MEDIÇÃO D M Estudo da Capacidade do Processo A I C Conteúdos programáticos Estudo da Capacidade do Processo 1- Distinguir limites de controlo de limites de especificação 2- Pré-requisitos do estudo da capacidade do processo 3- Determinação dos índices de capacidade do processo: Cp, Cpk, Pp, Ppk, DPMO, ppm e nível sigma de curto e longo prazo. 4- Diferenciar a variação entre grupos da variação global dos dados 5- Estudo da capacidade do processo de dados normais e não normais. I. Ferreira/C. Barros 2 Competências 1. Medir o grau de cumprimento de um processo face aos seus limites de especificação. 2. Garantir o cumprimento dos pré-requisitos para o estudo da capacidade do processo. 3. Determinar os índices de capacidade do processo. 4. Efetuar o estudo da capacidade do processo de dados normais e não normais. 5. Concretizar o tratamento de dados com recurso ao Microsoft Excel e Minitab. I. Ferreira/C. Barros 3 Bibliografia 1. Breyfogle III, F. W. (2003). Implementing Six Sigma. Smarter Solutions® Using Statistical Methods, 2nd Ed, John Wiley & Sons, USA. (ISBN: 0-471-26572-1) 2. Brook, Q. (2006). Six Sigma and Minitab®. A Complete Toolbox Guide for all Six Sigma Practitioners, 2nd Ed, QSB Consulting Ltd, UK. 3. Gupta, B. C. & Walker, H. F. (2005). Applied Statistics for the Six Sigma Green Belt, ASQ Quality Press, USA. (ISBN: 0-87389-642-4) 4. Joglekar, A. M. (2003). Statistical Methods for Six Sigma in R&D and Manufactiring, John Wiley & Sons, USA. (ISBN: 0-471-20342-4) 5. Sleeper, A. (2007). Six Sigma Distributions Modeling, McGraw-Hill, USA. (ISBN: 0-07-148278 – 4) I. Ferreira/C. Barros 4 Objetivos do Estudo da Capacidade do Processo Avaliar se um processo é capaz de cumprir os limites de especificação. Um processo capaz consegue consistentemente produzir produtos ou serviços que cumprem as especificações. I. Ferreira/C. Barros 5 Limites de Especificação e Limites de Controlo Os limites de especificação são definidos pelas pessoas/clientes e os limites de controlo são calculados com base nos dados recolhidos sobre o processo. Tolerância Largura do processo Cartas de Controlo Especificações do Processo Estabilidade do Processo Capacidade do Processo I. Ferreira/C. Barros 6 Limites de Especificação e Limites de Controlo Um processo que está sob controlo estatístico pode não ser capaz de cumprir as especificações. Por exemplo se as especificações forem 16 ± 0,5 o exemplo em baixo está totalmente fora dos limites de especificação, uma vez que existe um desvio na média. Processo Estável I. Ferreira/C. Barros Os dados não são capazes de cumprir as especificações de 16 ± 0,5 7 Pré-requisitos do estudo da capacidade do processo 1. O processo é estável ao longo do tempo (análise das cartas de controlo). 2. Os dados são normalmente distribuídos. 3. Se os dados não forem normais, deve-se transformar esses dados com recurso à Box-Cox Transformation, Johnson Transformation ou usar uma outra distribuição (ex: Weibull). Processo Estável I. Ferreira/C. Barros Os dados são normalmente distribuídos 8 Exercício: Indique qual dos processos apresenta uma maior capacidade para cumprir as especificações. I. Ferreira/C. Barros 9 Exercício: Indique a opção incorreta sobre os limites de especificação: A. A amplitude dos limites de especificação também se designa de tolerância. B. Os limites de especificação são determinados pelo desempenho do processo. C. Os limites de especificação estabelecem os limites inferior e superior aceitáveis para um dado produto ou serviço. D. Os limites de especificação podem ser negativos. I. Ferreira/C. Barros 10 Índices de Capacidade do Processo 1. Cp (Potential Capability) e Cpk (Atual Capability) (Within – Subgroup Variation) (Índices de capacidade potencial dos processos – Short Term metrics) 2. Cpm – Métrica proposta por Taguchi para o estudo da capacidade do processo (Short Term metrics) 3. Pp e Ppk (Overall Variation) (Índices que traduzem o desempenho atual do processo) (Long Term metrics) 4. ppm (partes por milhão) 5. DPMO (defeitos por um milhão de oportunidades de defeitos) 6. Nível Sigma de Curto Prazo (Short Term) e de Longo Prazo (Long Term ou Benchmark Z) I. Ferreira/C. Barros 11 Índices de Capacidade do Processo Cp e Cpk (Within – Subgroup variation) Amostra 1 Amostra 2 Amostra 3 Estimam a capacidade potencial de um processo (Process Capability) e assume-se que variabilidade nas amostras é unicamente devida à existência de causas comuns de variação, por este motivo usa-se o desviopadrão do processo (within) no seu cálculo. I. Ferreira/C. Barros Pp e Ppk (Overall variation) Estimam o desempenho do processo (Process Performance). No seu cálculo usa-se o desvio padrão de todos os valores medidos (overall), incluindo assim a variabilidade nas amostras e entre as amostras (within e between subgroup variation) 12 Índices de Capacidade do Processo Pp e Ppk (Overall variation) Cp e Cpk (Within – Subgroup variation) Amostra 1 CP Amostra 2 Amostra 3 Esp. LSE LIE 6 Esp. 6ˆ within 6ˆ within ˆ within C Pki x LIE 3ˆ within C Pk s LSE x 3ˆ within C Pk Min C Pks ; C Pki I. Ferreira/C. Barros LSE LIE Esp. PP 6ˆ overall ˆ overall PPki x LIE 3ˆ overall PPk s LSE x 3ˆ overall PPk Min PPk s ; PPk i 13 Cp e Cpk - Pp e Ppk (Resumo) Os índices Cp e Cpk representam a capacidade potencial do processo quando toda a instabilidade foi removida. Cp considera a tolerância do processo e o seu desvio-padrão, mas não tem em conta o posicionamento da média do processo. Cpk tem em conta a centralidade do processo face aos limites de especificação. Os valores de Cpk Cp. Os índices Pp e Ppk representam o desempenho atual do processo e contemplam a variabilidade entre amostras e nas amostras (within e between variation). A única diferença matemática entre os valores de Cp e Pp, e Cpk e Ppk é o desvio-padrão. Quando um processo está sob controlo estatístico os índices Cp e Pp e Cpk e Ppk serão semelhantes. Ppk Cpk Cp (geralmente). I. Ferreira/C. Barros 14 Cp e Cpk - Pp e Ppk (Resumo) Ppk < Pp < Cpk < Cp I. Ferreira/C. Barros 15 Exercício: Indique a opção correta. A. Cp assume que os dados são normalmente distribuídos enquanto Pp não. B. Cp assume que o processo é estável ao longo do tempo, mas o Pp não. C. Cp considera a variabilidade global enquanto Pp considera a variabilidade em cada amostra. D. Cp considera a variabilidade em cada amostra enquanto Pp considera a variabilidade global. I. Ferreira/C. Barros 16 Determinação do Nível Sigma Definição Estatística de 6 Sigma Sigma (letra grega minúscula ) representa, em estatística, uma medida do desvio-padrão de um processo/população. A letra s é usada para designar o desvio-padrão de uma amostra. Uma empresa que tenha um nível de qualidade igual a “6 Sigma”, significa que apresenta 3,4 defeitos ou unidades defeituosas num milhão de oportunidades de erro. I. Ferreira/C. Barros 17 Determinação do Nível Sigma Conversão do nível de defeitos (DPMO ou ppm) no nível sigma (análise gráfica) Distância entre o valor alvo e os limites de especificação se o output do processo for normalmente distribuído e tiver um nível de qualidade Seis Sigma, considerando-se ainda que a média do processo pode sofrer uma variação de 1,5 em torno do valor alvo. I. Ferreira/C. Barros 18 Determinação do Nível Sigma Calcular a % de defeitos (proporção de produtos ou serviços que não satisfazem os requisitos dos clientes) Identificar se a % de defeitos é de curto (ST) ou longo prazo (LT) (Esta definição depende do conjunto de dados) Dados Contínuos e Normais Curto Prazo %ST Cp Cpk (ST) LIE LSE Ok % Defeitos 1 YTP 1 2 3 Maus Bons 0 1 e Longo Prazo 𝑜𝑢 𝑝𝑝𝑚 = 𝑃(𝑥 > 𝐿𝑆𝐸) + 𝑃(𝑥 < 𝐿𝐼𝐸) = 𝐿𝑆𝐸 − 𝜇 𝐿𝐼𝐸 − 𝜇 =𝑃 𝑧 > +𝑃 𝑧 < 𝜎 𝜎 𝑆𝑒 𝑍 − 𝑍 = 1,5 % 𝑜𝑢 𝑝𝑝𝑚 =𝑃 𝑧 = 𝑃(𝑥 > 𝐿𝑆𝐸) + 𝑃(𝑥 < 𝐿𝐼𝐸) = 𝐿𝑆𝐸 − 𝜇 𝐿𝐼𝐸 − 𝜇 > +𝑃 𝑧 < 𝜎 𝜎 (LT) e x yield P ( x 0) e e D / U e DPU x! Z LT Z equivalente Z ~ N (0;1) DPU Defeitos % Calcular o Nível Sigma de curto (ST) e longo (LT) prazo %LT PPM DPMO P( Z Z LT ) yield Exemplo : U 467 unidades; D 5 defeitos yield e 5 / 467 0,98935 P( Z Z LT ) 0,98935 Dist.Normal Z LT 2,30 Z ST Z LT 1,5 2,30 1,50 3,80 I. Ferreira/C. Barros 19 ESTUDO DA CAPACIDADE DO PROCESSO DE VARIÁVEIS CONTÍNUAS Exercício: Diâmetro Pretende-se estabelecer um sistema de controlo estatístico para o diâmetro de uma peça de especificação 74 ± 0,05 mm, baseado em cartas de controlo da média e amplitude. Neste sentido, foram retiradas 25 amostras da linha de produção, de 4 unidades cada, em intervalos de tempo consecutivos (Montgomery, 1996). a) Verifique se a variável em estudo (diâmetro) segue uma distribuição normal. b) Verifique se o processo está "sob controlo estatístico". c) Avalie se o processo é capaz de cumprir as especificações. d) Determine os níveis sigma de curto e longo prazo deste processo. Ver Ficheiro Excel Diametros.xls I. Ferreira/C. Barros 21 Exercício: Diâmetro a) Minitab: Stat – Basic Statistics – Graphical Summary Os dados seguem uma distribuição normal de média 74,001 mm e desvio-padrão de 0,011 mm I. Ferreira/C. Barros 22 Exercício: Diâmetro b) Minitab: Stat – Control Charts – Variables Charts for Subgroups – Xbar-R Se os dados das amostras estão em colunas distintas seleccionar: Observations for a subgroup are in one row of columns Options – Estimate- Selecionar Rbar O processo está sob controlo estatístico. I. Ferreira/C. Barros 23 Exercício: Diâmetro c) Minitab: Stat – Quality Tools – Capability Analysis – Normal (Selecionar “Estimate” e “Options”) I. Ferreira/C. Barros 24 Exercício: Diâmetro c) Minitab: Stat – Quality Tools – Capability Analysis – Normal O processo é capaz de cumprir as especificações. I. Ferreira/C. Barros 25 Exercício: Diâmetro c) Estudo da Capacidade do Processo (n>1) – Análise dos Cálculos realizados pelo MINITAB StDev (Within ) R 0,02212 0,010743 d 2 ( n 4) 2,059 n StDev (Overall ) Cp 2 ( xi x ) i 1 100 1 0 ,010616 LSE LIE 74,05 73,95 1,55 6ˆ within 6 0,0107431 Cpk s CPU Cpki CPL LSE x 74,05 74,0009 1,52 3ˆ within 3 0,0107431 x LIE 74,0009 73,95 1,58 3ˆ within 3 0,0107431 Cpk minCpk s ; Cpki 1,52 I. Ferreira/C. Barros 26 Exercício: Diâmetro c) Estudo da Capacidade do Processo (n>1) – Análise dos Cálculos realizados pelo MINITAB Pp LSE LIE 74,05 73,95 1,57 6ˆ overall 6 0,010616 Ppk s PPU Ppki PPL LSE x 74,05 74,0009 1,54 3ˆ overall 3 0,010616 x LIE 74,0009 73,95 1,60 3ˆ overall 3 0,010616 Ppk minPpk s ; Ppki 1,54 Cpm Pp ( T )2 1 ˆ overall 2 1,57 (74,0009 74) 2 1 0,010616 2 1,56 Nota: Apesar de o MINITAB designar de Cpm, trata-se do Ppm, pois usa o desvio padrão de longo prazo (overall). I. Ferreira/C. Barros 27 Exercício: Diâmetro c) Estudo da Capacidade do Processo (n>1) – Análise dos Cálculos realizados pelo MINITAB “Observed Performance” é equivalente ao número de unidades que ultrapassaram os limites de especificação. Neste caso em estudo, nenhuma das 100 unidades ultrapassou os limites. ppmST P( x LSE ) P ( x LIE ) LSE LIE P z LIE P z LSE ˆ ˆ within within 74,05 74,0009 73,95 74,0009 P z LSE P z LIE 0,0107431 0,0107431 Pz LSE 4,57 Pz LIE 4,74 Calc- probability distributions- normal 1 P z LSE 4,57 P z LIE 4,74 2,43 ppm 1,07 ppm 3,50 ppm (Cálculo Excel) I. Ferreira/C. Barros 28 Exercício: Diâmetro d) Minitab: Stat – Quality Tools – Capability Analysis – Normal (Seleccionar “Estimate” e “Options”) I. Ferreira/C. Barros 29 Exercício: Diâmetro c) Minitab: Stat – Quality Tools – Capability Analysis – Normal P( Z Z ST ) 1 3,52 106 Dist.Normal Z ST 4,49 Minitab : Inverse Cumulative dist. function Excel : INV.S.NORM(1 - 3,52 106 ) 4,49 I. Ferreira/C. Barros 30 Exercício: Grau de Pureza Uma empresa pretende verificar se o grau de pureza dos seus lotes cumpre a especificação de 99,05% (Limite Inferior de Especificação). É retirada uma amostra por cada lote e registada a data e o seu grau de pureza. a) Verifique os pressupostos para a avaliação da capacidade do processo. Se necessário avalie a possibilidade de transformar os dados não normais em normais b) Estude a capacidade do processo. c) Determine os níveis sigma de curto e longo prazo deste processo. Ver Ficheiro Excel Grau de Pureza.xls I. Ferreira/C. Barros 31 Exercício: Grau de Pureza a) Minitab: Stat – Basic Statistics – Graphical Summary Graph – Probability Plot – Single Nota: Os dados não seguem uma distribuição normal, sendo necessário transformar em primeiro lugar os dados e posteriormente realizar o estudo de capacidade do processo dos dados transformados. I. Ferreira/C. Barros 32 Exercício: Grau de Pureza a) Stat – Quality Tools – Individual Distributions Identification I. Ferreira/C. Barros 33 Exercício: Grau de Pureza b) Stat – Quality Tools – Capability Analysis – Normal I. Ferreira/C. Barros 34 Exercício: Grau de Pureza b) Stat – Quality Tools – Capability Analysis – Normal (Display Capability Stats (Pp)) O processo apresenta dificuldades em cumprir as especificações, com um índice Ppk= 1,05 e 789,01 ppm. Nota: Quando os dados não são normais não existe uma definição de dados de curto prazo, é por este motivo que o MINITAB apenas apresenta os indicadores de longo prazo (Pp e Ppk). I. Ferreira/C. Barros 35 Exercício: Grau de Pureza c) Stat – Quality Tools – Capability Analysis – Normal (Display Benchmark Z’s – Sigma Level) O processo apresenta dificuldades em cumprir as especificações, com um nível sigma de 3,16. I. Ferreira/C. Barros 36 Exercício: Grau de Pureza c) Stat – Quality Tools – Capability Analysis – Normal (Display Benchmark Z’s – Sigma Level) Minitab: Calc – Probability Distributions – Normal 1-789,0110-6 I. Ferreira/C. Barros 37 ESTUDO DA CAPACIDADE DO PROCESSO DE ATRIBUTOS Ok % Defeitos 1 YTP C. Barros/I. Ferreira 1 2 Maus Bons 0 1 e DPU 3 Defeitos Determinação do Nível Sigma para a atributos Nomenclatura m Nº de etapas do processo D Nº de defeitos encontrados U Unidades Inspeccionadas OP Nº de Oportunidades de defeito/unidade TOP Nº Total de Oportunidades de Defeitos por unidade (OP×U) DPU Defeitos por unidade (D/U) DPO Nº defeitos/Nº. Total de oportunidades (D/TOP) DPMO ou ppm Nº defeitos por milhão de oportunidades (DPO×106) I. Ferreira/C. Barros 39 Determinação do Nível Sigma para a atributos Métricas relacionadas com o rendimento dos processos YTP e DPU Rendimento Throughput (TP): Defeitos/unidade: P(X=k)=e-DPU.DPU^k/k! Dist. Poisson (prob. de ter k defeitos) Se K=0 (YTP), i.e., prob de não ter defeitos: P(X=0)=e-DPU DPU ln(YTP ) m Rendimento Rolled Throughput (RT): Nº total de defeitos por unidade: Rendimento Normalizado: YRT YTPi i 1 TDPU ln(YRT ) Ynorm m YRT Defeitos por unidade normalizada: DPU norm ln(Ynorm ) Nível sigma 0,8406 29 ,37 2,221 ln( ppm ) I. Ferreira/C. Barros 40 Determinação do Nível Sigma para a atributos Exercício: Se DPU = 0,022, YRT será aproximadamente: a) 0,022 b) 0,078 c) 0,98 d) 0,098 I. Ferreira/C. Barros 41 Nível sigma 0,8406 29 ,37 2, 221 ln( ppm ) Determinação do Nível Sigma para a atributos Exercício: I. Ferreira/C. Barros Sabendo que o n.º inicial de peças é 100, o nível sigma da etapa B é: a) 2,5 b) 1,5 c) 2,7 d) 2,9 E o rendimento global combinado (RT) deste processo é: a) 0,9 b) 0,84 c) 0,91 d) 0,64 42 Estudo da Capacidade do Processo com dados de Poisson (Defeitos) Exercício: Ver Ficheiro Minitab: CP_Poisson No armazém de materiais subsidiários os lotes rececionados são inspecionados. Na tabela seguinte, apresentam-se o número de unidades inspecionadas (U) e o número de defeitos (d) encontrados por lote. Minitab: Stat – Quality Tools – Capability Analysis – Poisson I. Ferreira/C. Barros 43 Estudo da Capacidade do Processo com dados de Poisson (Defeitos) Exercício: Ver Ficheiro Minitab: CP_Poisson • A carta U evidencia causas especiais de variação, pois há pontos fora dos limites de controlo, sendo escassa a informação. • Pelo gráfico “Defect Rate” verifica-se que o número de defeitos depende da dimensão da amostra. •O “Cumulative DPU” mostra que o valor de DPU (d/U) tende a estabilizar em cerca de 16 à medida que aumenta o número de unidades inspeccionadas. •Do Histograma nada se pode concluir quanto à distribuição dos DPU’s. I. Ferreira/C. Barros 44 Estudo da Capacidade do Processo com dados Binomiais (Defeituosos) Exercício: Ver Ficheiro Excel: T2 – slide 45, CP_Binomiais No armazém de materiais subsidiários os lotes rececionados são inspecionados. Na tabela seguinte, apresentam-se o número de unidades inspecionadas (U) e o número de unidades defeituosas (D) encontrados por lote. Minitab: Stat – Quality Tools – Capability Analysis – Binomial Determine a % de unidades defeituosos em ppm e o nível sigma. I. Ferreira/C. Barros 45