sobre las dimensiones aw fl se
isotrópico y homogéneo, cuya velocidad acústica es constante y
obtiene mediante exploraciones en diferentes direcciones (es decir, paralelas,
conocida con precisión.
perpendiculares) a diferentes ángulos de incidencia. Para decidir si el fl aw es
una grieta o una aw fl volumétrica, la técnica de punta de la grieta ofrece un
E-475
criterio y comparación de las dos mediciones desde diferentes direcciones de
Análisis LocusCurve UT-Amplitud Tiempo de
vuelo Técnica
incidencia ofrece otra. Los resultados de medición obtenidos por técnicas de
La técnica fl ight análisis locus-curva tiempo-de- UT-amplitud utiliza múltiples
imagen siempre requieren interpretación específica. Pequeñas variaciones en el
espesor del material, la velocidad del sonido, o el ángulo de haz refractado
unidades de búsqueda en impulso-eco, el transmisor-receptor, o en tándem con
pueden influir en los resultados de la reconstrucción. Los cálculos de
fi guración. Individualmente parámetros seleccionables controlar la compresión
procesamiento de la holografía también asumen que la velocidad se conoce con
de la información A-scan usando un algoritmo de reconocimiento de patrones,
precisión y constante durante todo el material.
de modo que sólo las amplitudes A-scan pertinentes se almacenan y se
procesan adicionalmente.
Los valores de los parámetros en el algoritmo de compresión A-scan
E-474
determinan cuántas pre-maldición y de cuántos picos post-maldición de media
Retirado UT Técnica de matriz
onda debe ser menor que una amplitud específica, de manera que esta mayor
La Técnica Phased Array-UT es un proceso en el que los datos de
amplitud es identi fi ed como señal como relevantes. Estos datos en bruto se
UT se generan por la variación incremental de controlado del ángulo
pueden mostrar en B-, C-, y D-scan (lateral, superior, y vista desde un extremo)
del haz ultrasónico en el azimutal o dirección lateral mientras escanea
presentaciones, con incrementos de código de color seleccionables para
el objeto bajo examen. Este proceso ofrece una ventaja sobre los
capacidades de amplitud y de zoom rápido. Este modo de funcionamiento es el
procesos que utilizan las unidades de búsqueda convencionales con
más adecuado para los propósitos de detección. Para la discriminación, se
ángulos de haz fijo, ya que adquiere mucha más información sobre el
aplica un algoritmo de fi ltrado espacio-bidimensional para buscar la correlación
objeto re fl eja mediante el uso de más ángulos de aspecto en el
del tiempo-de- fl ight datos en bruto con re fl ector de tiempo de vuelo típico-fl
choque directo.
trayectorias.
Cada unidad de búsqueda de elementos en fase se compone de una serie de
Tandem dimensionamiento y análisis utiliza técnicas similares a
elementos transductores cableadas individualmente sobre una cuña que se
activan por separado utilizando un patrón de retardo de tiempo
impulso-eco sino que proporciona las imágenes que pueden ser más fáciles
pre-seleccionable. Con un tiempo de retardo lineal entre los impulsos de
de interpretar ya que las reflexiones especular re de fl AWS orientado
transmisor, se genera un campo de sonido fi inclinado. Variando el ángulo de
perpendicular a la superficie se utilizan. Para grietas y planar fl AWS, los
refracción requiere una variación de la distribución lineal del tiempo de retardo.
resultados deben ser veri fi con las señales de grieta de punta de difracción
Dependiendo del diseño de la unidad de búsqueda, es posible variar
desde el extremo superior e inferior de la aw fl ya que los parámetros
electrónicamente o bien el ángulo de incidencia o el ángulo lateral / inclinación.
acústicos son muy sensibles a una reconstrucción de la imagen clara de estos
En el modo de recepción, la energía acústica se recibe por los elementos y las
fenómenos de refracción indicaciones punta fl aw y que es posible con esta
señales se someten a un proceso de suma utilizando el mismo patrón de retardo
tecnica.
de tiempo que se utilizó durante la transmisión.
La ubicación de las indicaciones en el espacio de imagen es influenciada
por el espesor del material y la velocidad del sonido real (es decir, se supone
isótropo y homogéneo material). Sin embargo, el deterioro de las influencias de
dimensionamiento de defectos se realiza normalmente mediante la medición
de la extensión vertical (en el caso de grietas) o la distancia de la sección
material anisótropo (tales como revestimiento) se puede reducir mediante la
transversal (en el caso de volumétrica / planar fl AWS) en los 6 niveles dB una
selección apropiada de los parámetros de la unidad de búsqueda.
vez que el aw fl se ha aislado y la imagen normalizada. Tandem
dimensionamiento y análisis utiliza técnicas similares a impulso-eco sino que
proporciona las imágenes que son más fáciles de interpretar ya que especular
E-476
reflexión se utiliza para defectos orientado perpendicular a la superficie. Para
Automatizado de adquisición de datos y
Técnica de escaneo
grietas y defectos planares, el resultado debe ser veri fi usando señales de grieta
adquisición de datos automatizada y de formación de imágenes es una
de punta de difracción de los extremos superior e inferior de la aw fl, ya que el
enfoque de agrupación en fase con reconstrucción tomográfica es más sensible
técnica multicanal que puede ser utilizado para la adquisición y análisis de
a las indicaciones de punta fl aw y es capaz de dar una clara reconstrucción de
datos UT tanto para aplicaciones de contacto y de inmersión. Esta técnica
la imagen de estos fenómenos de refracción. Como
permite la interconexión entre los modos de calibración, de adquisición y de
análisis; y para la asignación de fi c examen con fi configuraciones específicas.
89
2001 SECCIÓN V
E-476
F-422.1
Esta técnica utiliza una pantalla en tiempo real para el control de la calidad de
F-422
los datos recogidos, y proporciona para la visualización de rangos de amplitud
procedimiento escrito. boquilla ultrasónica dentro de examen radio se
fi cas y la capacidad de analizar datos de los picos a través del movimiento
realiza de acuerdo con un procedimiento escrito. El procedimiento será
objetivo fi ltrado. Una función de cursor permite el escaneo de los datos RF
cali fi cado en la medida especificada en la presente subsección. El
una forma de onda a la vez para ayudar en la grieta de encolado usando
procedimiento de examen contendrá una exposición de los alcances que
tipdiffraction. Para ambos datos de los picos y de RF, la técnica puede
específicamente de fi ne los límites del procedimiento de aplicación. El
recoger, mostrar y analizar los datos para la exploración, ya sea en la dirección
Escritos requisitos del procedimiento F-422,1
procedimiento de examen deberá especificar un único valor o un rango de
circunferencial axial o.
valores para las variables esenciales que aparecen. El procedimiento de
examen deberá especificar, como mínimo, las siguientes variables
Esta técnica facilita la detección y dimensionamiento de tanto volumétrica y planar
esenciales:
fl AWS. Para dimensionar AWS fl volumétricos, métodos basados ​en la amplitud se
pueden utilizar; y para el dimensionamiento planar fl AWS, el método grieta de punta
(un) instrumento o descripción del sistema incluyendo Fabricante y el modelo del
de difracción puede ser utilizado. Una característica de superposición permite al
generador de impulsos, el receptor y amplificador;
analista para generar una imagen compuesta utilizando varios conjuntos de datos de
ultrasonidos. Todos los datos que se muestran en el modo de analizar pueden ser
(segundo) técnica ultrasónica;
visualizadas con respecto a las coordenadas físicas del componente.
(do) unidades de búsqueda, incluyendo:
(1) número, tamaño, forma, y ​con fi guración de elementos activos
(2) frecuencia central y, o bien el ancho de banda o de forma de onda para
cada elemento activo
(3) el modo de la propagación del sonido (por ejemplo, longitudinal, de corte, etc.)
Apéndice F - BOQUILLA
EXAMEN
F-410
(re) equipo de escaneo (cuando sea aplicable);
(1) tipo; manipulador (s), puentes, dispositivos semi-automáticas
ALCANCE
Este Apéndice proporciona requisitos para equipos y cuali
(2) controles de indexación, escáneres
procedimiento fi cación y / o requali fi cación de exámenes ultrasónicos
(3) número de conectores ultrasónicos; y la longitud del cable
manuales o automatizados de la boquilla de radio interior. El fabricante,
la agencia de examen, u otro usuario de este apéndice se encargará
(mi) técnica (s) de exploración, incluyendo:
de calificar la técnica, equipo y procedimiento escrito (s) de
(1) patrón de exploración (modelado) y dirección del haz primario
conformidad con este apéndice, y / o según lo requiera el área de
instrucciones referencia.
(2) máxima velocidad de escaneado
(3) tasa mínima y máxima de repetición de impulsos
El equipo y de rendimiento procedimiento requisitos de
demostración se especifica en este apéndice puede ser satisi ed fi
(4) velocidad de muestreo mínima (sistemas de grabación automática)
simultáneamente o en conjunción con otro catión cuali fi (s) / ver fi
cación y / o la demostración de cationes fi requali de acuerdo con el
(5) extensión de la exploración y la acción a ser tomada por las restricciones
presente apéndice.
geométricas.
(F) métodos de calibración para la detección. Métodos de
calibración incluyen todas las acciones necesarias para asegurar que
la precisión de las localizaciones de amplitud de la señal y de barrido
F-420
GENERAL
del sistema de examen (si se muestra, grabados, o procesados
​automáticamente) son repetibles de examen a examen. Cualquier
El equipo y el procedimiento se considerarán cali fi cado para la
método de lograr la calibración del sistema se registrará. Una
detección de AWS fl después de completar con éxito la demostración
descripción de la sensibilidad calibrada se incluirá en el procedimiento.
de rendimiento especificado en F423, Procedimiento Quali fi cación.
(gramo) datos de inspección mínima y / o de calibración a ser grabados, y
F-421
medio (es decir, la hoja de calibración y / o disco magnético)
Requisitos del personal
El personal debe ser cali fi cado y certi fi cado de acuerdo con los
(H) método de grabación de datos, y equipo de grabación (gráfico de
requisitos del código de referencia.
cinta, cinta analógica, digitalización);
90
ARTÍCULO 4 - APÉNDICES no obligatoria
F-422.1
F-432.1
F-432
(yo) método y los criterios para la discriminación de indicaciones (por
ejemplo, geométrico frente fl aw), y para la profundidad de fl AWS; requisitos de
Quali fi cación Specimen
(un) El proceso salvedad se llevará a cabo utilizando una escala
condiciones superficiales, los requisitos de montaje del escáner;
completa o boquilla de la sección parcial (maqueta), que es
dimensionalmente su fi ciente para contener el camino máximo del haz, el
(J) requisitos de condiciones superficiales, los requisitos de montaje del
volumen de examen, y los reflectores necesarios que han de ser detectado.
escáner;
(K) identificación de cuali espécimen fi cación, en general con fi guración;
(segundo) Si las vigas que examinan pasan sólo a través de la forja de la
material, la forma del producto, espesor de la cáscara, dio espesor barril y
boquilla, la maqueta puede ser una forja de la boquilla, o segmento de una forja,
diámetro (s);
que puede ser fijo en una estructura para simular superficies de los vasos
(L) rango variable esencial (s).
adyacentes según sea necesario para la alineación de examen. Si las vigas que
examinan pasan a través de la boquilla para bombardear de soldadura, la maqueta
F-422.2 esencial Variable Requali fi cación. Cuando las variables
contendrá de soldadura de la boquilla y componentes de la cubierta de suf tamaño
esenciales superen las tolerancias especi fi cado en el procedimiento
fi ciente para permitir la salvedad.
de cali fi cación, la prueba salvedad se repetirá de acuerdo con F-423.
(do) El espécimen cuali fi cación deberán cumplir los requisitos del
catión (s) específico recipiente fi con respecto a:
F-423
(1) los requisitos básicos bloque de calibración de material
Procedimiento Quali fi cación
(J-431).
El procedimiento se considerará cali fi cado para la detección cuando todos
(2) Curvatura. Las curvaturas de examen y la reflexión de superficie
calificar re reflectores se encuentran dentro de
sobre la maqueta de la boquilla deberán ser similares a los curvaturas en la
1,5 pulg. (38 mm) de su verdadera posición (x e y). Dimensionamiento
boquilla en el recipiente. Los rangos de tamaño en F-432 (c) (6) a
salvedad, cuando es requerida, deberá estar de acuerdo con referencia a los
continuación se considera que es curvaturas similares.
requisitos del Código.
(3) proceso de soldadura (cuando sea aplicable).
(4) de revestimiento. Si está revestida la superficie interior de la boquilla en
F-424
Procedimiento Requali fi cación
el recipiente, la superficie interior de la maqueta boquilla será revestido utilizando el
mismo método de soldadura (es decir, el rodillo unido, soldadura manual de
El procedimiento deberá requerir catión fi requali cuando una variable
depositado, alambre automático deposita, o tira automática depositado). En el caso
esencial del procedimiento cualificada ha sido cambiado y / o superado.
de que el método de revestimiento no se conoce o es poco práctico para aplicar
sobre la maqueta, revestimiento se puede aplicar usando el método de depósito de
soldadura manual. Si la superficie interior de la boquilla para ser examinado no está
revestida, la superficie interior de la maqueta boquilla puede estar revestido,
F-430
EQUIPO
F-431
REQUISITOS DEL iNSTRUMENTO
siempre que la re reflectores están contenidas dentro de la interfaz de metal de
base al volumen requerido.
(un) Un tipo de impulso-eco de instrumento y / o exploración ultrasónica
sistema deberá
ser
usado.
los
NOTA: El recipiente dirección revestimiento, cuando se conozca, debe ser simulado.
instrumento / sistema estará equipado con un control de ganancia escalonada
calibrada en unidades de 2,0 dB o menos.
(5) Espesor. espécimen calibración y / o maqueta será igual o
(segundo) El sistema deberá presentar el siguiente:
superior al espesor máximo componente en la región a ser cali fi cado.
(1) Frecuencia central:
(un) Para los sistemas de examen con anchos de banda de
(6) Los límites de ratio para superficies curvas. intervalo de diámetro
menos de 30%, la frecuencia central no cambiará más de ± 5%.
de maqueta en el área de salvedad será determinada por la Fig. J-431. Para
diámetros mayores de 4 pulg. (102 mm), la curvatura maqueta deberá estar
(segundo) Para los sistemas de examen con anchos de banda de
en el intervalo de 0,9 a 1,5 veces la boquilla bajo examen.
30% o mayor, la frecuencia central del sistema no debe variar más de ± 10%.
F-432.1 Quali fi cación Specimen Re reflectores. La muestra de cali fi
(2) Ancho de banda:
cación deberán contener un mínimo de tres reflectores re dentro del volumen de
(un) El ancho de banda de examen no podrá cambiar más de ±
10%.
examen para la detección de cuali fi cación. Opcionalmente, inducidos o grietas
NOTA: El ancho de banda se mide en los puntos de -6 dB.
Adicionalmente
embebidos pueden ser utilizados en lugar de reflectores mecanizadas.
91
2001 SECCIÓN V
F-432.1
G-461
TABLA G-461
estos re reflectores se pueden emplear para la demostración de las capacidades de
FACTOR DE TRANSDUCTORES F 1 PARA VARIOS
dimensionamiento del procedimiento, cuando sea requerido por el Código de referencia.
El transductor ultrasónico diámetros y
FRECUENCIAS
F-Re 432,2 reflectores. La cali fi cación re fl ectores se distribuirá
Unidades SISTEMA DE EE.UU.
dentro del volumen examen y deberá cumplir los siguientes requisitos.
Los diámetros de transductor, en.
0.25
Frecuencia
(un) Re reflectores serán distribuidos radialmente en dos zonas con
0.75
0.5
(± 45 °), la Zona 2 es los dos cuadrantes restantes, centradas como eje
1.0
2.58
10.3
23.2
41.3
horizontal de la boquilla.
2.25
5.81
23.2
52.2
92.9
(segundo) reflectores mecanizadas deberán colocarse dentro del
1.125
F 1, en.
megahercio
al menos un reflector re en cada zona. Zona 1 oscila entre 0 ° y 180 °
1.0
5.0
12.9
10.0
25.8
51,2 116
232
103
volumen examen radios interno de la boquilla y específica ed a ser
52.3
118
207
262
413
523
Unidades SI
orientado paralelo al plano radial axial de la boquilla dentro de una
Transductor diámetros, mm
tolerancia de fabricación de ± 2 °.
6.4
Frecuencia
(do) Mecanizadas reflectores serán especi fi que ser orientado
19
13
tolerancia de fabricación de ± 2 °.
65.5
1.0
(re) Re reflectores tendrán una longitud máxima de 1,0 pulg. (25
mm), y una anchura nominal de 0,0625 pulg. (1,59 mm) (± 10%).
29
F 1, mm
megahercio
perpendicularmente a la superficie de ID de la boquilla dentro de una
25
262
590
1 049
1 328
2 987
148
5.0
328
1 314
2 958
5 258
6 655
10.0
655
2 622
5 900
10 490
13 276
590
1 327
2 360
2.25
(mi) Mecanizadas reflectores tendrán rangos de profundidad, medida
desde la superficie interior del material de base.
(1) Re fl ector Nº 1 - 0,201 a 0,350
(2) Re fl ector Nº 2 - 0,351 a 0,550
APÉNDICE G - ALTERNOS
(3) Re fl ector Nº 3 - 0,551 a 0,750
bloque de calibración
CONFIGURACIÓN
(F) se permite grieta inducida re reflectores, siempre que se
encuentran de acuerdo con F-432.2 (a) y (b) y sus profundidades están
G-410
dentro de la gama de reflectores en F-432.2 (e).
ALCANCE
Este apéndice proporciona orientación para el uso de FL en bloques de
calibración básicos de diferentes espesores para calibrar el examen de los
materiales de superficie convexos mayores de 20 pulg. (508 mm) de diámetro.
Un ajuste de ganancia del receptor puede ser necesario cuando fl en los bloques
de calibración se utilizan. Las correcciones de ganancia se aplican a la porción
F-460
de campo lejano del haz de sonido.
CALIBRACIÓN
La calibración se define como todos los procesos necesarios para con fi
gurar el sistema de exámenes antes del examen que debe ser realizado con
el fin de calificar satisfactoriamente el equipo y procedimiento. ajustes de
calibración de instrumentos usados ​durante el procedimiento de cuali fi cación
se repetirán durante posteriores exámenes de campo. simuladores de
G-460
CALIBRACIÓN
G-461
Determinación de corrección de ganancia
Para determinar el aumento requerido en la ganancia, la relación del
calibración se pueden emplear para la calibración del instrumento de campo
siempre que puedan ser correlacionadas con la calibración original en el
radio de materiales, R, al radio crítico del transductor, R do, debe ser
bloque de calibración básico (si se utiliza) durante la calibración original.
evaluado como sigue.
(un) Cuando la relación de R / R do, el radio de curvatura del material R
dividido por el radio crítico del transductor R do de la Tabla G-461 y la
Fig. G-461 (a), es igual o mayor que 1,0, no se requiere corrección de
la ganancia.
Los controles de calibración F-461
Si se utiliza, posteriores comprobaciones de calibración se pueden
realizar en la cuali espécimen fi cación, maqueta, y o bloque / calibración
(segundo) Cuando la relación de R / R do es inferior a 1,0, la corrección de la
simulador (s).
ganancia se debe obtener de la Fig. G-461 (b).
92
ARTÍCULO 4 - APÉNDICES no obligatoria
Fig. G-461 (a)
1000 (25400)
500 (12 700)
200 (5 080)
100 (2540)
en Letras
50 (1270)
Crítico Radius, Rc en. (Mm)
licenciado
do
20 (508)
re
10 (254)
mi
5,0 (127)
2,0 (51)
1,0 (25)
0,5 (13)
1.0
2.0
5.0
10
20
50
100
200
Factor transductor F1
Curva
AB
acoplante
transductor Wearface
El aceite de motor o el aceite de
El óxido de aluminio o carburo de boro cuarzo
motor de agua o agua glicerina o
C
syn. éster de glicerina o syn. éster
El óxido de aluminio o carburo de boro cuarzo
Motor aceite o agua glicerina o
plástica
syn. ester
DE
HIGO. G-461 (a) CRITICAL RADIUS R do Para las combinaciones de transductor / acoplador
93
500
Fig. G-461 (b)
2001 SECCIÓN V
HIGO. G-461 (b) factor de corrección (GAIN) para los parámetros de exploración ultrasónica VARIOS
94
ARTÍCULO 4 - APÉNDICES no obligatoria
G-461
I-471
(do) Los siguientes datos reflector se registrarán cuando un ector re
(C) Ejemplo. El material con una 10 pulg. (254 mm) de radio ( R) será examinada con
fl excede de 20% DAC.
un 1 pulg. (25 mm) de diámetro 2,25 MHz carburo de boro unidad de búsqueda enfrentado
usando glicerina como un medio de acoplamiento.
(1) por ciento máximo de DAC, la lectura de barrido de indicación, posición de la
unidad de búsqueda, la ubicación a lo largo de la longitud de la soldadura, y la dirección
(1) Determinar el factor de transductor apropiado,
del haz.
F 1 de la Tabla G-461; F 1 pag 92.9.
(2) A través de la pared Dimensión
(un) Para volver reflectores 20% a 100% DAC, la lectura
(2) Determina el R do la figura G-461 (a).; R do pag
100 in. (2 540 mm).
mínima de barrido y su posición y la ubicación a lo largo de la longitud
del reflector de 20% DAC cuando se aproxima al reflector de la
(3) Calcula el R / R do proporción; 10 en. / 100 en. pag 0.1
dirección de la señal máxima.
(254 mm / 2 540 mm pag 0.1).
(4) Usando Fig G-461 (b), obtenga el aumento de ganancia requerida.; 12
(segundo) Para volver reflectores 20% a 100% DAC, la lectura
dB.
máxima de barrido y su posición y la ubicación a lo largo de la longitud del
Este aumento de ganancia calibra el examen sobre la superficie curva de
calibración después de establecer la sensibilidad en un fl en el bloque de
reflector de 20% DAC cuando se aleja de la dirección de máxima señal de
calibración.
la re fl de ector.
(do) Para volver reflectores superiores a 100% DAC, la lectura
de barrido mínimo y su posición y la ubicación a lo largo de la longitud
del reflector para el 50% de la amplitud máxima cuando se aproxima al
reflector de la dirección de la señal máxima.
APÉNDICE H - Grabación ángulo de haz
EXAMEN DATOS
(re) Para volver reflectores superiores a 100% DAC, lectura
máxima de barrido y su posición y la ubicación a lo largo de la longitud
PARA PLANAR REFLECTORES H-410
del reflector para el 50% de la amplitud máxima cuando se aleja de la
ALCANCE
dirección de máxima señal de la re fl de ector.
Este Apéndice describe un método para la grabación de datos de la
(3) dimensión de longitud. La longitud del reflector se obtiene
exploración del haz de ángulo para planar re reflectores cuando
mediante el registro de la posición y ubicación a lo largo de la longitud de la
dimensionamiento basado amplitud se va a realizar.
soldadura como se determina por 20% de DAC para cada extremo del
reflector.
H-490
RECORDS / DOCUMENTACIÓN
ANEXO I - EXAMEN DE
(un) Registre toda la re reflectores que producen una respuesta igual o
Dadura de ángulo del haz
mayor que 20% de la corrección de la distancia de amplitud (DAC). Sin
unidades de búsqueda
embargo, la interfaz revestido metalúrgica re reflectores y pared posterior re fl
I-410
exiones no necesitan ser registrados. superficie Record re reflectores que
producen una respuesta igual o superior a la amplitud de calibración
ALCANCE
Este Apéndice describe un método de examen de las soldaduras utilizando
establecida por T-463.1.3 (c). Registrar toda la posición de la unidad de
unidades de búsqueda de haz angular.
búsqueda y las dimensiones de ubicación a la décima de pulgada.
(segundo) Obtener datos de las exploraciones sucesivas a incrementos no
mayores de nueve décimas partes de la medida en paralelo dimensión del
transductor para el cambio mínimo de la exploración (10% de superposición).
I-470
EXAMEN
I-471
Requisitos generales de exploración
Tres vigas angulares, que tienen ángulos nominales de 45 °, 60 °, y
Registro de datos para los puntos finales según lo determinado por el 20% de
DAC. Se debe poner énfasis en la medición de los parámetros que determinan
70 ° (con respecto a una perpendicular a la superficie de examen),
el reflector longitud, la altura y las distancias desde la superficie de examen a
generalmente se utilizarán. Beam ángulos distintos de 45 ° y 60 ° están
la parte superior e inferior de la reflector, ya que estas dimensiones son los
permitidos siempre la diferencia medida entre los ángulos es de al
factores más críticos en la determinación de la evaluación final y la disposición
menos 10 grados. Adicional t / 4 examen volumen haz angular se llevará
de la aw fl (ver D Apéndice para un ejemplo ilustrado).
a cabo en el volumen de material dentro de
1
95
/ 4 del espesor adyacente a la superficie de examen.
2001 SECCIÓN V
I-471
J-433
elemento vigas angulares onda longitudinal o de cizallamiento simple o
(3) material del mismo material catiónico específico, la forma del
doble en la gama de 60 ° a través de 70 ° (con respecto a
producto, y la condición de tratamiento térmico como el material al que se
perpendicular a la superficie de examen) se utilizará en esta t / 4 volumen.
aplica la unidad de búsqueda durante el examen.
(B) chapados. Cuando el material componente está revestido y el
revestimiento es un factor durante el examen, el bloque será revestido con el
I-472
Excepciones a los requisitos generales de
componente revestido ± espesor nominal 1 / 8 in. (3,2 mm). La deposición de clad
exploración
será por el mismo método (es decir, rollbonded, soldadura manual de
depositado, alambre automático deposita, o tira automática depositado) tal como
Otros ángulos pueden ser utilizados para el examen de:
se utiliza para revestir el componente a ser examinado. Cuando el método de
(un) fl ange soldaduras, cuando el examen se lleva a cabo desde la
revestimiento no es conocido o el método de revestimiento utilizado en el
cara brida;
componente es poco práctico para el bloque de revestimiento, deposición de
(segundo) boquillas y soldaduras de las toberas, cuando el examen se lleva a cabo
clad puede ser por el método manual. Cuando los materiales de los padres en
desde el orificio de la tobera;
los lados opuestos de una soldadura están revestidos por métodos diferentes, el
(do) de fijación y de apoyo soldaduras;
revestimiento en el bloque de calibración será aplicada por el método utilizado
(re) examen de uniones dobles cónicos.
en el lado de la soldadura de la que se llevará a cabo el examen. Cuando el
examen se lleva a cabo desde ambos lados, el bloque de calibración deberá
proporcionar para la calibración tanto para los métodos de revestimiento.
Cobertura examen
I-473
Cada pasada de la unidad de búsqueda se solapan un mínimo de 50%
de la dimensión transductor activo (elemento piezoeléctrico) perpendicular
a la dirección de la exploración.
(C) tratamiento térmico. El bloque de calibración debe recibir al menos el
mínimo de tratamiento de templado requerida por el material de especificación
para el tipo y grado y un tratamiento térmico posterior a la soldadura de al
menos 2 hr.
APÉNDICE J - ALTERNATIVE BASIC
(D) el acabado superficial. El acabado fi en las superficies del bloque será
CALIBRACIÓN BLOCK J-410
representativo de los acabados de superficie fi del componente.
ALCANCE
(E) Calidad del bloque. El material del bloque de calibración será examinado
Este Apéndice contiene la descripción de una alternativa al artículo 4,
T-434.2 para los bloques de calibración básicos utilizados para las técnicas de
por completo con una unidad de búsqueda viga recta. Las áreas que contienen
calibración de la distancia de amplitud de corrección (DAC).
indicaciones que exceden el restante de nuevo la reflexión serán excluidos de las
trayectorias de los rayos necesarios para llegar a los diferentes re fl ectores de
calibración.
J-430
EQUIPO
J-431
Bloque Básico de calibración
J-433
Calibración Re reflectores
(A) Calibración Básica Re reflectores. El lado de un agujero
El bloque de calibración básico (s) que contiene calibración básica re
reflectores para establecer una respuesta de referencia primaria del equipo y
perforado con su eje paralelo a la superficie del examen es la
para la construcción de una curva de corrección distanceamplitude deberá ser
calibración básica reflector. También se utilizó una muesca cuadrada.
como se muestra en la Fig. J-431. La calibración básica re reflectores se
La re fl superficie de las muescas eja será perpendicular a la superficie
encuentra ya sea en el material de la pieza o en un bloque de calibración
del bloque. Ver Fig. J-431.
básica.
(B) Scribe Line. Una línea de marcado, como se muestra en la Fig. J431 se
hará en la dirección del espesor a través de las líneas centrales de los
agujeros en línea y continuó a través de las dos superficies de examen del
J-432
bloque.
La calibración básica a partir de bloque
(C) adicionales reflectores. reflectores adicionales pueden ser instalados;
(A) La selección de bloque. El material del que se fabrica el bloque
estos reflectores re fl no interferirán con el establecimiento de la referencia
será de uno de los siguientes:
primaria.
(1) deserción boquilla del componente;
(D) Calibración Básico Bloque Con fi guración. Figura J431 muestra
(2) una prolongación componente;
guración bloque con fi con el tamaño de agujero y
96
ARTÍCULO 4 - APÉNDICES no obligatoria
Fig. J-431
2 pulg. De largo 1/8 a 1/4 pulg. De diámetro. extremo plano;
(51 mm de largo, 3,2 a 6 mm) muescas de molino 2 T profundo
[Nota (3)]
Una vista
2 pulg. (51
mm)
en el metal de base
2 pulg. (51 mm)
través de espesor revestido 2
agujeros de fondo redondo
T profundamente
T / 2 profundas [Notas (1), (3), (6) y (7) A
3 pulg. (76 mm) [Nota (1)]
Clad [Nota (4)]
T/4
T
líneas de grabado
T/2
6 pulg. (152 mm) [Nota (1)]
T/4
T / 4 [Nota (1)]
T / 4 [Nota (1)]
T / 4 [Nota (1)]
Perforados y escariados orificios 3
T / 2 [(1)] líneas de
pulg. (76 mm) de profundidad
[Nota (1)]
marcado
13/4 T [ Nota 1)]
1)]
Ver A [Nota (5)] 3 T [ Nota
1/2 pulg. (13 mm) por la escalera T
T/4
T
T/4
T/2
1 pulg. (25 mm) min. pasos más
allá T / 2
HIGO. J-431 bloque de calibración BASIC
97
Clad
2001 SECCIÓN V
J-433
J-433
NOTAS a la Fig. J-431:
Hay agujero lateral
La calibración básica
bloque Grosor T, en.
(Mm)
Espesor de soldadura t, in. (mm)
Más de 2 a 4 (51 a 102)
Más de 4 a 6 (102 a través de 152)
Más de 6 a 8 (152 a través de 203)
Más de 8 a 10 (203 a través de 254)
Más del 10 al 12 (254 a 305)
Durante 12 a través de 14 (305 a través de 356)
Más de 14 (356)
Diámetro, mm (pulg.)
[Nota 3)]
3
3 o t ( 76 o t)
5
7 o t ( 178 o t)
9 o t ( 230 o t)
7
t ± 1 ( t ± 25)
/ 8 ( 9.5)
/ dieciséis ( 11.1)
1
13 o t ( 330 o t)
/ 4 ( 6.4)
/ dieciséis ( 7.9)
3
11 o t ( 280 o t)
Diámetro, mm (pulg.)
[Notas (3) y (6)]
/ dieciséis ( 4.8)
1
5 o t ( 127 o t)
Agujero de fondo redondo
/ 2 ( 12.7)
[Nota 2)]
3
7
1
9
/ 2 ( 12.7)
/ dieciséis ( 14.3)
5
11
/ 8 ( 9.5)
/ dieciséis ( 11.1)
/ 8 ( 15.9)
/ dieciséis ( 17.5)
[Nota 2)]
NOTAS:
(1) Dimensiones mínimas.
(2) Para cada aumento de espesor de la soldadura de 2 pulg. (50,8 mm) o fracción de más de 14 pulg. (356 mm), el diámetro del agujero aumentará
1
/ dieciséis in. (1,6 mm).
(3) Las tolerancias para los diámetros de los agujeros serán ± 1 / 32 en (0,8 mm).; tolerancias en profundidad de la muesca serán + 10 y - 20% (sólo necesitan
tendrá lugar en el espesor de revestimiento más delgado a lo largo de la fl re superficie de la muesca eja); tolerancia en la ubicación del orificio a través del espesor será de ± 1 / 8 en (3,2 mm).;
tolerancias perpendiculares en muesca superficie reflectora será de ± 2 °; tolerancia de la longitud de la muesca será de ± 1 / 4
en. (± 6,4 mm).
(4) Clad no se incluirá en T.
(5) agujeros de calibración Subsurface 1 / 8 in. (3,2 mm) (máximo) de diámetro por 1 1 / 2 in. (38,1 mm) de profundidad (mínimo) deberá ser perforado en el CLAD
interfaz metal-base y por lo 1 / 2 in. (12,7 mm) incrementa a través T / 4 de la superficie revestida, también en 1 / 2 in. (12,7 mm) de la superficie sin revestir y al 1 / 2 in. (12,7 mm) incrementa a
través T / 4 de la superficie sin revestimiento. En cada caso, el agujero más próximo a la superficie deberá ser perforado en T / 2 desde el borde del bloque. agujeros en 1 / 2 in. (12,7 mm) de
espesor incrementos desde el orificio cerca de la superficie serán perforados en 1 en. intervalos mínimos (25,4 mm) a partir de T / 2.
(6) Ronda (semiesférica) orificios inferiores deberán ser perforados solamente cuando sea requerido por una sección de código Hacer referencia para las mediciones de propagación del haz
(Ver T-434.1) se utiliza y la técnica de B-60. Los agujeros de fondo redondo pueden estar situados en el bloque más grande de un conjunto de bloques básicos de calibración, o en un
bloque separado que representa el espesor máximo a ser examinados. (7) T / 2 agujero puede estar situado en el extremo opuesto del bloque.
ubicación. Cada espesor de la soldadura en el componente debe estar
El propósito de esta determinación, la dimensión de las unidades de
representado por un bloque que tiene un espesor en relación con la soldadura de
búsqueda de haz rectos o en ángulo FL en contacto de la superficie
componentes como se muestra en la Fig. J-431. Cuando el espesor de bloques ±
tangente al radio mínimo se utiliza en lugar del diámetro del transductor en
1 pulg. (25 mm) se extiende por dos de los rangos de espesor de la soldadura se
la Tabla A-10.
(F) Las soldaduras en materiales con diámetros de 20 pulg. (508 mm) y
muestran en la Fig. J-431, el uso del bloque debe ser aceptable en aquellas
porciones de cada intervalo de espesor cubiertos por 1 pulg. (25 mm). Los
menor. El bloque de calibración de base se curva para soldaduras en
agujeros deben estar de acuerdo con el espesor del bloque. Cuando se trata de
materiales con diámetros de 20 pulg. (508 mm) y menos. Un bloque de
dos o más bases espesores de material, el espesor del bloque de calibración
calibración básica curvada único puede usarse para calibrar el examen en
será ciente fi suf para contener toda la trayectoria del haz de exploración.
superficies en el intervalo de curvatura de 0,9 a 1,5 veces el diámetro
básico bloque de calibración. Por ejemplo, un 8 pulg. (203 mm) de diámetro
bloque de curvado se puede usar para calibrar el examen en las superficies
(E) Las soldaduras en materiales con diámetros superiores a 20 pulg.
en el intervalo de curvatura de 7,2 pulg. A 12 pulg. (183 mm a mm 305) de
(508 mm). Para el examen de las soldaduras en materiales en los que el
diámetro. El rango de curvatura de 0,94 pulg. A 20 pulg. (24 mm a 508 mm)
diámetro de la superficie examen es mayor que 20 pulg. (508 mm), un
de diámetro requiere seis curvaturas de bloque tal como se indica en la Fig.
único bloque de calibración básica curvada puede usarse para calibrar los
T-434.1.7.2 para cualquier intervalo de espesor como se indica en la Fig.
exámenes viga recta y el ángulo de las superficies en el intervalo de
J-431.
curvatura 0,9-1,5 veces el diámetro básico bloque de calibración.
Alternativamente, un FL en bloque de calibración básico pueden utilizarse
siempre que la convexa, cóncava, o radio mínimo compuesto curvatura a
(G) de retención y de control. Todos los bloques básicos de calibración
ser examinado es mayor que el radio crítico determinado por el Apéndice
para el examen deberán cumplir con los requisitos de conservación y control
A. Para
de la Sección del Código de referencia.
98
ARTÍCULO 4 - APÉNDICES no obligatoria
K-410
L-462
APÉNDICE K - grabación de datos del marco
L-430
EQUIPO
recto EXAMEN PARA PLANARES REFLECTORES
L-431
Sistema
K-410
equipos del sistema [por ejemplo, unidad de UT, ordenador, software, escáner (s),
ALCANCE
unidad de búsqueda (s), cable (s), gel de acoplamiento, codificador (s), etc.] se
describe en el procedimiento escrito.
Este Apéndice describe un método para la grabación de datos de la
exploración viga recta para planar re reflectores cuando dimensionamiento
basado amplitud se va a realizar.
L-432
demostración del bloque
(un) El material del bloque y forma (FL en o curva) será la misma
que la deseada para demostrar la exactitud del sistema.
K-470
EXAMEN
K-471
Superposición
(segundo) El bloque debe contener un mínimo de tres muescas
mecanizadas a profundidades de T / 4, T / 2, y 3T / 4, y con longitudes ( L) y,
en su caso, la orientación que la deseada para demostrar la exactitud de
Obtener datos de las exploraciones sucesivas a incrementos no mayores de nueve
tamaño del sistema. Ver Fig. L-432 para un ejemplo.
décimas partes de la medida en paralelo dimensión del transductor para el cambio
mínimo de la exploración (10% de superposición). Registro de datos para los puntos
muescas adicionales pueden ser necesarias dependiendo de:
finales según lo determinado por el 50% de DAC.
(1) el espesor del bloque;
(2) el número de zonas de examen el espesor del bloque se
divide en;
(3) si o no las zonas son de igual espesor (por ejemplo: tres
K-490
zonas se podían romper en una parte superior
RECORDS / DOCUMENTACIÓN
1
Registre toda la re reflectores que producen una respuesta igual o mayor que
/ 3, medio 1 / 3, y la parte inferior 1 / 3 frente a la parte superior 1 / 4, medio 1 / 2,
y la parte inferior 1 / 4); y
50% de la corrección de la distancia de amplitud (DAC). Sin embargo, la interfaz
(4) las profundidades deseadas por demostrar.
de vestidos y la pared posterior re fl exiones no necesitan ser registrados.
(do) Antes de la mecanización de las muescas, el material del bloque a
Registrar toda la posición de la unidad de búsqueda y las dimensiones de
través del cual deben recorrer los trayectos del sonido será examinada con
ubicación a la décima de pulgada.
el equipo del sistema para asegurarse de que no contiene reflectores que
interferirán con la manifestación.
APÉNDICE L - TOFD CALIBRADO
A03
DEMOSTRACIÓN / sonda DUAL - COMPUTER
Técnica de escaneo L-410
L-460
CALIBRACIÓN
L-461
Sistema
El sistema deberá ser calibrado por el procedimiento que se ha
ALCANCE
demostrado.
Este Apéndice proporciona una metodología que puede ser utilizado para
demostrar la capacidad de un sistema de UT para determinar con precisión la
L-462
profundidad y la longitud de muescas mecanizadas superficiales que se
originan en la superficie de examen de las señales difractadas resultantes
Verificaciones del sistema
Los siguientes controles se realizaron antes de la manifestación:
cuando un nonamplitude, Time-of-Flight-Difracción (TOFD) , sonda dual,
técnica de imagen de ordenador (CIT) se utiliza e incluye un sistema fl aw
(A) Registro de posición del codificador. El codificador de posición se
clasi fi cación / encolado.
mueve a través de una distancia medida de 20 pulg. (510 mm). El
sistema de lectura será de ± 1% [± 0,2 pulg. (5 mm)] de la distancia
medida. Codificadores en su defecto el control se re-calibrados y esta
comprobación repiten.
L-420
GENERAL
(B) Comprobar el espesor. Un FUNC.LIBRE se hará en el bloque de
medición. La distancia entre la onda lateral y primera señal de vuelta
Artículo 4 requisitos se aplican excepto fi como modi el presente documento.
de la pared será de ± 0,02
99
2001 SECCIÓN V
L-462
La L-482
Max. 0,20 pulg. (5
Max. de un cuarto de longitud
mm)
de onda UT
Notch detalles
O
El examen de la superficie
60 grados
60 grados
2 pulg. (51 mm)
min. (Típ.)
L min. (Típ.)
L ( típ.)
T/4
T/2
3T/4
T
C/L
NOTA GENERAL: longitud y anchura del bloque para ser adecuado para UT System Scanner.
HIGO. L-432 ejemplo de un bloque DEMOSTRACIÓN ordinario que contiene tres escalones
in. (0,5 mm) de espesor medido del bloque. Configuraciones de defecto
La L-482
de verificación tendrán la distancia de separación de la sonda ya sea
Determinaciones dimensionamiento de precisión
Dimensionamiento de precisión (%) se determinará mediante las siguientes
ajustado o su valor programado cambió y esta comprobación repite.
fórmulas:
(un) Profundidad:
L-470
EXAMEN
re re - re metro
re metro
El bloque de demostración debe ser escaneado por el procedimiento
100
y los datos grabados.
(segundo) Longitud:
Las manifestaciones pueden ser realizados utilizando:
(un) D-scan (exploración no paralela) técnicas
(segundo) B-scan (exploración paralelo) técnicas
L re - L metro
(do) técnicas D-scan (exploración no paralela) con las muescas
L metro
100
desviadas por cantidades variables a cada lado de estar centrado.
donde D re y yo re son la profundidad y la longitud de las muescas,
respectivamente, según lo determinado por el sistema de UT está demostrado,
y
L-480
EVALUACIÓN
L-481
Las determinaciones de tamaño
re metro y yo metro son la profundidad muescas y longitudes, respectivamente,
como se determina por medición física (es decir, como la replicación)
La profundidad de las muescas de la superficie de exploración y su
longitud se determinará por el procedimiento que ser demostrada.
NOTA: Utilice unidades consistentes.
99.1
ARTÍCULO 4 - APÉNDICES no obligatoria
L-483
L-483
L-491
Clasi fi cación / Dimensionamiento Sistema L-483.1 tamaño. Los
do pag velocidad del sonido longitudinal
defectos serán clasificados como sigue:
s pag la mitad de la distancia entre las dos sondas
(A) Top-superficie Conectado defectos. indicaciones de defectos compuestos
puntos de índice
únicamente de una señal difractada inferior de la punta y con un debilitamiento
t re pag la ight fl-tiempo de- en profundidad dt pag pag la
asociado, cambio, o la interrupción de la señal de onda lateral, se considerarán
longitud del pulso acústico
como que se extiende hasta la superficie superior a menos evaluado adicionalmente
re pag profundidad de la aw fl debajo de la exploración
por otros métodos de ECM.
(B) Defectos incorporado. indicaciones de defectos tanto con una señal
difractada superior e inferior de punta o únicamente una señal uppertip
superficie
NOTA: Utilice unidades consistentes.
(C) Parte inferior de la superficie conectada fl AWS. La altura de una parte
difractada y sin debilitamiento, cambio, o interrupción asociado de la señal de
inferior conectada a la superficie aw fl será determinada por la distancia entre la
vuelta de la pared se considerará incrustados.
señal superior de punta difractada y la señal de back-pared.
(C) Parte inferior de la superficie Flaws Conectado. indicaciones de defectos
compuestos únicamente de una señal difractada-punta superior y con un
desplazamiento asociado de la pared trasera o la interrupción de la señal de la pared
posterior, se considerarán como que se extiende a la superficie inferior a menos
evaluado adicionalmente por otros métodos de ECM.
L-483.3 Un error Longitud Determinación. La longitud aw fl será
determinada por la distancia entre el extremo fi tting cursurs hiperbólicas
o los puntos finales aw fl después de una apertura sintética programa
técnica (SAFT) de enfoque se ha ejecutado en los datos.
L-483.2 Defecto Altura Determinación. altura de defectos (a través de
la pared dimensión) se determina como sigue:
(A) Top-superficie Conectado defectos. La altura de una conectada la
parte superior de la superficie aw fl será determinada por la distancia entre la
onda lateral-superficie superior y la señal difractada inferior-tip.
L-490
DOCUMENTACIÓN
L-491
Informe de demostración
Además de los elementos aplicables en T-492, el informe de
demostración deberá contener la siguiente información:
(B) Defectos incorporado. La altura ( h) aw de un fl integrados se
determinará por:
(1) la distancia entre la señal superior de punta difractada y la
señal difractada inferior-tip o,
(2) el siguiente cálculo para AWS fl con sólo una señal superior de
punta difractada singular:
(un) programa computarizado identi fi cación y revisión;
(segundo) Modo (s) de propagación de la onda utilizada;
(do) bloque de demostración con fi guración (material, grosor y
curvatura);
(re) profundidades de muesca, longitudes, y, en su caso, la orientación (es
decir, axial o circunferencial);
h pag [ ( c (t d + t pag ) / 2) 2 - s 2)] 1/2 - re
(mi) los ajustes del instrumento y los datos de exploración;
(F) precisión de los resultados.
99,2 donde: